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1. 发明专利

TW201440154A 轉塔式檢測機台及其使用方法审中-公开
简体标题：转塔式检测机台及其使用方法
公开(公告)号：TW201440154A
公开(公告)日：2014-10-16
申请号：TW102113058
申请日：2013-04-12
申请人：久元電子股份有限公司
发明人：汪秉龍 , WANG, BILY , 陳桂標 , CHEN, KUEI PAO , 陳信呈 , CHEN, HSIN CHENG , 楊政偉 , YANG, CHENG WEI , 黃劔麒 , HUANG, CHIEN CHI
IPC分类号： H01L21/66 , H01L21/67
摘要：一種轉塔式檢測機台，其包括：轉塔模組、進料模組、第一外觀檢測模組、180度轉向模組、電性測試模組、第二外觀檢測模組及出料模組。轉塔模組包括一可旋轉式機構及多個可升降式吸嘴機構。進料模組上具有多個電子元件，且電子元件通過進料模組以傳送至可升降式吸嘴機構的下方，以供可升降式吸嘴機構來進行吸取。第一外觀檢測模組用於檢查每一個電子元件的第一預定外觀。180度轉向模組用於將電子元件水平地旋轉180度。電性測試模組用於檢測每一個電子元件的電氣性能。第二外觀檢測模組用於檢查每一個電子元件的第二預定外觀。出料模組用於將每一個電子元件傳送至一收納料帶內。
简体摘要：一种转塔式检测机台，其包括：转塔模块、进料模块、第一外观检测模块、180度转向模块、电性测试模块、第二外观检测模块及出料模块。转塔模块包括一可旋转式机构及多个可升降式吸嘴机构。进料模块上具有多个电子组件，且电子组件通过进料模块以发送至可升降式吸嘴机构的下方，以供可升降式吸嘴机构来进行吸取。第一外观检测模块用于检查每一个电子组件的第一预定外观。180度转向模块用于将电子组件水平地旋转180度。电性测试模块用于检测每一个电子组件的电气性能。第二外观检测模块用于检查每一个电子组件的第二预定外观。出料模块用于将每一个电子组件发送至一收纳料带内。

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