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1. 发明专利

TWI474891B 齒輪測定裝置的校正方法有权
简体标题：齿轮测定设备的校正方法
公开(公告)号：TWI474891B
公开(公告)日：2015-03-01
申请号：TW100110836
申请日：2011-03-29
申请人：三菱重工業股份有限公司 , MITSUBISHI HEAVY INDUSTRIES, LTD.
发明人：增尾光一 , MASUO, KOICHI , 大槻直洋 , OTSUKI, NAOHIRO , 栁瀬吉言 , YANASE, YOSHIKOTO
IPC分类号： B23Q17/20 , B23F23/12 , G01B5/012
CPC分类号： G01B5/202 , G01B21/042 , G01M13/021

2. 发明专利

TWI425186B 齒輪測定方法有权
简体标题：齿轮测定方法
公开(公告)号：TWI425186B
公开(公告)日：2014-02-01
申请号：TW099132827
申请日：2010-09-28
申请人：三菱重工業股份有限公司 , MITSUBISHI HEAVY INDUSTRIES, LTD.
发明人：廣野陽子 , HIRONO, YOKO , 東川隆英 , TOKAWA, TAKAHIDE , 大槻直洋 , OTSUKI, NAOHIRO , 能勢喜博 , NOSE, YOSHIHIRO
IPC分类号： G01B7/28 , G01B7/012
CPC分类号： G01B5/202 , B23F23/1218 , G01B5/008 , G01M13/021

3. 发明专利

TW201141655A 齒輪測定裝置的校正方法审中-公开
简体标题：齿轮测定设备的校正方法
公开(公告)号：TW201141655A
公开(公告)日：2011-12-01
申请号：TW100110836
申请日：2011-03-29
申请人：三菱重工業股份有限公司
发明人：增尾光一 , 大槻直洋 , 栁瀬吉言
IPC分类号： B23Q , B23F , G01B
CPC分类号： G01B5/202 , G01B21/042 , G01M13/021
摘要：本發明係求取藉由基圓之切線方向掃描方法求得齒輪之齒形時之齒形梯度誤差(α1)，與藉由基圓之切線方向以外之掃描方法求得齒輪之齒形時之齒形梯度誤差(α2)之偏差，即齒形梯度誤差之差Δα。使用齒形誤差之差Δα與齒輪之規格，求得位置誤差(Δx)，並根據位置誤差(Δx)而校正測頭之位置。藉此，無需使用機械基準構件即可校正測頭之位置。
简体摘要：本发明系求取借由基圆之切线方向扫描方法求得齿轮之齿形时之齿形梯度误差(α1)，与借由基圆之切线方向以外之扫描方法求得齿轮之齿形时之齿形梯度误差(α2)之偏差，即齿形梯度误差之差Δα。使用齿形误差之差Δα与齿轮之规格，求得位置误差(Δx)，并根据位置误差(Δx)而校正测头之位置。借此，无需使用机械基准构件即可校正测头之位置。

4. 发明专利

TW201208797A 齒輪磨床及齒輪磨削方法审中-公开
简体标题：齿轮磨床及齿轮磨削方法
公开(公告)号：TW201208797A
公开(公告)日：2012-03-01
申请号：TW100125302
申请日：2011-07-18
申请人：三菱重工業股份有限公司
发明人：大槻直洋 , 增尾光一
IPC分类号： B23F
CPC分类号： B23F9/02 , B23F1/02 , B23F23/006 , B23F23/10
摘要：藉由依據來自被輸入的齒輪規格及觸碰探針(120)的資訊，算出對於旋轉台(112)的軸心位置之斜齒輪(10)的實際的軸心位置(S1～S3)，依據斜齒輪(10)的實際的軸心位置，算出旋轉台(112)及砥石(118)的位置及移動的修正值(S8)，對於旋轉台(112)及砥石(118)的位置及移動的基準值加算前述修正值，而算出旋轉台(112)、機身(113)、基座(114)、砥石頭(116)的運轉值(S9)，使由該運轉值作動的方式來控制各馬達(112M～114M、116M)，進行成形磨削加工(S10)。
简体摘要：借由依据来自被输入的齿轮规格及触碰探针(120)的信息，算出对于旋转台(112)的轴心位置之斜齿轮(10)的实际的轴心位置(S1～S3)，依据斜齿轮(10)的实际的轴心位置，算出旋转台(112)及砥石(118)的位置及移动的修正值(S8)，对于旋转台(112)及砥石(118)的位置及移动的基准值加算前述修正值，而算出旋转台(112)、机身(113)、基座(114)、砥石头(116)的运转值(S9)，使由该运转值作动的方式来控制各马达(112M～114M、116M)，进行成形磨削加工(S10)。

