专利快速检索-快速检索全球专利，免费商用专利数据库-IPRDB

1. 发明专利

TWI472220B 光量測定裝置有权
简体标题：光量测定设备
公开(公告)号：TWI472220B
公开(公告)日：2015-02-01
申请号：TW097143171
申请日：2008-11-07
申请人：柯尼卡美能達光電股份有限公司 , KONICA MINOLTA SENSING, INC.
发明人：今井澄 , IMAI, KIYOSHI , 高橋誠 , TAKAHASHI, MAKOTO , 清水晉二 , SHIMIZU, SHINJI
IPC分类号： H04N5/21
CPC分类号： G01J1/04 , G01J1/0418 , G01J1/044 , G01J1/44 , G01J3/02 , G01J3/0213 , G01J3/0232 , G01J3/2803 , G01J3/2889

2. 发明专利

TWI429888B 測定用光學系和使用有此之色彩輝度計及色彩計有权
简体标题：测定用光学系和使用有此之色彩辉度计及色彩计
公开(公告)号：TWI429888B
公开(公告)日：2014-03-11
申请号：TW100109883
申请日：2011-03-23
申请人：柯尼卡美能達光電股份有限公司 , KONICA MINOLTA SENSING, INC.
发明人：靏谷克敏 , TSURUTANI, KATSUTOSHI
IPC分类号： G01J3/51 , G01M11/00
CPC分类号： G01J3/02 , G01J3/0208 , G01J3/0218 , G01J3/024 , G01J3/506 , G01J3/51 , G01J3/513 , G02B6/04 , G02B6/2804 , G02B27/10 , G02B27/1006 , G02F1/1309 , G02F2001/136254 , G02F2203/69

3. 发明专利

TWI451073B 測定用光學系及使用彼之亮度計、色彩亮度計及色彩計有权
简体标题：测定用光学系及使用彼之亮度计、色彩亮度计及色彩计
公开(公告)号：TWI451073B
公开(公告)日：2014-09-01
申请号：TW100111007
申请日：2011-03-30
申请人：柯尼卡美能達光電股份有限公司 , KONICA MINOLTA SENSING, INC.
发明人：靏谷克敏 , TSURUTANI, KATSUTOSHI
IPC分类号： G01J3/51 , G01M11/00
CPC分类号： G01J3/51 , G01J1/0242 , G01J3/02 , G01J3/0208 , G01J3/0218 , G01J3/506 , G01J3/513 , G09G3/006

4. 发明专利

TWI411769B 測光測色裝置有权
简体标题：测光测色设备
公开(公告)号：TWI411769B
公开(公告)日：2013-10-11
申请号：TW098127865
申请日：2009-08-19
申请人：柯尼卡美能達光電股份有限公司 , KONICA MINOLTA SENSING, INC.
发明人：清水晉二 , SHIMIZU, SHINJI , 唐崎敏彥 , KARASAKI, TOSHIHIKO , 山元廣治 , YAMAMOTO, KOJI , 清井計彌 , KIYOI, KAZUYA , 長井慶郎 , NAGAI, YOSHIROH , 靍谷克敏 , TSURUTANI, KATSUTOSHI
IPC分类号： G01J3/28 , G01J3/50
CPC分类号： G01J3/51 , G01J3/02 , G01J3/0264 , G01J3/0294

5. 发明专利

TW201011266A 光測定裝置、光測定方法、及程式 LIGHT MEASURING APPARATUS, LIGHT MEASURING METHOD AND PROGRAM 审中-公开
简体标题：光测定设备、光测定方法、及进程 LIGHT MEASURING APPARATUS, LIGHT MEASURING METHOD AND PROGRAM
公开(公告)号：TW201011266A
公开(公告)日：2010-03-16
申请号：TW098118218
申请日：2009-06-02
申请人：柯尼卡美能達光電股份有限公司
发明人：長井慶郎 , 清水晉二
IPC分类号： G01J
CPC分类号： G01J1/1626 , G01J3/50 , G01J3/506
摘要：提供一種，即使有複數調變因素牽扯的情況下，仍可將來自光源之光線所涉及之訊號電荷的適切累積時間加以偵測的光測定技術。於測定光源之光特性用的光測定裝置中，監視從光源所出射的光以按時間依序獲得亮度訊號的監視用光感測器，基於其所獲得之亮度訊號對時間的變動資訊，演算部係算出測定用光感測器接受從光源出射的光並累積訊號電荷所需的累積時間，控制部係進行控制，使得測定用光感測器係於所被算出的累積時間中，進行訊號電荷的累積。
简体摘要：提供一种，即使有复数调制因素牵扯的情况下，仍可将来自光源之光线所涉及之信号电荷的适切累积时间加以侦测的光测定技术。于测定光源之光特性用的光测定设备中，监视从光源所出射的光以按时间依序获得亮度信号的监视用光传感器，基于其所获得之亮度信号对时间的变动信息，演算部系算出测定用光传感器接受从光源出射的光并累积信号电荷所需的累积时间，控制部系进行控制，使得测定用光传感器系于所被算出的累积时间中，进行信号电荷的累积。

