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    • 25. 发明专利
    • 具有高速頁面模式操作的非依電性記憶體裝置 A NON-VOLATILE MEMORY DEVICE HAVING HIGH SPEED PAGE MODE OPERATION
    • 具有高速页面模式操作的非依电性内存设备 A NON-VOLATILE MEMORY DEVICE HAVING HIGH SPEED PAGE MODE OPERATION
    • TWI223281B
    • 2004-11-01
    • TW091106890
    • 2002-04-04
    • 積憶科技股份有限公司 INTEGRATED MEMORY TECHNOLOGIES, INC.
    • 曹正中 CHENG-CHUNG TSAO
    • G11C
    • G11C16/3459G11C7/06G11C11/5621G11C11/5628G11C11/5642G11C16/08G11C16/10G11C16/28G11C16/32G11C16/3454G11C2211/5622G11C2211/5631
    • 一種非依電性半導體記憶體包括多個成行及成列排列的記憶格、多數字線、多數位元線、多數輸出緩衝器、多數頁閂鎖(18L)、以及多數快速電流位準翻譯器(QCLT)。各個QCLT係連接至位元線且透過第一行解碼器(44/46U)而由多數位元線(較佳具體實施例為32位元線)共享,也經由第二行解碼器(46L)連接至多數頁閂鎖。各頁閂鎖係經由第三行解碼器電路(38/40/42)連接至一對應輸出緩衝器。頁閂鎖係以多數子頁分組。QCLT進行高速高準確度電流模式比較,以及將比較結果轉成二進碼。二進碼儲存於Q閂鎖(36U-2)。QCLT係作為電流模式類比至數位轉換器(ADC),ADC將記憶格電流轉成二進碼。閂鎖於Q閂鎖之資料將移轉至頁閂鎖(34)讀出。記憶格電流感應裝置(QCLT)係與資料儲存裝置(頁閂鎖)分開。如此,QCLT可進行電流感應操作,同時頁閂鎖資料被依時序輸出。於32位元線節距內,QCLT可設計成達成高速感應,而各個頁閂鎖具有節距2位元線,且由二行記憶格共享。高速感應讓QCLT對多階記憶格產品更具有吸引力。由於決定記憶格電流位在何階需要多重感應迭代。速度愈高表示等待時間愈短。
    • 一种非依电性半导体内存包括多个成行及成列排列的记忆格、多数字线、多数码元线、多数输出缓冲器、多数页闩锁(18L)、以及多数快速电流位准翻译器(QCLT)。各个QCLT系连接至比特线且透过第一行译码器(44/46U)而由多数码元线(较佳具体实施例为32比特线)共享,也经由第二行译码器(46L)连接至多数页闩锁。各页闩锁系经由第三行译码器电路(38/40/42)连接至一对应输出缓冲器。页闩锁系以多数子页分组。QCLT进行高速高准确度电流模式比较,以及将比较结果转成二进码。二进码存储于Q闩锁(36U-2)。QCLT系作为电流模式模拟至数码转换器(ADC),ADC将记忆格电流转成二进码。闩锁于Q闩锁之数据将移转至页闩锁(34)读出。记忆格电流感应设备(QCLT)系与数据存储设备(页闩锁)分开。如此,QCLT可进行电流感应操作,同时页闩锁数据被依时序输出。于32比特线节距内,QCLT可设计成达成高速感应,而各个页闩锁具有节距2比特线,且由二行记忆格共享。高速感应让QCLT对多阶记忆格产品更具有吸引力。由于决定记忆格电流位在何阶需要多重感应迭代。速度愈高表示等待时间愈短。
    • 27. 发明专利
    • 計算電路、計算裝置、及半導體計算電路
    • 计算电路、计算设备、及半导体计算电路
    • TW552560B
    • 2003-09-11
    • TW089113963
    • 2000-07-13
    • 半導體理工學研究中心股份有限公司
    • 柴田直譽田正宏大見忠弘
    • G06GH01L
    • G11C11/5621G06G7/14G11C27/005H04N19/94
    • 本案揭露的是能以高速類比計算來計算一絕對差異的計算電路,能計算絕對差異之總和的計算裝置,及可用簡單電路達成且適於用在此等計算電路或裝置中的半導體計算電路。能計算絕對差異的此計算電路包含一大輸入選擇電路1,其輸出一第一信號或一第二信號中的較大者;一小輸入選擇電路2,其輸出第一或第二信號中之較小者;及一減法電路3,其從大輸入選擇電路1之輸出減掉小輸入選擇電路2之輸出。減法電路3包含一電容器6,設置在電容器6之一第一端子和大輸入選擇電路1之輸出間的一第一開關4,設置在電容器6之第一端子和小輸入選擇電路2之輸出間的一第二開關5,及設置在電容器6之一第二端子和連接於一設定電位之一端子間的一第三開關7。能計算絕對差異之總和的計算裝置包含多個此種計算電路,並藉由使用一加總電路來計算該等計算電路之輸出的總和。
