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131. 发明专利

TWI287889B 正極材料與其製造方法、以及鋰蓄電池有权
简体标题：正极材料与其制造方法、以及锂蓄电池
公开(公告)号：TWI287889B
公开(公告)日：2007-10-01
申请号：TW093103946
申请日：2004-02-18
申请人：日立製作所股份有限公司 HITACHI, LTD. , 日立金屬股份有限公司 HITACHI METALS, LTD. , 新神戶電機股份有限公司 SHIN-KOBE ELECTRIC MACHINERY CO., LTD.
发明人：湯淺豊隆 YUASA, TOYOTAKA , 葛西昌弘 KASAI, MASAHIRO , 中源衛 NAKAJIMA, GENEI
IPC分类号： H01M
CPC分类号： H01M4/0435 , H01M4/043 , H01M4/131 , H01M4/1391 , H01M4/505 , H01M4/525 , H01M10/052 , H01M2004/021
摘要：本發明之目的為提供-30℃低溫環境下放電率特性及電池容量降低少之正極材料與其製造方法，以及使用該正極材料之鋰蓄電池。
本發明為凝聚複數一次粒子形成二次粒子，上述一次粒子彼此結合接觸之長度為上述一次粒子之斷面全周長之10~70％之正極材料。
简体摘要：本发明之目的为提供-30℃低温环境下放电率特性及电池容量降低少之正极材料与其制造方法，以及使用该正极材料之锂蓄电池。本发明为凝聚复数一次粒子形成二次粒子，上述一次粒子彼此结合接触之长度为上述一次粒子之断面全周长之10~70％之正极材料。

132. 发明专利

TW200734645A 位移檢測裝置 DISPLACEMENT DETECTION DEVICE 失效
简体标题：位移检测设备 DISPLACEMENT DETECTION DEVICE
公开(公告)号：TW200734645A
公开(公告)日：2007-09-16
申请号：TW095133871
申请日：2006-09-13
申请人：日立金屬股份有限公司 HITACHI METALS, LTD.
发明人：高田良晶 TAKADA, YOSHIAKI , 落合秀行 OCHIAI, HIDEYUKI , 西野慶一 NISHINO, KEIICHI , 齋藤正勝 SAITOH, MASAKATSU
IPC分类号： G01P , H01L
CPC分类号： G01P1/023 , B81B2201/025 , B81C1/0023 , G01P15/0802 , H01L2224/05554 , H01L2224/48091 , H01L2224/49175 , H01L2924/10253 , H01L2924/00014 , H01L2924/00
摘要：本發明為限制板使用IC晶片的位移檢測裝置,於組裝作業中或使用中有時會有矽晶碎片從不完全缺損部份脫落而對位移檢測裝置的性能造成不良影響。將IC晶圓的背面磨削痕和IC晶片稜線的垂線形成的角度為未滿45度,更好是為10度至45度,如此一來就能夠使包括產生在IC晶片稜線上的不完全缺損在內的缺損減少。能夠避免限制板使用稜線具有碎屑未完全脫落缺損的IC晶片,能夠提供一種可靠性高的位移檢測裝置。
简体摘要：本发明为限制板使用IC芯片的位移检测设备,于组装作业中或使用中有时会有硅晶碎片从不完全缺损部份脱落而对位移检测设备的性能造成不良影响。将IC晶圆的背面磨削痕和IC芯片棱线的垂线形成的角度为未满45度,更好是为10度至45度,如此一来就能够使包括产生在IC芯片棱线上的不完全缺损在内的缺损减少。能够避免限制板使用棱线具有碎屑未完全脱落缺损的IC芯片,能够提供一种可靠性高的位移检测设备。

