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1. 发明授权

KR102108873B1 접이식 전자 광학 탑재체 有权
公开(公告)号：KR102108873B1
公开(公告)日：2020-05-11
申请号：KR1020180151245
申请日：2018-11-29
申请人： 한국항공우주연구원
发明人： 이원범 , 연정흠 , 이승훈
IPC分类号： G02B27/00

2. 发明授权

KR101647122B1 고정반사판이 설치된 위성용 수동형 마이크로파 탐측기 有权
标题翻译：配有固定反射器的微波传感器，用于卫星遥感
公开(公告)号：KR101647122B1
公开(公告)日：2016-08-09
申请号：KR1020150167295
申请日：2015-11-27
申请人： 한국항공우주연구원
发明人： 유상범 , 이상규 , 용상순 , 강은수 , 이승훈 , 이현철 , 홍성욱
IPC分类号： B64G1/22 , B64G1/66 , B64G1/10 , G01V3/12
CPC分类号： B64G1/10 , B64G1/22 , B64G1/66 , G01V3/12
摘要： 본발명은고정반사판이설치된위성용수동형마이크로파탐측기에관한것으로, 위성의진행방향으로연장형성된제1회전축(110)을포함하는모터(100), 직하방향의지표면과미리정해진각도를이루고, 제1일측면(210)의중앙이상기제1회전축(110)과결합하여회전하여상기제1일측면(210)과제1타측면(220)이교대로지표면을향하며, 상기제1일측면(210)은입사되는전자파를흡수하고, 상기제1타측면(220)은입사되는전자파를반사하는제1회전반사판(200), 상기제1타측면(220)으로부터입사되는전자파를일정한위치로반사시키는보조반사부(300), 상기보조반사부(300)에서반사된전자파를수신하는수신부(400) 및상기제1회전반사판(200)의상부에지표면과미리정해진각도를가지고고정되어전자파를상기제1일측면(210) 또는제1타측면(220)으로반사시키는고정반사판(500)을포함하여이루어지는것을특징으로한다.
摘要翻译：本发明涉及一种用于卫星的无源微波检测器，其具有安装在其上的固定反射板。无源微波检测器包括：电动机（100），其包括在卫星的移动方向上延伸的第一旋转轴（110）; 第一旋转反射板（200）以相对于地面正下方的预定角度定位，具有联接到第一旋转轴（110）的第一侧表面（210）的中心以旋转以便移动所述第一侧表面（210）和第一相对侧表面（220）交替地与所述地表面一起使得所述第一侧表面（210）能够吸收入射的电磁波，并且使得所述另一个第一相对侧表面（220）能够反射入射电磁波; 反射从第一相对侧表面（220）进入的电磁波到预定位置的次级反射单元（300）接收从二次反射单元（300）反射的电磁波的接收单元（400）。以及固定反射板（500），其以相对于地面以预定角度固定在第一旋转反射板（200）的上部，以便将电磁波反射到第一侧表面（210）或第一相对侧表面（220）。

3. 发明授权

KR101556067B1 어레이 안테나 송신장치 및 그 교정방법 有权
标题翻译：主动阵列天线相位检测的装置及方法
公开(公告)号：KR101556067B1
公开(公告)日：2015-10-13
申请号：KR1020140179492
申请日：2014-12-12
申请人： 한국항공우주연구원
发明人： 유상범 , 이상규 , 이현철 , 용상순 , 강은수 , 이승훈 , 이상곤
IPC分类号： H04B17/00
摘要： 본발명은어레이안테나송신장치및 그교정방법에관한것이다. 본발명의일 실시예에따른어레이안테나송신장치에서의교정방법은, 복수의안테나소자를구비하는어레이안테나와, 상기안테나소자각각에대응하여설치된복수의송신모듈을포함하는어레이안테나송신장치에서의교정방법에있어서, 복수의상기송신모듈각각에 SSB-AM 변조신호를교정신호로제공하는과정과; 복수의상기송신모듈각각을통과한교정신호를추출하여위상및 전력을검출하는과정과; 상기교정신호와상기송신모듈각각을통과한교정신호의위상및 전력을비교하여위상오차및 전력오차를추출하는과정과; 상기위상오차또는전력오차중 적어도하나를복수의상기송신모듈각각으로제공하여보정하는과정을포함하는것을특징으로한다.
摘要翻译：阵列天线发射装置及其校正方法技术领域本发明涉及阵列天线发射装置及其校正方法。根据本发明的实施例，阵列天线发送装置包括阵列天线，包括多个天线装置，以及安装成对应于每个天线装置的多个传输模块。阵列天线发送装置的校正方法包括以下步骤：向每个发送模块提供作为校正信号的SSB-AM调制信号; 通过提取已经通过每个传输模块的校正信号来检测相位和功率; 通过将校正信号与通过每个传输模块的校正信号的相位和功率进行比较来提取相位误差和功率误差; 并向每个传输模块提供来自相位误差和功率误差的至少一个，以校正相位误差和功率误差。

