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1. 发明公开

KR1020160133562A 플랜지 체결 스킬 판정 장치 및 매체에 저장된 플랜지 체결 스킬 판정 컴퓨터프로그램 有权
标题翻译：法兰紧固技能测定设备和法兰紧固技巧测试程序
公开(公告)号：KR1020160133562A
公开(公告)日：2016-11-22
申请号：KR1020167029322
申请日：2015-04-16
申请人： 주식회사 다이셀
发明人： 후타이마사노리
IPC分类号： B25B23/14 , G01L5/00 , B25B21/00
CPC分类号： G01L5/0071 , B25B23/14 , G01L5/0033 , G01L5/24 , G09B19/24
摘要： 플랜지체결스킬판정장치는, 플랜지를연결하기위해조여지는복수의볼트에대해, 개별로대응하여형성된각 조임력검출기로부터, 피험자의복수의볼트의조임작업에수반하여출력되는출력신호를수신하는수신부와, 수신부가수신한, 복수의볼트각각의조임작업개시시부터조임작업완료시까지의각각의출력신호의변화의추이를나타내는복수의계측결과를얻는계측부와, 복수의계측결과를연산하여, 복수의볼트의조임작업중에있어서의각각의조임력검출기의출력신호값의편차를나타내는제 1 연산결과와, 복수의볼트의조임작업완료시에있어서의각각의조임력검출기의출력신호값의편차를나타내는제 2 연산결과와, 복수의볼트의조임작업완료시에있어서의각 조임력의정도를나타내는제 3 연산결과를각각기능판정항목으로서얻는연산부와, 각각의기능판정항목을판정기준과대조한결과에기초하여, 각볼트의조임작업에관련된피험자의기능을 3 개이상의기능레벨중 어느것인지를판정하는판정부와, 판정부에의한판정결과를출력하는출력부를구비한다.
摘要翻译：一种法兰紧固技巧确定装置，包括：接收器，其被配置为当受试者执行紧固多个用于将凸缘连接的螺栓的螺栓的工作时，接收从相应的紧固力检测器输出的输出信号，所述紧固力检测器分别对应于到多个相应的螺栓; 被配置为获得多个测量结果的测量器，所述测量结果指示由所述接收器接收的每个所述输出信号的变化从所述工作的开始到结束，所述测量结果是拧紧所述多个螺栓中的相应一个螺栓; 计算器，被配置为通过对所述多个测量结果进行计算来获得作为技能确定项目的第一计算结果，第二计算结果和第三计算结果，所述第一计算结果指示所述第二计算结果的输出信号值之间的变化，在紧固多个螺栓的工作期间的相应的紧固力检测器，第二计算结果指示在紧固多个螺栓的工作完成时各个紧固力检测器的输出信号值之间的变化，第三计算结果指示在完成所述多个螺栓的紧固工作完成时，所述多个螺栓中的每一个的紧固力的程度; 确定器，其被配置为基于将所述技能确定项目与确定标准进行比较的结果，确定所述被测者在紧固螺栓的工作中对应的技能水平中的哪一个; 以及输出装置，被配置为输出由所述确定器执行的所述确定的结果。

2. 发明公开

KR1020110126049A 반도체 조립체의 접합부 테스트 시스템 및 방법 审中-实审
标题翻译：用于测试半导体器件组件的系统和方法
公开(公告)号：KR1020110126049A
公开(公告)日：2011-11-22
申请号：KR1020110044405
申请日：2011-05-12
申请人： 노드슨 코포레이션
发明人： 피코크벤자민케이. , 킹필립존
IPC分类号： H01L21/66
CPC分类号： G01L5/0033 , H01L22/00
摘要： PURPOSE: A junction test system and method of a semiconductor assembly are provided to multiply the service life of a probe by reducing damage possibility of the probe for pull or push test. CONSTITUTION: A probe(3) comprises the thermally conductive pin of a straight line. A heater which heats a tip of the probe comprises a ceramic tube(21) and a heater wire(22). An insulating barrier(23) is offered between the heater and a clamp assembly. A thermocouple senses the temperature of a junction part which is being tested. A spring(18) is offered between a piston(13) and a cylinder edge cap(14a). A holder supports the probe and comprises a clamping mechanism which is composed in order to offer clamping force to the probe. An operating device transfers the probe to top and bottom direction.
摘要翻译：目的：提供半导体组件的接头测试系统和方法，通过减少探头的拉伸或推动测试的损坏可能性来增加探头的使用寿命。构成：探头（3）包括直线的导热销。加热探针末端的加热器包括陶瓷管（21）和加热丝（22）。在加热器和夹具组件之间提供绝缘屏障（23）。热电偶检测正在测试的接头部件的温度。在活塞（13）和气缸边缘帽（14a）之间提供弹簧（18）。支架支撑探头并且包括夹紧机构，该夹紧机构构成以向探针提供夹紧力。操作装置将探头传送到上下方向。

