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    • 6. 发明专利
    • 裂斷裝置
    • 裂断设备
    • TW201700420A
    • 2017-01-01
    • TW105101052
    • 2016-01-14
    • 三星鑽石工業股份有限公司MITSUBOSHI DIAMOND INDUSTRIAL CO., LTD.
    • 栗山規由KURIYAMA, NORIYUKI武田真和TAKEDA, MASAKAZU村上健二MURAKAMI, KENJI橋本多市HASHIMOTO, TAICHI
    • C03B33/033B23Q15/02B23Q17/24B28D5/00
    • 本發明提供一種不受半導體基板或保護膜、切割膠帶厚度之影響,能維持適當正確之裂斷棒壓入量的裂斷裝置。 將表面形成有刻劃線S之半導體基板W之一面被保護膜3被覆、相反側之面貼有切割膠帶2之半導體基板W以裂斷棒7按壓使其斷開之裂斷裝置,其具備將半導體基板W與保護膜3及切割膠帶2一起載置的平台4、測定位在載置於平台4之半導體基板W之上面側之保護膜3或切割膠帶2之表面高度的位移計10、以及具有在以位移計10測得之測定數值相對裂斷棒7之壓入開始位置有差異之情形時將該差異量對裂斷棒7之規定壓入量進行加減後使裂斷棒7昇降動作之控制部11的電腦C。
    • 本发明提供一种不受半导体基板或保护膜、切割胶带厚度之影响,能维持适当正确之裂断棒压入量的裂断设备。 将表面形成有刻划线S之半导体基板W之一面被保护膜3被覆、相反侧之面贴有切割胶带2之半导体基板W以裂断棒7按压使其断开之裂断设备,其具备将半导体基板W与保护膜3及切割胶带2一起载置的平台4、测定位在载置于平台4之半导体基板W之上面侧之保护膜3或切割胶带2之表面高度的位移计10、以及具有在以位移计10测得之测定数值相对裂断棒7之压入开始位置有差异之情形时将该差异量对裂断棒7之规定压入量进行加减后使裂断棒7升降动作之控制部11的电脑C。