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    • 1. 发明公开
    • 스폿 주사 웨이퍼 검사 시스템의 런타임 정렬 시스템 및 방법
    • 运行时对准系统和点扫描晶片检测系统的方法
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    • 런타임정렬기능이있는스폿주사이미징시스템은샘플을가로질러집속조명빔을선형으로주사하도록구성된빔 주사장치와, 샘플로부터광을수신하도록배치된하나이상의검출기와, 상기빔 주사장치, 상기샘플스테이지, 및상기하나이상의검출기에통신적으로결합된제어기를포함한다. 제어기는제1 이미지를저장하고, 구동신호집합을빔 주사장치, 샘플스테이지, 또는하나이상의검출기중의적어도하나에전송하고, 하나이상의오프셋오차를결정하기위해제2 샘플링그리드의적어도일부를제1 샘플링그리드의적어도일부와비교하고, 제2 샘플그리드가제1 샘플그리드에겹쳐지도록상기하나이상의오프셋오차에기초하여상기구동신호집합내의적어도하나의구동신호를조정하도록구성된다.
    • 具有运行时间对准功能的点扫描成像系统包括:射束扫描装置,其被配置为线性扫描穿过样本的聚焦照射束;一个或多个检测器,其被设置为接收来自样本的光; 以及通信地耦合到一个或多个检测器的控制器。 所述控制器存储所述第一图像,所述驱动信号而设定的光束扫描设备,一个试样台,或至少花枝传输,和至少一部分所述第二采样网格的第一采样栅格,以确定一个或多个检测器中的至少一个偏移误差 并且基于所述一个或多个偏移误差来调整所述一组驱动信号中的至少一个驱动信号,使得所述第二采样栅格与所述第一采样栅格重叠。