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1. 发明公开

KR1020050113002A 키노폼 회절격자 광분배기를 이용한 편광 측정기 失效
标题翻译：使用用于激发光束的KINOFORM光栅的极化镜
公开(公告)号：KR1020050113002A
公开(公告)日：2005-12-01
申请号：KR1020040038482
申请日：2004-05-28
申请人： 광주과학기술원
发明人： 김덕영 , 진상훈 , 이지용
IPC分类号： G01J4/04
摘要： 본 발명은 키노폼 회절격자를 광분배기로 이용하여 광의 편광상태를 측정하는 편광 측정기에 관한 것으로, 소정두께를 갖는 불투명재질의 평판에 광이 통과할 수 있는 투광부가 종방향과 횡방향을 따라 규칙적으로 형성되어서, 입사되는 광이 회절현상에 의해 분배되도록 하는 광분배기와; 상기 광분배기에 의해 분배된 분배광을 편광 시키는 편광자가 구비된 광학계; 및, 편광된 광신호를 수광하여 전기신호 및/또는 전기에너지로 전환시키는 수광부재가 구비된 광검출기로 이루어진 것이다.

2. 发明授权

KR100924574B1 편광 위상 현미경 失效
标题翻译：偏光相显微镜
公开(公告)号：KR100924574B1
公开(公告)日：2009-10-30
申请号：KR1020080005810
申请日：2008-01-18
申请人： 광주과학기술원
发明人： 이지용 , 김덕영
IPC分类号： G02B21/00 , G02B21/02 , G02B21/04
CPC分类号： G02B21/0092 , G02B21/14
摘要： 본 발명은 표본을 정밀하게 관찰하기 위한 편광 위상 현미경에 관한 것이다. 보다 상세하게는 생체 세포의 구성요소들을 통과하는 빛의 위상 차이를 이용하여 생체 세포의 구조 및 변화를 관찰하는 것이 가능한 편광 위상 현미경에 관한 것이다. 본 발명은 관찰하고자 하는 표본에 대한 상을 획득하는 광학이미지 발생부와,상기 광학 이미지 발생부에서 획득한 상의 광선이 유입되는 물체 평면; 상기 물체 평면을 통과한 광선에 대한 1차 퓨리에 변환이 발생하는 제1 변환렌즈; 상기 제1 변환렌즈로부터 상기 제1 변환렌즈의 초점거리만큼 이격되어 위치한 λ/4 파장판;상기 λ/4 파장판을 통과한 광선에 대한 2차 퓨리에 변환이 발생하는 제2 변환렌즈; 및 상기 2차 퓨리에 변환이 이루어진 광선의 상이 맺히는 광검출기를 포함하는 위상 이미지 발생부를 포함하는 것을 특징으로 한다.
본 발명에 의하면 생체 세포와 같은 생물 표본에 대한 정량적인(quantitative) 위상 정보를 획득하여 상기 생체 세포의 구조 및 움직임을 관찰하는 것이 가능한 효과를 가진다.
광학 현미경, 편광, 위상, 간섭

3. 发明公开

KR1020090083162A 물질 특성 측정 방법 및 장치, 물질 영상화 방법 및 장치 失效
标题翻译：用于测量材料特性的方法和装置，成像材料的方法和装置
公开(公告)号：KR1020090083162A
公开(公告)日：2009-08-03
申请号：KR1020080009161
申请日：2008-01-29
申请人： 광주과학기술원
发明人： 김덕영 , 이지용 , 김동욱 , 신인희 , 이승락 , 배윤성
IPC分类号： G01N3/38 , G01N33/48 , G01N21/00 , B82Y15/00
CPC分类号： G01N3/38 , B82Y15/00 , G01N21/21 , G01N33/53
摘要： A method and a device for measuring a character of a material and a method and a device for imaging the material are provided to survey the minute change of the specific molecule or organization without the decolorization phenomenon or the extinction of a cell. A method for measuring a character of a material comprises followings. A nano particle is attached in the appointed area of the sample to measuring. The outside stimulus is authorized in the neighboring of the nano particle. The reaction of the nano particle neighboring of the nano particle according to the applied outside stimulus or the sample is measured. The nano particle is one among the metal nanoparticle, the magnetic nanoparticle, and the semiconductor quantum dot. A device for measuring a character of the material comprises a nano particle attach unit(10), an outside stimulus application unit(20), and a reaction measurement part(30). The material imaging unit comprises a picturizing unit(40).
摘要翻译：提供了用于测量材料特性的方法和装置，以及用于成像该材料的方法和装置的装置，用于调查特定分子或组织的微小变化，而不会出现脱色现象或细胞消失。用于测量材料特征的方法包括以下。将纳米颗粒附着在样品的指定区域进行测量。外部刺激被授权在纳米颗粒的邻近处。测量与应用的外部刺激或样品相邻的纳米颗粒的纳米颗粒的反应。纳米颗粒是金属纳米颗粒，磁性纳米颗粒和半导体量子点之一。用于测量材料特性的装置包括纳米颗粒附着单元（10），外部刺激施加单元（20）和反应测量部分（30）。该材料成像单元包括一个吸引单元（40）。

