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1. 发明授权

KR100950301B1 레이더형 파랑측정 시스템에서의 유의파고 보정방법 有权
标题翻译：雷达波形测量系统中重要波高的校准方法
公开(公告)号：KR100950301B1
公开(公告)日：2010-03-31
申请号：KR1020070053733
申请日：2007-06-01
申请人： (주)연 , 이미정 , 황성춘 , 안경모 , 이재영 , 천세현
发明人： 이미정 , 황성춘 , 안경모 , 이재영 , 천세현
IPC分类号： G01C5/00 , G01F23/28
CPC分类号： G01S7/415 , G01S7/2923 , G01S7/4021 , G01S13/52 , G01S13/88 , G01S13/89
摘要： 잔물결이 거의 없어서 브래그공명 현상이 발생하지 않는 경우에도 레이더형 파고계에 의하여 실제와 근사한 유의파고를 얻을 수 있는 레이더형 파랑측정 시스템에서의 유의파고 보정방법이 제공된다. 레이더형 파랑측정 시스템에서의 유의파고 보정방법은, a) 해면으로부터의 레이더 반사 신호를 수집하여 3차원 이미지데이터로 변환하는 단계; b) 3차원 이미지데이터에 3차원 FFT 처리를 하여 3차원 이미지 스펙트럼을 산출하는 단계; c) 산출된 3차원 이미지 스펙트럼을 분산관계식을 이용하여 필터링함으로써 노이즈를 제거하는 단계; d) 본래 파에 관한 3차원 파랑 스펙트럼을 산출하는 단계; e) 3차원 파랑 스펙트럼으로부터 첨두주기(Tp), 평균주기(Tm), 및 유의파고(Hs)를 산출하는 단계; f) 평균주기와 첨두주기 사이의 상관관계를 회귀분석하여 수식화하는 단계; g) 유의파고와 평균주기와의 상관관계를 회귀분석하여 수식화하는 단계; h) 관계식들을 연립하여, 유의파고와 첨두주기 사이의 관계식을 산출하는 단계; 및 i) 유의파고와 평균주기 사이의 관계식에 측정된 평균주기를 대입하거나, 또는 유의파고와 첨두주기 사이의 관계식에 측정된 첨두주기를 대입하여, 실제와 근사하게 보정된 유의파고를 산출하는 단계를 포함한다.
레이더, 유의파고, 첨두주기, 평균주기, 보정

2. 发明公开

KR1020070115773A 레이더형 파랑측정 시스템에서의 유의파고 보정방법 有权
标题翻译：雷达波形测量系统中重要波高的校准方法
公开(公告)号：KR1020070115773A
公开(公告)日：2007-12-06
申请号：KR1020070053733
申请日：2007-06-01
申请人： (주)연 , 이미정 , 황성춘 , 안경모 , 이재영 , 천세현
发明人： 이미정 , 황성춘 , 안경모 , 이재영 , 천세현
IPC分类号： G01C5/00 , G01F23/28
CPC分类号： G01S7/415 , G01S7/2923 , G01S7/4021 , G01S13/52 , G01S13/88 , G01S13/89 , G06F17/18
摘要： A calibration method for significant wave height in a radar type wave gauge system is provided to obtain the significant wave height, which is calibrated into an approximately actual value, by using a relation obtained by analyzing correlation of wave information measured by the system. A calibration method for significant wave height in a radar type wave gauge system comprises a step of measuring an average period, a wave period at a spectral peak and significant wave height by using a radar type wave height gauge(S5). Correlation between the significant wave height and the average period, or correlation between the significant wave height and the wave period is expressed by an equation through regression analysis(S6). Calibrated significant wave height is calculated by putting a measured average period into the relation between the significant wave height and the average period, or putting a measured wave period into the relation between the significant wave height and the wave period(S7).
摘要翻译：提供雷达波形测量系统中有效波高的校准方法，通过使用通过分析由系统测量的波信息的相关性获得的关系来获得被校正为近似实际值的有效波高。雷达波形测量系统中有效波高的校准方法，包括通过使用雷达型波高测量仪（S5）测量平均周期，频谱峰值波浪周期和有效波高的步骤。显着波高与平均周期之间的相关性，或有效波高与波周期之间的相关性由回归分析方程式表示（S6）。通过将测量的平均周期放在有效波高和平均周期之间的关系中，或将测量的波周期放入有效波高和波周期之间的关系来计算校准的有效波高（S7）。

3. 发明授权

KR100733977B1 평판형 범용스캐너와 퍼스컴을 이용한 모래 입도분석시스템 및 그 방법 有权
标题翻译： 평판형범용스캐너와퍼스컴을이용한모래입도분석시스템및그방
公开(公告)号：KR100733977B1
公开(公告)日：2007-06-29
申请号：KR1020060045256
申请日：2006-05-19
申请人： 안경모 , 천세현
发明人： 안경모 , 천세현
IPC分类号： G01B11/08 , G01B11/24
摘要： A system for analyzing grain size of sand by using a normal flat type scanner and a personal computer and an analyzing method thereof are provided to analyze the grain size of the sand without requiring much expense. An analyzing method of a system for analyzing grain size of sand by using a normal flat type scanner and a personal computer includes the steps of collecting a sample of the sand to analyze the grain size(S10), drying the sample of 63 mum grain size after filtering with a no.230 filter(S20), extracting the sample(S30), plating the sample on a glass board separated from a sample scanning dark room case(S40), scanning an image(S50), and analyzing the image(S60).
摘要翻译：提供了一种通过使用普通平板式扫描仪和个人计算机分析砂粒大小的系统及其分析方法，以分析砂子的粒度而不需要太多费用。一种用普通平板式扫描仪和个人计算机分析砂粒大小的系统的分析方法包括以下步骤：收集砂样以分析颗粒尺寸（S10），干燥颗粒尺寸为63μm的样品在用230号过滤器（S20）过滤之后，提取样品（S30），将样品电镀在与样品扫描暗室（S40）分离的玻璃板上，扫描图像（S50），并分析图像 S60）。

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