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51. 发明公开

KR1019990079712A 주파수 변조 검파 장치 无效
标题翻译：调频检测装置
公开(公告)号：KR1019990079712A
公开(公告)日：1999-11-05
申请号：KR1019980012450
申请日：1998-04-08
申请人： 삼성전자주식회사
发明人： 김재홍
IPC分类号： H03H7/18
摘要： 주파수 변조 검파 장치가 개시된다. 이 장치는 주파수 변조된 신호를 대역 통과 필터링하여 출력하며, 각각이 fc±f1(여기서, fc는 주파수 변조된 신호의 중심 주파수) 및 fc±f2(f2＜f1)의 차단 주파수들을 갖는 제1 및 제2 대역 통과 필터들과, 제1 대역 통과 필터로부터 출력되는 신호의 주파수와 fc의 차를 검출하고, 검출된 차에 상응하는 레벨을 출력하는 제1 쿼드러쳐 검출부와, 제2 대역 통과 필터로부터 출력되는 신호의 주파수와 fc의 차를 검출하고, 검출된 차에 상응하는 레벨을 출력하는 제2 쿼드러쳐 검출부와, 외부로부터 입력된 비트율에 따라 가변되는 차단 주파수를 갖으며, 제1 쿼드러쳐 검출부의 출력을 저역 통과 필터링하는 제1 비트 율 필터, 비트율에 따라 가변되는 차단 주파수를 갖으며, 제2 쿼드러쳐 검출부의 출력을 저역 통과 필터링하는 제2 비트 율 필터와, 제1 비트 율 필터 로부터 출력되는 신호의 평균값인 제1 기준 신호와 제1 비트 율 필터의 출력을 비교하고, 비교된 결과를 제1 주파수 쉬프트 킹 신호로서 출력하는 제1 비교부와, 제2 비트 율 필터의 출력을 전파 정류하여 출력하는 전파 정류부 및 전파 정류부의 출력과 제2 및 제3 기준 신호들을 비교하고, 비교된 결과를 제2 주파수 쉬프트 킹 신호로서 출력하는 제2 비교부를 구비하는 것을 특징으로 한다.

52. 实用新型

KR200136481Y1 내경 가공용 테이퍼 와이어 에칭 장치 失效
标题翻译：用于内径加工的锥线蚀刻设备
公开(公告)号：KR200136481Y1
公开(公告)日：1999-02-18
申请号：KR2019950005235
申请日：1995-03-23
申请人： 삼성전자주식회사
发明人： 김재홍
IPC分类号： C23F1/08
摘要： 본 고안은 내경 가공용 테이퍼 와이어 장치에 관한 것이다. 본 고안에 따르면, 부식액 저장 수단(11), 상기 부식액 저장 수단(11)에 진입 가능하며 와이어(W)가 감겨 있는 회전 수단(15), 세척액 저장수단(12), 상기 회전 부재(15)로부터 풀린 와이어(W)를 세척액 저장 수단에 진입할 수 있게 하는 세척용 회전 안내 수단(24), 상기 세척액 저장 수단(12)으로 배출된 와이어(W) 표면에 잔류된 부식물 및 세척액을 제거할 수 있도록 펠트가 제공된 내측면을 통해 와이어(W) 외표면에 압력을 가할 수 있는 압력 수단(31) 및, 상기 압력 수단(31)을 통과한 와이어(W)를 감을 수 있으며 회전수가 제어 가능한 구동 회전수단(26)을 포함하는 테이퍼 와이어 에칭 장치가 제공된다.

53. 发明授权

KR100079880B1 음성 우편장치에서 독립형과 밀결합형 겸용방법 失效
公开(公告)号：KR100079880B1
公开(公告)日：1994-11-29
申请号：KR1019910008548
申请日：1991-05-25
申请人： 삼성전자주식회사
发明人： 김재홍
IPC分类号： H04M3/50

54. 发明授权

KR100066016B1 음성 우편장치의 텐언트 기능 구현방법 失效
公开(公告)号：KR100066016B1
公开(公告)日：1993-10-04
申请号：KR1019900009169
申请日：1990-06-21
申请人： 삼성전자주식회사
发明人： 김재홍
IPC分类号： H04M11/06 , H04M3/50