6. 发明专利

TWI431257B 測定用光學系及使用彼之色彩亮度計及色彩計有权
简体标题：测定用光学系及使用彼之色彩亮度计及色彩计
公开(公告)号：TWI431257B
公开(公告)日：2014-03-21
申请号：TW100111005
申请日：2011-03-30
申请人：柯尼卡美能達光電股份有限公司 , KONICA MINOLTA SENSING, INC.
发明人：靏谷克敏 , TSURUTANI, KATSUTOSHI
IPC分类号： G01J3/51
CPC分类号： G01J3/51 , G01J3/02 , G01J3/0205 , G01J3/0216 , G01J3/0218 , G01J3/506 , G01J3/513

7. 发明专利

TW200926766A 光量測定裝置 LIGHT QUANTITY MEASURING APPARATUS 审中-公开
简体标题：光量测定设备 LIGHT QUANTITY MEASURING APPARATUS
公开(公告)号：TW200926766A
公开(公告)日：2009-06-16
申请号：TW097143171
申请日：2008-11-07
申请人：柯尼卡美能達光電股份有限公司 KONICA MINOLTA SENSING, INC.
发明人：今井澄 IMAI, KIYOSHI , 高橋誠 TAKAHASHI, MAKOTO , 清水晉二 SHIMIZU, SHINJI
IPC分类号： H04N
CPC分类号： G01J1/04 , G01J1/0418 , G01J1/044 , G01J1/44 , G01J3/02 , G01J3/0213 , G01J3/0232 , G01J3/2803 , G01J3/2889
摘要：提供一種:能夠在短時間內而適切地對光量會週期性變動之被測定光作測定的光量測定裝置。光二極體在測定期間中所產生以及積蓄之電荷,係分成複數次而被讀出,控制演算部,係取得因應了光二極體在對測定期間作了分割之複數個的積蓄期間的各個中所產生以及積蓄之電荷的量之像素資料。進而,控制演算部,係將複數之像素資料作累加,並計算出因應了光二極體在測定期間中所產生以及積蓄的電荷之量的像素資料。
简体摘要：提供一种:能够在短时间内而适切地对光量会周期性变动之被测定光作测定的光量测定设备。光二极管在测定期间中所产生以及积蓄之电荷,系分成复数次而被读出,控制演算部,系取得因应了光二极管在对测定期间作了分割之复数个的积蓄期间的各个中所产生以及积蓄之电荷的量之像素数据。进而,控制演算部,系将复数之像素数据作累加,并计算出因应了光二极管在测定期间中所产生以及积蓄的电荷之量的像素数据。

8. 发明专利

TW201205050A 測定用光學系及使用彼之色彩亮度計及色彩計审中-公开
简体标题：测定用光学系及使用彼之色彩亮度计及色彩计
公开(公告)号：TW201205050A
公开(公告)日：2012-02-01
申请号：TW100111005
申请日：2011-03-30
申请人：柯尼卡美能達光電股份有限公司
发明人：靏谷克敏
IPC分类号： G01J
CPC分类号： G01J3/51 , G01J3/02 , G01J3/0205 , G01J3/0216 , G01J3/0218 , G01J3/506 , G01J3/513
摘要：在相關於本發明之測定探頭(40)，測定光，藉由第1擴散板(19)而散射，透過複數之干涉膜濾光片(13A、14A、15A)以複數之受光感測器(13B、14B、15B)受光時，透過第2擴散板(13C、14C、15C)往各干涉膜濾光片(13A、14A、15A)入射。接著，這些干涉膜濾光片(13A、14A、15A)，係以因應於往該干涉膜濾光片(13A、14A、15A)之入射光的對入射角度的強度分布之條件，而得到對應於測定參數的透過率特性的方式被形成。因此，相關於本發明之測定探頭(40)，使用干涉膜濾光片(13A、14A、15A)，同時可以減低由於其入射角度導致透過率特性的偏移的影響。
简体摘要：在相关于本发明之测定探头(40)，测定光，借由第1扩散板(19)而散射，透过复数之干涉膜滤光片(13A、14A、15A)以复数之受光传感器(13B、14B、15B)受光时，透过第2扩散板(13C、14C、15C)往各干涉膜滤光片(13A、14A、15A)入射。接着，这些干涉膜滤光片(13A、14A、15A)，系以因应于往该干涉膜滤光片(13A、14A、15A)之入射光的对入射角度的强度分布之条件，而得到对应于测定参数的透过率特性的方式被形成。因此，相关于本发明之测定探头(40)，使用干涉膜滤光片(13A、14A、15A)，同时可以减低由于其入射角度导致透过率特性的偏移的影响。