4. 发明授权

KR100725211B1 다중모드 도파로의 다중모드간 차등시간지연 측정장치 및 그 측정방법 失效
标题翻译： 다중모드도파로의운중모드간차등시간지연측정장치및그측정방
公开(公告)号：KR100725211B1
公开(公告)日：2007-06-04
申请号：KR1020060007737
申请日：2006-01-25
申请人： 광주과학기술원
发明人： 김덕영 , 이지용
IPC分类号： H04B10/07 , H04B10/25
摘要： A multi-mode differential time delay measurement device of a multi-mode wave guide and a measurement method thereof are provided to measure interference patterns caused by displacement differences of light passing through the wave guide and a reference light path by configuring an interference system using a light source and a wavelength component photo detector, thereby measuring differential time delay between modes. A light source(10) is in certain width. A light distributor(20) inputs light emitted from the light source(10), and distributes the light to a multi-mode wave guide and a reference light path. A reflector(30) reflects an optical signal passing through the reference light path to the distributor(20). A wavelength component detector(40) detects signals by interference which are generated by a combination of an optical signal returning from a cut surface of the wave guide and the optical signal returning by being reflected from the reflector(30), according to each optical strength by wavelength component, and sends the detected signals to a computer(50). The computer(50) is mounted with a program consisting of a frequency component conversion process of converting the detected signals into frequency components, a process of analyzing interference patterns into differential time mode delay information, and a process of displaying measured results.
摘要翻译：提供了一种多模波导的多模式差分时间延迟测量装置及其测量方法，以通过使用一个干涉系统配置干涉系统来测量由通过波导和参考光路的光的位移差引起的干涉图案光源和波长成分光电检测器，从而测量模式之间的差分时间延迟。光源（10）具有一定的宽度。光分配器（20）输入从光源（10）发射的光，并将光分配到多模波导和参考光路。反射器（30）将通过参考光路的光信号反射到分配器（20）。波长分量检测器（40）根据每个光强度，检测由从波导的切割面返回的光信号和通过从反射器（30）反射而返回的光信号的组合而产生的干扰的信号通过波长分量，并将检测到的信号发送到计算机（50）。计算机（50）安装有由将检测信号转换成频率分量的频率分量转换处理，将干涉图案分析为差分时间模式延迟信息的处理和显示测量结果的处理组成的程序。

5. 发明授权

KR100963237B1 색분산 계산 장치 및 그 방법, 색분산 측정 시스템 및 그방법, 상기 방법들을 구현하는 프로그램이 저장된 기록매체 失效
标题翻译：用于计算色散的装置及其方法及其测量方法及其方法，以及存储执行所述方法的程序的记录介质
公开(公告)号：KR100963237B1
公开(公告)日：2010-06-11
申请号：KR1020080005811
申请日：2008-01-18
申请人： 광주과학기술원
发明人： 이지용 , 김덕영
IPC分类号： G01J3/46
摘要： 본 발명은 간섭계와 광검출기를 이용하여 간섭무늬를 측정하고, 이 간섭무늬에서 얻어진 위상값을 수학적 신호처리함으로써 광섬유의 색분산을 측정하는 색분산 계산 장치 및 그 방법, 색분산 측정 시스템 및 그 방법, 상기 방법들을 구현하는 프로그램이 저장된 기록매체에 관한 것이다. 본 발명은 (a) 간섭 성분을 가지는 입력 신호에 가우시안 필터들이 소정의 간격으로 이격된 가우시안 필터군을 적용하여 복수개의 서브 스펙트럼군들을 생성하는 단계; (b) 생성된 복수개의 서브 스펙트럼군들로부터 피크 성분들을 추출하고, 추출된 피크 성분 각각에 따른 시간 지연값을 계산하는 단계; (c) 피팅용 함수를 이용하여 피크 성분의 주파수와 시간 지연값을 변수로 하는 색분산 계산용 함수를 생성하는 단계; 및 (d) 생성된 색분산 계산용 함수를 이용하여 색분산을 계산하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 색분산 계산 방법을 제공한다. 본 발명에 따르면, 첫째, 광섬유의 모드나 길이에 관계없이 상기 광섬유의 색분산을 측정할 수 있다. 둘째, 광섬유의 색분산을 고속 측정할 수 있다. 세째, 생산공정이 빠르며, 종전보다 비용 부담도 적다.
색분산(chromatic dispersion) 측정, 간섭계(interferometer), 광섬유(FUT), 퓨리에 변환(fourier transform), 마하젠더(mach-zehnder) 간섭계, 간섭무늬, 가우 시안 필터, 최소제곱법(method of least squares), 커브 피팅(curve fitting), 광도파로(optical waveguide)

