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热词
    • 1. 发明公开
    • 타이어용 알에프아이디 태그
    • 轮胎用RFID标签
    • KR1020080077425A
    • 2008-08-25
    • KR1020070016898
    • 2007-02-20
    • 한화테크윈 주식회사
    • 윤삼손곽재현김수호임세진한성영
    • G06K19/077G06K19/07
    • G06K19/07764G06K19/07728G06K19/0775
    • An RFID(Radio Frequency IDentification) tag for a tire is provided to prevent breakage of an antenna for supplying power to the RFID tag by distributing a deformation ratio and stress, and reducing effect applied to deformation, as a connector between a chip and the antenna is installed in a direction perpendicular to a main deformation direction. A main chip includes a CPU, a transceiving circuit, and a memory. An antenna(520) supplies power of an RFID reader to the main chip. An external packet protects the main chip and the antenna. The antenna has a curved structure. Wire bonding between the main chip and the antenna is arranged in a direction perpendicular to a main deformation direction.
    • 提供了一种用于轮胎的RFID(射频识别)标签,以防止作为芯片和天线之间的连接器,通过分配变形率和应力以及减小作用于变形的效果来向RFID标签供电的天线断裂 沿垂直于主变形方向的方向安装。 主芯片包括CPU,收发电路和存储器。 天线(520)将RFID读取器的电力供应到主芯片。 外部数据包保护主芯片和天线。 天线具有弯曲结构。 主芯片和天线之间的引线接合布置在垂直于主变形方向的方向上。
    • 4. 发明公开
    • 회로패턴 결함 검사장치 및 이를 구비하는 결함 검사 시스템
    • 用于检测电路图中互连的缺陷的装置及其缺陷检测系统
    • KR1020050114580A
    • 2005-12-06
    • KR1020040046942
    • 2004-06-23
    • 한화테크윈 주식회사
    • 정부양한성영김브루스
    • G01R31/28
    • G01R31/2853G01R31/2896G01R19/16576
    • 본 발명은 공진기로부터의 입사 신호에 따른 회로패턴의 반향 손실을 측정하여 반도체 패키지 등의 회로패턴의 연결 불량 유무를 검사하는 회로패턴의 결함 검사장치 및 이를 구비하는 결함 검사 시스템에 관한 것이다. 본 발명에 의한 회로패턴의 결함 검사장치는, 회로패턴을 갖는 기판의 회로패턴의 결함을 검사하는 회로패턴의 결함 검사장치에 있어서, 공진기와; 제1 전원공급수단과; 프로브와; 제2 전원공급수단; 및 검사부를 구비한다. 상기 공진기는 공진 신호를 발생하여 회로패턴으로부터 반향되는 신호를 증폭시킨다. 상기 제1 전원공급수단은 공진기의 일단에 연결되어 공진기에 전원을 공급한다. 상기 프로브는 공진기의 타단에 연결되어 회로패턴의 일단에 접촉된다. 상기 제2 전원공급수단은 회로패턴의 타단에 연결되어 회로패턴에 전압을 인가한다. 상기 검사부는 공진기와 프로브 사이에 연결되어, 회로패턴에서 발생된 전압을 측정하여 측정 전압을 생성하고, 측정 전압으로부터 회로패턴의 결함 유무를 판단한다.
    • 提供了一种用于检测电路图案的缺陷的装置,其包括谐振器,连接到谐振器的一端以向谐振器施加功率的第一电源单元,连接到谐振器的另一端以接触一端的探针 连接到电路图案的另一端以向其施加电压的第二电源单元和连接在谐振器和探头之间的检测部分,以测量从电路图案产生的电压并产生测量电压 并且从测量电压确定电路图案中的缺陷的存在。
    • 6. 发明公开
    • 적층형 반도체 팩키지의 유니트 및, 적층형 반도체 팩키지
    • 堆叠半导体封装和堆叠半导体封装单元
    • KR1020020024653A
    • 2002-04-01
    • KR1020000056417
    • 2000-09-26
    • 한화테크윈 주식회사
    • 한성영
    • H01L23/28
    • H01L2224/4826
    • PURPOSE: A unit of a stacked semiconductor package is provided to prevent corrosion of a lead frame, by making the lead frame not bent at 90 degree so that a plating layer of the lead frame is not likely to be damaged. CONSTITUTION: The lead frame(32) is attached to the lower surface of a semiconductor chip(31). A wire connects an electrode of the semiconductor chip with a lead of the lead frame. Encapsulation(33) surrounds the semiconductor chip and the wire, and surrounds the lead frame to make a portion of the lead frame exposed to the lower surface of the encapsulation. The encapsulation has a penetration hole extending from each lead of the lead frame to the upper surface of the encapsulation. A filling part of solder paste(35) is filled in the encapsulation to contact the lead.
    • 目的:提供堆叠半导体封装的单元,以防止引线框架弯曲90度,使得引线框架的镀层不可能被损坏,从而防止引线框架的腐蚀。 构成:引线框架(32)附接到半导体芯片(31)的下表面。 导线将半导体芯片的电极与引线框架的引线连接。 封装(33)围绕半导体芯片和导线,并且围绕引线框架以使引线框架的一部分暴露于封装的下表面。 封装具有从引线框架的每个引线延伸到封装的上表面的穿透孔。 焊膏(35)的填充部分填充在封装件中以接触引线。