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1. 发明公开

KR1020220085955A 인터페이스 제어 문서에 따라 그래픽 유저 인터페이스를 생성하는 시험 장치 및 이의 동작 방법 有权
公开(公告)号：KR1020220085955A
公开(公告)日：2022-06-23
申请号：KR1020200175964
申请日：2020-12-16
IPC分类号： G06F9/451 , G06F11/22 , G06F11/273
摘要： 본발명의실시예에따른, 전자장치를시험하기위한시험장치는, 인터페이스제어문서를입력받기위한문서입력부; 상기인터페이스제어문서로부터테이블정보를도출하기위한전처리부; 상기테이블정보에따라그래픽유저인터페이스를생성하기위한인터페이스생성부; 및상기그래픽유저인터페이스를표시하기위한인터페이스표시부를포함하고, 상기인터페이스제어문서는, 송신용문서, 수신용문서, 순차제어문서, 통신프로토콜문서및 리포트문서중 적어도하나를포함하는것을특징으로한다.

2. 发明授权

KR102388906B1 수리 가능 반도체 메모리 선별 장치 및 방법 有权
公开(公告)号：KR102388906B1
公开(公告)日：2022-04-21
申请号：KR1020200159063
申请日：2020-11-24
IPC分类号： G06F11/22 , G06F11/273
摘要： 본발명은메모리셀 어레이에대한테스트결과로인가되는불량메모리셀의위치정보로부터, 메모리셀 어레이의동일한행 및열에다른불량메모리셀이존재하지않는싱글불량메모리셀에대한정보와다수의불량메모리셀이존재하는행에대한로우희소불량정보와다수의불량메모리셀이존재하는열에대한칼럼희소불량정보및 로우희소불량정보와칼럼희소불량정보에중첩되어포함되는교차메모리셀 정보를획득하여저장하는불량셀 분석부및 로우리던던시와칼럼리던던시개수의합인리던던시개수와싱글불량메모리셀의개수사이의차가칼럼희소불량정보개수와칼럼희소불량정보개수의합인희소불량라인개수이상이면, 반도체메모리가수리가능한메모리인것으로판별하는수리가능판별부를포함하여, 메모리셀 테스트이후수리불가능메모리들을기지정된간단한계산을통해빠르게선별하여수리대상에서제외되도록함으로써, 수리불가능메모리에대한분석시간과수리시간을저감시켜전체비용에직결되는총 수리시간을크게줄일수 있는수리가능반도체메모리선별장치및 방법을제공할수 있다.

3. 发明授权

KR102217002B1 ＨＩＬ 테스트를 위한 제어 시스템 및 방법 有权
公开(公告)号：KR102217002B1
公开(公告)日：2021-02-18
申请号：KR1020190147916
申请日：2019-11-18
申请人： (주)파워닉스 , 한국철도공사
发明人： 윤광희 , 이병곤 , 이승철
IPC分类号： G06F11/273 , G06F11/26 , G06F11/263
摘要： 본개시내용에따르면, HIL(Hardware-in-the-loop) 테스트를위한제어시스템이제공된다. HIL 테스트를위한제어시스템은테스트대상제어기와의통신을위한제1 입출력채널들및 시뮬레이터와의통신을위한제2 입출력채널들을구비하는인터페이스모듈및 상기테스트대상제어기의입력채널구성및 출력채널구성에기초하여상기제1 입출력채널들의하나이상의입력채널및 하나이상의출력채널을구성하는채널매핑모듈을포함하며, 상기테스트대상제어기의변경시, 상기채널매핑모듈은변경된테스트대상제어기의입력채널구성및 출력채널구성에기초하여상기제1 입출력채널들의하나이상의입력채널및 하나이상의출력채널을재구성한다.