    • 本案揭露的是能以高速模拟计算来计算一绝对差异的计算电路,能计算绝对差异之总和的计算设备,及可用简单电路达成且适于用在此等计算电路或设备中的半导体计算电路。能计算绝对差异的此计算电路包含一大输入选择电路1,其输出一第一信号或一第二信号中的较大者;一小输入选择电路2,其输出第一或第二信号中之较小者;及一减法电路3,其从大输入选择电路1之输出减掉小输入选择电路2之输出。减法电路3包含一电容器6,设置在电容器6之一第一端子和大输入选择电路1之输出间的一第一开关4,设置在电容器6之第一端子和小输入选择电路2之输出间的一第二开关5,及设置在电容器6之一第二端子和连接于一设置电位之一端子间的一第三开关7。能计算绝对差异之总和的计算设备包含多个此种计算电路,并借由使用一加总电路来计算该等计算电路之输出的总和。
    • 29. 发明专利
    • 雙位元非揮發性記憶單元的結構及其讀寫方法
    • 双比特非挥发性记忆单元的结构及其读写方法
    • TW474022B
    • 2002-01-21
    • TW090102758
    • 2001-02-08
    • 聯華電子股份有限公司
    • 陳錦揚
    • H01L
    • G11C16/0475G11C11/5621G11C16/0458G11C16/10G11C2211/5612
    • 一種雙位元非揮發性記憶單元的結構及其讀寫方法,此記憶單元中包含二堆疊閘結構、二堆疊閘結構間之一摻雜區,以及位在二堆疊閘結構外側之二源/汲極區,其中源/汲極區之摻雜型態與摻雜區相同。當欲寫入此記憶單元時,係同時將二堆疊閘結構下方之通道打開,並以通道電流之方向來選擇欲寫入之一浮置閘極。當欲讀取此記憶單元之第一浮置閘極中的資料時,係在第一浮置閘極上方之第一控制閘極上施加一讀取偏壓,同時在第二控制閘極上施加一轉移偏壓,並以二源/汲極區導通與否來決定資料是否寫入,其中讀取偏壓大於第一/第二浮置閘極在抹除狀態時之通道啟始電壓,且小於寫入狀態之啟始電壓,而轉移偏壓則大於寫入狀態之啟始電壓。
    • 一种双比特非挥发性记忆单元的结构及其读写方法,此记忆单元中包含二堆栈闸结构、二堆栈闸结构间之一掺杂区,以及位在二堆栈闸结构外侧之二源/汲极区,其中源/汲极区之掺杂型态与掺杂区相同。当欲写入此记忆单元时,系同时将二堆栈闸结构下方之信道打开,并以信道电流之方向来选择欲写入之一浮置闸极。当欲读取此记忆单元之第一浮置闸极中的数据时,系在第一浮置闸极上方之第一控制闸极上施加一读取偏压,同时在第二控制闸极上施加一转移偏压,并以二源/汲极区导通与否来决定数据是否写入,其中读取偏压大于第一/第二浮置闸极在抹除状态时之信道启始电压,且小于写入状态之启始电压,而转移偏压则大于写入状态之启始电压。
    • 30. 发明专利
    • 用以感測具多重臨界電壓之記憶體晶胞的電路及其方法
    • 用以传感具多重临界电压之内存晶胞的电路及其方法
    • TW464870B
    • 2001-11-21
    • TW087108744
    • 1998-06-03
    • LG半導體股份有限公司
    • 徐石虎
    • G11C
    • G11C16/26G11C11/5621G11C11/5642G11C2211/5642G11C2211/5644
    • 本發明揭露用以感測具多重臨界電壓之記憶體晶胞的一種電路,此電路能夠實施一低電力和電壓感測操作並藉由最小化該電路之尺寸而縮減一多重位階記憶體晶胞之尺寸,且包括有用於根據被輸入與一被選取記憶體晶胞連接的一位元線之一切換控制訊號而施用或阻擋輸至/來自一記憶體晶胞的一電流之一切換器、用於將在該位元線上流動之一電流之大小與一參考電流比較並輸出該比較之一結果的一電流比較單元、用於儲存該電流比較單元實施的比較結果的一記憶體、及被設置成對應於該記憶體晶胞之多重位階數目的一計數器暫存器電路。
    • 本发明揭露用以传感具多重临界电压之内存晶胞的一种电路,此电路能够实施一低电力和电压传感操作并借由最小化该电路之尺寸而缩减一多重位阶内存晶胞之尺寸,且包括有用于根据被输入与一被选取内存晶胞连接的一比特线之一切换控制信号而施用或阻挡输至/来自一内存晶胞的一电流之一切换器、用于将在该比特在线流动之一电流之大小与一参考电流比较并输出该比较之一结果的一电流比较单元、用于存储该电流比较单元实施的比较结果的一内存、及被设置成对应于该内存晶胞之多重位阶数目的一计数器寄存器电路。