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    • 6. 发明专利
    • 檢查裝置及檢查方法
    • 检查设备及检查方法
    • TW201821788A
    • 2018-06-16
    • TW105143296
    • 2016-12-27
    • 三菱電機股份有限公司MITSUBISHI ELECTRIC CORPORATION
    • 宮澤一之MIYAZAWA, KAZUYUKI
    • G01N21/88G01N21/93
    • 在習知檢查裝置中,對每一像素進行運算及判定異常有無,必須利用所有像素進行高精確度定位,因此會招致導入成本增加及電腦計算時間增加的問題。 本發明構成為設置有:解析部(12a),藉由將不含異常的對象物資料進行減少資料次元的次元壓縮,算出表示不含異常的對象物資料的性質之參數,使用參數次元壓縮檢查對象物資料;復原部(14a),產生復原利用解析部(12a)次元壓縮的檢查對象物資料之復原資料;判定部(14a),依據檢查對象物資料與復原資料的差分大小,輸出顯示檢查對象物是否異常之判定結果;及輸出部(15),輸出判定部(14a)所輸出的判定結果。
    • 在习知检查设备中,对每一像素进行运算及判定异常有无,必须利用所有像素进行高精确度定位,因此会招致导入成本增加及电脑计算时间增加的问题。 本发明构成为设置有:解析部(12a),借由将不含异常的对象物数据进行减少数据次元的次元压缩,算出表示不含异常的对象物数据的性质之参数,使用参数次元压缩检查对象物数据;复原部(14a),产生复原利用解析部(12a)次元压缩的检查对象物数据之复原数据;判定部(14a),依据检查对象物数据与复原数据的差分大小,输出显示检查对象物是否异常之判定结果;及输出部(15),输出判定部(14a)所输出的判定结果。