3. 发明公开

KR1020160002784A 복합 샌드위치 패널에 장착된 하중 적용 부재의 면외 인장 강도 시험 장치 및 방법 审中-实审
标题翻译：用于测试非平面拉伸强度的装置和装配到复合三面板的载体应用单元的平板外拉伸强度的测试方法
公开(公告)号：KR1020160002784A
公开(公告)日：2016-01-08
申请号：KR1020157029952
申请日：2013-12-10
申请人： 루아그 슈바이쯔 아게
发明人： 코브렐,스테판 , 그로벨바우어,한스-피터 , 훈지켈,다니엘
IPC分类号： G01N19/04 , G01M99/00 , G01L5/00 , F16B5/01 , B29C65/82
CPC分类号： G01L5/0033 , B29C65/8215 , F16B5/01 , G01M99/007 , G01N3/08 , G01N19/04 , G01N2203/0452
摘要： 당김부재(81)와, 누름부재(85), 힘분배부재(87) 및힘 게이지(82, 82.1-82.3)를구비한, 복합샌드위치패널(5)에장착된하중적용부재(50)의면외인장강도를시험하기위한장치(80)와이에상응하는방법, 상기당김부재(81)는하중적용부재(50)에인장강도시험력 T를적용하도록구성되고배치되며, 상기누름부재(85)는, 시험력 T의반력 R이상기힘 분배부재(87)를통해하중적용부재(50) 주위의복합샌드위치패널(5)의표면에분배되도록, 당김부재(81)에연결되고; 상기힘 게이지(82)는누름부재(85)와복합샌드위치패널(5)의표면사이의상기반력 R을측정하도록구성된다.
摘要翻译：一种用于测试装配到复合夹层板（5）上的负载施加元件（50）的平面外拉伸强度的装置（80）和相应的方法，包括拉构件（81），推动构件（85），力分配构件（87）和力计（82,82.1-82.3），其中所述拉构件（81）被布置和构造成用于将抗拉强度试验力（T）施加到所述载荷施加元件（50）上，其中推动构件（85）连接到拉动构件（81），使得在负载施加元件（50）周围分布在复合夹层板（5）的表面上的测试力（T）的反作用力（R））通过所述力分配构件（87）; 并且其中所述力量计（82）构造成用于测量所述推动构件（85）与所述复合夹心板（5）的表面之间的所述反作用力（R）。

4. 发明公开

KR1020140107472A 적층 구조체 无效
标题翻译：层压结构
公开(公告)号：KR1020140107472A
公开(公告)日：2014-09-04
申请号：KR1020147019781
申请日：2012-12-21
申请人： 미쯔비시 케미컬 주식회사
发明人： 나카이유스케 , 마키노신지
IPC分类号： G02B1/11 , B32B7/06 , B32B3/30 , G02F1/1335 , G09F9/00
CPC分类号： G02B1/111 , B32B3/00 , B32B7/06 , B32B7/12 , B32B27/06 , B32B27/08 , B32B2250/02 , B32B2250/24 , B32B2255/10 , B32B2255/26 , B32B2307/408 , B32B2307/412 , B32B2307/538 , B32B2307/714 , B32B2307/728 , B32B2307/73 , B32B2307/748 , B32B2457/20 , B32B2551/00 , G01L5/0033 , G01N19/04 , G02B1/118 , G02F1/133504 , Y10T428/24355
摘要： 적층 구조체(1)는, 미세 요철 구조(16)를 표면에 갖는 물품(10)과, 물품(10)의 미세 요철 구조(16)측의 표면에 접하는 점착 필름(20)을 갖고, 미세 요철 구조(16)에 있어서의 볼록부(14) 사이의 평균 간격이 400nm 이하이며, JIS Z0237:2009에 준하여 특정 방법으로 측정되는 아크릴 수지판에 대한 점착 필름(20)의 저속 박리력이 0.01N/25mm 이상 2.5N/25mm 미만이고, 아크릴 수지판에 대한 점착 필름(20)의 고속 박리력과 저속 박리력의 비(고속 박리력/저속 박리력)가 2 미만이다.