9. 发明专利

TW201205051A 測定用光學系及使用彼之亮度計、色彩亮度計及色彩計审中-公开
简体标题：测定用光学系及使用彼之亮度计、色彩亮度计及色彩计
公开(公告)号：TW201205051A
公开(公告)日：2012-02-01
申请号：TW100111007
申请日：2011-03-30
申请人：柯尼卡美能達光電股份有限公司
发明人：靏谷克敏
IPC分类号： G01J , G01M
CPC分类号： G01J3/51 , G01J1/0242 , G01J3/02 , G01J3/0208 , G01J3/0218 , G01J3/506 , G01J3/513 , G09G3/006
摘要：在相關於本發明的測定探頭(40)，測定光，係透過干涉膜濾光片(13A、14A、15A)而以受光感測器(13B、14B、15B)受光之前，往單線光纖(13C、14C、15C)入射。接著，干涉膜濾光片(13A、14A、15A)，係以因應於往該干涉膜濾光片(13A、14A、15A)之入射光的對入射角度的強度分布之條件，而得到對應於測定參數的透過率特性的方式被形成。因此，相關於本發明之測定探頭(40)，使用干涉膜濾光片(13A、14A、15A)，同時可以減低由於其入射角度導致透過率特性的偏移的影響。
简体摘要：在相关于本发明的测定探头(40)，测定光，系透过干涉膜滤光片(13A、14A、15A)而以受光传感器(13B、14B、15B)受光之前，往单线光纤(13C、14C、15C)入射。接着，干涉膜滤光片(13A、14A、15A)，系以因应于往该干涉膜滤光片(13A、14A、15A)之入射光的对入射角度的强度分布之条件，而得到对应于测定参数的透过率特性的方式被形成。因此，相关于本发明之测定探头(40)，使用干涉膜滤光片(13A、14A、15A)，同时可以减低由于其入射角度导致透过率特性的偏移的影响。

10. 发明专利

TW201205049A 測定用光學系和使用有此之色彩輝度計及色彩計审中-公开
简体标题：测定用光学系和使用有此之色彩辉度计及色彩计
公开(公告)号：TW201205049A
公开(公告)日：2012-02-01
申请号：TW100109883
申请日：2011-03-23
申请人：柯尼卡美能達光電股份有限公司
发明人：靏谷克敏
IPC分类号： G01J , G01M
CPC分类号： G01J3/02 , G01J3/0208 , G01J3/0218 , G01J3/024 , G01J3/506 , G01J3/51 , G01J3/513 , G02B6/04 , G02B6/2804 , G02B27/10 , G02B27/1006 , G02F1/1309 , G02F2001/136254 , G02F2203/69
摘要：在本發明之測定探針(40)中，測定光，係藉由分歧光學系(12)而被分歧為複數，各分歧光，係在透過作為濾色器之各干涉膜濾波器(13A、14A、15A)並藉由各受光感測器(13B、14B、15B)而被受光時，透過成為略兩側遠心系之各集光透鏡群(13C、14C、15C)來射入至各干涉膜濾波器(13A、14A、15A)處。而，干涉膜濾波器(13A、14A、15A)，係以因應相對於朝向該干涉膜濾波器(13A、14A、15A)之射入光的射入角度之強度分布的條件，來得到與測定參數相對應之透過率特性的方式，而被形成。故而，本發明之測定探針(40)，係能夠一面使用干涉膜濾波器(13A、14A、15A)，一面將由於其之射入角度所導致的透過率特性之偏差的影響降低。
简体摘要：在本发明之测定探针(40)中，测定光，系借由分歧光学系(12)而被分歧为复数，各分歧光，系在透过作为滤色器之各干涉膜滤波器(13A、14A、15A)并借由各受光传感器(13B、14B、15B)而被受光时，透过成为略两侧远心系之各集光透镜群(13C、14C、15C)来射入至各干涉膜滤波器(13A、14A、15A)处。而，干涉膜滤波器(13A、14A、15A)，系以因应相对于朝向该干涉膜滤波器(13A、14A、15A)之射入光的射入角度之强度分布的条件，来得到与测定参数相对应之透过率特性的方式，而被形成。故而，本发明之测定探针(40)，系能够一面使用干涉膜滤波器(13A、14A、15A)，一面将由于其之射入角度所导致的透过率特性之偏差的影响降低。

你已经成功收藏专利！

检索式保存成功!

IPRDB

热门服务

关于我们

友情链接

联系方式