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    • 2. 发明公开
    • 휴대폰 케이스 코팅용 지그 고정 장치
    • 用于手机外壳涂层的夹具固定装置
    • KR1020170081817A
    • 2017-07-13
    • KR1020160000721
    • 2016-01-05
    • 금오공과대학교 산학협력단길종선이청화이성훈김지영이혜리임화순
    • 길종선이청화이성훈김지영이혜리임화순김영태조영준
    • B05B13/02
    • 본발명은휴대폰케이스코팅용지그고정장치에관한것이다. 본발명의휴대폰케이스코팅용지그고정장치는, 휴대폰케이스가안착되며, 횡방향으로연결부(11a)에의해서로연결되어횡방향으로다수설치되는하부지그(11)와, 상기각 하부지그(11) 후단에힌지결합되어휴대폰케이스가안착된하부지그(11)의상측을개폐시키되, 전단부(12a)는하부지그(11) 전방으로돌출되어있는상부지그(12)로이루어진휴대폰케이스코팅용지그(10)의저부에설치되어상부지그(12)의전단부(12a)를상방향으로타격하여상부지그(12)를상향회전이동시키는다수개의하부타격장치(20)와, 각하부지그(11) 사이의연결부(11a)를하방향으로눌러하부지그(11)의유동을방지하는다수개의상부가압장치(30)를포함하여구성된, 휴대폰케이스코팅용지그고정장치에있어서, 각각의하부타격장치(20)는횡방향으로이동이가능하도록이루어져있되, 링크또는슬릿삽입방식으로이루어진하부연결수단(40)에연결되어상호간의간격이일정한비율을유지한채 횡방향이동하도록이루어져있고, 각각의상부가압장치(30)는횡방향으로이동이가능하도록이루어져있되, 링크또는슬릿삽입방식으로이루어진상부연결수단(50)에의해상호간의간격이일정한비율을유지한채 횡방향으로이동하도록이루어져있는것을특징으로한다. 본발명에의해, 지그고정장치를구성하는하부타격장치와상부가압장치가슬릿이나링크방식에의해거리조절이가능한구조로이루어지도록함으로써설비의교체를최소화함으로써다양한크기의케이스코팅이이루어질수 있고, 특히, 상부가압장치나하부타격장치가단순이동하는것에그치지않고서로일정한비율로폭이변화할수 있게됨으로써케이스크기별서로다른형상의지그들을전체적으로정확한위치에서타격하고가압함으로써코팅품질의우수성을유지하고, 지그변형을방지할수 있게된다.
    • 本发明涉及一种手机外壳涂布纸固定装置。 手机外壳涂布纸本发明中,蜂窝电话的保持器,并且所述壳体安装,是在横向方向上通过将其于连接部(11a)和下夹具11的多个安装在水平方向上,每个下夹具11的 下夹具11的前端部分12a铰接到下夹具11的后端以打开和关闭下夹具11的上侧, 通过reulsang运动向上转动的上夹具12),和理由是爵士11上安装的10的上夹具12协议端(12a)的多个下部冲击装置(20到吹之间的底部) 涂布纸连接(11A)在按压方向reulha,移动电话情况下,保持器被配置为包括多个上部按压装置30,以防止下夹具11的流中,每个下部吹风装置20 neunhoeng的 方向,但链接或缝隙插入方法 Itdoe由连接到eojin下部连接装置40一个指定的百分比之间的距离由横向移动,以使得移动到每个上部加压装置30 neunhoeng方向,链路或狭缝插入方式的 而且,上部连结机构50构成为在维持一定的间隔的状态下沿横向移动。 根据本发明,发生到较低的冲击单元,通过夹具件与狭缝的上部加压值或链接方式,通过最小化更换设备和关于变来实现的尺寸的情况下涂层,特别构成能够远程控制的结构, 上加压值或更低击打装置是一个简单的运动,以停止,而不以恒定速率将在宽度,可以更改为按大小不同的形状彼此的情况下,在正确的位置击中它们作为一个整体,通过按压保持涂层质量的优越性,以防止夹具应变 这都是可能的。
    • 3. 发明授权
    • 입자밀도 측정 시스템 및 방법
    • 颗粒密度测量系统和方法
    • KR101009802B1
    • 2011-01-19
    • KR1020090040988
    • 2009-05-11
    • 금오공과대학교 산학협력단
    • 김태오이혜문임희수조영혁김지영
    • G01N9/00B82B3/00
    • 본 발명은 입자밀도 측정 시스템 및 방법에 관한 것으로, 전기로를 통해 발생된 나노입자의 입경에 따른 중량농도 및 개수농도를 측정하고, 그 측정결과에 기초하여 상기 나노입자의 밀도를 연산함으로써, 입자의 정확한 밀도를 측정할 수 있는 입자밀도 측정 시스템 및 방법을 제공한다. 이를 위한 본 발명은 캐리어가스와 원료물질이 공급되어 초음파에 의해 미세액적이 분무되고, 상기 미세액적에 열을 공급하여 나노입자가 발생되는 입자발생부와; 상기 발생된 나노입자를 직경에 따라 분급하여, 해당 직경에 대한 중량농도 및 개수농도를 측정하는 입자측정부와; 상기 나노입자의 중량농도 및 개수농도의 측정결과에 기초하여, 상기 나노입자의 밀도를 연산하는 제어부;를 포함한다.
