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    • 4. 发明专利
    • 殘留應力檢測裝置及其檢測方法
    • 残留应力检测设备及其检测方法
    • TW202022362A
    • 2020-06-16
    • TW107143473
    • 2018-12-04
    • 財團法人金屬工業研究發展中心METAL INDUSTRIES RESEARCH & DEVELOPMENT CENTRE
    • 劉宗榮LIU, ZONG RONG蔡修安TSAI, HSIU AN
    • G01N23/083G01N21/84
    • 本發明提供一種殘留應力檢測裝置及其檢驗方法,應用於針對曲面且有鍍膜的檢測件進行表面殘留應力之檢測計算,其結構包括:檢測件載具,用以固定檢測件,使檢測件上的待檢測點維持在最高點;X射線產生源,固定或沿一路徑向待檢測點照射X射線;檢測元件,包括移動機構,移動機構使所述檢測元件沿著在與X射線的入射方向正交的方向上延伸的路徑移動,使檢測元件在衍射X射線的位置接收檢測衍射X射線的強度;以及應力計算模組,其基於檢測元件檢測出的衍射X射線的強度峰值得到應變數值,並以演算式計算檢測件的殘留應力值。
    • 本发明提供一种残留应力检测设备及其检验方法,应用于针对曲面且有镀膜的检测件进行表面残留应力之检测计算,其结构包括:检测件载具,用以固定检测件,使检测件上的待检测点维持在最高点;X射线产生源,固定或沿一路径向待检测点照射X射线;检测组件,包括移动机构,移动机构使所述检测组件沿着在与X射线的入射方向正交的方向上延伸的路径移动,使检测组件在衍射X射线的位置接收检测衍射X射线的强度;以及应力计算模块,其基于检测组件检测出的衍射X射线的强度峰值得到应变量值,并以演算式计算检测件的残留应力值。
    • 7. 发明专利
    • 齒輪廓電化學加工裝置及其定位結構
    • 齿轮廓电化学加工设备及其定位结构
    • TW202021700A
    • 2020-06-16
    • TW107143141
    • 2018-11-30
    • 財團法人金屬工業研究發展中心
    • 陳佑論林大裕范智文陳弘毅張振暉溫梓宏陳峻偉
    • B23H3/04B23F19/00
    • 本發明關於一種齒輪廓電化學加工裝置及其定位結構,其包含一第一定位件與一定二定位件,第一定位件與第二定位件分別具有複數第一定位齒與複數第二定位齒,該些第一定位齒之一邊齒廓內縮一間距與該些第二定位齒之一邊齒廓外擴該間距並相抵靠而定位第一定位件與第二定位件,一陰極電極具有複數加工齒,該些加工齒之兩邊齒廓皆內縮該間距,藉由讓該些加工齒之一邊齒廓抵靠於該些第二定位齒之外擴間距的邊齒廓而定位該些加工齒,如此可在陰極電極修整一工件之齒部的齒形輪廓前先定位出陰極電極之加工齒與工件之齒部間的加工間隙。
    • 本发明关于一种齿轮廓电化学加工设备及其定位结构,其包含一第一定位件与一定二定位件,第一定位件与第二定位件分别具有复数第一定位齿与复数第二定位齿,该些第一定位齿之一边齿廓内缩一间距与该些第二定位齿之一边齿廓外扩该间距并相抵靠而定位第一定位件与第二定位件,一阴极电极具有复数加工齿,该些加工齿之两边齿廓皆内缩该间距,借由让该些加工齿之一边齿廓抵靠于该些第二定位齿之外扩间距的边齿廓而定位该些加工齿,如此可在阴极电极修整一工件之齿部的齿形轮廓前先定位出阴极电极之加工齿与工件之齿部间的加工间隙。