133. 发明专利

TWI285524B 導電球之搭載方法以及搭載裝置 METHOD AND APPARATUS FOR CARRYING ELECTRIC CONDUCTIVE BALL 失效
简体标题：导电球之搭载方法以及搭载设备 METHOD AND APPARATUS FOR CARRYING ELECTRIC CONDUCTIVE BALL
公开(公告)号：TWI285524B
公开(公告)日：2007-08-11
申请号：TW093103886
申请日：2004-02-18
申请人：日立金屬股份有限公司 HITACHI METALS, LTD.
发明人：伊藤元通 ITOH, MOTOYUKI , 落合正典 OCHIAI, MASANORI , 和井伸一 KAZUI, SHINICHI
IPC分类号： H05K
CPC分类号： H01L24/11 , B23K3/0623 , H01L21/4853 , H01L24/742 , H01L2224/05568 , H01L2224/05573 , H01L2224/11003 , H01L2224/11005 , H01L2224/11334 , H01L2224/13099 , H01L2924/00014 , H01L2924/01005 , H01L2924/01006 , H01L2924/01013 , H01L2924/01022 , H01L2924/01029 , H01L2924/01033 , H01L2924/01042 , H01L2924/01047 , H01L2924/01058 , H01L2924/01074 , H01L2924/01078 , H01L2924/01079 , H01L2924/01082 , H01L2924/014 , H01L2924/12042 , H01L2924/3011 , H01L2924/3025 , H05K3/3478 , H05K2203/041 , H05K2203/0485 , H05K2203/0557 , H05K2203/104 , Y10T29/49204 , Y10T156/10 , H01L2924/00 , H01L2224/05599
摘要：一種搭載方法，係以預定的圖案搭載具有導電性的球於被排列體的一面，包含：第一步驟，將一排列構件在面向該被排列體之該面的狀態下進行對準，其中該排列構件具備有一邊的面及另邊的面以及一定位開口部，且該另邊的面是面向於該被排列體之該面之，且該定位開口部是對應該圖案而配置，並在該一邊的面以及該另邊的面開口而可插通該球；以及第二步驟，將一搖入具面向該排列構件之該邊的面呈相對水平移動，並透過該定位開口部，把該球載置於該被排列體之該面上，其中該搖入具具備在使軸心大致一致的狀態下配設的兩條以上的線狀構件，且配設成該線狀構件是以略水平的姿勢對供給到該排列構件的該邊的面之該球呈可接觸的狀態。
简体摘要：一种搭载方法，系以预定的图案搭载具有导电性的球于被排列体的一面，包含：第一步骤，将一排列构件在面向该被排列体之该面的状态下进行对准，其中该排列构件具备有一边的面及另边的面以及一定位开口部，且该另边的面是面向于该被排列体之该面之，且该定位开口部是对应该图案而配置，并在该一边的面以及该另边的面开口而可插通该球；以及第二步骤，将一摇入具面向该排列构件之该边的面呈相对水平移动，并透过该定位开口部，把该球载置于该被排列体之该面上，其中该摇入具具备在使轴心大致一致的状态下配设的两条以上的线状构件，且配设成该线状构件是以略水平的姿势对供给到该排列构件的该边的面之该球呈可接触的状态。

134. 发明专利

TWI283299B 落下檢測裝置 FREE FALL DETECTION DEVICE 失效
简体标题：落下检测设备 FREE FALL DETECTION DEVICE
公开(公告)号：TWI283299B
公开(公告)日：2007-07-01
申请号：TW095101928
申请日：2006-01-18
申请人：日立金屬股份有限公司 HITACHI METALS, LTD.
发明人：井上秀樹 INOUE, HIDEKI , 鵜沼宗利 UNUMA, MUNETOSHI , 阿部泰典 ABE, YASUNORI , 齋藤正勝 SAITOH, MASAKATSU
IPC分类号： G01P , G11B
CPC分类号： G01P3/22 , G01P15/0891 , G01P15/18 , G01P2015/084 , G11B19/04 , H04M2250/12
摘要：本發明之課題
提供可檢測帶旋轉之落下的落下檢測裝置。本發明之解決手段
依據加速度檢測部所檢測之加速度，或角速度檢測部所檢測之角速度，來檢測帶旋轉之落下。又依據加速度檢測部所檢測之加速度，或角速度檢測部所檢測之角速度，來運算保護對象機器之重心點加速度。效果
即使保護對象機器一邊旋轉一邊掉落之情況下，亦可從所檢測之加速度或角速度檢測出機器的落下。又藉由運算不受旋轉影響之重心點加速度，則即使保護對象機器在旋轉，亦可高精確度地檢測機器的落下。
简体摘要：本发明之课题提供可检测带旋转之落下的落下检测设备。本发明之解决手段依据加速度检测部所检测之加速度，或角速度检测部所检测之角速度，来检测带旋转之落下。又依据加速度检测部所检测之加速度，或角速度检测部所检测之角速度，来运算保护对象机器之重心点加速度。效果即使保护对象机器一边旋转一边掉落之情况下，亦可从所检测之加速度或角速度检测出机器的落下。又借由运算不受旋转影响之重心点加速度，则即使保护对象机器在旋转，亦可高精确度地检测机器的落下。