5. 发明授权

KR101876776B1 반도체 조립체의 접합부 테스트 시스템 및 방법 有权
公开(公告)号：KR101876776B1
公开(公告)日：2018-08-09
申请号：KR1020110044405
申请日：2011-05-12
申请人： 노드슨 코포레이션
发明人： 피코크벤자민케이. , 킹필립존
IPC分类号： H01L21/66
CPC分类号： G01L5/0033
摘要： 본발명은반도체조립체의접합부에당김테스트를적용하기위한장치를포함하고, 접합부는납땜의볼 또는범프를포함하고, 장치는: 직선의열전도성핀을포함하는프로브; 상기접합부가용융되는온도로또는상기온도보다높은온도로상기프로브의팁을가열하기위한히터; 상기프로브를지지하고, 상기프로브상에클램핑력을제공하도록구성된클램핑메커니즘을포함하는홀더; 상기홀더와상기홀더에지지된프로브를상하이동시키기위한작동디바이스; 상기홀더상에당김력을적용하고, 상기프로브에당김력을차례로적용하기위한수단; 및당김테스트동안상기프로브에적용되는힘을측정하기위한힘 측정시스템을포함하며, 상기접합부가용융되는온도로또는상기온도보다높은온도로상기프로브팁이가열된후에, 상기프로브팁은상기접합부와접촉되고, 상기접합부는상기프로브의가열에의해용융되고, 상기접합부는상기접합부에상기프로브팁을고정하도록냉각되어응고되며, 상기프로브는그런다음상기접합부에당김력을적용하도록상기당김력적용수단에의해당겨지고, 상기당김력은상기힘 측정시스템에의해측정된다.

6. 发明授权

KR101747622B1 플랜지 체결 스킬 판정 장치 및 매체에 저장된 플랜지 체결 스킬 판정 컴퓨터프로그램 有权
公开(公告)号：KR101747622B1
公开(公告)日：2017-06-14
申请号：KR1020167029322
申请日：2015-04-16
申请人： 주식회사 다이셀
发明人： 후타이마사노리
IPC分类号： B25B23/14 , G01L5/00 , B25B21/00
CPC分类号： G01L5/0071 , B25B23/14 , G01L5/0033 , G01L5/24 , G09B19/24
摘要： 플랜지체결스킬판정장치는, 플랜지를연결하기위해조여지는복수의볼트에대해, 개별로대응하여형성된각 조임력검출기로부터, 피험자의복수의볼트의조임작업에수반하여출력되는출력신호를수신하는수신부와, 수신부가수신한, 복수의볼트각각의조임작업개시시부터조임작업완료시까지의각각의출력신호의변화의추이를나타내는복수의계측결과를얻는계측부와, 복수의계측결과를연산하여, 복수의볼트의조임작업중에있어서의각각의조임력검출기의출력신호값의편차를나타내는제 1 연산결과와, 복수의볼트의조임작업완료시에있어서의각각의조임력검출기의출력신호값의편차를나타내는제 2 연산결과와, 복수의볼트의조임작업완료시에있어서의각 조임력의정도를나타내는제 3 연산결과를각각기능판정항목으로서얻는연산부와, 각각의기능판정항목을판정기준과대조한결과에기초하여, 각볼트의조임작업에관련된피험자의기능을 3 개이상의기능레벨중 어느것인지를판정하는판정부와, 판정부에의한판정결과를출력하는출력부를구비한다.

7. 发明授权

KR100604050B1 부착장치의 외력 측정장치 및 협지장치 失效
标题翻译：快速成员移除力测量装置和控制装置
公开(公告)号：KR100604050B1
公开(公告)日：2006-07-24
申请号：KR1020050034966
申请日：2005-04-27
申请人： 와이케이케이 가부시끼가이샤
发明人： 하세가와겐지
IPC分类号： G01N19/04
CPC分类号： A41H37/00 , G01L5/0033 , G01N3/04 , G01N2203/0282 , Y10T24/45906
摘要： 스냅부재(921)의 주위의 옷감(953)을 협지하여 가압하는 협지수단(300)과, 스냅 부재(921)를 구속하는 구속수단과, 옷감(953)으로부터 이격되는 방향을 향해 구속수단을 잡아당기는 동시에 인장력을 측정하는 인장력 측정수단을 포함한다. 협지수단(300)은 옷감(953)이 적재되는 다이부(420)와, 상기 다이부(420)에 적재된 옷감(953)을 다이부(420)로 협지하는 옷감 가압수단(500)을 포함한다. 다이부(420)는 옷감 가압수단(500)에 대향하는 면이 개방되어 내측으로 수납부(434)를 갖는 지지프레임부(430)와, 수납부(434)내에 배치된 점탄성부(440)와, 수납부(434)내에서 점탄성부(440)에 적층되어 옷감 가압수단(500)의 측에 배치되는 동시에 점탄성부(440) 보다 경질의 탄성부재로 형성된 탄성부(450)를 포함한다.
다이부, 수납부, 지지프레임부, 탄성부, 가압부재, 볼록부, 오목부

