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1. 发明授权

KR101227024B1 소프트웨어 유닛에 대한 확장형 분산 테스트 방법 失效
标题翻译：用于软件可靠性的分布式可扩展综合测试方法
公开(公告)号：KR101227024B1
公开(公告)日：2013-01-28
申请号：KR1020100094180
申请日：2010-09-29
申请人： 한국과학기술원
发明人： 김문주 , 김윤호
IPC分类号： G06F11/36 , G06F11/267
摘要： 본 발명은 소프트웨어 유닛에 대한 확장형 분산 테스트 방법에 관한 것으로, 유닛의 테스트 방법에 있어서, 경로(path)와 경로에 대한 부정의 한계(neg_limit)를 저장하는 queue
pf 를 초기화하는 초기화 단계와 queue
pf 가 비었는지 검사하는 제1 검사 단계, 제 1 검사 단계에서 queue
pf 가 비지 않은 경우 concolic 테스트를 수행하는 테스트수행 단계 및 제1검사단계에서 queue
pf 가 비었을 경우 다른 노드들의 미처리 경로(path)를 수행하는 외부수신 단계를 포함하는 방법으로 이루어져 있다.
본 기법은 대상 프로그램의 신뢰성을 높이기 위하여 수많은 테스트 케이스를 자동생성하며, 많은 수의 컴퓨팅 노드를 이용하는 클라우드 컴퓨팅 플랫폼을 활용하여 사용하여 테스트 시간을 획기적으로 줄일 수 있고, 이에 따라 산업현장에서의 실제적인 이용을 통해, 소프트웨어 개발 기간을 단축하는 동시에 생성되는 소프트웨어의 품질을 높이는 효과를 기대할 수 있다.

2. 发明公开

KR1020120038077A 마이크로 컨트롤러, 이의 구동방법 및 이를 이용한 표시장치 有权
标题翻译：微控制器，其驱动方法和使用该控制器的显示装置
公开(公告)号：KR1020120038077A
公开(公告)日：2012-04-23
申请号：KR1020100099614
申请日：2010-10-13
申请人： 엘지디스플레이 주식회사
发明人： 정병근
IPC分类号： G06F11/22 , G06F11/267 , G06F11/27
CPC分类号： G06F11/267 , G09G3/006 , G09G3/20
摘要： PURPOSE: A micro controller, a driving method thereof, and a display device using the same are provided to control input terminals to operate at a normal or test mode according to an input signal, thereby reducing the number of test terminals. CONSTITUTION: An I/O unit comprises a reset terminal(RST), input terminals, and a test activation terminal(TEST). A test mode determining unit(TMC) allocates a first input terminal to a test clock terminal by an input signal and allocates other input terminals to a test terminal. A processor unit(CPU) controls the I/O unit and the test mode determining unit. A test mode determining unit includes determining unit and a decoder unit. The decoder unit decodes signals inputted from flip-flop units and determines to allocate the signals to a test terminal of an input terminal.
摘要翻译：目的：提供微控制器及其驱动方法以及使用其的显示装置，以根据输入信号控制输入端子在正常或测试模式下工作，从而减少测试端子的数量。构成：I / O单元包括复位端子（RST），输入端子和测试激活端子（TEST）。测试模式确定单元（TMC）通过输入信号将第一输入端子分配给测试时钟端子，并将其他输入端子分配给测试端子。处理器单元（CPU）控制I / O单元和测试模式确定单元。测试模式确定单元包括确定单元和解码器单元。解码器单元解码从触发器单元输入的信号，并确定将信号分配给输入端子的测试端子。

3. 发明授权

KR101023614B1 마이크로 컨트롤러를 테스트하기 위한 방법 有权
标题翻译：微控制器测试方法
公开(公告)号：KR101023614B1
公开(公告)日：2011-03-21
申请号：KR1020087023612
申请日：2007-02-26
申请人： 로베르트 보쉬 게엠베하
发明人： 아우에악셀
IPC分类号： G06F11/26 , G06F11/267
CPC分类号： G06F11/2236
摘要： 본 발명은 제어기(1) 내에 장착된 적어도 하나의 계산 유닛(2, 3)을 테스트하기 위한 방법에 관한 것이며, 상기 제어기는 제어기 인터페이스와, 각각 하나의 스캔 체인(4, 5)을 포함하는 적어도 두 개의 계산 유닛(2, 3)과, 적어도 하나의 저장 유닛(6, 7)을 포함하며, 제어기 인터페이스를 이용하여 제1 테스트 데이터를 로딩하여 제1 계산 유닛(2)을 테스트하는 단계와, 로딩된 제1 테스트 데이터를 제2 계산 유닛(3)의 제2 저장 유닛(7) 내에 저장하는 단계와, 제2 계산 유닛(3)을 이용하여 제1 계산 유닛(2)을, 제1 계산 유닛(2)의 제1 스캔 체인(4)이 액세스될 수 있는 테스트 모드로 전환하는 단계와, 제2 계산 유닛(3)을 이용하여 제2 저장 유닛(7)으로부터 제1 테스트 데이터를 판독하는 단계와, 상기 판독된 제1 테스트 데이터를 제2 계산 유닛(3)을 이용하여, 테스트 모드로 전환된 제1 계산 유닛(2)의 제1 스캔 체인(4)에 의해 이동시켜 제1 계산 유닛(2)에 대한 테스트 결과 데이터를 제공하는 단계와, 제2 계산 유닛(3)을 이용하여, 제공된 테스트 결과 데이터의 타당성을 테스트하여 제1 계산 유닛(2)에 대한 테스트 결과를 제공하는 단계를 포함한다.
제어기, 계산 유닛, 제어기 인터페이스, 스캔 체인, 저장 유닛