      이러한 구성에 의해, 본 발명은 입자의 정확한 밀도를 연산할 수 있는 효과가 있다. 이와 동시에, 상기 입자를 이용한 공정의 정확도를 향상시킬 수 있는 효과가 있다. 또한, 제품 표면상의 품질을 향상시킬 수 있는 효과가 있다.
      밀도측정, 나노입자, 중량측정, 중량농도, 개수농도
    • 7. 发明公开
    • DMA 성능 최적화 장치 및 방법
    • 优化差分移动分析仪性能的装置和方法
    • KR1020090107597A
    • 2009-10-14
    • KR1020080032943
    • 2008-04-10
    • 금오공과대학교 산학협력단
    • 김태오김찬수이혜문송동근장희동장한권김영환정종환최재영조영혁임희수김지영
    • G01N15/00G01N24/00G01N27/60
    • PURPOSE: An apparatus and a method for optimizing the performance of a differential mobility analyzer is provided to evaluate measurement performance of a device and improve the accuracy of measurement and check performance optimization state. CONSTITUTION: An apparatus for optimizing the performance of a differential mobility analyzer comprises the followings. A particle generation part(110) generates polydisperse standard particles by crystallizing metallic vapor. The particle generation part comprises a heater(112) and a cooler. The heater heats a pipe body(111) in which metal material is arranged at constant temperature and vaporizes the metal material. The cooler condenses the vaporized metal material ejected from the pipe body. A particle neutralizing part(120) controls the charge quantity of the polydisperse standard particle and converts the standard particle to the state of the electric charge balance. A first distribution part(130) is provided with the clean air. The first distribution part distributes the polydisperse standard particle to monodisperse standard particle. The standard particle is charged by the electric field formed by a first power applying part(139). A second distribution part(140) is electrically connected to the second power applying part(149). The second distribution part secondly distributes the monodisperse particle. The measuring part(150) measures the number concentration or the electric mobility of the monodisperse standard particle.
