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1. 发明专利

TW201415153A 自動對焦系統與自動對焦方法审中-公开
简体标题：自动对焦系统与自动对焦方法
公开(公告)号：TW201415153A
公开(公告)日：2014-04-16
申请号：TW101136168
申请日：2012-10-01
申请人：財團法人工業技術研究院 , INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE
发明人：賴皇文 , LAI, HUANG WEN , 郭世炫 , KUO, SHIH HSUAN , 張樂融 , CHANG, LEH RONG
IPC分类号： G03B13/18 , G03B13/36
CPC分类号： G03B13/36 , G02B7/38
摘要：一種自動對焦系統包括：高度偵測模組用以在Z軸方向輸出複數偵測光，每個偵測光具有不同焦距和相異波長，使得在Z軸方向上產生色散範圍；影像偵測模組用以擷取聚焦位置的影像；位移單元用以在Z軸方向移動待測物，待測物具有外層表面和內層表面；處理單元根據高度偵測模組所接收的反射光譜中的能量尖峰的數量，判斷外層表面和內層表面是否在色散範圍，使得當外層表面和內層表面在色散範圍時，根據能量峰值所對應的反射波長計算出內層表面與聚焦位置之間的實際距離，以便根據實際距離藉由移位單元將內層表面移動至聚焦位置。
简体摘要：一种自动对焦系统包括：高度侦测模块用以在Z轴方向输出复数侦测光，每个侦测光具有不同焦距和相异波长，使得在Z轴方向上产生色散范围；影像侦测模块用以截取聚焦位置的影像；位移单元用以在Z轴方向移动待测物，待测物具有外层表面和内层表面；处理单元根据高度侦测模块所接收的反射光谱中的能量尖峰的数量，判断外层表面和内层表面是否在色散范围，使得当外层表面和内层表面在色散范围时，根据能量峰值所对应的反射波长计算出内层表面与聚焦位置之间的实际距离，以便根据实际距离借由移位单元将内层表面移动至聚焦位置。

2. 发明专利

TW201315674A 自組式金屬奈米島陣列之製作方法审中-公开
简体标题：自组式金属奈米岛数组之制作方法
公开(公告)号：TW201315674A
公开(公告)日：2013-04-16
申请号：TW100135870
申请日：2011-10-04
申请人：財團法人工業技術研究院 , INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE , 國立交通大學 , NATIONAL CHIAO TUNG UNIVERSITY
发明人：張原銘 , CHANG, YUAN MING , 莊振益 , JUANG, JENH YIH , 戴鴻名 , TAI, HUNG MING , 王浩偉 , WANG, HAU WEI , 曾文綬 , TSENG, WEN SHOU , 高斌栩 , KAO, PIN HSU , 張樂融 , CHANG, LEH RONG
IPC分类号： B82B3/00 , B82Y40/00
摘要：一種自組式金屬奈米島陣列之製作方法，係藉由在一半導體基材上進行一濺鍍製程，以形成一金屬奈米島陣列。利用此種製作方法，僅需單一濺鍍製程，即可完成金屬奈米島陣列的製作，相較於習知，不僅可有效減少繁瑣之製程步驟，更可進一步地節約能源、電力及製作成本。
简体摘要：一种自组式金属奈米岛数组之制作方法，系借由在一半导体基材上进行一溅镀制程，以形成一金属奈米岛数组。利用此种制作方法，仅需单一溅镀制程，即可完成金属奈米岛数组的制作，相较于习知，不仅可有效减少繁琐之制程步骤，更可进一步地节约能源、电力及制作成本。

3. 发明专利

TWI430938B 自組式金屬奈米島陣列之製作方法有权
简体标题：自组式金属奈米岛数组之制作方法
公开(公告)号：TWI430938B
公开(公告)日：2014-03-21
申请号：TW100135870
申请日：2011-10-04
申请人：財團法人工業技術研究院 , INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE , 國立交通大學 , NATIONAL CHIAO TUNG UNIVERSITY
发明人：張原銘 , CHANG, YUAN MING , 莊振益 , JUANG, JENH YIH , 戴鴻名 , TAI, HUNG MING , 王浩偉 , WANG, HAU WEI , 曾文綬 , TSENG, WEN SHOU , 高斌栩 , KAO, PIN HSU , 張樂融 , CHANG, LEH RONG
IPC分类号： B82B3/00 , B82Y40/00