4. 发明公开

KR1020080104159A 마이크로 컨트롤러를 테스트하기 위한 방법 有权
标题翻译：用于测试至少一个安装在控制设备中的计算单元的方法
公开(公告)号：KR1020080104159A
公开(公告)日：2008-12-01
申请号：KR1020087023612
申请日：2007-02-26
申请人： 로베르트 보쉬 게엠베하
发明人： 아우에악셀
IPC分类号： G06F11/26 , G06F11/267
CPC分类号： G06F11/2236
摘要： The present invention relates to a method for testing at least one computation unit (2, 3) which is installed in a control device (1), wherein the control device has a control device interface, at least two computation units (2, 3) each having a scan chain (4, 5), and at least one memory unit (6, 7), said method having the following steps: the control device interface is used to load first test data for the purpose of testing a first computation unit (2), the first test data which have been loaded are stored in a second memory unit (7) of a second computation unit (3), the second computation unit (3) is used to switch the first computation unit (2) to a test mode in which a first scan chain (4) of the first computation unit (2) can be accessed, the second computation unit (3) is used to read the first test data from the second memory unit (7), the second computation unit (3) is used to shift the first test data, which have been read, through the first scan chain (4) of the first computation unit (2), which has been switched to the test mode, in order to provide test result data for the first computation unit (2), the test result data which have been provided are checked for plausibility using the second computation unit (3) in order to provide a test result for the first computation unit (2). ® KIPO & WIPO 2009
摘要翻译：本发明涉及一种用于测试安装在控制设备（1）中的至少一个计算单元（2,3）的方法，其中控制设备具有控制设备接口，至少两个计算单元（2,3）每个具有扫描链（4,5）和至少一个存储器单元（6,7），所述方法具有以下步骤：控制设备接口用于加载第一测试数据，以便测试第一计算单元（2）中，已经加载的第一测试数据被存储在第二计算单元（3）的第二存储单元（7）中，第二计算单元（3）用于将第一计算单元（2）切换到可以访问第一计算单元（2）的第一扫描链（4）的测试模式，第二计算单元（3）用于从第二存储器单元（7）读取第一测试数据，第二计算单元计算单元（3）用于通过第一计算机的第一扫描链（4）来移位已读取的第一测试数据已经切换到测试模式，为了提供第一计算单元（2）的测试结果数据，使用第二计算单元（3）检查所提供的测试结果数据的真实性），以便为第一计算单元（2）提供测试结果。 ®KIPO＆WIPO 2009

5. 发明公开

KR1020080030472A ＵＳＢ 테스트 회로 无效
标题翻译： USB测试电路
公开(公告)号：KR1020080030472A
公开(公告)日：2008-04-04
申请号：KR1020070089296
申请日：2007-09-04
申请人： 오끼 덴끼 고오교 가부시끼가이샤
发明人： 나가노마코토
IPC分类号： G06F11/22 , G06F11/263 , G06F11/267
CPC分类号： G06F11/221
摘要： A USB(Universal Serial Bus) testing circuit is provided to generate/output a test packet transferred to a USB device of an LSI(Large Scale IC) having a USB function to measure a signal quality. An input unit receives a test signal including an operation mode of a circuit from an external device. A generator(20) generates and outputs a test packet for measuring a signal quality depending on the operation mode received from the input unit. The generator outputs the test packet to a physical layer of a USB device through a UTM(USB2.0 Transceiver Macrocell) interface. The USB device is operated by selecting a full, low, or high speed mode. The generator generates the test packet according to a transfer speed mode selected in the USB device.
摘要翻译：提供USB（通用串行总线）测试电路以产生/输出传输到具有USB功能的LSI（大规模IC）的USB设备的测试分组，以测量信号质量。输入单元从外部设备接收包括电路的操作模式的测试信号。发生器（20）根据从输入单元接收的操作模式产生并输出用于测量信号质量的测试分组。发生器通过UTM（USB2.0收发器宏单元）接口将测试包输出到USB设备的物理层。通过选择满量程，低速或高速模式来操作USB设备。发生器根据在USB设备中选择的传输速度模式生成测试包。

6. 发明公开

KR1019980042735A 내장 코어들의 본드 패드 액세스에 대한 신호 컬렉터들을갖는 집적 회로 无效
标题翻译：具有信号采集器的集成电路，用于嵌入式核心的焊盘访问
公开(公告)号：KR1019980042735A
公开(公告)日：1998-08-17
申请号：KR1019970062835
申请日：1997-11-25
申请人： 텍사스 인스트루먼츠 인코포레이티드
发明人： 훼셀리디.
IPC分类号： G06F11/267
摘要： 본 발명은 내장 코어들의 본드 패드 액세스(41, 141)에 대한 신호 컬렉터들(43)을 포함하는 집적 회로에 관한 것이다.

