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1. 发明公开

KR1020160106091A 저항성 메모리에서의 비트 결함의 실시간 정정 有权
标题翻译：电阻存储器中位故障的实时校正
公开(公告)号：KR1020160106091A
公开(公告)日：2016-09-09
申请号：KR1020167020441
申请日：2014-12-12
申请人： 퀄컴 인코포레이티드
发明人： 김,태현 , 김,성렬 , 김,정필
IPC分类号： G11C29/00 , G11C11/16 , G06F11/10 , H03M13/05
CPC分类号： G06F11/0766 , G06F11/1008 , G11C29/808 , G11C29/814 , G11C2029/0411 , H03M13/05 , G06F11/10 , G11C11/1695
摘要： 저항성메모리디바이스에서비트결함들을정정하기위한시스템들및 방법들은메모리디바이스를제 1 메모리뱅크및 제 2 메모리뱅크로분할하는것을포함한다. 제 1 SBR(single bit repair) 어레이는제 2 메모리뱅크에저장되고, 제 1 SBR 어레이는제 1 메모리뱅크의제 1 행에서의제 1 결함비트에서의결함의제 1 표시를저장하도록구성된다. 제 1 메모리뱅크및 제 1 SBR 어레이는메모리액세스동작동안병렬로액세스되도록구성된다. 유사하게, 제 1 메모리뱅크에저장된제 2 SBR 어레이는제 2 메모리뱅크에비트들의결함들의표시들을저장할수 있고, 제 2 SBR 어레이및 제 2 메모리뱅크는병렬로액세스될수 있다. 따라서, 제 1 및제 2 메모리뱅크들에서의비트결함들은실시간으로정정될수 있다.

2. 发明授权

KR101746701B1 저항성 메모리에서의 비트 결함의 실시간 정정 有权
标题翻译：实时修正电阻式存储器中的位缺陷
公开(公告)号：KR101746701B1
公开(公告)日：2017-06-13
申请号：KR1020167020441
申请日：2014-12-12
申请人： 퀄컴 인코포레이티드
发明人： 김,태현 , 김,성렬 , 김,정필
IPC分类号： G11C29/00 , G11C11/16 , G06F11/10 , H03M13/05
CPC分类号： G06F11/0766 , G06F11/1008 , G11C29/808 , G11C29/814 , G11C2029/0411 , H03M13/05
摘要： 저항성메모리디바이스에서비트결함들을정정하기위한시스템들및 방법들은메모리디바이스를제 1 메모리뱅크및 제 2 메모리뱅크로분할하는것을포함한다. 제 1 SBR(single bit repair) 어레이는제 2 메모리뱅크에저장되고, 제 1 SBR 어레이는제 1 메모리뱅크의제 1 행에서의제 1 결함비트에서의결함의제 1 표시를저장하도록구성된다. 제 1 메모리뱅크및 제 1 SBR 어레이는메모리액세스동작동안병렬로액세스되도록구성된다. 유사하게, 제 1 메모리뱅크에저장된제 2 SBR 어레이는제 2 메모리뱅크에비트들의결함들의표시들을저장할수 있고, 제 2 SBR 어레이및 제 2 메모리뱅크는병렬로액세스될수 있다. 따라서, 제 1 및제 2 메모리뱅크들에서의비트결함들은실시간으로정정될수 있다.
摘要翻译：用于纠正电阻式存储器装置中的位缺陷的系统和方法包括将存储器装置分成第一存储体和第二存储体。第一单个位修复（SBR）阵列被存储在第二存储体中，并且第一SBR阵列被配置为在第一存储体的第一行中的第一有缺陷位中存储缺陷的第一指示。第一存储体和第一SBR阵列被配置为在存储器访问操作期间并行访问。类似地，存储在第一存储体中的第二SBR阵列可以存储第二存储体中的比特缺陷的指示，并且可以并行访问第二SBR阵列和第二存储体。因此，可以实时校正第一和第二存储体中的位缺陷。

3. 发明公开

KR1020150111964A OTP(ONE-TIME PROGRAMMABLE) 엘리먼트들의 에러 검출 및 정정 无效
标题翻译：一次性可编程元件的错误检测和校正
公开(公告)号：KR1020150111964A
公开(公告)日：2015-10-06
申请号：KR1020157022730
申请日：2014-01-22
申请人： 퀄컴 인코포레이티드
发明人： 김,정필 , 김,태현 , 김,성렬
IPC分类号： G11C17/02 , G11C17/14 , G11C17/18 , G11C29/02 , G06F11/08 , G06F11/10 , G11C29/44
CPC分类号： G06F11/1048 , G11C11/16 , G11C17/02 , G11C17/146 , G11C17/18 , G11C29/027 , G11C2029/4402
摘要： 회로는제 1 OTP(one-time programmable) 엘리먼트및 제 2 OTP 엘리먼트를포함한다. 회로는또한, 제 1 OTP 엘리먼트로부터데이터의제 1 표현을수신하기위해커플링된에러검출회로소자를포함한다. 회로는추가로, 에러검출회로소자의출력에응답하여, 데이터의제 1 표현에기초하여또는제 2 OTP 엘리먼트로부터의데이터의제 2 표현에기초하여 OTP 판독결과를출력하는출력회로소자를포함한다.

