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1. 发明专利

TWI621835B 旋轉檢測裝置及旋轉檢測裝置之製造方法有权
简体标题：旋转检测设备及旋转检测设备之制造方法
公开(公告)号：TWI621835B
公开(公告)日：2018-04-21
申请号：TW105112409
申请日：2016-04-21
申请人：三菱電機股份有限公司 , MITSUBISHI ELECTRIC CORPORATION
发明人：武舎武史 , MUSHA, TAKESHI , 立井芳直 , TATEI, YOSHINAO , 渡邊佳正 , WATANABE, YOSHIMASA
IPC分类号： G01D5/245
CPC分类号： G01D5/2006 , G01P3/4815 , G01R33/0052

2. 发明专利

TWI432747B 絕緣劣化診斷裝置有权
简体标题：绝缘劣化诊断设备
公开(公告)号：TWI432747B
公开(公告)日：2014-04-01
申请号：TW100112613
申请日：2011-04-12
申请人：三菱電機股份有限公司 , MITSUBISHI ELECTRIC CORPORATION
发明人：渡邊佳正 , WATANABE, YOSHIMASA , 兼田吉治 , KANEDA, YOSHIHARU , 西澤博志 , NISHIZAWA, HIROSHI , 岡徹 , OKA, TORU
IPC分类号： G01R31/02
CPC分类号： G01R31/025 , G01R31/14 , G01R31/34 , G01R31/40

3. 发明专利

TW201706573A 旋轉檢測裝置及旋轉檢測裝置之製造方法审中-公开
简体标题：旋转检测设备及旋转检测设备之制造方法
公开(公告)号：TW201706573A
公开(公告)日：2017-02-16
申请号：TW105112409
申请日：2016-04-21
申请人：三菱電機股份有限公司 , MITSUBISHI ELECTRIC CORPORATION
发明人：武舎武史 , MUSHA, TAKESHI , 立井芳直 , TATEI, YOSHINAO , 渡邊佳正 , WATANABE, YOSHIMASA
IPC分类号： G01D5/245
CPC分类号： G01D5/2006 , G01P3/4815 , G01R33/0052
摘要：本發明具備：安裝在以旋轉軸X0為中心旋轉之旋轉軸心100之檢測用磁鐵200；以及與檢測用磁鐵200相對配置，以檢測旋轉軸心100的旋轉之檢測部300。該檢測部300係包含：多層的電路基板301；設置在電路基板301的中間層320內，且在旋轉軸X0之延長線上具有中心並與旋轉軸X0呈垂直之凹溝；內藏在凹溝之具有大巴克豪森效應之複合磁線；以及由電路基板301上之配線導體與填充在通孔TH之導體所形成，且包圍複合磁線之拾波線圈360。
简体摘要：本发明具备：安装在以旋转轴X0为中心旋转之旋转轴心100之检测用磁铁200；以及与检测用磁铁200相对配置，以检测旋转轴心100的旋转之检测部300。该检测部300系包含：多层的电路基板301；设置在电路基板301的中间层320内，且在旋转轴X0之延长在线具有中心并与旋转轴X0呈垂直之凹沟；内藏在凹沟之具有大巴克豪森效应之复合磁线；以及由电路基板301上之配线导体与填充在通孔TH之导体所形成，且包围复合磁线之十波线圈360。

4. 发明专利

TWI426282B 絕緣劣化檢出裝置有权
简体标题：绝缘劣化检出设备
公开(公告)号：TWI426282B
公开(公告)日：2014-02-11
申请号：TW099106249
申请日：2010-03-04
申请人：三菱電機股份有限公司 , MITSUBISHI ELECTRIC CORPORATION
发明人：渡邊佳正 , WATANABE, YOSHIMASA , 西浦龍一 , NISHIURA, RYUICHI , 兼田吉治 , KANEDA, YOSHIHARU , 西澤博志 , NISHIZAWA, HIROSHI , 岡徹 , OKA, TORU , 武藤浩隆 , MUTO, HIROTAKA , 田中利貴 , TANAKA, TOSHIKI , 堤下洋治 , TSUTSUMISHITA, YOJI
IPC分类号： G01R31/28 , G01R31/00
CPC分类号： G01R31/343 , G01R31/1227

5. 发明专利

TW201636624A 電流檢測裝置审中-公开
简体标题：电流检测设备
公开(公告)号：TW201636624A
公开(公告)日：2016-10-16
申请号：TW104125201
申请日：2015-08-04
申请人：三菱電機股份有限公司 , MITSUBISHI ELECTRIC CORPORATION
发明人：森貢 , MORI, MITSUGI , 柏本耕太 , KASHIWAMOTO, KOTA , 濱野恵太 , HAMANO, KEITA , 渡邊佳正 , WATANABE, YOSHIMASA
IPC分类号： G01R19/15
CPC分类号： G01R15/183
摘要：本發明的電流檢測裝置係構成為具備：環狀的磁芯(2)，係在有通電電流(Ia、Ib)流通的一對導線(1a、1b)的周圍形成閉磁路；激磁線圈(3)，係捲繞於磁芯(2)；振盪電路部(4)，係施加矩形波的輸出電壓給激磁線圈(3)；電源部(7)，係供給電源給振盪電路部(4)中產生矩形波的輸出電壓的運算放大器(11)；及差電流算出部(6)，係檢測從電源部(7)流往運算放大器(11)的電源電流Id，算出流通於一對導線(1a、1b)的通電電流(Ia、Ib)的差電流△I。藉此，獲得優異的抗雜訊性並且能夠簡化電流檢測裝置的構成。
简体摘要：本发明的电流检测设备系构成为具备：环状的磁芯(2)，系在有通电电流(Ia、Ib)流通的一对导线(1a、1b)的周围形成闭磁路；激磁线圈(3)，系卷绕于磁芯(2)；振荡电路部(4)，系施加矩形波的输出电压给激磁线圈(3)；电源部(7)，系供给电源给振荡电路部(4)中产生矩形波的输出电压的运算放大器(11)；及差电流算出部(6)，系检测从电源部(7)流往运算放大器(11)的电源电流Id，算出流通于一对导线(1a、1b)的通电电流(Ia、Ib)的差电流△I。借此，获得优异的抗噪声性并且能够简化电流检测设备的构成。