4. 发明专利

TWI440947B 對焦方法與裝置有权
简体标题：对焦方法与设备
公开(公告)号：TWI440947B
公开(公告)日：2014-06-11
申请号：TW098144927
申请日：2009-12-25
申请人：財團法人工業技術研究院 , INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE
发明人：陳金亮 , CHEN, JIN LIANG , 王俊傑 , WANG, CHUN CHIEH , 王浩偉 , WANG, HAU WEI , 郭世炫 , KUO, SHIH HSUAN , 張樂融 , CHANG, LEH RONG , 賴皇文 , LAI, HUANG WEN
IPC分类号： G03B13/32
CPC分类号： G01J3/02 , G01J3/0237 , G01J3/027 , G01J3/0278 , G02B5/28

5. 发明专利

TWI489101B 結合三維及二維形貌之量測方法及裝置有权
简体标题：结合三维及二维形貌之量测方法及设备
公开(公告)号：TWI489101B
公开(公告)日：2015-06-21
申请号：TW102144102
申请日：2013-12-02
申请人：財團法人工業技術研究院 , INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE
发明人：張柏毅 , CHANG, PO YI , 張樂融 , CHANG, LEH RONG , 藍于瀅 , LAN, YU YING , 陳俊賢 , CHEN, CHUN HSIEN
IPC分类号： G01N21/95 , H01L21/66

6. 发明专利

TW201522948A 結合三維及二維形貌之量測方法及裝置审中-公开
简体标题：结合三维及二维形貌之量测方法及设备
公开(公告)号：TW201522948A
公开(公告)日：2015-06-16
申请号：TW102144102
申请日：2013-12-02
申请人：財團法人工業技術研究院 , INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE
发明人：張柏毅 , CHANG, PO YI , 張樂融 , CHANG, LEH RONG , 藍于瀅 , LAN, YU YING , 陳俊賢 , CHEN, CHUN HSIEN
IPC分类号： G01N21/95 , H01L21/66
摘要：一種用以量測物體之三維及二維形貌之方法。此量測方法包括以下步驟。首先，經由投射裝置，將條紋圖案投射至物體表面。接著，藉由多線光電取像系統，接收並儲存多線影像。之後，物體與相移裝置系統做相對移動，以透過多線光電取像系統擷取多張相位光強影像，相移裝置系統包括投射裝置及多線光電取像系統。然後，依據相位光強影像決定物點之相位值，並透過三角幾何關係將相位值轉換為物點所對應之高度，以產生物體之三維形貌。以及，依據相位光強影像重建無相位變化之物體影像，無相位變化之物體影像係呈現物體之二維形貌尺寸。
简体摘要：一种用以量测物体之三维及二维形貌之方法。此量测方法包括以下步骤。首先，经由投射设备，将条纹图案投射至物体表面。接着，借由多线光电取像系统，接收并存储多线影像。之后，物体与相移设备系统做相对移动，以透过多线光电取像系统截取多张相位光强影像，相移设备系统包括投射设备及多线光电取像系统。然后，依据相位光强影像决定物点之相位值，并透过三角几何关系将相位值转换为物点所对应之高度，以产生物体之三维形貌。以及，依据相位光强影像重建无相位变化之物体影像，无相位变化之物体影像系呈现物体之二维形貌尺寸。

7. 发明专利

TW201122700A 對焦方法與裝置 METHOD AND APPARATUS FOR FOCUSING 审中-公开
简体标题：对焦方法与设备 METHOD AND APPARATUS FOR FOCUSING
公开(公告)号：TW201122700A
公开(公告)日：2011-07-01
申请号：TW098144927
申请日：2009-12-25
申请人：財團法人工業技術研究院
发明人：陳金亮 , 王俊傑 , 王浩偉 , 郭世炫 , 張樂融 , 賴皇文
IPC分类号： G03B
CPC分类号： G01J3/02 , G01J3/0237 , G01J3/027 , G01J3/0278 , G02B5/28
摘要：本發明提供一種對焦方法與裝置，其係利用具有高色散以及低色散特性之色散鏡組將一寬頻光調制成一色散光，再將該色散光投射至一物體上，以形成一物光。經由濾光與分光的程序，使得該物光中對應高色散的波段被用來偵測該物體之表面形貌所具有的高度資訊。再根據該高度資訊使該色散光中關於該低色散的波段的光聚焦在該物體之表面上。經由濾波的方式，使該物光中對應該低色散波段之光投射至一影像感測裝置上以得到關於該物體表面之一清晰對焦影像。
简体摘要：本发明提供一种对焦方法与设备，其系利用具有高色散以及低色散特性之色散镜组将一宽带光调制成一色散光，再将该色散光投射至一物体上，以形成一物光。经由滤光与分光的进程，使得该物光中对应高色散的波段被用来侦测该物体之表面形貌所具有的高度信息。再根据该高度信息使该色散光中关于该低色散的波段的光聚焦在该物体之表面上。经由滤波的方式，使该物光中对应该低色散波段之光投射至一影像传感设备上以得到关于该物体表面之一清晰对焦影像。

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