135. 发明专利

TW200707477A 以鐵為主之高飽和感應非晶形合金 IRON-BASED HIGH SATURATION INDUCTION AMORPHOUS ALLOY 审中-公开
简体标题：以铁为主之高饱和感应非晶形合金 IRON-BASED HIGH SATURATION INDUCTION AMORPHOUS ALLOY
公开(公告)号：TW200707477A
公开(公告)日：2007-02-16
申请号：TW095103342
申请日：2006-02-17
申请人：梅葛拉斯公司 METGLAS, INC. , 日立金屬股份有限公司 HITACHI METALS, LTD.
发明人：長谷川龍介 HASEGAWA, RYUSUKE , 東大地 AZUMA, DAICHI , 吉克仁 YOSHIZAWA, YOSHIHITO , 小川雄一 OGAWA, YUICHI
IPC分类号： H01F , C22C , C21D
CPC分类号： C22C45/02 , C22C33/003 , H01F1/15308 , H01F1/15333 , H01F27/25 , H01F27/33 , H01F41/0226
摘要：一種以鐵為主之非晶形合金及具有以鐵為主之非晶形合金之磁心,該合金具有以式FeaBbSicCd(其中81
简体摘要：一种以铁为主之非晶形合金及具有以铁为主之非晶形合金之磁心,该合金具有以式FeaBbSicCd(其中81

136. 发明专利

TW200638043A 落下檢測裝置 FREE FALL DETECTION DEVICE 失效
简体标题：落下检测设备 FREE FALL DETECTION DEVICE
公开(公告)号：TW200638043A
公开(公告)日：2006-11-01
申请号：TW095101928
申请日：2006-01-18
申请人：日立金屬股份有限公司 HITACHI METALS, LTD.
发明人：井上秀樹 INOUE, HIDEKI , 鵜沼宗利 UNUMA, MUNETOSHI , 阿部泰典 ABE, YASUNORI , 齋藤正勝 SAITOH, MASAKATSU
IPC分类号： G01P , G11B
CPC分类号： G01P3/22 , G01P15/0891 , G01P15/18 , G01P2015/084 , G11B19/04 , H04M2250/12
摘要：本發明之課題提供可檢測帶旋轉之落下的落下檢測裝置。本發明之解決手段依據加速度檢測部所檢測之加速度，或角速度檢測部所檢測之角速度，來檢測帶旋轉之落下。又依據加速度檢測部所檢測之加速度，或角速度檢測部所檢測之角速度，來運算保護對象機器之重心點加速度。效果即使保護對象機器一邊旋轉一邊掉落之情況下，亦可從所檢測之加速度或角速度檢測出機器的落下。又藉由運算不受旋轉影響之重心點加速度，則即使保護對象機器在旋轉，亦可高精確度地檢測機器的落下。
简体摘要：本发明之课题提供可检测带旋转之落下的落下检测设备。本发明之解决手段依据加速度检测部所检测之加速度，或角速度检测部所检测之角速度，来检测带旋转之落下。又依据加速度检测部所检测之加速度，或角速度检测部所检测之角速度，来运算保护对象机器之重心点加速度。效果即使保护对象机器一边旋转一边掉落之情况下，亦可从所检测之加速度或角速度检测出机器的落下。又借由运算不受旋转影响之重心点加速度，则即使保护对象机器在旋转，亦可高精确度地检测机器的落下。