8. 发明授权

KR1019960001171B1 와이어 본드 풀-테스팅 방법 및 장치 无效
标题翻译：在微小尺寸上测试线束的方法
公开(公告)号：KR1019960001171B1
公开(公告)日：1996-01-19
申请号：KR1019870009732
申请日：1987-09-03
申请人： 코닌클리케 필립스 엔.브이.
发明人： 로이빅터윙클
IPC分类号： H01L21/66
CPC分类号： H01L24/85 , G01L5/0033 , G01N19/04 , H01L24/45 , H01L24/48 , H01L24/78 , H01L2224/45015 , H01L2224/45144 , H01L2224/45147 , H01L2224/48091 , H01L2224/48465 , H01L2224/78 , H01L2224/85205 , H01L2224/859 , H01L2924/01006 , H01L2924/01015 , H01L2924/01029 , H01L2924/01033 , H01L2924/01039 , H01L2924/01074 , H01L2924/01079 , H01L2924/14 , H01L2924/3025 , H01L2924/00014 , H01L2924/00
摘要： 내용 없음.

9. 实用新型

KR2020140004018U 선박용 빔의 하중 테스트 장치 无效
标题翻译：船舶载荷试验装置
公开(公告)号：KR2020140004018U
公开(公告)日：2014-07-01
申请号：KR2020120012090
申请日：2012-12-21
申请人： 현대중공업 주식회사
发明人： 이상훈
IPC分类号： G01N3/08 , B63B9/06
CPC分类号： G01N3/08 , G01L5/0033 , G01M99/007 , G01N2203/0017 , G01N2203/0676
摘要： 본 고안은 선박 데크에 용접된 리프팅 빔을 체인블록으로 상부로 당기면서 크레인에 형성되어 있는 하중게이지를 확인하면서 하중을 테스트하게 되어 작업의 안전성 및 정확성을 향상시킬 수 있도록 한 선박용 빔의 하중 테스트 장치에 관한 것이다.
이를 위하여 본 고안은 선박용 리프팅 빔의 하중을 테스트하는 장치에 있어서, 선박 데크(100) 상에 지지대(200)를 용접하고, 상기 지지대(200)에 리프팅 빔(300)을 용접하며, 상기 리프팅 빔(300)에 연결되면서 리프팅 빔(300)을 상부로 당기면서 리프팅 빔(300)의 하중을 테스트할 수 있도록 크레인(400)의 후크(410)에 연결되는 체인블록(500)이 형성되고, 상기 크레인(400)에 체인블록(500)이 당겨지면서 리프팅 빔(300)의 하중을 테스트시 리프팅 빔(300)의 하중치가 표시될 수 있도록 하중게이지(700)가 형성된 것을 특징으로 한다.

10. 发明公开

KR1020110126050A 반도체 조립체의 접합부 테스트 시스템 및 방법 无效
标题翻译：用于测试半导体器件组件的系统和方法
公开(公告)号：KR1020110126050A
公开(公告)日：2011-11-22
申请号：KR1020110044406
申请日：2011-05-12
申请人： 노드슨 코포레이션
发明人： 피코크벤자민케이. , 킹필립존
IPC分类号： H01L21/66 , H01L21/60
CPC分类号： G01L5/0033 , G01N19/04 , G01N2203/0296 , H01L2924/0002 , H01L2924/00
摘要： PURPOSE: A junction test system and method of a semiconductor assembly are provided to improve measurement accuracy by applying pulling force according to the longitudinal axis line of a probe. CONSTITUTION: A probe(3) is installed in the pull shaft(10) of a cartridge. The probe comprises a thermally conductive pin which is maintained in a clamp using a collet(12). The collet is combined to the pull shaft within probe housing(11). A piston(13) is driven to a pneumatic mode using compressed air which is provided to a piston chamber(13a). A spring(18) is offered between a piston and a cylinder edge cap(14a). A holder supports the probe and comprises a clamping mechanism which is composed in order to offer clamping force to the probe. An operating device transfers the probe to top and bottom direction.
摘要翻译：目的：提供半导体组件的接合测试系统和方法，以通过根据探头的纵向轴线施加拉力来提高测量精度。构成：探针（3）安装在墨盒的拉动轴（10）中。探头包括导热销，其使用夹头（12）保持在夹具中。夹头组合到探针外壳（11）内的拉动轴上。使用设置到活塞室（13a）的压缩空气将活塞（13）驱动到气动模式。弹簧（18）在活塞和气缸边缘帽（14a）之间提供。支架支撑探头并且包括夹紧机构，该夹紧机构构成以向探针提供夹紧力。操作装置将探头传送到上下方向。

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