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1. 发明专利

TWI440866B 於電子元件處理器上之文氏管真空產生器及其使用方法有权
简体标题：于电子组件处理器上之文氏管真空产生器及其使用方法
公开(公告)号：TWI440866B
公开(公告)日：2014-06-11
申请号：TW097102904
申请日：2008-01-25
申请人： ESI電子科技(股)公司 , ELECTRO SCIENTIFIC INDUSTRIES, INC.
发明人：道格拉斯范柏蘇 , VAN BOSSUYT, DOUGLAS
IPC分类号： G01R31/26 , B07C5/344 , H01L21/66
CPC分类号： G01R31/01

2. 发明专利

TWI402640B 用於自動處理預訂次序之多應用以影響多應用定序之方法和裝置失效
简体标题：用于自动处理预订次序之多应用以影响多应用定序之方法和设备
公开(公告)号：TWI402640B
公开(公告)日：2013-07-21
申请号：TW096119781
申请日：2007-06-01
申请人： ESI電子科技(股)公司 , ELECTRO SCIENTIFIC INDUSTRIES, INC.
发明人：傑佛瑞豪爾頓 , HOWERTON, JEFFREY , 米梅特艾爾裴 , ALPAY, MEHMET , 文陵 , WEN, LING
IPC分类号： G05B19/402
CPC分类号： B23K26/382 , B23K26/40 , B23K2201/42 , B23K2203/172 , B23K2203/50 , H05K1/0269 , H05K3/0008 , H05K3/0026 , H05K2201/09918 , H05K2201/09972

3. 发明专利

TWI396599B 利用使用４５度角光束分裂定向裝置及方法之組光束分離之Ｘ及Ｙ正交切方向處理有权
简体标题：利用使用４５度角光束分裂定向设备及方法之组光束分离之Ｘ及Ｙ正交切方向处理
公开(公告)号：TWI396599B
公开(公告)日：2013-05-21
申请号：TW095108817
申请日：2006-03-15
申请人： ESI電子科技(股)公司 , ELECTRO SCIENTIFIC INDUSTRIES, INC.
发明人：雷那得肯特 , KANDT, LEONARD
IPC分类号： B23K26/08 , H01L21/78
CPC分类号： B23K26/0869 , B23K26/083 , B23K26/0853 , B23K26/38 , B23K26/40 , B23K2201/40 , B23K2203/50

4. 发明专利

TWI303784B 決定物體角姿態之方法及裝置 METHOD AND APPARATUS FOR DETERMINING ANGULAR POSE OF AN OBJECT 有权
简体标题：决定物体角姿态之方法及设备 METHOD AND APPARATUS FOR DETERMINING ANGULAR POSE OF AN OBJECT
公开(公告)号：TWI303784B
公开(公告)日：2008-12-01
申请号：TW094106618
申请日：2005-03-04
申请人： ESI電子科技(股)公司 ELECTRO SCIENTIFIC INDUSTRIES, INC.
发明人：派區克雷那德 LEONARD, PATRICK , 馬克新格 SINGER, MARK
IPC分类号： G06K
CPC分类号： G01B11/002 , G01B11/26 , G06K9/3208 , G06T7/70 , G06T2207/20068 , G06T2207/20081 , G06T2207/30148
摘要：本發明可有效決定一假定物體之角姿態。自該已知物體之一樣本影像計算一連串投影和,其中該已知物體具有一假定姿態。該等投影和計算一角度範圍,且經組織成一創造一投影影像之二維陣列。提供該已知物體之一影像,其中該已知物體具有一未知姿態。宜在直角處越過具有該未知姿態之該已知物體之該影像來計算一投影和。該投影和與該投影影像相關,且對應於最佳相關之角度經決定為該已知物體之該角姿態。
简体摘要：本发明可有效决定一假定物体之角姿态。自该已知物体之一样本影像计算一连串投影和,其中该已知物体具有一假定姿态。该等投影和计算一角度范围,且经组织成一创造一投影影像之二维数组。提供该已知物体之一影像,其中该已知物体具有一未知姿态。宜在直角处越过具有该未知姿态之该已知物体之该影像来计算一投影和。该投影和与该投影影像相关,且对应于最佳相关之角度经决定为该已知物体之该角姿态。