6. 发明公开

KR1020090083816A 스펙트럴 간섭계를 이용한 광섬유 및 광도파로의 색분산측정장치 및 색분산 측정방법 失效
标题翻译：使用光谱干涉仪测量光纤和油波的色度分布的方法和方法
公开(公告)号：KR1020090083816A
公开(公告)日：2009-08-04
申请号：KR1020080009831
申请日：2008-01-30
申请人： 광주과학기술원
发明人： 김덕영 , 이지용
IPC分类号： G01J3/46
摘要： A device for measuring the spectral interferometer using an optical waveguide and optical fiber and a method for measuring the same are provided to get a phase value from the interference fringe measured by an interferometer and a wavelength component photo detector to measure the spectral interferometer value. A device for measuring the spectral interferometer using an optical waveguide comprises a first and second optical splitters(20,30) and a wavelength component detector(40). The first optical splitter distributes light source(10) to a standard light path(2) and measurement light path. The second optical splitter binds the standard light path and the measurement light path. The second optical splitter causes the dark fringe. A wavelength components detector detects the waveform with the dark fringe and calculates the spectral interferometer value based on the calculated phase value of the whole wavelength area.
摘要翻译：提供一种使用光波导和光纤测量光谱干涉仪的装置及其测量方法，以从由干涉仪和波长分量光检测器测量的干涉条纹获得相位值，以测量光谱干涉仪值。用于使用光波导测量光谱干涉仪的装置包括第一和第二光分路器（20,30）和波长分量检测器（40）。第一光分路器将光源（10）分配到标准光路（2）和测量光路。第二光分路器结合标准光路和测量光路。第二个光分路器引起黑色条纹。波长分量检测器用黑色条纹检测波形，并根据计算的整个波长区域的相位值计算光谱干涉仪值。

7. 发明公开

KR1020090079671A 색분산 계산 장치 및 그 방법, 색분산 측정 시스템 및 그방법, 상기 방법들을 구현하는 프로그램이 저장된 기록매체 失效
标题翻译：用于计算色度分布的装置及其方法和用于测量色度分布的系统及其方法以及存储执行方法的程序的记录媒体
公开(公告)号：KR1020090079671A
公开(公告)日：2009-07-22
申请号：KR1020080005811
申请日：2008-01-18
申请人： 광주과학기술원
发明人： 이지용 , 김덕영
IPC分类号： G01J3/46
摘要： A device and a method for calculating the CHROMATIC DISPERSION, a system and a method for measuring the CHROMATIC DISPERSION and a RECORDING MEDIUM storing a program implementing the method for the same are provided to make simplification of the device with a simplified method. A method for calculating the chromatic dispersion comprises: a step of generating a plurality of sub-spectrum groups by applying a Gaussian filter group in an input signal with the interference component; a step of extracting a peak component from a plurality of sub-spectrum groups and calculating a time delay value(S315); a step of generating a function for the chromatic dispersion calculation which has the frequency and time delay value of the peak component as variable using the function for fitting(S320); and a step of calculating the chromatic dispersion using the generated chromatic dispersion calculation function(S325).
摘要翻译：提供了一种用于计算色谱分离的装置和方法，用于测量色谱的系统和方法以及存储执行其方法的程序的记录介质，以简化方法简化装置。一种用于计算色散的方法包括：通过在具有干扰分量的输入信号中应用高斯滤波器组来产生多个子频谱组的步骤; 从多个子谱组中提取峰分量并计算时间延迟值的步骤（S315）; 使用所述拟合函数生成具有峰值分量的频率和时间延迟值的变量的色散计算的功能的步骤（S320）; 以及使用所生成的色散计算功能计算色散的步骤（S325）。