4. 发明授权

KR101219383B1 광학계 성능 측정 장치 및 방법 失效
标题翻译：用于光学系统性能的测量装置及其方法
公开(公告)号：KR101219383B1
公开(公告)日：2013-01-09
申请号：KR1020110072884
申请日：2011-07-22
申请人： 한국항공우주연구원
发明人： 육영춘 , 장홍술 , 정대준 , 김성희 , 이승훈
IPC分类号： G01J1/02 , G01J1/04
摘要： PURPOSE: A method for measuring the performance of an optical system is provided to measure the performance of the optical system by rotating or moving a subject, a light collecting lens, and a mirror with a separate driving member, thereby easily measuring the performance of the optical system per field even in case of the optical system of large-diameter. CONSTITUTION: A method for measuring the performance of an optical system comprises a light source, a light collecting lens(220), a beam splitter(300), a mirror(400), and image senor. The light collecting lens collects lights penetrated through a subject by being irradiated to the subject. The beam splitter receives lights collected by the light collecting lens and irradiates the lights to the light receiving unit, and penetrates the lights through the optical system. The mirror is arranged in a side opposite to the light receiving unit and reflects the lights penetrated through the optical system and penetrates the reflected light through the optical system again. The image sensor is arranged in the light receiving unit side and receives the lights re-penetrated through the optical system, thereby imaging the subject.
摘要翻译：目的：提供一种用于测量光学系统的性能的方法，以通过旋转或移动被摄体，聚光透镜和具有单独驱动构件的反射镜来测量光学系统的性能，从而容易地测量光学系统的性能即使在大直径的光学系统的情况下也可以使用光学系统。构成：用于测量光学系统的性能的方法包括光源，聚光透镜（220），分束器（300），反射镜（400）和图像传感器。光收集透镜通过照射到被摄体而收集穿过被摄体的光。分光器接收由聚光透镜收集的光，并将光照射到光接收单元，并通过光学系统穿透光。反射镜布置在与光接收单元相对的一侧，并且反射穿过光学系统的光并再次透过光学系统穿透反射光。图像传感器布置在光接收单元侧并且接收通过光学系统重新穿透的光，从而对被摄体进行成像。

5. 发明授权

KR101219384B1 편광효과에 민감한 파면 오차 측정장치 및 이를 이용한 측정방법 失效
标题翻译：使用相同的偏振效应和测量方法敏感的WAVEFRONT误差测量装置
公开(公告)号：KR101219384B1
公开(公告)日：2013-01-08
申请号：KR1020100121422
申请日：2010-12-01
申请人： 한국항공우주연구원
发明人： 육영춘 , 장홍술 , 정대준 , 김성희 , 이승훈
IPC分类号： G01N21/21 , G01N21/27
摘要： 본발명은편광된광을발생시키는광 발생부와, 상기광 발생부에의해발생된광이통과되는아이솔레이터(isolator)와, 상기아이솔레이터를통과한광을집광하는집광렌즈와, 상기집광렌즈에의해집광된광을분할하여측정샘플로조사하는광 분할기(beam splitter)와, 상기측정샘플에조사된후 반사되는광을검출하는광 검출기를포함하는것을특징으로한다. 본발명에의하면, 파면오차측정장치의광로상에반 파장판및 사분의일 파장판을선택적으로배치함으로써선편광및 원평광된광을측정샘플에모두조사하여측정할수 있게되어측정샘플의정확한파면오차를측정할수 있는효과가있다.