5. 发明专利

TW200845841A 具有間隙設定裝置之電子元件處理器 ELECTRONIC COMPONENT HANDLER HAVING GAP SET DEVICE 审中-公开
简体标题：具有间隙设置设备之电子组件处理器 ELECTRONIC COMPONENT HANDLER HAVING GAP SET DEVICE
公开(公告)号：TW200845841A
公开(公告)日：2008-11-16
申请号：TW097102921
申请日：2008-01-25
申请人： ESI電子科技(股)公司 ELECTRO SCIENTIFIC INDUSTRIES, INC.
发明人：大衛詹姆斯麥基爾 MCKEEVER, DAVID JAMES , 馬丁腓德瑞克班伯格 BAMBERGER, MARTIN FREDERICK , 柏蘭麥可 MICHAEL, BLAINE , 道J 嘉西亞 GARCIA, DOUG J.
IPC分类号： H05K , B65G , G01R , H01L
CPC分类号： B07C3/12 , B07C5/344 , G01R31/2893
摘要：本發明提供一種用於一電子元件處理器的間隙設定裝置。該電子元件處理器包含具有安裝於其上的一測試附件之一線性軸承。該測試附件可在遠離一工具的一第一位置與較接近於該工具的一第二位置之間移動。一設定柱可從該測試附件伸展以便當該測試附件從該第一位置移動至該第二位置時,該設定柱可固定該測試附件與該工具之間的一間隙。
简体摘要：本发明提供一种用于一电子组件处理器的间隙设置设备。该电子组件处理器包含具有安装于其上的一测试附件之一线性轴承。该测试附件可在远离一工具的一第一位置与较接近于该工具的一第二位置之间移动。一设置柱可从该测试附件伸展以盒饭该测试附件从该第一位置移动至该第二位置时,该设置柱可固定该测试附件与该工具之间的一间隙。

6. 发明专利

TW200816784A 經由多重波長光之改良影像品質 IMPROVING IMAGE QUALITY VIA MULTI-WAVELENGTH LIGHT 审中-公开
简体标题：经由多重波长光之改良影像品质 IMPROVING IMAGE QUALITY VIA MULTI-WAVELENGTH LIGHT
公开(公告)号：TW200816784A
公开(公告)日：2008-04-01
申请号：TW096115191
申请日：2007-04-27
申请人： ESI電子科技(股)公司 ELECTRO SCIENTIFIC INDUSTRIES, INC.
发明人：布萊恩喬韓生 JOHANSEN, BRIAN , 米梅特E 艾爾裴 ALPAY, MEHMET E.
IPC分类号： H04N
CPC分类号： G01N21/8851 , G01N21/9501 , G06K9/2018 , G06K9/2027 , G06K2209/19 , G06T5/50
摘要：本發明揭示一種使用多重波長發光來改良經由單色相機所捕獲之影像的影像品質的方法與設備。一對比最佳化演算法會決定可用波長中哪一個特殊波長最適於最大化對比。藉由決定用以提供一目標與一背景間之最大對比與最小對比的發光方案以進行主動式雜訊抑制則可進一步改良該影像的品質。接著,透過逐個像素地以最大對比影像除以最小對比影像便可達成影像紋理資料(也就是,雜訊)消除的目的。或者,可以代數的方式來組合使用至少兩個波長所獲得之影像,以達減低雜訊的目的。所生成的複合影像可送入任何已知的目標辨識演算法之中。
简体摘要：本发明揭示一种使用多重波长发光来改良经由单色相机所捕获之影像的影像品质的方法与设备。一对比最优化算法会决定可用波长中哪一个特殊波长最适于最大化对比。借由决定用以提供一目标与一背景间之最大对比与最小对比的发光方案以进行主动式噪声抑制则可进一步改良该影像的品质。接着,透过逐个像素地以最大对比影像除以最小对比影像便可达成影像纹理数据(也就是,噪声)消除的目的。或者,可以代数的方式来组合使用至少两个波长所获得之影像,以达减低噪声的目的。所生成的复合影像可送入任何已知的目标辨识算法之中。

7. 发明专利

TW200804013A 用於結構性地薄化具有通道圖案之材料的方法 PROCESS FOR STRUCTURALLY THINNING MATERIALS DRILLED WITH VIA PATTERNS 审中-公开
简体标题：用于结构性地薄化具有信道图案之材料的方法 PROCESS FOR STRUCTURALLY THINNING MATERIALS DRILLED WITH VIA PATTERNS
公开(公告)号：TW200804013A
公开(公告)日：2008-01-16
申请号：TW096119144
申请日：2007-05-29
申请人： ESI電子科技(股)公司 ELECTRO SCIENTIFIC INDUSTRIES, INC.
发明人：葛瑞格E.哈帝 HARDY, GREGG E. , 麥可S.奈許爾 NASHNER, MICHAEL S. , 傑佛瑞E.豪爾頓 HOWERTON, JEFFREY E.
IPC分类号： B21D , B05D
CPC分类号： B29C66/472 , B23K2203/42 , B23K2203/50 , B29C39/006 , B29C65/1406 , B29C65/1435 , B29C65/1483 , B29C65/4845 , B29C66/1122 , B29C66/30325 , B29C66/43 , B29C66/45 , B29C66/742 , B29C2035/0827 , B60Q3/14 , Y10T428/24273
摘要：本發明揭示一種在鑽孔之前薄化一基板且/或在鑽孔之後結構性地强化一具有一通道圖案之薄化基板之方法及藉由該方法獲得之產品。一基板或面板具有一第一厚度。在該基板內形成一空穴,其中該空穴具有一小於該第一厚度之第二厚度。在該空穴中鑽製至少一個通道,並用一透光材料填充該(等)通道。
简体摘要：本发明揭示一种在钻孔之前薄化一基板且/或在钻孔之后结构性地强化一具有一信道图案之薄化基板之方法及借由该方法获得之产品。一基板或皮肤具有一第一厚度。在该基板内形成一空穴,其中该空穴具有一小于该第一厚度之第二厚度。在该空穴中钻制至少一个信道,并用一透光材料填充该(等)信道。