8. 发明公开

KR1020090079670A 편광 위상 현미경 失效
标题翻译：极地相显微镜
公开(公告)号：KR1020090079670A
公开(公告)日：2009-07-22
申请号：KR1020080005810
申请日：2008-01-18
申请人： 광주과학기술원
发明人： 이지용 , 김덕영
IPC分类号： G02B21/00 , G02B21/02 , G02B21/04
CPC分类号： G02B21/0092 , G02B21/14
摘要： A polarizing phase microscope is provided to obtain quantitative phase information having high resolution and low noise ratio as to structure and change of a biological cell. A polarizing phase microscope(1) includes an optical image generating unit, an object plane, a first converting lens, a lambda/4 wavelength plate, a second converting lens and a phase image generating unit. The optical image generating unit(10) obtains an image as to a sample to be observed. The object plane(110) is used for receiving rays of the image obtained at the optical image generating unit. The first converting lens(120) generates a primary Fourier transform as to the rays having passed through the object plane. The lambda/4 wavelength plate(135) is located to be apart from the first converting lens by a focal distance of the first converting lens. The second converting lens generates a secondary Fourier transform as to the rays having passed through the lambda/4 wavelength plate. The phase image generating unit includes an optical detector(155) for imaging the rays which was subject to the secondary Fourier transform.
摘要翻译：提供偏振相显微镜以获得关于生物细胞的结构和变化的高分辨率和低噪声比的定量相位信息。偏光相显微镜（1）包括光学图像生成单元，物体平面，第一转换透镜，λ/ 4波长板，第二转换透镜和相位图像生成单元。光学图像生成单元（10）获得关于要观察的样本的图像。物面（110）用于接收在光学图像生成单元获得的图像的光线。第一转换透镜（120）对通过物平面的光线产生主傅立叶变换。 λ/ 4波长板（135）通过第一转换透镜的焦距被定位成与第一转换透镜分开。第二转换透镜对穿过λ/ 4波长板的光线产生二次傅里叶变换。相位图像生成单元包括用于对进行二次傅里叶变换的光线成像的光学检测器（155）。

9. 发明公开

KR1020090063417A 외부 자극에 의한 광학적 분자 영상 시스템 失效
标题翻译：激发诱导光学分子成像系统
公开(公告)号：KR1020090063417A
公开(公告)日：2009-06-18
申请号：KR1020070130763
申请日：2007-12-14
申请人： 광주과학기술원
发明人： 김덕영 , 신인희 , 이지용 , 김동욱 , 이승낙 , 이동주
IPC分类号： G01N21/41 , G01N21/47 , G01B9/04 , G02B21/00
摘要： An optical molecular imaging system according to outside stimulus is provided to implement -destructive real-time molecule image system measuring a location, displacement, amplitude, mobility etc of a specific molecule in real time without suing a fluorescent tag material or dyeing of the molecule. An optical molecular imaging system according to outside stimulus includes a laser light source for measurement, a precision light measuring unit, a pulse laser feeding unit, and a charge-coupled device. The precision light measuring unit includes a first and a second dichroic mirrors on an upper part of a target sample and a lower part of an object lens. The pulse laser feeding unit supplies light of a pulse type on the first dichroic mirror. The charge-coupled device is connected with a computer. Properties for the system include location, amplitude, mobility, temperature or their combination.
摘要翻译：提供了根据外部刺激的光学分子成像系统，以实现实时分析特定分子的位置，位移，振幅，迁移率等的破坏性实时分子图像系统，而不用荧光标签材料或分子染色。根据外部刺激的光学分子成像系统包括用于测量的激光源，精密光测量单元，脉冲激光馈送单元和电荷耦合器件。精密光测量单元包括在目标样品的上部和物镜的下部的第一和第二分色镜。脉冲激光馈送单元在第一分色镜上提供脉冲类型的光。电荷耦合器件与计算机连接。系统的属性包括位置，幅度，移动性，温度或其组合。

10. 发明授权

KR100691871B1 광주파수영역반사측정 시스템의 비선형주파수변위 보상장치및 방법과, 광주파수영역반사측정 시스템 失效
标题翻译： OFDR系统非线性补偿的装置和方法
公开(公告)号：KR100691871B1
公开(公告)日：2007-03-12
申请号：KR1020050024756
申请日：2005-03-25
申请人： 광주과학기술원
发明人： 김덕영 , 안태정 , 이지용
IPC分类号： G01M11/00
摘要： 이 발명은 광주파수영역반사측정(OFDR : optical frequency domain reflectometry) 시스템에 관한 것이다. 이 발명에 따른 광주파수영역반사측정 시스템은, 시간에 따라 파장이 비선형적으로 변하는 빛을 출력하는 광원과, 상기 광원으로부터 출력되는 빛을 분할하는 광분할기와, 상기 광분할기에서 분할된 일부 빛으로부터 경로차에 의한 주맥신호를 얻는 주간섭계와, 상기 광분할기에서 분할된 다른 일부 빛으로부터 경로차에 의한 보조맥신호를 얻는 보조간섭계와, 상기 보조맥신호의 위상을 변환하는 위상변환기와, 상기 보조맥신호와 상기 위상 변환된 보조맥신호로부터 상기 보조맥신호의 위상값을 계산하는 위상계산기와, 상기 위상계산기에서 계산된 상기 보조맥신호의 위상값을 이용하여 상기 주맥신호의 비선형특성을 보상하는 보상기와, 상기 보상기에서 비선형특성이 보상된 주맥신호를 고속퓨리에변환하여 상기 주간섭계에 장착된 광섬유의 절단면 위치를 찾는 FFT변환기를 포함한다.
OFDR, 힐버트변환, 비선형, 주파수변위, 가변파장레이저, 테일러정리

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