    • 目的:提供一种用于优化差分迁移率分析仪性能的设备和方法,以评估设备的测量性能,提高测量精度和检查性能优化状态。 构成:用于优化差分迁移率分析仪的性能的装置包括以下。 颗粒产生部分(110)通过使金属蒸汽结晶而产生多分散标准颗粒。 颗粒产生部分包括加热器(112)和冷却器。 加热器加热金属材料在恒定温度下布置的管体(111)并使金属材料蒸发。 冷却器冷凝从管体排出的蒸发的金属材料。 粒子中和部(120)控制多分散标准粒子的电荷量,并将标准粒子转换成电荷平衡状态。 第一分配部分(130)设置有清洁空气。 第一分配部分将多分散标准颗粒分配到单分散标准颗粒。 标准颗粒由第一电力施加部分(139)形成的电场充电。 第二分配部件(140)电连接到第二电力施加部件(149)。 第二次分配部分二次分配单分散粒子。 测量部件(150)测量单分散标准颗粒的数量浓度或电迁移率。
    • 9. 发明公开
    • 입자밀도 측정 시스템 및 방법
    • 用于测量颗粒密度的系统和方法
    • KR1020100122012A
    • 2010-11-19
    • KR1020090040988
    • 2009-05-11
    • 금오공과대학교 산학협력단
    • 김태오이혜문임희수조영혁김지영
    • G01N9/00B82B3/00
    • G01N15/02G01N1/22G01N9/00G01N2001/2223G01N2015/0038G01N2015/0288
    • PURPOSE: A particle density measurement system and method is provided to measure the amount concentration and number concentration according to the diameter of nano particle occurred through an electronic path and calculate the density of the nano particle based on measuring result, thereby measuring the exact density of nano particle. CONSTITUTION: A particle generation part(110) uses ultrasonic wave to enable microdroplet to spray carrier gas and raw material and supplies the heat to microdroplet, and generates nano particle. A particle measurement unit(120) distributes the nano particle according to diameter and measure the weight density and number concentration about the corresponding diameter. The controller(130) computes the density of the nano particle based on measurement result of the weight density and the number concentration of nano particle. A particle generation part comprises atomizer, and an electric path which generates nano particles by supplying the heat to the sprayed microdroplet.
    • 目的:提供一种粒子密度测量系统和方法,根据通过电子路径发生的纳米颗粒的直径来测量浓度和数量浓度,并根据测量结果计算纳米颗粒的密度,从而测量其浓度 纳米颗粒。 构成:粒子发生部分(110)使用超声波使微滴喷雾载气和原料,并将热量供给微滴,并产生纳米颗粒。 颗粒测量单元(120)根据直径分配纳米颗粒,并测量相应直径的重量密度和数量浓度。 控制器(130)基于纳米颗粒的重量密度和数量浓度的测量结果计算纳米颗粒的密度。 颗粒产生部分包括雾化器和通过向喷射的微滴提供热量而产生纳米颗粒的电路径。
    • 10. 发明授权
    • DMA 성능 최적화 장치 및 방법
    • 用于优化差分流动性分析仪性能的装置和方法
    • KR100974166B1
    • 2010-08-04
    • KR1020080032943
    • 2008-04-10
    • 금오공과대학교 산학협력단
    • 김태오김찬수이혜문송동근장희동장한권김영환정종환최재영조영혁임희수김지영
    • G01N15/00G01N24/00G01N27/60
    • DMA 성능 최적화 장치 및 방법을 제공한다.
      본 발명은 금속소재가 내부배치되는 관체를 일정온도로 가열하여 상기 금속소재를 증기화시키는 가열기를 갖추고, 상기 관체의 내부로 공급되는 캐리어 가스에 의해서 상기 관체로부터 배출되는 증기화된 금속소재를 응축하는 냉각기를 갖추어 금속증기를 결정화하여 다분산 표준입자를 발생시키는 입자 발생부 ;상기 입자 발생부로부터 배출되는 다분산 표준입자의 전하량을 제어하여 상기 표준입자를 대전평형의 상태로 전환하는 입자 중화부 ; 상기 입자 중화부에서 전하량이 제어된 다분산 표준입자와 더불어 청정공기를 공급받고, 1차 전원인가부에 의해서 형성되는 전기장에 의해서 대전된 표준입자의 전기 이동도를 이용하여 다분산 표준입자를 원하는 크기를 갖는 단분산 표준입자로 분급하는 1차 분급부 ; 상기 1차 분급부를 거치면서 1차 분급된 단분산 표준입자와 더불어 청정공기를 공급받고, 2차 전원인가부와 전기적으로 연결되어 전기 이동도를 이용하여 단분산 입자를 2차로 분급하는 2차 분급부 ; 및 상기 1차 분급부와 2차 분급부를 통해 배출되는 단분산 표준입자의 개수 농도 및 전기 이동도를 측정하는 측정부 ; 를 포함한다.
      DMA, 표준입자, 나노입자, 가열기, 냉각기, 중화, 분급, 전기 이동도