6. 发明授权

KR101122203B1 스캔 미러 구동장치 有权
标题翻译：驱动器扫描镜
公开(公告)号：KR101122203B1
公开(公告)日：2012-03-19
申请号：KR1020090123163
申请日：2009-12-11
申请人： 한국항공우주연구원
发明人： 연정흠 , 이덕규 , 이응식 , 장수영 , 이승훈
IPC分类号： B64G1/66 , B64G1/24 , B64G1/22
摘要： 본 발명은 인공위성의 일 영역에 설치되어 회전되는 제1 회전유닛과, 상기 제1 회전유닛에 연이어서 설치되되, 제1 회전유닛의 회전축과 경사각을 갖는 축을 회전축으로 하여 회전되는 제2 회전유닛과, 상기 제2 회전유닛의 단부에 설치되되, 미러면과 수직하는 축이 제2 회전유닛의 회전축과 상기 경사각과 동일한 경사각을 갖도록 비스듬히 설치되는 스캔 미러를 포함하는 것을 특징으로 한다.
본 발명에 의하면, 제1 회전유닛 및 제2 회전유닛의 회전축을 일정 각도 경사지도록 형성하고, 제2 회전유닛과 스캔 미러 또한 상기 일정 각도와 동일한 각도를 갖도록 경사지게 형성함으로써, 제1 회전유닛 및 제2 회전유닛의 섭동량 중 일부만이 실제 섭동량에 영향을 주게 되어 스캔 미러의 지향 안정성을 증대시킬 수 있는 효과가 있다.
스캔 미러, 구동장치, 섭동량, 스캔 구동, 인공위성

7. 发明授权

KR101051003B1 광정렬 장치 및 방법 有权
标题翻译：光学对准装置和方法
公开(公告)号：KR101051003B1
公开(公告)日：2011-07-21
申请号：KR1020090043378
申请日：2009-05-19
申请人： 한국항공우주연구원
发明人： 육영춘 , 이승훈 , 이응식 , 이덕규 , 정대준 , 장홍술
IPC分类号： G02B27/32 , G02B27/40 , G02B6/42
摘要： 본 발명은 광학면을 구비한 복수의 광학소자 사이를 정렬하는 장치 및 방법에 관한 것으로, 보다 구체적으로는 바 형상의 경통 내부에 광도파로와 광학소자 시스템을 포함하며, 광학면에 직접 접촉하지 않고 광정렬 장치의 길이를 조절하여 광학소자 사이를 정렬하는 장치 및 상기 장치를 이용하여 광정렬하는 방법에 관한 것이다.
본 발명에 의한 광정렬 장치는 마이크로미터를 포함하는 바(bar) 형상의 경통과, 상기 바 형상의 경통 내부에 설치된 광도파로와 렌즈 시스템을 포함하며, 상기 장치를 이용한 광정렬 방법은 복수의 광학소자 중 제 1 광학소자를 통과하고 광도파로의 일단면 또는 광도파로의 일단면 둘레에 형성된 반사 부재에 의해서 반사되어 상기 제 1 광학소자로 되돌아온 빛의 세기를 측정하는 제 1 광 세기 측정 단계; 상기 제 1광 세기가 최대가 되도록 광도파로와 렌즈시스템으로 구성된 경통을 조절하는 단계; 상기 경통을 통과하여 상기 제 1 광학소자에 인접하여 광정렬이 이루어지는 제 2 광학소자의 표면에서 반사되어 상기 광도파로와 제 1 광학소자를 통과하여 되돌아온 빛의 세기를 측정하는 제 2 광 세기 측정 단계; 상기 제 2 광 세기가 최대가 되도록 상기 제 2광학소자의 위치를 조절하는 단계를 포함한다.
본 발명의 광정렬 장치 및 방법에 의하면, 광도파로 및 렌즈 시스템을 포함하며 길이조절 가능한 경통 형상의 장치를 이용하여 광학소자 사이의 거리를 정확히 측정하며, 광학면의 손상없이 비접촉 방식으로 두 개 이상의 광학소자 사이를 정렬할 수 있으며 상기 광정렬 장치를 이용하여 간섭계 또는 빛의 세기를 통하여 광정렬할 수 있다.
광도파로, 광정렬 , 광학소자 사이 거리측정
摘要翻译：本发明涉及到多个装置和方法，用于具有光学面的光学元件之间的对准，更具体地，包括内光学波导和光学装置系统的镜筒棒状，而不与光学表面直接接触本发明涉及一种通过调整光学对准装置的长度来对准光学元件的装置，以及一种使用该装置进行光学对准的方法。

