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1. 发明授权

KR100613560B1 입자상 물질의 입도 측정장치 有权
标题翻译：粒度和形状的测量装置
公开(公告)号：KR100613560B1
公开(公告)日：2006-08-16
申请号：KR1020040030764
申请日：2004-04-30
申请人： 한국전력공사
发明人： 엄희문 , 문전수 , 심재구 , 연규철 , 이정우
IPC分类号： G01N15/02
摘要： 본 발명은, 2개 이상의 광원으로부터 입사빔을 교차하여 입사시켜서 2개 이상의 입사빔이 교차되면서 생성되는 측정영역을 발생시킴으로써 입사빔간의 교차 단면적의 명확성과 CCD 카메라의 렌즈의 심도로 입자 형태를 정확하게 파악할 수가 있으며, 광원의 입사각을 조정 가능한 구조로 구성시킴으로써 입자의 형태를 정확하게 파악할 수가 있는, 입자상 물질의 입도 측정장치에 관한 것으로서,
시료셀의 외부에 설치되어 2개 이상의 입사빔을 교차하여 시료셀내로 입사시켜 측정영역을 발생시키면서 프라운호퍼 회절 신호를 제거하기 위하여 입사각을 조정할 수 있는 2개 이상의 광원과, 시료셀의 외부에 설치되어 상기한 2개 이상의 광원에 의해서 조사되는 시료셀내의 입자를 중심으로 입체각에 따른 산란광의 세기를 검출하기 위한 CCD 카메라를 포함하여 이루어진다.
입자상 물질, 입도, 프라운호퍼 회절, 산란, 굴절, 입사각, 시료셀

2. 发明公开

KR1020050105040A 입자상 물질의 입도 측정장치 有权
标题翻译：颗粒尺寸和形式的测量装置
公开(公告)号：KR1020050105040A
公开(公告)日：2005-11-03
申请号：KR1020040030764
申请日：2004-04-30
申请人： 한국전력공사
发明人： 엄희문 , 문전수 , 심재구 , 연규철 , 이정우
IPC分类号： G01N15/02
CPC分类号： G01N15/0211 , G01N15/1404 , G01N2021/5957 , G01N2021/6426
摘要： 본 발명은, 2개 이상의 광원으로부터 입사빔을 교차하여 입사시켜서 2개 이상의 입사빔이 교차되면서 생성되는 측정영역을 발생시킴으로써 입사빔간의 교차 단면적의 명확성과 CCD 카메라의 렌즈의 심도로 입자 형태를 정확하게 파악할 수가 있으며, 광원의 입사각을 조정 가능한 구조로 구성시킴으로써 입자의 형태를 정확하게 파악할 수가 있는, 입자상 물질의 입도 측정장치에 관한 것으로서,
2개 이상의 입사빔을 교차하여 입사시켜 측정영역을 발생시키면서 프라운호퍼 회절 신호를 제거하기 위하여 입사각을 조정할 수 있는 2개 이상의 광원과, 상기한 2개 이상의 광원에 의해서 조사되는 시료셀내의 입자를 중심으로 입체각에 따른 산란광의 세기를 검출하기 위한 CCD 카메라를 포함하여 이루어진다.

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