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1. 发明专利

TW201037333A 絕緣劣化檢出裝置 INSULATION DETERIORATION DETECTING DEVICE 审中-公开
简体标题：绝缘劣化检出设备 INSULATION DETERIORATION DETECTING DEVICE
公开(公告)号：TW201037333A
公开(公告)日：2010-10-16
申请号：TW099106249
申请日：2010-03-04
申请人：三菱電機股份有限公司
发明人：渡邊佳正 , 西浦龍一 , 兼田吉治 , 西澤博志 , 岡徹 , 武藤浩隆 , 田中利貴 , 堤下洋治
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G01R31/343 , G01R31/1227
摘要：本發明的絕緣劣化檢出裝置係檢出以變頻器驅動的負載機器尤其是電動機中的絕緣劣化之裝置，其具備：設置在變頻器裝置與電動機之間之饋電電路而量測饋電電路的零相電流之零相電流量測手段；以及用以使電動機的旋轉待機的指令控制手段；零相電流量測手段係量測以於旋轉待機時即使施加有外力旋轉軸也不會旋轉的方式對3相饋電的相電流之總和（零相電流）。依據上述構成，不需切換對負載裝置饋電的饋電電路即能夠進行絕緣劣化的經常檢出。
简体摘要：本发明的绝缘劣化检出设备系检出以变频器驱动的负载机器尤其是电动机中的绝缘劣化之设备，其具备：设置在变频器设备与电动机之间之馈电电路而量测馈电电路的零相电流之零相电流量测手段；以及用以使电动机的旋转待机的指令控制手段；零相电流量测手段系量测以于旋转待机时即使施加有外力旋转轴也不会旋转的方式对3相馈电的相电流之总和（零相电流）。依据上述构成，不需切换对负载设备馈电的馈电电路即能够进行绝缘劣化的经常检出。

2. 发明专利

TW482890B 光學式距離偵測器失效
简体标题：光学式距离侦测器
公开(公告)号：TW482890B
公开(公告)日：2002-04-11
申请号：TW090100828
申请日：2001-01-15
申请人：三菱電機股份有限公司
发明人：岡徹 , 仲一 , 鹿井正博 , 白附晶英 , 鳩德莫 , 優瑞克威瑞伯 , 威海倫派翠
IPC分类号： G01B
摘要：本發明係提供一種小型且廉價之光學式距離偵測器，無須使用高製作成本之三層導波路及操作性能不佳之光纖。
其特徵在於具備有：具有發光元件及受光元件之第一基板；與第二基板一體成形，且具有使來自前述發光元件之射出光及來自前述測定對象物之反射光聚光於第二基板面之水平方向之複數基板面水平方向聚光用光學元件之光學構造體；以及，具備使來自前述發光元件之射出光及來自前述測定對象物之反射光聚光於第二基板面之垂直方向之基板面垂直方向聚光用透鏡。
简体摘要：本发明系提供一种小型且廉价之光学式距离侦测器，无须使用高制作成本之三层导波路及操作性能不佳之光纤。其特征在于具备有：具有发光组件及受光组件之第一基板；与第二基板一体成形，且具有使来自前述发光组件之射出光及来自前述测定对象物之反射光聚光于第二基板面之水平方向之复数基板面水平方向聚光用光学组件之光学构造体；以及，具备使来自前述发光组件之射出光及来自前述测定对象物之反射光聚光于第二基板面之垂直方向之基板面垂直方向聚光用透镜。

3. 发明专利

TW552401B 感測頭失效
简体标题：传感头
公开(公告)号：TW552401B
公开(公告)日：2003-09-11
申请号：TW089127426
申请日：2000-12-20
申请人：三菱電機股份有限公司 , 福群禪屯卡爾魯赫公司
发明人：岡徹 , 仲一 , 鹿井正博 , 白附晶英 , 鳩德莫 , 優瑞克威瑞伯 , 威海倫派翠
IPC分类号： G01D
CPC分类号： G01S17/48 , G01D5/26 , G01S7/4813
摘要：本發明提供一種感測頭，具備：第1基板，具有發光元件和受光元件；光學構造體，具有使發自上述發光元件之射出光和來自上述測定對象物體之反射光沿第二基板面水平方向聚焦之複數基板面水平方向聚焦用光學元件；以及基板面垂直方向聚焦用透鏡，使發自上述發光元件之射出光和來自上述測定對象物體之反射光沿第二基板面垂直方向聚焦；無需使用製作成本高昂之三層波導路，可獲得小型且廉價之信號對雜訊比提高之感測頭。
简体摘要：本发明提供一种传感头，具备：第1基板，具有发光组件和受光组件；光学构造体，具有使发自上述发光组件之射出光和来自上述测定对象物体之反射光沿第二基板面水平方向聚焦之复数基板面水平方向聚焦用光学组件；以及基板面垂直方向聚焦用透镜，使发自上述发光组件之射出光和来自上述测定对象物体之反射光沿第二基板面垂直方向聚焦；无需使用制作成本高昂之三层波导路，可获得小型且廉价之信号对噪声比提高之传感头。