6. 发明专利

TWI550279B 電流檢測裝置有权
简体标题：电流检测设备
公开(公告)号：TWI550279B
公开(公告)日：2016-09-21
申请号：TW104125201
申请日：2015-08-04
申请人：三菱電機股份有限公司 , MITSUBISHI ELECTRIC CORPORATION
发明人：森貢 , MORI, MITSUGI , 柏本耕太 , KASHIWAMOTO, KOTA , 濱野恵太 , HAMANO, KEITA , 渡邊佳正 , WATANABE, YOSHIMASA
IPC分类号： G01R19/15
CPC分类号： G01R15/183

7. 发明专利

TW201205096A 絕緣劣化診斷裝置 APPARATUS FOR DIAGNOSING DETERIORATION OF INSULATION 审中-公开
简体标题：绝缘劣化诊断设备 APPARATUS FOR DIAGNOSING DETERIORATION OF INSULATION
公开(公告)号：TW201205096A
公开(公告)日：2012-02-01
申请号：TW100112613
申请日：2011-04-12
申请人：三菱電機股份有限公司
发明人：渡邊佳正 , 兼田吉治 , 西澤博志 , 岡徹
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G01R31/025 , G01R31/14 , G01R31/34 , G01R31/40
摘要：本發明係關於一種診斷連接於反相器裝置與被反相器驅動的負載機器之間的電路之絕緣劣化的裝置，且由零相變流器、激磁控制電路及同步檢波電路等所構成，該零相變流器，係具有環狀的磁性體鐵心、捲繞於該磁性體鐵心的激磁線圈、及捲繞於該磁性體鐵心的檢測線圈，用以檢測電路之零相電流；該激磁控制電路係將具有負載機器之驅動頻率(fd)之2倍以上頻率的交流電流供給至激磁線圈，用以對磁性體鐵心激磁；該同步檢波電路係用以從檢測線圈之輸出信號中，抽出與驅動頻率(fd)相同的頻率成分。藉由如此的構成，可及於較寬的頻率而高精度地計測從被反相器驅動之負載機器洩漏的電流。
简体摘要：本发明系关于一种诊断连接于反相器设备与被反相器驱动的负载机器之间的电路之绝缘劣化的设备，且由零相变流器、激磁控制电路及同步检波电路等所构成，该零相变流器，系具有环状的磁性体铁心、卷绕于该磁性体铁心的激磁线圈、及卷绕于该磁性体铁心的检测线圈，用以检测电路之零相电流；该激磁控制电路系将具有负载机器之驱动频率(fd)之2倍以上频率的交流电流供给至激磁线圈，用以对磁性体铁心激磁；该同步检波电路系用以从检测线圈之输出信号中，抽出与驱动频率(fd)相同的频率成分。借由如此的构成，可及于较宽的频率而高精度地计测从被反相器驱动之负载机器泄漏的电流。

8. 发明专利

TW201037333A 絕緣劣化檢出裝置 INSULATION DETERIORATION DETECTING DEVICE 审中-公开
简体标题：绝缘劣化检出设备 INSULATION DETERIORATION DETECTING DEVICE
公开(公告)号：TW201037333A
公开(公告)日：2010-10-16
申请号：TW099106249
申请日：2010-03-04
申请人：三菱電機股份有限公司
发明人：渡邊佳正 , 西浦龍一 , 兼田吉治 , 西澤博志 , 岡徹 , 武藤浩隆 , 田中利貴 , 堤下洋治
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G01R31/343 , G01R31/1227
摘要：本發明的絕緣劣化檢出裝置係檢出以變頻器驅動的負載機器尤其是電動機中的絕緣劣化之裝置，其具備：設置在變頻器裝置與電動機之間之饋電電路而量測饋電電路的零相電流之零相電流量測手段；以及用以使電動機的旋轉待機的指令控制手段；零相電流量測手段係量測以於旋轉待機時即使施加有外力旋轉軸也不會旋轉的方式對3相饋電的相電流之總和（零相電流）。依據上述構成，不需切換對負載裝置饋電的饋電電路即能夠進行絕緣劣化的經常檢出。
简体摘要：本发明的绝缘劣化检出设备系检出以变频器驱动的负载机器尤其是电动机中的绝缘劣化之设备，其具备：设置在变频器设备与电动机之间之馈电电路而量测馈电电路的零相电流之零相电流量测手段；以及用以使电动机的旋转待机的指令控制手段；零相电流量测手段系量测以于旋转待机时即使施加有外力旋转轴也不会旋转的方式对3相馈电的相电流之总和（零相电流）。依据上述构成，不需切换对负载设备馈电的馈电电路即能够进行绝缘劣化的经常检出。

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