137. 发明专利

TW200624813A 半導體型加速度感測器 SEMICONDUCTOR ACCELERATION SENSOR 失效
简体标题：半导体型加速度传感器 SEMICONDUCTOR ACCELERATION SENSOR
公开(公告)号：TW200624813A
公开(公告)日：2006-07-16
申请号：TW094132470
申请日：2005-09-20
申请人：日立金屬股份有限公司 HITACHI METALS, LTD.
发明人：池田由夫 IKEDA, YOSHIO , 細田雅之 HOSODA, MASAYUKI , 口勇夫 SAKAGUCHI, ISAO , 齋藤正勝 SAITOH, MASAKATSU
IPC分类号： G01P
CPC分类号： G01P15/18 , G01P15/0802 , G01P15/123
摘要：揭示X、Y、Z軸之加速度檢測靈敏度之差異小，檢測靈敏度大之半導體型加速度感測器。此加速度感測器係具有：於中央具質量部、及包圍其之支撐框、及連接彼等之間之複數個可撓腕；各可撓腕係於兩端具有寬幅部，及於其之間具有窄幅部。壓電阻抗元件為限定性被設置於可撓腕之寬幅部上面區域內，連接金屬配線與壓電阻抗元件之通孔，係位於質量部／支撐框上。複數的可撓腕相互對稱於質量部中央，而且，各可撓腕為對稱於其之中心線。
简体摘要：揭示X、Y、Z轴之加速度检测灵敏度之差异小，检测灵敏度大之半导体型加速度传感器。此加速度传感器系具有：于中央具质量部、及包围其之支撑框、及连接彼等之间之复数个可挠腕；各可挠腕系于两端具有宽幅部，及于其之间具有窄幅部。压电阻抗组件为限定性被设置于可挠腕之宽幅部上面区域内，连接金属配线与压电阻抗组件之通孔，系位于质量部／支撑框上。复数的可挠腕相互对称于质量部中央，而且，各可挠腕为对称于其之中心线。

138. 发明专利

TW200624199A 高融點金屬類粉末的製造方法以及靶材的製造方法 MANUFACTURING METHOD OF HIGH MELTING POINT METAL POWDER AND MANUFACTURING METHOD OF TARGET 审中-公开
简体标题：高融点金属类粉末的制造方法以及靶材的制造方法 MANUFACTURING METHOD OF HIGH MELTING POINT METAL POWDER AND MANUFACTURING METHOD OF TARGET
公开(公告)号：TW200624199A
公开(公告)日：2006-07-16
申请号：TW094143995
申请日：2005-12-13
申请人：日立金屬股份有限公司 HITACHI METALS, LTD.
发明人：齊藤和也 SAITOH, KAZUYA , 井上惠介 INOUE, KEISUKE , 平川英司 HIRAKAWA, EIJI , 岩崎克典 IWASAKI, KATSUNORI
IPC分类号： B22F
CPC分类号： Y02P10/24 , Y02W30/541
摘要：本發明之目的在於提供一種高融點金屬類粉末之製造方法，無需利用化學性方法或以熱電裝進行溶融精煉之所謂高成本方法，而能夠易於利用廢舊高融點金屬類靶材，以低成本且穩定的方式製造高融點金屬類粉末。本發明之方法是對廢舊高融點金屬類靶材，進行切割處理而製成切削屑，並在將切削屑加以粉碎處理而製成微粉末之後，進而於真空或還原性氣體環境中實施熱處理。另外，本發明之另一方法是對廢舊高融點金屬類靶材，實施切割處理而製成切削屑，並於將切削屑於真空或還原性氣體環境中實施熱處理之後，進而實施粉碎處理而製成微粉末。
简体摘要：本发明之目的在于提供一种高融点金属类粉末之制造方法，无需利用化学性方法或以热电装进行溶融精炼之所谓高成本方法，而能够易于利用废旧高融点金属类靶材，以低成本且稳定的方式制造高融点金属类粉末。本发明之方法是对废旧高融点金属类靶材，进行切割处理而制成切削屑，并在将切削屑加以粉碎处理而制成微粉末之后，进而于真空或还原性气体环境中实施热处理。另外，本发明之另一方法是对废旧高融点金属类靶材，实施切割处理而制成切削屑，并于将切削屑于真空或还原性气体环境中实施热处理之后，进而实施粉碎处理而制成微粉末。