4. 发明专利

TW342454B 使用閃爍纖維之輻射線檢測器失效
简体标题：使用闪烁纤维之辐射线检测器
公开(公告)号：TW342454B
公开(公告)日：1998-10-11
申请号：TW086104817
申请日：1997-04-15
申请人：三菱電機股份有限公司
发明人：岡徹 , 津高良和
IPC分类号： G01T
CPC分类号： G01T1/201
摘要：本發明以提供一種能提高檢測的感度，提高能量特性，擴大測定輻射線量率，並圖長距離傳送化的輻射線檢測器為目的。
本發明係於受到輻射線101會發出光脈衝之閃爍纖維102之一端或兩端檢測上述閃爍纖維102內發生的光脈衝，以求得輻射線資料的輻射線檢測器，在上述閃爍纖維102的周圍配置可與輻射線101起相互作用而放出電子的散亂材103。
简体摘要：本发明以提供一种能提高检测的感度，提高能量特性，扩大测定辐射线量率，并图长距离发送化的辐射线检测器为目的。本发明系于受到辐射线101会发出光脉冲之闪烁纤维102之一端或两端检测上述闪烁纤维102内发生的光脉冲，以求得辐射线数据的辐射线检测器，在上述闪烁纤维102的周围配置可与辐射线101起相互作用而放出电子的散乱材103。

5. 发明专利

TWI432747B 絕緣劣化診斷裝置有权
简体标题：绝缘劣化诊断设备
公开(公告)号：TWI432747B
公开(公告)日：2014-04-01
申请号：TW100112613
申请日：2011-04-12
申请人：三菱電機股份有限公司 , MITSUBISHI ELECTRIC CORPORATION
发明人：渡邊佳正 , WATANABE, YOSHIMASA , 兼田吉治 , KANEDA, YOSHIHARU , 西澤博志 , NISHIZAWA, HIROSHI , 岡徹 , OKA, TORU
IPC分类号： G01R31/02
CPC分类号： G01R31/025 , G01R31/14 , G01R31/34 , G01R31/40

6. 发明专利

TWI426282B 絕緣劣化檢出裝置有权
简体标题：绝缘劣化检出设备
公开(公告)号：TWI426282B
公开(公告)日：2014-02-11
申请号：TW099106249
申请日：2010-03-04
申请人：三菱電機股份有限公司 , MITSUBISHI ELECTRIC CORPORATION
发明人：渡邊佳正 , WATANABE, YOSHIMASA , 西浦龍一 , NISHIURA, RYUICHI , 兼田吉治 , KANEDA, YOSHIHARU , 西澤博志 , NISHIZAWA, HIROSHI , 岡徹 , OKA, TORU , 武藤浩隆 , MUTO, HIROTAKA , 田中利貴 , TANAKA, TOSHIKI , 堤下洋治 , TSUTSUMISHITA, YOJI
IPC分类号： G01R31/28 , G01R31/00
CPC分类号： G01R31/343 , G01R31/1227

7. 发明专利

TW201205096A 絕緣劣化診斷裝置 APPARATUS FOR DIAGNOSING DETERIORATION OF INSULATION 审中-公开
简体标题：绝缘劣化诊断设备 APPARATUS FOR DIAGNOSING DETERIORATION OF INSULATION
公开(公告)号：TW201205096A
公开(公告)日：2012-02-01
申请号：TW100112613
申请日：2011-04-12
申请人：三菱電機股份有限公司
发明人：渡邊佳正 , 兼田吉治 , 西澤博志 , 岡徹
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G01R31/025 , G01R31/14 , G01R31/34 , G01R31/40
摘要：本發明係關於一種診斷連接於反相器裝置與被反相器驅動的負載機器之間的電路之絕緣劣化的裝置，且由零相變流器、激磁控制電路及同步檢波電路等所構成，該零相變流器，係具有環狀的磁性體鐵心、捲繞於該磁性體鐵心的激磁線圈、及捲繞於該磁性體鐵心的檢測線圈，用以檢測電路之零相電流；該激磁控制電路係將具有負載機器之驅動頻率(fd)之2倍以上頻率的交流電流供給至激磁線圈，用以對磁性體鐵心激磁；該同步檢波電路係用以從檢測線圈之輸出信號中，抽出與驅動頻率(fd)相同的頻率成分。藉由如此的構成，可及於較寬的頻率而高精度地計測從被反相器驅動之負載機器洩漏的電流。
简体摘要：本发明系关于一种诊断连接于反相器设备与被反相器驱动的负载机器之间的电路之绝缘劣化的设备，且由零相变流器、激磁控制电路及同步检波电路等所构成，该零相变流器，系具有环状的磁性体铁心、卷绕于该磁性体铁心的激磁线圈、及卷绕于该磁性体铁心的检测线圈，用以检测电路之零相电流；该激磁控制电路系将具有负载机器之驱动频率(fd)之2倍以上频率的交流电流供给至激磁线圈，用以对磁性体铁心激磁；该同步检波电路系用以从检测线圈之输出信号中，抽出与驱动频率(fd)相同的频率成分。借由如此的构成，可及于较宽的频率而高精度地计测从被反相器驱动之负载机器泄漏的电流。

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