8. 发明专利

TW200608306A 照明假影之影像消除 IMAGE SUBTRACTION OF ILLUMINATION ARTIFACTS 失效
公开(公告)号：TW200608306A
公开(公告)日：2006-03-01
申请号：TW094112748
申请日：2005-04-21
申请人： ESI電子科技(股)公司 ELECTRO SCIENTIFIC INDUSTRIES, INC.
发明人：雷歐鮑德溫 BALDWIN, LEO
IPC分类号： G06K
CPC分类号： G06K9/2036
摘要：本發明揭示一種用於自一物件影像移除由一成像系統之一直列式照明裝置產生的一假影之方法。該方法包括使用一第一假影照明等級獲得該假影之一第一影像，及使用該成像系統成像該物件，其中該照明裝置使用一物件照明等級。一假影影像係獨立於該物件且具有與該照明等級相關之像素值。因此，可藉由基於逐像素位址自該物件影像之個別值消除一假影影像之個別像素值來移除該假影。可使用各種照明等級以創建一個以上之假影影像。用於該消除之該假影影像可為該等所得影像中之一影像或可為一成比列影像，其中一假影影像成比例縮放至該物件照明等級。
简体摘要：本发明揭示一种用于自一对象影像移除由一成像系统之一直列式照明设备产生的一假影之方法。该方法包括使用一第一假影照明等级获得该假影之一第一影像，及使用该成像系统成像该对象，其中该照明设备使用一对象照明等级。一假影影像系独立于该对象且具有与该照明等级相关之像素值。因此，可借由基于逐像素位址自该对象影像之个别值消除一假影影像之个别像素值来移除该假影。可使用各种照明等级以创建一个以上之假影影像。用于该消除之该假影影像可为该等所得影像中之一影像或可为一成比列影像，其中一假影影像成比例缩放至该对象照明等级。

9. 发明专利

TW200603006A 決定物體角姿態之方法及裝置 METHOD AND APPARATUS FOR DETERMINING ANGULAR POSE OF AN OBJECT 审中-公开
简体标题：决定物体角姿态之方法及设备 METHOD AND APPARATUS FOR DETERMINING ANGULAR POSE OF AN OBJECT
公开(公告)号：TW200603006A
公开(公告)日：2006-01-16
申请号：TW094106618
申请日：2005-03-04
申请人： ESI電子科技(股)公司 ELECTRO SCIENTIFIC INDUSTRIES, INC.
发明人：派區克雷那德 LEONARD, PATRICK , 馬克新格 SINGER, MARK
IPC分类号： G06K
CPC分类号： G01B11/002 , G01B11/26 , G06K9/3208 , G06T7/70 , G06T2207/20068 , G06T2207/20081 , G06T2207/30148
摘要：本發明可有效決定一假定物體之角姿態。自該已知物體之一樣本影像計算一連串投影和，其中該已知物體具有一假定姿態。該等投影和計算一角度範圍，且經組織成一創造一投影影像之二維陣列。提供該已知物體之一影像，其中該已知物體具有一未知姿態。宜在直角處越過具有該未知姿態之該已知物體之該影像來計算一投影和。該投影和與該投影影像相關，且對應於最佳相關之角度經決定為該已知物體之該角姿態。
简体摘要：本发明可有效决定一假定物体之角姿态。自该已知物体之一样本影像计算一连串投影和，其中该已知物体具有一假定姿态。该等投影和计算一角度范围，且经组织成一创造一投影影像之二维数组。提供该已知物体之一影像，其中该已知物体具有一未知姿态。宜在直角处越过具有该未知姿态之该已知物体之该影像来计算一投影和。该投影和与该投影影像相关，且对应于最佳相关之角度经决定为该已知物体之该角姿态。

10. 发明专利

TWI445588B 具掃瞄透鏡後偏轉之雷射微加工系統有权
简体标题：具扫瞄透镜后偏转之激光微加工系统
公开(公告)号：TWI445588B
公开(公告)日：2014-07-21
申请号：TW097116357
申请日：2008-05-02
申请人： ESI電子科技(股)公司 , ELECTRO SCIENTIFIC INDUSTRIES, INC.
发明人：米梅特E 艾爾裴 , ALPAY, MEHMET E. , 傑佛瑞豪爾頓 , HOWERTON, JEFFREY , 派區克雷那德 , LEONARD, PATRICK , 麥可奈許爾 , NASHNER, MICHAEL , 大衛麥基爾 , MCKEEVER, DAVID
IPC分类号： B23K26/062 , B23K26/08
CPC分类号： B23K26/0665 , B23K26/0643 , B23K26/0648 , B23K26/082 , B23K26/382 , B23K26/40 , B23K2201/42 , B23K2203/16 , B23K2203/50 , H05K3/0026

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