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热词
    • 1. 发明公开
    • 마이크로웨이브를 이용한 산업 폐가스 정화방법
    • 使用微波的工业废气的净化方法
    • KR1020150142803A
    • 2015-12-23
    • KR1020140070999
    • 2014-06-11
    • 금오공과대학교 산학협력단주식회사 세종플랜트
    • 김태오조영혁김범수윤병로
    • B01D53/32B01D53/75B01D46/00
    • Y02A50/235
    • 마이크로웨이브를이용한산업폐가스정화방법이개시된다. 본발명은마이크로웨이브를이용하여가열한가열체를통하여유해가스를제거할수 있는마이크로웨이브를이용한산업폐가스정화방법에관한것이다. 본발명에의한산업폐가스정화방법은산업폐가스를집진처리하는집진단계, 집진된산업폐가스를필터에통과시켜입자상물질을제거하는단계, 입자상물질이제거된산업폐가스를제거장치의고온발열체에관통시켜서, 휘발성유기화합물질을열분해제거하는단계및 상기휘발성유기화합물질이열분해제거된산업폐가스를가성소다또는암모니아가투입된집진기에유입시켜무기물질을제거하는단계를포함한다.
    • 公开了一种使用微波净化工业废气的方法。 本发明涉及一种使用微波净化工业废气的方法,其中通过由微波加热的加热元件除去有毒气体。 工业废气净化方法包括以下步骤:收集工业废气; 使收集的工业废气通过过滤器去除颗粒物; 使去除了颗粒材料的工业废气穿过除去装置的高温加热元件,以热分解和去除挥发性有机化合物; 并将挥发性有机化合物从其中分解和除去的工业废气引入到其中插入苛性钠或氨的收集器中以除去无机物质。
    • 3. 发明公开
    • 마이크로웨이브를 이용한 휘발성유기화합물질 및 산업 폐가스 제거장치
    • VOCS和工业废气净化装置
    • KR1020150142805A
    • 2015-12-23
    • KR1020140071002
    • 2014-06-11
    • 금오공과대학교 산학협력단주식회사 세종플랜트
    • 김태오조영혁김범수윤병로
    • B01D53/32
    • Y02A50/235B01D53/32A62D3/19B01D53/1487
    • 마이크로웨이브를이용한휘발성유기화합물질및 산업폐가스제거장치가개시된다. 본발명은마이크로웨이브를이용하여가열한가열재를통하여유해가스를제거할수 있는마이크로웨이브를이용한휘발성유기화합물질및 산업폐가스제거장치에관한것이다. 본발명에의한마이크로웨이브를이용한휘발성유기화합물질및 산업폐가스제거장치는휘발성유기화합물질및 산업폐가스가유입되는유입구와배출구가구비된반응케이스; 상기케이스내부에설치되고상기휘발성유기화합물질및 산업폐가스에고온의열원을제공하는실리콘카바이드(SiC)로이루어진고온발열체; 상기고온발열체에마이크로웨이브를조사하여고온발열체를발열시키는복수개의마그네트론; 상기반응케이스유입구에설치되어상기휘발성유기화합물질및 산업폐가스의유량을조절하는블로워; 상기고온발열체내부에구비된상기휘발성유기화합물질및 산업폐가스의유통로에설치되어그 온도를센싱하는제1온도센서; 상기제1온도센서에의해감지된온도를매개로상기블로워를제어하는제어부;를포함한다.