4. 发明公开

KR1020150087315A 구성 정보를 저장하기 위해 예비 섹터를 지닌 메모리 셀 어레이 审中-实审
标题翻译：存储单元存储配置信息的存储单元
公开(公告)号：KR1020150087315A
公开(公告)日：2015-07-29
申请号：KR1020157015991
申请日：2013-11-19
申请人： 퀄컴 인코포레이티드
发明人： 김,정필 , 김,태현 , 김,성렬
IPC分类号： G11C16/20 , G11C7/20 , G11C29/44 , G11C29/00
CPC分类号： G11C7/20 , G11C16/20 , G11C29/44 , G11C29/789 , G11C2029/4402
摘要： 셀어레이와휘발성저장디바이스를포함하는메모리디바이스가제공된다. 셀어레이는복수의워드라인들, 복수의비트라인들(워드라인과비트라인의선택은메모리셀 어드레스를정의함), 및셀 어레이에대한구성정보를저장하기위한비휘발성예비워드라인을포함할수 있다. 휘발성저장디바이스가셀 어레이에결합된다. 파워-업또는메모리디바이스의초기화시에비휘발성예비워드라인으로부터의구성정보가휘발성저장디바이스로복사된다.

5. 发明授权

KR101914138B1 OTP(ONE-TIME PROGRAMMABLE) 엘리먼트들의 에러 검출 및 정정 有权
公开(公告)号：KR101914138B1
公开(公告)日：2018-11-02
申请号：KR1020177009725
申请日：2014-01-22
申请人： 퀄컴 인코포레이티드
发明人： 김,정필 , 김,태현 , 김,성렬
IPC分类号： G11C17/02 , G11C17/14 , G11C17/18 , G11C29/02 , G06F11/08 , G06F11/10 , G11C29/44
CPC分类号： G06F11/1048 , G11C11/16 , G11C17/02 , G11C17/146 , G11C17/18 , G11C29/027 , G11C2029/4402
摘要： 회로는제 1 OTP(one-time programmable) 엘리먼트및 제 2 OTP 엘리먼트를포함한다. 회로는또한, 제 1 OTP 엘리먼트로부터데이터의제 1 표현을수신하기위해커플링된에러검출회로소자를포함한다. 회로는추가로, 에러검출회로소자의출력에응답하여, 데이터의제 1 표현에기초하여또는제 2 OTP 엘리먼트로부터의데이터의제 2 표현에기초하여 OTP 판독결과를출력하는출력회로소자를포함한다.

6. 发明公开

KR1020170043667A OTP(ONE-TIME PROGRAMMABLE) 엘리먼트들의 에러 검출 및 정정 审中-实审
标题翻译： OTP（一次性编程）元素的错误检测和纠正
公开(公告)号：KR1020170043667A
公开(公告)日：2017-04-21
申请号：KR1020177009725
申请日：2014-01-22
申请人： 퀄컴 인코포레이티드
发明人： 김,정필 , 김,태현 , 김,성렬
IPC分类号： G11C17/02 , G11C17/14 , G11C17/18 , G11C29/02 , G06F11/08 , G06F11/10 , G11C29/44
CPC分类号： G06F11/1048 , G11C11/16 , G11C17/02 , G11C17/146 , G11C17/18 , G11C29/027 , G11C2029/4402
摘要： 회로는제 1 OTP(one-time programmable) 엘리먼트및 제 2 OTP 엘리먼트를포함한다. 회로는또한, 제 1 OTP 엘리먼트로부터데이터의제 1 표현을수신하기위해커플링된에러검출회로소자를포함한다. 회로는추가로, 에러검출회로소자의출력에응답하여, 데이터의제 1 표현에기초하여또는제 2 OTP 엘리먼트로부터의데이터의제 2 표현에기초하여 OTP 판독결과를출력하는출력회로소자를포함한다.
摘要翻译：该电路包括第一OTP（一次性可编程）元件和第二OTP元件。该电路还包括耦合以接收来自第一OTP元件的数据的第一表示的错误检测电路元件。电路中，除了一个误差检测电路，响应于所述装置的输出的基础上，基于所述数据的第一表示的第二表示或第二OTP元件robuteoui数据包括用于输出所述OTP读取结果输出电路。

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