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1. 发明公开

KR1020170082505A 임의의 입사각에서의 코히어런트 회절 영상 审中-实审
标题翻译：在任何入射角相干衍射图像
公开(公告)号：KR1020170082505A
公开(公告)日：2017-07-14
申请号：KR1020177008361
申请日：2015-08-28
申请人： 장, 보셩 , 시버그, 매튜, 디. , 아담스, 다니엘, 이. , KAPTEYN, Henry, C. , 머네인, 마가렛, 엠.
发明人： 장,보셩 , 시버그,매튜,디. , 아담스,다니엘,이. , KAPTEYN,Henry,C. , 머네인,마가렛,엠.
IPC分类号： G01N21/47 , G01N21/33 , G01N23/205 , G02B27/42 , G03H1/04 , G03H1/16 , G03F1/84 , G02B21/00 , G03F7/20 , G01N21/956
CPC分类号： G03H1/0443 , G01N21/4788 , G01N23/20 , G01N23/2055 , G01N2021/95676 , G01N2223/33 , G01N2223/345 , G01N2223/611 , G01N2223/6116 , G02B21/0016 , G02B27/4205 , G03F1/84 , G03F7/70625 , G03H1/0465 , G03H1/0866 , G03H1/16 , G03H2001/005 , G03H2001/0445 , G03H2001/0447 , G03H2001/045 , G03H2001/0456 , G03H2001/0473 , G03H2001/0825 , G03H2240/62 , G21K7/00 , G21K2207/005 , G01N21/33
摘要： 입사조명(20, 21)의임의의각도(17)에서의코히어런트회절영상을위한장치및 방법은검출기픽셀어레이(초기그리드)(27)로부터, 재매핑된패턴상에서의 FFT를가능하게하도록선택되는균일한공간주파수그리드(최종그리드(202)로검출된회절강도패턴(212)을고속매핑하는방법을이용한다. 이는공간주파수에서선형인최종그리드를생성하도록선택된중간그리드에초기그리드를재매핑함으로써달성된다. 초기그리드는최종그리드에대응하도록계산된중간그리드로재매핑(일반적으로보간법에의해)된다. 일반적으로, 초기그리드(x,y)는공간적으로균일하고, 중간그리드는공간주파수가비균일하며, 최종그리드는공간주파수가균일하다.
摘要翻译：从入射照明的任何角度17 eseoui相干装置和（20，21）的相干衍射成像检测器像素阵列的方法（初始网格）27，选择，以使在重新映射的图案的FFT 利用一个均匀的空间频率栅格（被检测为最终栅格202高速映射的衍射强度图案212的方法。这是因为通过重新映射在网格的中间的初始网格中选择的空间频率，以产生线性最终栅格是实现。初始网格是（通过一般的内插法）重新映射计算，以便以对应于最终的网格中的中间网格。在一般情况下，初始网格（x，y）是空间均匀的，中间网格是空间频率垃圾均匀和最终网格是空间频率是均匀的。

2. 发明公开

KR1020160119840A 시료에 따른 전자 회절 패턴 분석을 수행하는 방법 审中-实审
标题翻译：在样品上进行电子衍射图案分析的方法
公开(公告)号：KR1020160119840A
公开(公告)日：2016-10-14
申请号：KR1020167024886
申请日：2014-03-10
申请人： 옥스포드 인스트루먼츠 나노테크놀로지 툴스 리미티드
发明人： 바우어,프랭크빌리
IPC分类号： H01J37/305 , H01J37/20 , H01J37/252 , H01J37/295 , G01N23/20 , G01N23/203
CPC分类号： G01N23/20058 , G01N23/20025 , G01N23/203 , G01N23/2055 , H01J37/20 , H01J37/252 , H01J37/2955 , H01J37/3056 , H01J2237/20207 , H01J2237/20214 , H01J2237/20221 , H01J2237/24578 , H01J2237/2544 , H01J2237/31749
摘要： 현미경의진공챔버에서시료에따른전자회절패턴분석을수행하기위한방법이제시된다. 먼저, 시료는집속입자빔을이용하여시편의일부로부터분리된다. 그러면, 매니퓰레이터엔드이펙터및 상기시료사이의미리정해진방위에영향을주도록매니퓰레이터엔드이펙터가상기시료에부착된다. 부착된시료와함께, 상기시료가상기매니퓰레이터엔드이펙터에여전히고정되는동안, 상기시료로부터전자회절패턴이획득되는것이가능하게되도록전자빔 및회절패턴이미징장치에관하여미리정해진기하학구조로이동시키기위해상기매니퓰레이터엔드이펙터는회전축에대해회전시킨다. 상기전자회절패턴을획득하기위해상기전자빔을매니퓰레이터엔드이펙터에부착된상기시료에충돌하게한다.