    • 公开了一种通过使用微波去除挥发性有机化合物和工业废气的设备。 本发明涉及通过使用微波去除挥发性有机化合物和工业废气的装置,其中通过由微波加热的加热材料除去有毒气体。 根据本发明的通过使用微波除去挥发性有机化合物和工业废气的装置包括:具有引入挥发性有机化合物和工业废气的入口的反应箱和出口; 由碳化硅(SiC)制成的高温加热元件,并安装在壳体内以向挥发性有机化合物和工业废气中提供高温热源; 多个磁控管用微波照射高温加热元件以加热高温加热元件; 设置在反应箱入口处的鼓风机,以控制挥发性有机化合物和工业废气的流量; 安装在所述挥发性有机化合物和工业废气的流路中的第一温度传感器,其布置在所述高温加热元件内部以感测其温度; 以及根据由第一温度传感器感测的温度来控制鼓风机的控制器。
    • 4. 发明公开
    • DMA 성능 최적화 장치 및 방법
    • 优化差分移动分析仪性能的装置和方法
    • KR1020090107597A
    • 2009-10-14
    • KR1020080032943
    • 2008-04-10
    • 금오공과대학교 산학협력단
    • 김태오김찬수이혜문송동근장희동장한권김영환정종환최재영조영혁임희수김지영
    • G01N15/00G01N24/00G01N27/60
    • PURPOSE: An apparatus and a method for optimizing the performance of a differential mobility analyzer is provided to evaluate measurement performance of a device and improve the accuracy of measurement and check performance optimization state. CONSTITUTION: An apparatus for optimizing the performance of a differential mobility analyzer comprises the followings. A particle generation part(110) generates polydisperse standard particles by crystallizing metallic vapor. The particle generation part comprises a heater(112) and a cooler. The heater heats a pipe body(111) in which metal material is arranged at constant temperature and vaporizes the metal material. The cooler condenses the vaporized metal material ejected from the pipe body. A particle neutralizing part(120) controls the charge quantity of the polydisperse standard particle and converts the standard particle to the state of the electric charge balance. A first distribution part(130) is provided with the clean air. The first distribution part distributes the polydisperse standard particle to monodisperse standard particle. The standard particle is charged by the electric field formed by a first power applying part(139). A second distribution part(140) is electrically connected to the second power applying part(149). The second distribution part secondly distributes the monodisperse particle. The measuring part(150) measures the number concentration or the electric mobility of the monodisperse standard particle.
    • 目的:提供一种用于优化差分迁移率分析仪性能的设备和方法,以评估设备的测量性能,提高测量精度和检查性能优化状态。 构成:用于优化差分迁移率分析仪的性能的装置包括以下。 颗粒产生部分(110)通过使金属蒸汽结晶而产生多分散标准颗粒。 颗粒产生部分包括加热器(112)和冷却器。 加热器加热金属材料在恒定温度下布置的管体(111)并使金属材料蒸发。 冷却器冷凝从管体排出的蒸发的金属材料。 粒子中和部(120)控制多分散标准粒子的电荷量,并将标准粒子转换成电荷平衡状态。 第一分配部分(130)设置有清洁空气。 第一分配部分将多分散标准颗粒分配到单分散标准颗粒。 标准颗粒由第一电力施加部分(139)形成的电场充电。 第二分配部件(140)电连接到第二电力施加部件(149)。 第二次分配部分二次分配单分散粒子。 测量部件(150)测量单分散标准颗粒的数量浓度或电迁移率。
    • 5. 发明授权
    • 입자밀도 측정 시스템 및 방법
    • 颗粒密度测量系统和方法
    • KR101009802B1
    • 2011-01-19
    • KR1020090040988
    • 2009-05-11
    • 금오공과대학교 산학협력단
    • 김태오이혜문임희수조영혁김지영
    • G01N9/00B82B3/00
    • 본 발명은 입자밀도 측정 시스템 및 방법에 관한 것으로, 전기로를 통해 발생된 나노입자의 입경에 따른 중량농도 및 개수농도를 측정하고, 그 측정결과에 기초하여 상기 나노입자의 밀도를 연산함으로써, 입자의 정확한 밀도를 측정할 수 있는 입자밀도 측정 시스템 및 방법을 제공한다. 이를 위한 본 발명은 캐리어가스와 원료물질이 공급되어 초음파에 의해 미세액적이 분무되고, 상기 미세액적에 열을 공급하여 나노입자가 발생되는 입자발생부와; 상기 발생된 나노입자를 직경에 따라 분급하여, 해당 직경에 대한 중량농도 및 개수농도를 측정하는 입자측정부와; 상기 나노입자의 중량농도 및 개수농도의 측정결과에 기초하여, 상기 나노입자의 밀도를 연산하는 제어부;를 포함한다.
      이러한 구성에 의해, 본 발명은 입자의 정확한 밀도를 연산할 수 있는 효과가 있다. 이와 동시에, 상기 입자를 이용한 공정의 정확도를 향상시킬 수 있는 효과가 있다. 또한, 제품 표면상의 품질을 향상시킬 수 있는 효과가 있다.