139. 发明专利

TWI236935B 分類微小珠之方法及裝置,及用於製造圓桶狀篩之方法 METHOD AND APPARATUS FOR CLASSIFYING FINE BALLS AND METHOD FOR PRODUCING CYLINDRICAL SIEVE 有权
简体标题：分类微小珠之方法及设备,及用于制造圆桶状筛之方法 METHOD AND APPARATUS FOR CLASSIFYING FINE BALLS AND METHOD FOR PRODUCING CYLINDRICAL SIEVE
公开(公告)号：TWI236935B
公开(公告)日：2005-08-01
申请号：TW091134015
申请日：2002-11-22
申请人：日立金屬股份有限公司 HITACHI METALS, LTD.
发明人：佐藤光司 KOJI SATO , 久保井健 KEN KUBOI , 小野村雅史 MASASHI ONOMURA
IPC分类号： B07B
摘要：一種用以將直徑為1毫米或較小之微小珠予以分類成具有預定直徑範圍之裝置，包括：一饋送器，用以供應微小珠；至少一轉動式之柱形篩，係以具有多數圓形孔洞厚度為200μm或較小之板片構成，其中心軸對水平面係成傾斜；及一容器，用以容收使微小珠自圓筒狀篩落出而分類之微小珠。微小珠係由饋送器供應至轉動式柱形篩上端之入口處，而既通過圓筒狀篩之圓形孔洞之微小珠則落下並由該容器予以回收，另未通過圓形孔洞之微小珠則由圓筒狀篩下端之出口排出。
简体摘要：一种用以将直径为1毫米或较小之微小珠予以分类成具有预定直径范围之设备，包括：一馈送器，用以供应微小珠；至少一转动式之柱形筛，系以具有多数圆形孔洞厚度为200μm或较小之板片构成，其中心轴对水平面系成倾斜；及一容器，用以容收使微小珠自圆筒状筛落出而分类之微小珠。微小珠系由馈送器供应至转动式柱形筛上端之入口处，而既通过圆筒状筛之圆形孔洞之微小珠则落下并由该容器予以回收，另未通过圆形孔洞之微小珠则由圆筒状筛下端之出口排出。

140. 发明专利

TWI225154B 具有校正功能之加速度檢測裝置 ACCELERATION MEASURING APPARATUS WITH CALIBRATION FUNCTION 失效
简体标题：具有校正功能之加速度检测设备 ACCELERATION MEASURING APPARATUS WITH CALIBRATION FUNCTION
公开(公告)号：TWI225154B
公开(公告)日：2004-12-11
申请号：TW092116167
申请日：2003-06-13
申请人：日立金屬股份有限公司 HITACHI METALS, LTD.
发明人： 口勇夫 SAKAGUCHI, ISAO
IPC分类号： G01P
CPC分类号： G01P15/18 , G01P15/123 , G01P21/00 , G01P2015/084
摘要：本發明是揭示一種可以同時校正靈敏度及在無加速度狀態下的零點的加速度檢測裝置。加速度檢測裝置，是具有：各別檢測相互垂直的至少2軸方向的加速度成分，並依據各檢測結果進行輸出的加速度檢測器、及將加速度檢測器保持於對於重力加速度的方向相互不同的角度的至少2個不同位置的保持手段、及演算處理電路。其演算處理電路，是先依據由在前述各位置保持有加速度檢測器時的重力加速度所產生的加速度檢測器的前述至少2軸方向成分的各輸出而求得校正參數後，使用其校正參數校正檢測得的前述加速度檢測器的輸出，再送出校正輸出。
简体摘要：本发明是揭示一种可以同时校正灵敏度及在无加速度状态下的零点的加速度检测设备。加速度检测设备，是具有：各别检测相互垂直的至少2轴方向的加速度成分，并依据各检测结果进行输出的加速度检测器、及将加速度检测器保持于对于重力加速度的方向相互不同的角度的至少2个不同位置的保持手段、及演算处理电路。其演算处理电路，是先依据由在前述各位置保持有加速度检测器时的重力加速度所产生的加速度检测器的前述至少2轴方向成分的各输出而求得校正参数后，使用其校正参数校正检测得的前述加速度检测器的输出，再送出校正输出。

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