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    • 41. 发明专利
    • 半導體積體電路與正反器
    • 半导体集成电路与正反器
    • TW201711385A
    • 2017-03-16
    • TW105118477
    • 2016-06-14
    • 三星電子股份有限公司SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.
    • 金智謙KIM, JI-KYUM李大成LEE, DAE-SEONG金珉修KIM, MIN-SU
    • H03K3/356
    • H03K3/35625G01R31/318541
    • 一種半導體積體電路包括:掃描賦能(SE)反相器及時脈(CK)反相器,位於基板上;第一多工部;以及第二多工部。掃描賦能反相器與時脈反相器在第一方向上對齊。第一多工部包括第一配線及第一電晶體,所述第一配線連接至掃描賦能反相器的電源供應電壓部,且所述第一配線與所述第一電晶體共用與所述第一配線接觸的源極區。第二多工部包括第二配線及第二電晶體,所述第二配線連接至所述時脈反相器的電源供應電壓部,且所述第二配線與所述第二電晶體共用與所述第二配線接觸的源極區。掃描賦能反相器與時脈反相器在第一方向上彼此對齊。
    • 一种半导体集成电路包括:扫描赋能(SE)反相器及时脉(CK)反相器,位于基板上;第一多任务部;以及第二多任务部。扫描赋能反相器与时脉反相器在第一方向上对齐。第一多任务部包括第一配线及第一晶体管,所述第一配线连接至扫描赋能反相器的电源供应电压部,且所述第一配线与所述第一晶体管共享与所述第一配线接触的源极区。第二多任务部包括第二配线及第二晶体管,所述第二配线连接至所述时脉反相器的电源供应电压部,且所述第二配线与所述第二晶体管共享与所述第二配线接触的源极区。扫描赋能反相器与时脉反相器在第一方向上彼此对齐。