8. 发明公开

KR1020100124406A 광정렬 장치 및 방법 有权
标题翻译：光学对准装置和方法
公开(公告)号：KR1020100124406A
公开(公告)日：2010-11-29
申请号：KR1020090043378
申请日：2009-05-19
申请人： 한국항공우주연구원
发明人： 육영춘 , 이승훈 , 이응식 , 이덕규 , 정대준 , 장홍술
IPC分类号： G02B27/32 , G02B27/40 , G02B6/42
CPC分类号： G02B27/40 , G02B6/30 , G02B6/32 , G02B6/4225 , G02B6/4227 , G02B6/43 , G02B27/32
摘要： PURPOSE: Optical alignment device and method are provided to measure the distance between optical elements by controlling the length of an optical alignment apparatus. CONSTITUTION: An optical alignment device aligns a plurality of optical elements. A plurality of optical elements comprises an optical surface. A bar-shaped telescopic(100) comprises a micrometer. A optical waveguide(60) and lens system(70) are installed inside telescopic. The telescopic is made of stainless steel.
摘要翻译：目的：提供光学对准装置和方法，通过控制光学对准装置的长度来测量光学元件之间的距离。构成：光学对准装置对准多个光学元件。多个光学元件包括光学表面。棒状可伸缩（100）包括千分尺。一个光波导（60）和透镜系统（70）安装在可伸缩的内部。望远镜由不锈钢制成。

9. 发明授权

KR100582178B1 광 정렬 장치 失效
标题翻译：光学系统对准装置
公开(公告)号：KR100582178B1
公开(公告)日：2006-05-23
申请号：KR1020040057363
申请日：2004-07-22
申请人： 한국항공우주연구원
发明人： 장홍술 , 이승훈 , 정대준 , 조영민 , 우선희 , 이덕규 , 이응식
IPC分类号： G02B23/02
摘要： 본 발명은 광 정렬 장치에 관한 것으로, 특히 반사 망원경 광학계의 광 정렬에 있어서, 상하, 좌우, 전후 방향의 3개의 선형 이동을 조절할 수 있는 조절 장치를 구성하고, 이에 상하 축 회전과 좌우 축 회전을 가능토록 하는 기구물을 일체로 구성하되 상하 축회전과 좌우 축회전시 반사경의 곡면중심이 움직이지 않도록 하여 5가지 자유도를 독립적으로 조절할 수 있도록 함으로써 손쉬운 광 정렬을 행하도록 하는 광 정렬 장치를 제공한다.
반사 망원경, 광 정렬, 회전, 선형, 5 자유도

10. 发明公开

KR1020180072972A 디지털 디첩 처리 장치 및 방법 有权
公开(公告)号：KR1020180072972A
公开(公告)日：2018-07-02
申请号：KR1020160176311
申请日：2016-12-22
申请人： 한국항공우주연구원
发明人： 유상범 , 이상규 , 이현철 , 강은수 , 이승훈 , 김현철
IPC分类号： G01S13/28 , G01S7/285
CPC分类号： G01S13/282 , G01S7/285
摘要： 광대역디지털디첩로직을구현하는디지털디첩처리장치가제공된다. 상기장치는: 광대역첩 신호를하향변환레퍼런스신호로이용하여제1 신호를생성하는제1 신호생성부와, 복수개의위상누적다항식출력값중 적어도하나에기초하여제2 신호를생성하는제2 신호생성부, 및상기제1 신호및 상기제2 신호를곱셈연산하여디첩처리를수행하는디첩처리부를포함할수 있다.

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