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1. 发明专利

TW201525476A 基板檢測系統审中-公开
简体标题：基板检测系统
公开(公告)号：TW201525476A
公开(公告)日：2015-07-01
申请号：TW102148803
申请日：2013-12-27
申请人：久元電子股份有限公司 , YOUNGTEK ELECTRONICS CORPORATION
发明人：汪秉龍 , WANG, BILY , 陳桂標 , CHEN, KUEI PAO , 陳信呈 , CHEN, HSIN CHENG , 彭及盈 , PENG, CHI YING , 鄭明志 , CHENG, MING CHIH
IPC分类号： G01R31/02 , G01R31/28
摘要：一種基板檢測系統，其包含：一置料裝置、一載運裝置、一第一基板吸附載台及一第一檢測裝置。置料裝置用以置放至少一基板。載運裝置用以載運置放於置料裝置的基板。第一基板吸附載台可活動地設置於一第一導軌上，用以吸附載運裝置所置放的基板。第一檢測裝置用以檢測置設於第一基板吸附載台的基板。藉以，可快速而有效地對基板進行檢測。
简体摘要：一种基板检测系统，其包含：一置料设备、一载运设备、一第一基板吸附载台及一第一检测设备。置料设备用以置放至少一基板。载运设备用以载运置放于置料设备的基板。第一基板吸附载台可活动地设置于一第一导轨上，用以吸附载运设备所置放的基板。第一检测设备用以检测置设于第一基板吸附载台的基板。借以，可快速而有效地对基板进行检测。

2. 发明专利

TW201029904A 用於檢測多數個電子元件的外觀之檢測系統及其使用方法 DETECTION SYSTEM FOR DETECTION THE APPEARANCE OF MANY ELECTRONIC ELEMENTS 审中-公开
简体标题：用于检测多数个电子组件的外观之检测系统及其使用方法 DETECTION SYSTEM FOR DETECTION THE APPEARANCE OF MANY ELECTRONIC ELEMENTS
公开(公告)号：TW201029904A
公开(公告)日：2010-08-16
申请号：TW098103231
申请日：2009-02-02
申请人：久元電子股份有限公司
发明人：汪秉龍 , 陳桂標 , 陳信呈 , 周明澔 , 倪仁君
IPC分类号： B65G , G01R , G01N
摘要：一種用於檢測多數個電子元件的外觀之檢測系統，其包括：一轉盤模組、一進料模組及一檢測模組。該轉盤模組係具有一底盤結構及一設置於該底盤結構上端之中空透明轉盤結構。該進料模組係設置於該中空透明轉盤結構之一側，以將該等電子元件依序導引至該中空透明轉盤結構的上表面。該檢測模組係具有複數組依序環繞該中空透明轉盤結構之檢測單元，並且每一組檢測單元係由一用於感測該等電子元件之影像感測元件、一用於擷取該等電子元件的表面影像之影像擷取元件及一用於將該等電子元件進行分類之分料元件所組成。
简体摘要：一种用于检测多数个电子组件的外观之检测系统，其包括：一转盘模块、一进料模块及一检测模块。该转盘模块系具有一底盘结构及一设置于该底盘结构上端之中空透明转盘结构。该进料模块系设置于该中空透明转盘结构之一侧，以将该等电子组件依序导引至该中空透明转盘结构的上表面。该检测模块系具有复数组依序环绕该中空透明转盘结构之检测单元，并且每一组检测单元系由一用于传感该等电子组件之影像传感组件、一用于截取该等电子组件的表面影像之影像截取组件及一用于将该等电子组件进行分类之分料组件所组成。

3. 发明专利

TW200917401A 晶圓檢測系統审中-公开
简体标题：晶圆检测系统
公开(公告)号：TW200917401A
公开(公告)日：2009-04-16
申请号：TW096138199
申请日：2007-10-12
申请人：久元電子股份有限公司
发明人：汪秉龍 , 陳信呈 , 周明澔
IPC分类号： H01L
CPC分类号： G01R31/2894 , G01R31/2831 , H01L22/24
摘要：一種晶圓檢測系統,步驟如下:載入一晶圓;定位該晶圓與一對應於該晶圓之地圖檔(map file),其中該地圖檔係為第一檔案格式;檢視該晶圓之外觀;若該晶圓外觀為不良,記錄並修改該地圖檔之資料;以及儲存該修改後之地圖檔。藉此,可針對地圖檔直接做修改、標記的動作,可以有效節省檢測的時程。
简体摘要：一种晶圆检测系统,步骤如下:加载一晶圆;定位该晶圆与一对应于该晶圆之地图档(map file),其中该地图档系为第一文档格式;视图该晶圆之外观;若该晶圆外观为不良,记录并修改该地图档之数据;以及存储该修改后之地图档。借此,可针对地图档直接做修改、标记的动作,可以有效节省检测的时程。

