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    • 2. 发明公开
    • 인터페이스 회로 및 반도체 장치
    • 接口电路和半导体器件
    • KR1020070023570A
    • 2007-02-28
    • KR1020060079740
    • 2006-08-23
    • 르네사스 일렉트로닉스 가부시키가이샤
    • 이이즈카요이치
    • G11C11/40G11C11/4096
    • G11C11/4093G11C11/4076G11C11/4096G11C29/022
    • (과제) 데이터와 그 데이터를 샘플링하기 위한 스트로브 신호의 위상 관계가 입력과 출력에서 상이한 인터페이스에 있어서, 입력과 출력의 데이터와 스트로브 신호의 위상을 조정함으로써 루프백 (loopback) 시험을 가능하게 하는 회로의 제공.
      (해결수단) 입력측의 위상 시프트 (30) 와 샘플링 회로 (40) 를 테스트하기 위해, 출력측의 위상 시프트 회로 (20) 에 있어서 DQ 와 DQS 의 위상을 함께 출력하고, 동일 상 (相) 의 DQ, DQS 는 출력 버퍼 (14, 15) 로부터 각각 입력 버퍼 (16, 17) 에 입력되어, DQS 는 위상 시프트 회로 (30) 에서 90 도 시프트되고, 샘플링 회로 (40) 에서 DQ 가 샘플된다. 출력측 기능을 테스트하기 위해, 입력측의 DQS 가 위상 시프트하지 않도록 위상 시프트 회로 (30) 를 제어하고, 출력측의 위상 시프트 회로 (20) 는 데이터 샘플링 클록의 위상 시프트량을 90 도로 설정하고, DQS 의 위상 시프트량은 180 도로 고정되고, DQ 에 대하여 미리 90 도 위상 시프트된 DQS 가 출력 버퍼 (15) 로부터 입력 버퍼 (17) 에 입력되어, 위상 시프트 회로 (30) 에서는 위상은 시프트되지 않고, 샘플링 회로 (40) 는 루프백된 DQ 를 90 도 위상 시프트된 DQS 로 샘플한다.
      데이터 신호, 스트로브 신호, 위상, 시프트, 루프백.
    • 3. 发明授权
    • 인터페이스 회로 및 반도체 장치
    • 接口电路和半导体器件
    • KR100822241B1
    • 2008-04-17
    • KR1020060079740
    • 2006-08-23
    • 르네사스 일렉트로닉스 가부시키가이샤
    • 이이즈카요이치
    • G11C11/40G11C11/4096
    • (과제) 데이터와 그 데이터를 샘플링하기 위한 스트로브 신호의 위상 관계가 입력과 출력에서 상이한 인터페이스에 있어서, 입력과 출력의 데이터와 스트로브 신호의 위상을 조정함으로써 루프백 (loopback) 시험을 가능하게 하는 회로의 제공.
      (해결수단) 입력측의 위상 시프트 (30) 와 샘플링 회로 (40) 를 테스트하기 위해, 출력측의 위상 시프트 회로 (20) 에 있어서 DQ 와 DQS 의 위상을 함께 출력하고, 동일 상 (相) 의 DQ, DQS 는 출력 버퍼 (14, 15) 로부터 각각 입력 버퍼 (16, 17) 에 입력되어, DQS 는 위상 시프트 회로 (30) 에서 90 도 시프트되고, 샘플링 회로 (40) 에서 DQ 가 샘플된다. 출력측 기능을 테스트하기 위해, 입력측의 DQS 가 위상 시프트하지 않도록 위상 시프트 회로 (30) 를 제어하고, 출력측의 위상 시프트 회로 (20) 는 데이터 샘플링 클록의 위상 시프트량을 90 도로 설정하고, DQS 의 위상 시프트량은 180 도로 고정되고, DQ 에 대하여 미리 90 도 위상 시프트된 DQS 가 출력 버퍼 (15) 로부터 입력 버퍼 (17) 에 입력되어, 위상 시프트 회로 (30) 에서는 위상은 시프트되지 않고, 샘플링 회로 (40) 는 루프백된 DQ 를 90 도 위상 시프트된 DQS 로 샘플한다.
      데이터 신호, 스트로브 신호, 위상, 시프트, 루프백.
    • 6. 发明公开
    • 프리엠퍼시스 회로
    • PREEMPHASIS电路
    • KR1020070015094A
    • 2007-02-01
    • KR1020060071784
    • 2006-07-28
    • 르네사스 일렉트로닉스 가부시키가이샤
    • 사에키다카노리아오키야스시이와사키다다시나리사와도시히로다나카마코토이이즈카요이치오오키노부히로
    • H04L25/02H03K19/0175
    • H03M9/00
    • A pre-emphasis circuit is provided to acquire timing relaxation, latency reduction, improvement of operational limitation, and reduction of a circuit by removing a high speed operation circuit without using a differential circuit. A first parallel-serial conversion circuit(1011) receives parallel data and converts the parallel data into first serial data. A mixing circuit(103) receives the first serial data outputted from the first parallel-serial conversion circuit(1011) and second serial data which is delayed as long as a predetermined time from the first serial data. The mixing circuit(103) generates a signal of a pre-emphasis amplitude in response to a shift of the first serial data. A second parallel-serial conversion circuit(1012) receives the parallel data with the first parallel-serial conversion circuit(1011). The second parallel-serial conversion circuit(1012) converts the parallel data into the second serial data. A delay circuit delays a conversion timing of the second parallel-serial conversion circuit(1012) as long as a predetermined delay time from a conversion timing of the first parallel-serial conversion circuit(1011). The second serial data which is delayed as long as a predetermined delay time and received from the mixing circuit(103) is generated by the second parallel-serial conversion circuit(1012).
    • 提供预加重电路以通过在不使用差分电路的情况下去除高速运算电路来获取定时松弛,延迟减小,操作限制的改善和电路的减少。 第一并行转换电路(1011)接收并行数据并将并行数据转换为第一串行数据。 混合电路(103)接收从第一并行串行转换电路(1011)输出的第一串行数据和从第一串行数据长达预定时间延迟的第二串行数据。 混合电路(103)响应于第一串行数据的移位产生预加重幅度的信号。 第二并行串行转换电路(1012)与第一并行 - 串行转换电路(1011)接收并行数据。 第二并行串行转换电路(1012)将并行数据转换成第二串行数据。 只要来自第一并行串行转换电路(1011)的转换定时的预定延迟时间,延迟电路延迟第二并行 - 串行转换电路(1012)的转换定时。 由第二并行串行转换电路(1012)产生从混合电路(103)接收到的预定延迟时间延迟的第二串行数据。