3. 发明公开

KR1020090042780A 개선 방법 无效
标题翻译：改进方法
公开(公告)号：KR1020090042780A
公开(公告)日：2009-04-30
申请号：KR1020097001883
申请日：2007-06-28
申请人： 퍼미스캔 오스트레일리아 피티와이 리미티드
发明人： 프렌치피터더블유 , 코리노게리엘
IPC分类号： G01N23/20 , G01N33/48 , A61B6/00
CPC分类号： G01N23/2055 , G01N21/47 , G01N21/65
摘要： A method of analyzing a keratin sample from a subject so as to improve sensitivity and specificity of a diagnostic test for a pathological state in the subject comprising: a) exposing the keratin sample to incident energy derived from an energy source; b) receiving radiated energy from the keratin sample consequent upon impingement of the incident energy on the keratin sample; c) passing at least a portion of the radiated energy received from the keratin sample through a transducer so as to derive subject specific data; d) processing subject specific derived data; e) comparing the processed subject specific data thus derived with a second group of reference data present in a reference database; wherein the second group of reference data is consistent with a presence of the pathological state in the subject; f) Said processing method including the steps of applying an appropriate algorithm to said subject specific data prior to said step of comparing thereby to improve sensitivity and specificity relative to said reference data.
摘要翻译：分析来自受试者的角蛋白样品的方法，以改善对受试者病理状态的诊断测试的敏感性和特异性，其包括：a）将角蛋白样品暴露于源自能量的入射能; b）在将入射能量撞击在角蛋白样品上时，从角蛋白样品接收辐射能; c）使从角蛋白样品接收的辐射能量的至少一部分通过换能器，从而得到对象特定数据; d）处理主题特定的派生数据; e）将如此导出的经处理的受试者特定数据与存在于参考数据库中的第二组参考数据进行比较; 其中第二组参考数据与受试者中病理状态的存在一致; f）所述处理方法包括以下步骤：在所述比较步骤之前对所述主题特定数据应用适当的算法从而提高相对于所述参考数据的灵敏度和特异性。

4. 发明公开

KR1020150145189A 고처리량 Ｘ선 토포그래피 측정을 위한 다중 소스/탐지기의 사용 审中-实审
标题翻译：使用多种来源/检测器进行高速X射线测量
公开(公告)号：KR1020150145189A
公开(公告)日：2015-12-29
申请号：KR1020150084953
申请日：2015-06-16
申请人： 조르단 밸리 세미컨덕터즈 리미티드
发明人： 라이언폴앤쏘니 , 월존레너드 , 워밍턴매튜
IPC分类号： H01L21/66 , H01L27/30
CPC分类号： G01N23/2055 , G01N23/20025 , G01N2223/6116 , G01N2223/6462
摘要： X선토포그래피장치는소스어셈블리, 탐지기어셈블리, 스캐닝어셈블리, 및프로세서를포함한다. 소스어셈블리는샘플상의복수의각각의구역을조사하도록복수의 X선빔을지향시키도록구성되어있는데, 이구역들은샘플의제1 축을따라서로부분적으로중첩되고제1 축에수직인샘플의제2 축을따라서로에어긋나있다. 탐지기어셈블리는샘플로부터회절된 X선빔을탐지하고탐지된 X선빔에응답하여각각의전기신호를산출하도록구성되어있다. 스캐닝어셈블리는샘플을소스어셈블리및 탐지기어셈블리에대하여제2 축을따라이동시키도록구성되어있다. 프로세서는샘플이이동되는동안탐지기어셈블리에의해산출된전기신호를처리하여샘플내의결함을식별하도록구성되어있다.
摘要翻译：用于X射线形貌的装置包括源组件，检测器组件，扫描组件和处理器。源组件被配置为引导多个X射线束以便用X射线束照射样品上的多个相应区域，其中所述区域沿着样品的第一轴线彼此部分重叠并且从一个另一个沿着与第一轴正交的样品的第二轴。检测器组件被配置为检测从样本衍射的X射线束并且响应于检测到的X射线束产生相应的电信号。扫描组件被配置为沿着第二轴相对于源组件和检测器组件移动样本。处理器被配置为通过处理在样品移动时由检测器组件产生的电信号来识别样品中的缺陷。

5. 发明公开

KR20070105938A X-RAY DIFFRACTION IMAGING SYSTEM 审中-公开
标题翻译： X射线衍射成像系统
公开(公告)号：KR20070105938A
公开(公告)日：2007-10-31
申请号：KR20070091047
申请日：2007-09-07
申请人： POSTECH FOUNDATION
发明人： JE JUNG HO , YI JAE MOK , HWU YEU KUANG
IPC分类号： G01N23/20 , G01N23/205
CPC分类号： G01N23/205 , G01N23/2055 , G01N23/207 , G01N2223/0561 , G01N2223/1016
摘要： An X-ray diffraction imaging system is provided to detect a variation of material in real time by obtaining an image of the material using a visible ray, which is converted from a diffracted X-ray. An X-ray diffraction imaging system is used to analyze defects of a material(100). The X-ray diffraction imaging system comprises a photo converter(200) for converting a diffracted X-ray into a visible ray, and a photographing unit(400) for obtaining an image of the material using the visible ray. The photo converter(200) uses scintillation crystal. The photographing unit includes an optical lens(401) for obtaining an image with high resolution, and a charge coupled device(402) for photographing the image. A reflective mirror(300) is provided to reflect the visible ray toward the photographing unit.
摘要翻译：提供X射线衍射成像系统，通过使用从衍射X射线转换的可见光线获得材料的图像来实时检测材料的变化。使用X射线衍射成像系统来分析材料（100）的缺陷。 X射线衍射成像系统包括用于将衍射X射线转换成可见光的光转换器（200），以及用于获得使用可见光线的材料的图像的拍摄单元（400）。光转换器（200）使用闪烁晶体。拍摄单元包括用于获得高分辨率的图像的光学透镜（401）和用于拍摄图像的电荷耦合装置（402）。提供反射镜（300）以将可见光线朝向拍摄单元反射。

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