4. 发明专利

TWI492320B 轉塔式檢測機台及其使用方法有权
简体标题：转塔式检测机台及其使用方法
公开(公告)号：TWI492320B
公开(公告)日：2015-07-11
申请号：TW102113058
申请日：2013-04-12
申请人：久元電子股份有限公司
发明人：汪秉龍 , WANG, BILY , 陳桂標 , CHEN, KUEI PAO , 陳信呈 , CHEN, HSIN CHENG , 楊政偉 , YANG, CHENG WEI , 黃劔麒 , HUANG, CHIEN CHI
IPC分类号： H01L21/66 , H01L21/67

5. 实用新型

TWM499559U ＬＥＤ封裝晶片檢測裝置有权
简体标题：ＬＥＤ封装芯片检测设备
公开(公告)号：TWM499559U
公开(公告)日：2015-04-21
申请号：TW103212456
申请日：2014-07-14
申请人：久元電子股份有限公司
发明人：汪秉龍 , 陳桂標 , 陳信呈 , 張烘杰
IPC分类号： G01R31/26

6. 实用新型

TWM408039U 封裝晶片檢測與分類裝置有权
简体标题：封装芯片检测与分类设备
公开(公告)号：TWM408039U
公开(公告)日：2011-07-21
申请号：TW100202830
申请日：2011-02-16
申请人：久元電子股份有限公司
发明人：汪秉龍 , 陳桂標 , 陳信呈
IPC分类号： G01R
摘要：一種封裝晶片檢測與分類裝置，其包括：一用於輸送多個封裝晶片的旋轉單元、一晶片測試單元及一晶片分類單元。旋轉單元具有至少一可旋轉轉盤、多個設置於可旋轉轉盤上的容置部、及多個分別設置於上述多個容置部內的吸排氣兩用開口，其中每一個容置部內可選擇性地容納上述多個封裝晶片中的至少一個。晶片測試單元具有至少一鄰近旋轉單元且用於測試每一個封裝晶片之晶片測試模組。晶片分類單元具有至少一鄰近旋轉單元且用於分類上述多個封裝晶片之晶片分類模組。因此，本創作可透過旋轉單元、晶片測試單元與晶片分類單元的配合，以檢測與分類無引腳的封裝晶片，例如QFN晶片。
简体摘要：一种封装芯片检测与分类设备，其包括：一用于输送多个封装芯片的旋转单元、一芯片测试单元及一芯片分类单元。旋转单元具有至少一可旋转转盘、多个设置于可旋转转盘上的容置部、及多个分别设置于上述多个容置部内的吸排气两用开口，其中每一个容置部内可选择性地容纳上述多个封装芯片中的至少一个。芯片测试单元具有至少一邻近旋转单元且用于测试每一个封装芯片之芯片测试模块。芯片分类单元具有至少一邻近旋转单元且用于分类上述多个封装芯片之芯片分类模块。因此，本创作可透过旋转单元、芯片测试单元与芯片分类单元的配合，以检测与分类无引脚的封装芯片，例如QFN芯片。

