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    • 33. 发明专利
    • 製造光學性顯示裝置之方法及裝置
    • 制造光学性显示设备之方法及设备
    • TW201438913A
    • 2014-10-16
    • TW102136977
    • 2013-10-14
    • 日東電工股份有限公司NITTO DENKO CORPORATION
    • 由良友和YURA, TOMOKAZU小塩智KOSHIO, SATORU堤清貴TSUTSUMI, KIYOTAKA
    • B32B37/12B32B38/10B32B41/00G02B5/30G02F1/13
    • G02F1/1303B32B37/12B32B38/0004B32B38/10B32B2457/202B32B2551/00G02F1/1335G02F2001/133354G02F2202/28
    • [課題]提供一種一面將在長條卷狀的載體薄膜上而被與黏著層一同連續性地作支持之複數的光學薄膜薄片依序作剝離一面貼合於面板構件上的製造光學性顯示裝置之方法以及用以進行該方法之裝置。[解決手段]在結束了前方之光學薄膜薄片和面板構件間之貼合動作之後,將被支持在身為使背面在剝離體之頂部處而朝向內側作了反折並被捲掛在剝離體上之狀態下的載體薄膜處之下一個光學薄膜薄片的後端,於既定檢測位置處而作為位置資訊來讀取,並基於該位置資訊,來一面將光學薄膜薄片從載體薄膜剝離,一面將光學薄膜薄片之前端定位在既定貼附位置處,再將面板構件搬送至該前端處,並將光學薄膜薄片貼合在面板構件之其中一面上,而製造光學顯示裝置。
    • [课题]提供一种一面将在长条卷状的载体薄膜上而被与黏着层一同连续性地作支持之复数的光学薄膜薄片依序作剥离一面贴合于皮肤构件上的制造光学性显示设备之方法以及用以进行该方法之设备。[解决手段]在结束了前方之光学薄膜薄片和皮肤构件间之贴合动作之后,将被支持在身为使背面在剥离体之顶部处而朝向内侧作了反折并被卷挂在剥离体上之状态下的载体薄膜处之下一个光学薄膜薄片的后端,于既定检测位置处而作为位置信息来读取,并基于该位置信息,来一面将光学薄膜薄片从载体薄膜剥离,一面将光学薄膜薄片之前端定位在既定贴附位置处,再将皮肤构件搬送至该前端处,并将光学薄膜薄片贴合在皮肤构件之其中一面上,而制造光学显示设备。
    • 38. 发明专利
    • 透射型缺陷檢查裝置及缺陷檢查方法
    • 透射型缺陷检查设备及缺陷检查方法
    • TW201623947A
    • 2016-07-01
    • TW104113895
    • 2015-04-30
    • 日東電工股份有限公司NITTO DENKO CORPORATION
    • 由良友和YURA, TOMOKAZU小塩智KOSHIO, SATORU北田和生KITADA, KAZUO
    • G01N21/89
    • 提供透射型缺陷檢查裝置以及缺陷檢查方法之透射型缺陷檢查裝置,其特徵為,係具備有:線狀照明裝置,係對於光學顯示面板而射出光;和複數之區域攝像機,係並列為線狀並以與線狀照明裝置相對向的方式而被安裝,並受光從線狀照明裝置而來之透過了光學顯示面板之透射光,而對光學顯示面板進行攝像;和畫像處理部,係對於藉由區域攝像機所攝像了的光學顯示面板之畫像進行處理;和控制部,係因應於光學顯示面板之移動速度而對於區域攝像機之攝像時序作控制,區域攝像機,係以使在第n(n≧1)次所攝像的光學顯示面板之畫像和在第n+1次所攝像的光學顯示面板之畫像會於光學顯示面板之移動方向上而作一部分之重疊的方式,來進行攝像。若依據此透射型缺陷檢查裝置,則係能夠防止缺陷之漏檢測,而能夠以良好效率來檢測出缺陷。
    • 提供透射型缺陷检查设备以及缺陷检查方法之透射型缺陷检查设备,其特征为,系具备有:线状照明设备,系对于光学显示皮肤而射出光;和复数之区域摄像机,系并列为线状并以与线状照明设备相对向的方式而被安装,并受光从线状照明设备而来之透过了光学显示皮肤之透射光,而对光学显示皮肤进行摄像;和画像处理部,系对于借由区域摄像机所摄像了的光学显示皮肤之画像进行处理;和控制部,系因应于光学显示皮肤之移动速度而对于区域摄像机之摄像时序作控制,区域摄像机,系以使在第n(n≧1)次所摄像的光学显示皮肤之画像和在第n+1次所摄像的光学显示皮肤之画像会于光学显示皮肤之移动方向上而作一部分之重叠的方式,来进行摄像。若依据此透射型缺陷检查设备,则系能够防止缺陷之漏检测,而能够以良好效率来检测出缺陷。
    • 40. 发明专利
    • 層疊光學薄膜裁斷裝置及使用該裁斷裝置的層疊光學薄膜裁斷方法
    • 层叠光学薄膜裁断设备及使用该裁断设备的层叠光学薄膜裁断方法
    • TW201600281A
    • 2016-01-01
    • TW104105040
    • 2015-02-13
    • 日東電工股份有限公司NITTO DENKO CORPORATION
    • 由良友和YURA, TOMOKAZU小塩智KOSHIO, SATORU大澤曜彰OSAWA, TERUAKI川合渉史KAWAI, TAKASHI
    • B26D5/20B26D5/24
    • 本發明的課題是提供一種為了解決因磨損或裁斷刀的圓度的影響使得刀尖與層疊光學薄膜之間的距離變化,不能進行高精度半裁斷的問題點,利用裁斷刀的刀尖檢測機構可高精度對層疊光學薄膜進行半裁斷的層疊光學薄膜裁斷裝置。 其解決手段為揭示一種層疊光學薄膜裁斷裝置,具備:對層疊光學薄膜開設切口的裁斷單元;使該裁斷單元沿著預定的裁斷方向移動的裁斷單元移動機構;及檢測該裁斷單元所具備的圓形刀的刀尖位置的刀尖位置檢測機構。刀尖位置檢測機構具備為夾持圓形刀而分別設置在其兩側的雷射照射部與受光部,藉雷射照射部所發出的雷射光觸及圓形刀地朝著受光部照射,以該受光部檢測圓形刀的刀尖的邊界線,藉此檢測刀尖的位置。藉此裁斷裝置,可確定刀尖的位置,並設定刀尖的切入容許範圍。
    • 本发明的课题是提供一种为了解决因磨损或裁断刀的圆度的影响使得刀尖与层叠光学薄膜之间的距离变化,不能进行高精度半裁断的问题点,利用裁断刀的刀尖检测机构可高精度对层叠光学薄膜进行半裁断的层叠光学薄膜裁断设备。 其解决手段为揭示一种层叠光学薄膜裁断设备,具备:对层叠光学薄膜开设切口的裁断单元;使该裁断单元沿着预定的裁断方向移动的裁断单元移动机构;及检测该裁断单元所具备的圆形刀的刀尖位置的刀尖位置检测机构。刀尖位置检测机构具备为夹持圆形刀而分别设置在其两侧的激光照射部与受光部,藉激光照射部所发出的激光光触及圆形刀地朝着受光部照射,以该受光部检测圆形刀的刀尖的边界线,借此检测刀尖的位置。借此裁断设备,可确定刀尖的位置,并设置刀尖的切入容许范围。