7. 发明公开

KR1019970703018A 스캔테스트용자동리세트바이패스제어 失效
标题翻译：扫描测试用户等效设置旁路控制
公开(公告)号：KR1019970703018A
公开(公告)日：1997-06-10
申请号：KR1019960703736
申请日：1995-11-09
申请人： 내셔널 세미콘덕터 코포레이션
发明人： 부이,쿠옹,민
IPC分类号： G06F11/267

8. 发明公开

KR1020220060231A 자동화된 리셋 기반의 IoT 기기 자동 퍼징 방법 및 이를 이용한 장치 有权
公开(公告)号：KR1020220060231A
公开(公告)日：2022-05-11
申请号：KR1020200145990
申请日：2020-11-04
IPC分类号： G06F11/36 , G06F11/263 , G06F11/267 , G06F11/22 , G06F9/4401
摘要： 자동화된리셋기반의 IoT 기기자동퍼징방법및 이를이용한장치가개시된다. 본발명의일실시예에따른 IoT 기기자동퍼징방법은 IoT 기기자동퍼징장치가, 펌웨어기반의 IoT 기기에퍼징에이전트(FUZZING AGENT)를적재하는단계; 상기 IoT 기기자동퍼징장치가, 상기퍼징에이전트를기반으로퍼징입력에대한상기 IoT 기기의처리상황을모니터링하는단계; 상기 IoT 기기에서크래쉬(CRASH)가발생하는경우, 상기 IoT 기기자동퍼징장치가, 상기퍼징에이전트를이용한후킹(HOOKING)을기반으로상기크래쉬발생에상응하는퍼징데이터를수집하는단계; 및상기 IoT 기기자동퍼징장치가, 상기퍼징에이전트를기반으로상기 IoT 기기를리셋시키는단계를포함한다.

9. 发明授权

KR102227683B1 머신 러닝 기반 스캔 설계 구현 플랫폼 有权
公开(公告)号：KR102227683B1
公开(公告)日：2021-03-16
申请号：KR1020190075026
申请日：2019-06-24
申请人： 타이완 세미콘덕터 매뉴팩쳐링 컴퍼니 리미티드
发明人： 고엘샌딥쿠마르 , 파티다안키타 , 코타비나이 , 리윈한
IPC分类号： G06F11/267 , G06N20/00
摘要： 다양한실시예들에서, 본발명개시의전자설계자동화(electronic design automation; EDA)는전자디바이스를위한전자회로부의설계, 시뮬레이션, 분석, 및검증을최적화한다. 전자디바이스는다양한제조결함들에대해전자회로부를자율적으로테스트하는스캔플립플롭들을포함한다. 본발명개시의 EDA는각 스캔체인내의스캔플립플롭들이유사한특성들, 파라미터들, 또는속성들을공유하는방식으로스캔플립플롭들을스캔체인들로통계적으로그룹화한다. 그후, 본발명개시의 EDA는전자회로부의전력, 성능, 및/또는면적을최적화하기위해각각의스캔체인들내에서의스캔플립플롭들에대한순서를지능적으로정렬시킨다.

10. 发明公开

KR1020110124273A 센서-액추에이터 시스템에 대한 구성가능한 상태 프로세싱 유닛 有权
标题翻译：用于传感器执行器系统的可配置状态处理单元
公开(公告)号：KR1020110124273A
公开(公告)日：2011-11-16
申请号：KR1020117020630
申请日：2010-02-03
申请人： 콘티넨탈 테베스 아게 운트 코. 오하게
发明人： 파이힐토마스 , 슈어슈미트위르겐 , 슈리퍼외른
IPC分类号： H04L12/413 , G06F11/267 , H04L12/26 , B60W50/00
CPC分类号： G06F7/764 , G06F11/27 , H04L12/40032 , H04L12/403 , H04L12/4135 , H04L67/12 , H04L2012/40273
摘要： An electronic communication unit which is in the form of a sensor and/or actuator unit, including at least a first status information processing module having a status memory unit which stores status information for the communication unit in the form of a status data item (stat), wherein the first status information processing module further includes a masking memory unit connected to the status memory unit and also a status processing element connected to the masking memory unit, wherein the first status information processing module is designed such that at least one status information item from the status data item (stat) is selected by the masking memory unit and the resultant selective status data item (sel-stat) is processed by the status processing element such that the output of the latter provides a short status data item (k-stat) which has a shorter data word length than the selective status data item (sel-stat).

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