7. 实用新型

TWM403650U 用於偵測發光二極體晶粒的偏移量之檢測裝置失效
简体标题：用于侦测发光二极管晶粒的偏移量之检测设备
公开(公告)号：TWM403650U
公开(公告)日：2011-05-11
申请号：TW099220057
申请日：2010-10-18
申请人：久元電子股份有限公司
发明人：汪秉龍 , 陳桂標 , 陳信呈
IPC分类号： G01N
摘要：一種用於偵測發光二極體晶粒的偏移量之檢測裝置，其包括：一檢測平台及一晶粒偏移量偵測模組。檢測平台具有一可移動之中空平台，其中一具有多個發光二極體晶粒之置晶薄膜置放於檢測平台之中空平台上。晶粒偏移量偵測模組具有至少一設置於中空平台的上方且用於偵測該些發光二極體晶粒的偏移量之晶粒偏移量偵測元件。因此，本創作除了可免除人工作業及墨水浪費外，更能藉由電腦以計算出不良發光二極體晶片的數量及區域，進而使移除不良發光二極體晶片的製程更為方便。此外，本創作亦可使用晶粒偏移量偵測模組，以有效針對多個發光二極體晶粒進行偏移量的測量。
简体摘要：一种用于侦测发光二极管晶粒的偏移量之检测设备，其包括：一检测平台及一晶粒偏移量侦测模块。检测平台具有一可移动之中空平台，其中一具有多个发光二极管晶粒之置晶薄膜置放于检测平台之中空平台上。晶粒偏移量侦测模块具有至少一设置于中空平台的上方且用于侦测该些发光二极管晶粒的偏移量之晶粒偏移量侦测组件。因此，本创作除了可免除人工作业及墨水浪费外，更能借由电脑以计算出不良发光二极管芯片的数量及区域，进而使移除不良发光二极管芯片的制程更为方便。此外，本创作亦可使用晶粒偏移量侦测模块，以有效针对多个发光二极管晶粒进行偏移量的测量。

8. 实用新型

TWM492525U ＩＣ封裝晶片檢測裝置有权
简体标题：ＩＣ封装芯片检测设备
公开(公告)号：TWM492525U
公开(公告)日：2014-12-21
申请号：TW103212459
申请日：2014-07-14
申请人：久元電子股份有限公司
发明人：汪秉龍 , 陳桂標 , 陳信呈 , 張烘杰
IPC分类号： H01L21/66

9. 发明专利

TW201440154A 轉塔式檢測機台及其使用方法审中-公开
简体标题：转塔式检测机台及其使用方法
公开(公告)号：TW201440154A
公开(公告)日：2014-10-16
申请号：TW102113058
申请日：2013-04-12
申请人：久元電子股份有限公司
发明人：汪秉龍 , WANG, BILY , 陳桂標 , CHEN, KUEI PAO , 陳信呈 , CHEN, HSIN CHENG , 楊政偉 , YANG, CHENG WEI , 黃劔麒 , HUANG, CHIEN CHI
IPC分类号： H01L21/66 , H01L21/67
摘要：一種轉塔式檢測機台，其包括：轉塔模組、進料模組、第一外觀檢測模組、180度轉向模組、電性測試模組、第二外觀檢測模組及出料模組。轉塔模組包括一可旋轉式機構及多個可升降式吸嘴機構。進料模組上具有多個電子元件，且電子元件通過進料模組以傳送至可升降式吸嘴機構的下方，以供可升降式吸嘴機構來進行吸取。第一外觀檢測模組用於檢查每一個電子元件的第一預定外觀。180度轉向模組用於將電子元件水平地旋轉180度。電性測試模組用於檢測每一個電子元件的電氣性能。第二外觀檢測模組用於檢查每一個電子元件的第二預定外觀。出料模組用於將每一個電子元件傳送至一收納料帶內。
简体摘要：一种转塔式检测机台，其包括：转塔模块、进料模块、第一外观检测模块、180度转向模块、电性测试模块、第二外观检测模块及出料模块。转塔模块包括一可旋转式机构及多个可升降式吸嘴机构。进料模块上具有多个电子组件，且电子组件通过进料模块以发送至可升降式吸嘴机构的下方，以供可升降式吸嘴机构来进行吸取。第一外观检测模块用于检查每一个电子组件的第一预定外观。180度转向模块用于将电子组件水平地旋转180度。电性测试模块用于检测每一个电子组件的电气性能。第二外观检测模块用于检查每一个电子组件的第二预定外观。出料模块用于将每一个电子组件发送至一收纳料带内。

10. 发明专利

TWI412763B 發光元件檢測與分類裝置有权
简体标题：发光组件检测与分类设备
公开(公告)号：TWI412763B
公开(公告)日：2013-10-21
申请号：TW100114670
申请日：2011-04-27
申请人：久元電子股份有限公司 , YOUNGTEK ELECTRONICS CORPORATION
发明人：汪秉龍 , WANG, BILY , 陳桂標 , CHEN, KUEI PAO , 陳信呈 , CHEN, HSIN CHENG
IPC分类号： G01R31/26 , G01N21/95

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