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1. 发明专利

TW507071B 快速探測X光線之裝置失效
简体标题：快速探测X光线之设备
公开(公告)号：TW507071B
公开(公告)日：2002-10-21
申请号：TW089127672
申请日：2000-12-22
申请人：英國國防部秘書處
发明人：湯尼卡特 , 艾爾恩大衛侏普 , 葛蘭特史本瑟狄墨帝 , 安德魯詹姆斯巴狄 , 約翰大衛布羅斯
IPC分类号： G01N
CPC分类号： G01N23/20
摘要：本發明係有關一種X光檢查系統的領域，且更特別的是那些利用X光繞射效應以分析受檢物體的系統。
長久以來X光繞射已被用來當作結構分析的輔助工具，而有關繞射性材料之資訊平常是藉由下列兩種方法之一導出的：能量彌散或是角度彌散。
使用角度彌散之習知繞射系統的基本要素是單色的入射X光束。習知地，這是藉由平衡濾光技術從多色或類-單色X光射束濾出想要的波譜峰值而提供的。這種技術的缺點是需要兩個繞射影像相互扣除以取得想要的波譜蜂值。這會導致射束消散以及具有很差統計品質的資料
本發明提出使用由半導體偵測器元件構成的陣列及其相關的電子元件而能夠從受到經散射多色或類-單色X光中萃取出基本上屬單色的繞射圖形。
简体摘要：本发明系有关一种X光检查系统的领域，且更特别的是那些利用X光绕射效应以分析受检物体的系统。长久以来X光绕射已被用来当作结构分析的辅助工具，而有关绕射性材料之信息平常是借由下列两种方法之一导出的：能量弥散或是角度弥散。使用角度弥散之习知绕射系统的基本要素是单色的入射X光束。习知地，这是借由平衡滤光技术从多色或类-单色X光射束滤出想要的波谱峰值而提供的。这种技术的缺点是需要两个绕射影像相互扣除以取得想要的波谱蜂值。这会导致射束消散以及具有很差统计品质的数据本发明提出使用由半导体侦测器组件构成的数组及其相关的电子组件而能够从受到经散射多色或类-单色X光中萃取出基本上属单色的绕射图形。

2. 发明专利

TW455703B 濾光器失效
简体标题：滤光器
公开(公告)号：TW455703B
公开(公告)日：2001-09-21
申请号：TW089102047
申请日：2000-02-08
申请人：英國國防部秘書處
发明人：凱斯羅達劉易斯
IPC分类号： G02B
CPC分类号： G02B5/288 , G06K19/14 , G07D7/12 , Y10S359/90 , Y10S428/916
摘要：一些作成對設計濾光器(l),在單獨的情況下基本上其一般外表是呈無色的但是依透射方式一起觀測時能夠具有強烈的色彩,該濾光器在辨識仿冒物品上特別有用。濾光器(l)係使用具有非對稱設計的共振-耦合式法布立-拍若振盪腔。濾光器(l)的構造方式是使得濾光器內的某一個法布立-拍若振盪腔會與一個額外的多重1/4波片厚度層(20)結合,該額外層具有與空腔空間層呈對比的折射指數。
简体摘要：一些作成对设计滤光器(l),在单独的情况下基本上其一般外表是呈无色的但是依透射方式一起观测时能够具有强烈的色彩,该滤光器在辨识仿冒物品上特别有用。滤光器(l)系使用具有非对称设计的共振-耦合式法布立-拍若振荡腔。滤光器(l)的构造方式是使得滤光器内的某一个法布立-拍若振荡腔会与一个额外的多重1/4波片厚度层(20)结合,该额外层具有与空腔空间层呈对比的折射指数。

3. 发明专利

TW514723B 熱輻射計之微型橋接結構,製造其於基片上之方法及換能器失效
简体标题：热辐射计之微型桥接结构,制造其于基片上之方法及换能器
公开(公告)号：TW514723B
公开(公告)日：2002-12-21
申请号：TW089118419
申请日：2000-09-08
申请人：英國國防部秘書處
发明人：約翰彼得吉爾哈姆 , 瑞克司瓦特頓 , 約翰查爾斯亞爾德曼
IPC分类号： G01J
CPC分类号： G01J5/20
摘要：一種製造微型橋接裝置(14，16)於基片(20)上之方法。方法包含下列步驟：提供一犧牲材料(32)於基片(20)之表面區；製作圖案式蝕刻犧牲材料(32)；提供一感測材料(34)於犧牲材料之表面區；提供一支持材料(36)於感測材料之表面區；移除犧牲材料(32)，留下支持材料(36)及感測材料(34)於其下表面，大體上獨立於基片(20)上方。
简体摘要：一种制造微型桥接设备(14，16)于基片(20)上之方法。方法包含下列步骤：提供一牺牲材料(32)于基片(20)之表面区；制作图案式蚀刻牺牲材料(32)；提供一传感材料(34)于牺牲材料之表面区；提供一支持材料(36)于传感材料之表面区；移除牺牲材料(32)，留下支持材料(36)及传感材料(34)于其下表面，大体上独立于基片(20)上方。

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