      밀도측정, 나노입자, 중량측정, 중량농도, 개수농도
    • 9. 发明公开
    • 입자밀도 측정 시스템 및 방법
    • 用于测量颗粒密度的系统和方法
    • KR1020100122012A
    • 2010-11-19
    • KR1020090040988
    • 2009-05-11
    • 금오공과대학교 산학협력단
    • 김태오이혜문임희수조영혁김지영
    • G01N9/00B82B3/00
    • G01N15/02G01N1/22G01N9/00G01N2001/2223G01N2015/0038G01N2015/0288
    • PURPOSE: A particle density measurement system and method is provided to measure the amount concentration and number concentration according to the diameter of nano particle occurred through an electronic path and calculate the density of the nano particle based on measuring result, thereby measuring the exact density of nano particle. CONSTITUTION: A particle generation part(110) uses ultrasonic wave to enable microdroplet to spray carrier gas and raw material and supplies the heat to microdroplet, and generates nano particle. A particle measurement unit(120) distributes the nano particle according to diameter and measure the weight density and number concentration about the corresponding diameter. The controller(130) computes the density of the nano particle based on measurement result of the weight density and the number concentration of nano particle. A particle generation part comprises atomizer, and an electric path which generates nano particles by supplying the heat to the sprayed microdroplet.
    • 目的:提供一种粒子密度测量系统和方法,根据通过电子路径发生的纳米颗粒的直径来测量浓度和数量浓度,并根据测量结果计算纳米颗粒的密度,从而测量其浓度 纳米颗粒。 构成:粒子发生部分(110)使用超声波使微滴喷雾载气和原料,并将热量供给微滴,并产生纳米颗粒。 颗粒测量单元(120)根据直径分配纳米颗粒,并测量相应直径的重量密度和数量浓度。 控制器(130)基于纳米颗粒的重量密度和数量浓度的测量结果计算纳米颗粒的密度。 颗粒产生部分包括雾化器和通过向喷射的微滴提供热量而产生纳米颗粒的电路径。
    • 10. 发明授权
    • DMA 성능 최적화 장치 및 방법
    • 用于优化差分流动性分析仪性能的装置和方法
    • KR100974166B1
    • 2010-08-04
    • KR1020080032943
    • 2008-04-10
    • 금오공과대학교 산학협력단
    • 김태오김찬수이혜문송동근장희동장한권김영환정종환최재영조영혁임희수김지영
    • G01N15/00G01N24/00G01N27/60
    • DMA 성능 최적화 장치 및 방법을 제공한다.
      본 발명은 금속소재가 내부배치되는 관체를 일정온도로 가열하여 상기 금속소재를 증기화시키는 가열기를 갖추고, 상기 관체의 내부로 공급되는 캐리어 가스에 의해서 상기 관체로부터 배출되는 증기화된 금속소재를 응축하는 냉각기를 갖추어 금속증기를 결정화하여 다분산 표준입자를 발생시키는 입자 발생부 ;상기 입자 발생부로부터 배출되는 다분산 표준입자의 전하량을 제어하여 상기 표준입자를 대전평형의 상태로 전환하는 입자 중화부 ; 상기 입자 중화부에서 전하량이 제어된 다분산 표준입자와 더불어 청정공기를 공급받고, 1차 전원인가부에 의해서 형성되는 전기장에 의해서 대전된 표준입자의 전기 이동도를 이용하여 다분산 표준입자를 원하는 크기를 갖는 단분산 표준입자로 분급하는 1차 분급부 ; 상기 1차 분급부를 거치면서 1차 분급된 단분산 표준입자와 더불어 청정공기를 공급받고, 2차 전원인가부와 전기적으로 연결되어 전기 이동도를 이용하여 단분산 입자를 2차로 분급하는 2차 분급부 ; 및 상기 1차 분급부와 2차 분급부를 통해 배출되는 단분산 표준입자의 개수 농도 및 전기 이동도를 측정하는 측정부 ; 를 포함한다.
      DMA, 표준입자, 나노입자, 가열기, 냉각기, 중화, 분급, 전기 이동도