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    • 8. 发明公开
    • 온칩 파라미터 측정
    • 片上参数测量
    • KR20180034528A
    • 2018-04-04
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    • 온칩파라미터측정을수행하기위한장치및 방법이개시된다. 일실시예에서, IC는다수의기능성회로블록을포함하며, 이들은각각전압및 온도와같은파라미터들을측정하기위한하나이상의센서를갖는다. 각각의기능성블록들은로컬공급전압노드로부터전력을수신하도록결합된회로부를포함한다. 유사하게, 각각의센서들의회로부는또한대응하는로컬공급전압노드로부터전력을수신하도록결합된다. 각각의센서들은공정, 전압, 및온도변이를보상하기위하여보정될수 있다. 센서들의특성에기초하는다양한방법들을이용하여보정을수행할수 있다.
    • 公开了一种用于执行片上参数测量的装置和方法。 在一个实施例中,IC包括多个功能电路块,每个功能电路块具有一个或多个分别用于测量诸如电压和温度的参数的传感器。 每个功能块包括被耦合以从本地电源电压节点接收功率的电路。 类似地,每个传感器的电路也被耦合以从相应的本地电源电压节点接收电力。 每个传感器都可以进行校准,以补偿过程,电压和温度变化。 可以根据传感器的特性使用各种方法进行校准。