4. 发明公开

KR20210005505A 메모리 칩 오버 클로킹 테스트 모듈 및 이의 방법 有权
公开(公告)号：KR20210005505A
公开(公告)日：2021-01-14
申请号：KR20190179096
申请日：2019-12-31
申请人： 브이-컬러 테크놀로지 아이엔씨
发明人： 훙콘-닝
IPC分类号： G11C29/12 , G06F11/273 , G11C29/00 , G11C29/02 , G11C29/16
摘要： 본발명은메모리칩 오버클로킹테스트모듈및 이의방법에관한것으로, 두단계의메모리칩 테스트공정에서다양한속도의메모리칩의스크리닝하에적용되고, 테스트디스크영역, 위치결정임시저장디스크, 적어도하나의사전테스팅머신, 복수의테스팅머신및 로봇암을포함하며, 로봇암은테스트디스크영역, 위치결정임시저장디스크, 사전테스팅머신및 테스팅머신과전기적으로연결되고, 사전테스팅머신은위치결정임시저장디스크와테스팅머신의중간에구비되어메모리에대해제1 단계의테스트및 스크리닝을수행하며, 제1 단계사전테스팅머신에의해스크리닝된메모리는테스팅머신에서완전메모리칩 테스트된다. 효율및 정확도를향상시키고오판을감소시킨다.

5. 发明授权

KR102179508B1 자동화 시험장비의 운용 시스템 有权
公开(公告)号：KR102179508B1
公开(公告)日：2020-11-16
申请号：KR20190081361
申请日：2019-07-05
申请人： KOREA AEROSPACE IND LTD
发明人： JUNG HAESUNG
IPC分类号： G06F11/273 , G06F11/263 , G06F11/36
摘要： 본발명은자동화시험장비의운용시스템에관한것으로서, 더욱상세하게는, 다수의계측기들을이용한자동시험절차의제어를수행하는자동화시험장비(ATE, Automated Test Equipment)의운용시스템에있어서, 자동화시험장비와연결되어있는제어가능한계측기들의자동시험절차시퀀스생성을위한제어정보를기저장되어있는 DTI(Detail Test Information) 양식을기반으로외부로부터입력받는입력부(100), 상기입력부(100)에입력된상기제어정보를기초로, 각각의계측기에대한자동시험절차시퀀스를생성하는설계부(200) 및자동화시험장비내 구비된메모리수단을포함하여구성되며, 상기설계부(200)에서생성한상기자동시험절차시퀀스를각 계측기별로데이터베이스화하여저장및 관리하는시험절차데이터베이스부(300)를포함하여구성되며, 상기입력부(100)와설계부(200)는별도의수단을이용하여자동화시험장비와연결되어, 동작을수행하는것을특징으로하는자동화시험장비의운용시스템에관한것이다.

6. 发明授权

KR102166663B1 시스템 온 칩의 테스트 시스템 및 그것의 테스트 방법 有权
公开(公告)号：KR102166663B1
公开(公告)日：2020-10-19
申请号：KR1020140069370
申请日：2014-06-09
申请人： 삼성전자주식회사
发明人： 신만영 , 안장혁
IPC分类号： G06F11/36 , G06F11/273

7. 发明授权

KR102148043B1 유연성 있는 테스트 사이트 동기화 有权
公开(公告)号：KR102148043B1
公开(公告)日：2020-08-25
申请号：KR1020140160551
申请日：2014-11-18
申请人： 주식회사 아도반테스토
发明人： 존스마이클 , 야스이다카히로 , 크레치알란에스쥬니어 , 델라푸엔트에드문도 , 후쿠다다이치
IPC分类号： G06F11/273 , G06F1/12

8. 发明授权

KR102146198B1 솔리드 스테이트 장치(SSD)의 특이한 섹터 크기 및 보호 모드를 위한 자동 검사 장비(ATE) 지원 프레임 워크 有权
公开(公告)号：KR102146198B1
公开(公告)日：2020-08-19
申请号：KR1020190120676
申请日：2019-09-30
申请人： 주식회사 아도반테스토
发明人： 말리시크슬로단 , 존스마이클 , 유안치
IPC分类号： G06F11/273 , G06F11/22

9. 发明授权

KR102040253B1 배터리 팩을 테스트하는 테스트 시스템 및 방법 有权
公开(公告)号：KR102040253B1
公开(公告)日：2019-11-04
申请号：KR1020160022775
申请日：2016-02-25
申请人： 주식회사 엘지화학
发明人： 파델,푸아드 , 이달훈
IPC分类号： G01R31/36 , G01R19/165 , G06F11/273

10. 发明授权

KR101991052B1 에프피지에이 서데스 로직을 이용한 실시간 고속 고정밀 타이밍 발생기 有权
公开(公告)号：KR101991052B1
公开(公告)日：2019-06-19
申请号：KR1020180033284
申请日：2018-03-22
申请人： 주식회사 네오셈
发明人： 김종구
IPC分类号： G01R31/317 , G06F11/273

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