会员体验
专利管家(专利管理)
工作空间(专利管理)
风险监控(情报监控)
数据分析(专利分析)
侵权分析(诉讼无效)
联系我们
交流群
官方交流:
QQ群: 891211   
微信请扫码    >>>
现在联系顾问~
热词
    • 7. 发明公开
    • 화학 증착용 금속 착물 공급원 시약
    • 학학증착용금속착물공급원基础
    • KR1020040055823A
    • 2004-06-29
    • KR1020047008547
    • 1996-06-06
    • 어드밴스드 테크놀러지 머티리얼즈, 인코포레이티드
    • 컬린피터에스브라운던칸더블유바움토마스더블유바아트스트라브라이언에이가디너로빈에이
    • C07F5/00
    • C23C16/18C07F3/003C07F5/003C07F7/006C07F9/005C07F19/005C23C16/30C23C16/305C23C16/40C23C16/408C23C16/409C23C16/4481C23C16/4483C23C16/45561H01L39/2441
    • 본 발명은 하기 화학식 1로 표시되는 금속유기 착물에 관한 것이다:
      화학식 1
      MA
      y X
      상기 식에서, M은 y가의 금속이고; A는 M에 배위되어 MA
      y 와 X의 착물 형성을 가능하게 하는 1좌 배위 또는 다좌 배위 유기 리간드이며; y는 2, 3 또는 4의 값을 갖는 정수이고; 리간드 A는 각각 동일하거나 상이하며; X는 M에 배위되고 원소 C, N, H, S, O 및 F의 원자들로 이루어진 군 중에서 독립적으로 선택된 하나 이상의 원자를 함유하는 1좌 배위 또는 다좌 배위 리간드이다. 금속 M은 Cu, Ba, Sr, La, Nd, Ce, Pr, Sm, Eu, Th, Gd, Tb, Dy, Ho, Er, Tm, Yb, Lu, Bi, Tl, Y, Rb, Ni, Pd, Pt, Al, Ga, In, Ag, Au, Co, Rh, Ir, Fe, Ru, Sn, Li, Na, K, Rb, Cs, Ca, Mg, Ti, Zr, Hf, V, Nb, Ta, Cr, Mo 및 W로 이루어진 군 중에서 선택될 수 있다. A는 β-디케토네이트 및 이것의 황 및 질소 유사체, β-케토에스테르 및 이것의 황 및 질소 유사체, 시클로펜타디에닐, 알킬, 퍼플루오로알킬, 알콕사이드, 퍼플루오로알콕사이드 및 쉬프(Schiff) 염기로 이루어진 군 중에서 선택될 수 있다. X는 예를 들면 테트라글림, 테트라히드로푸란, 바이피리딘, 크라운 에테르 또는 티오에테르와 같은 액체를 포함할 수 있다.
    • 下式的金属有机配合物:其中:M是y价金属; A是与M配位的单齿或多齿有机配体,其允许MAy与X络合; y是值为2,3或4的整数; 每个A配体可以相同或不同; 并且X是与M配位且包含一个或多个独立地选自元素C,N,H,S,O和F的原子的原子的单齿或多齿配体。金属M可以选自 Ba,Sr,La,Nd,Ce,Pr,Sm,Eu,Th,Gd,Tb,Dy,Ho,Er,Tm,Yb,Lu,Bi,Tl,Y,Pb,Ni,Pd,Pt ,Al,Ga,In,Ag,Au,Co,Rh,Ir,Fe,Ru,Sn,Li,Na,K,Rb,Cs,Ca,Mg,Ti,Zr,Hf,V,Nb,Ta,Cr Mo和W.A可选自β-二酮酸盐及其硫和氮类似物,β-酮酯及其硫和氮类似物,环戊二烯基,烷基,全氟烷基,醇盐,全氟烷氧化物和席夫碱。 X可以例如包含配体,例如四甘醇二甲醚,四氢呋喃,联吡啶,冠醚或硫醚。
    • 10. 发明公开
    • 2단계 원자층증착법에 의한 산화구리층 제조방법
    • 通过2步原子层沉积制备CUXO的制备方法
    • KR1020130071339A
    • 2013-06-28
    • KR1020120099484
    • 2012-09-07
    • 한국기계연구원
    • 권정대김동호
    • C23C16/448H01L21/205C23C16/40
    • C23C16/45527C23C16/408C23C16/45542C23C16/45553H01L21/205
    • PURPOSE: A copper oxide layer manufacturing method through a two-step atomic layer deposition method is provided to selectively manufacture a first or second copper oxide layer and to control the depth of the whole thin film. CONSTITUTION: A copper oxide layer manufacturing method through a two-step atomic layer deposition method comprises the following steps: forming a copper atom layer on a substrate using copper precursor gas and reaction gas; and forming a copper oxide layer by oxidizing the copper atom layer using oxidizing gas. The copper atom layer performs the following steps: absorbing copper precursor gas on the substrate; purging the copper precursor gas from a deposition chamber; forming the copper atom layer on the substrate after making the reaction gas into plasma by taking the reaction gas inside the deposition chamber; and purging the reaction gas from the deposition chamber. [Reference numerals] (AA) Copper precursor gas; (BB,DD,FF) Purge; (CC) Hydrogen plasma; (EE) Oxidizing gas; (GG) First step; (HH) Second step
    • 目的:提供通过两步原子层沉积方法的氧化铜层制造方法来选择性地制造第一或第二氧化铜层并控制整个薄膜的深度。 构成:通过两步原子层沉积方法的氧化铜层制造方法包括以下步骤:使用铜前体气体和反应气体在基板上形成铜原子层; 以及通过使用氧化气体氧化铜原子层而形成氧化铜层。 铜原子层进行以下步骤:在基板上吸收铜前体气体; 从沉积室中清除铜前体气体; 通过将沉积室内的反应气体制成等离子体,在基板上形成铜原子层; 并从沉积室吹扫反应气体。 (附图标记)(AA)铜前体气体; (BB,DD,FF)清洗; (CC)氢等离子体; (EE)氧化气体; (GG)第一步; (HH)第二步