5. 发明专利

TW201131140A 齒輪測定方法审中-公开
简体标题：齿轮测定方法
公开(公告)号：TW201131140A
公开(公告)日：2011-09-16
申请号：TW099132827
申请日：2010-09-28
申请人：三菱重工業股份有限公司
发明人：廣野陽子 , 東川隆英 , 大槻直洋 , 能勢喜博
IPC分类号： G01B
CPC分类号： G01B5/202 , B23F23/1218 , G01B5/008 , G01M13/021
摘要：本發明是提供一種可使用接觸式探針來進行多點式連續測定，與習知方法相比較可縮短測定時間的齒輪測定方法作為目的。為此，例如，將接觸式探針的測定具除了進行控制測定具的移動及工件(齒輪)的旋轉而沿著工件(W)的理想齒形線，或藉由演算所求出的齒形線使之移動所用的基本動作以外，還有於前述基本動作中，連續進行將測定具抵接於工件的齒面而收到來自接觸式探針的第1信號(導通信號或斷開信號)之後，使測定具朝著對於工件的齒面隔開的方向移動接觸式探針，並收到來自接觸式探針的第2信號(斷開信號或導通信號)所用的振盪動作。
简体摘要：本发明是提供一种可使用接触式探针来进行多点式连续测定，与习知方法相比较可缩短测定时间的齿轮测定方法作为目的。为此，例如，将接触式探针的测定具除了进行控制测定具的移动及工件(齿轮)的旋转而沿着工件(W)的理想齿形线，或借由演算所求出的齿形线使之移动所用的基本动作以外，还有于前述基本动作中，连续进行将测定具抵接于工件的齿面而收到来自接触式探针的第1信号(导通信号或断开信号)之后，使测定具朝着对于工件的齿面隔开的方向移动接触式探针，并收到来自接触式探针的第2信号(断开信号或导通信号)所用的振荡动作。

6. 发明专利

TW201026415A 齒輪測定方法审中-公开
简体标题：齿轮测定方法
公开(公告)号：TW201026415A
公开(公告)日：2010-07-16
申请号：TW098136518
申请日：2009-10-28
申请人：三菱重工業股份有限公司
发明人：大槻直洋 , 栁瀬吉言 , 增尾光一
IPC分类号： B23F
CPC分类号： G01B5/202
摘要：本發明係提供一種齒輪測定方法，藉由使測定元件之移動量較小，而使測定時測定元件之移動範圍較小，而謀求機械之小型化。該齒輪測定方法係同步控制測定元件16a之移動與工件W之旋轉，使測定元件16a在與工件W之右齒面WR或左齒面WL接觸之狀態下對應工件W之旋轉而直線移動，藉此測定其齒形形狀者，且設定：與從工件W之基圓Wb上之切點Ao起於一方以特定旋轉角度α旋轉配置之切點A相切之切線L，及與從工件W之基圓Wb上之切點Ao起於另一方以特定旋轉角度α旋轉配置之切點A'相切之切線L'；在測定右齒面WR時，使測定元件16a沿著切線L移動，另一方面，在測定左齒面WL時，使測定元件16a沿著切線L'移動；將切線L、L'之交點M設為測定開始位置B、B'與測定結束位置C、C'間之中點。
简体摘要：本发明系提供一种齿轮测定方法，借由使测定组件之移动量较小，而使测定时测定组件之移动范围较小，而谋求机械之小型化。该齿轮测定方法系同步控制测定组件16a之移动与工件W之旋转，使测定组件16a在与工件W之右齿面WR或左齿面WL接触之状态下对应工件W之旋转而直线移动，借此测定其齿形形状者，且设置：与从工件W之基圆Wb上之切点Ao起于一方以特定旋转角度α旋转配置之切点A相切之切线L，及与从工件W之基圆Wb上之切点Ao起于另一方以特定旋转角度α旋转配置之切点A'相切之切线L'；在测定右齿面WR时，使测定组件16a沿着切线L移动，另一方面，在测定左齿面WL时，使测定组件16a沿着切线L'移动；将切线L、L'之交点M设为测定开始位置B、B'与测定结束位置C、C'间之中点。

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