55. 发明授权

KR102244616B1 채널 편차를 감소시키는 이미지 센서 및 이를 포함하는 이미지 처리 시스템 有权
公开(公告)号：KR102244616B1
公开(公告)日：2021-04-20
申请号：KR1020140183534
申请日：2014-12-18
申请人： 삼성전자주식회사
发明人： 임승현 , 김재홍 , 조한국 , 이동훈 , 전진욱 , 함석헌
IPC分类号： H04N5/369 , H04N5/335 , H04N5/3745 , H04N5/374

56. 发明授权

KR102074944B1 프로그래머블 이득 증폭기와 이를 포함하는 장치들 有权
公开(公告)号：KR102074944B1
公开(公告)日：2020-02-07
申请号：KR1020130069710
申请日：2013-06-18
申请人： 삼성전자주식회사
发明人： 박유진 , 김재홍 , 서진호 , 유귀성 , 함석헌
IPC分类号： H03G3/20

57. 发明授权

KR101923531B1 반도체 칩 본딩 장치 有权
公开(公告)号：KR101923531B1
公开(公告)日：2018-11-30
申请号：KR1020110141130
申请日：2011-12-23
申请人： 삼성전자주식회사
发明人： 황이성 , 이정철 , 김재홍 , 정태경
IPC分类号： H01L21/58
CPC分类号： H01L21/67144 , H01L2924/0002 , Y10T156/1744 , Y10T156/1746 , Y10T156/1761 , Y10T156/1776 , H01L2924/00
摘要： 본발명은반도체칩 본딩장치를개시한다. 반도체칩 본딩장치는기판들을이송하는이송레일들, 각각의이송레일들로기판들을로딩하는로딩부재들, 각각의이송레일들로부터기판들을언로딩하는언로딩부재들, 제 1 반도체칩들을포함하는제 1 웨이퍼를공급하는제 1 웨이퍼공급유닛및 제 1 반도체칩들을기판들에접착하는본딩유닛을포함한다.

58. 发明授权

KR101818441B1 데이터 처리 장치 및 이의 동작 방법 有权
标题翻译：数据处理装置及其操作方法
公开(公告)号：KR101818441B1
公开(公告)日：2018-01-16
申请号：KR1020110065195
申请日：2011-06-30
申请人： 삼성전자주식회사
发明人： 이기준 , 공준진 , 김재홍 , 손홍락 , 김용준 , 정정수 , 최성혁
IPC分类号： G06F7/58
CPC分类号： G06F7/584 , G06F2207/583
摘要： 데이터처리장치는다수의쉬프트레지스터들을포함하는의사난수발생기와, 상기다수의쉬프트레지스터들중에서마지막쉬프트레지스터를제외한나머지쉬프트레지스터들중에서어느하나로부터출력되는의사난수시퀀스를이용하여제1데이터를제2데이터로랜더마이즈하거나또는랜더마이즈된제3데이터를제4데이터로디랜더마이즈하는변환회로를포함한다. 상기의사난수발생기는상기제2데이터를저장하기위한또는상기제3데이터를저장하는메모리를액세스하기위해필요한파라미터를이용하여상기의사난수발생기의피드백다항식을결정하는피드백다항식결정기를포함한다.
摘要翻译：使用伪随机数序列是从伪随机数发生器，包括多个移位寄存器值的数据处理中的任一个输出，并且其它的移位寄存器，除了中的最后一个移位寄存器的第一数据，所述多个移位寄存器的第二数据以及转换电路，用于将经受光栅化的第三数据渲染为第四数据。伪随机数生成器可以包括一个判决反馈多项式用于通过使用被访问以存储存储器或用于存储所述第二数据的第三数据所需的参数确定所述伪随机数发生器的反馈多项式。

59. 发明授权

KR101798992B1 네거티브 커패시턴스 회로를 포함하는 감지 증폭기와, 이를 포함하는 장치들 有权
公开(公告)号：KR101798992B1
公开(公告)日：2017-12-21
申请号：KR1020110002308
申请日：2011-01-10
申请人： 삼성전자주식회사
发明人： 유귀성 , 권민호 , 정운기 , 서진호 , 이동훈 , 최원호 , 김재홍
IPC分类号： H04N5/3745 , H04N5/378 , H04N9/04
CPC分类号： H04N5/378 , H04N5/3745
摘要： 데이터리드아웃속도를증가시킬수 있는감지증폭기가개시된다. 상기감지증폭기는데이터라인쌍과, 상기데이터라인쌍 사이에접속된네거티브커패시턴스회로와, 상기네거티브커패시턴스회로로바이어스전류를공급하기위한전류바이어스회로와, 상기데이터라인쌍으로바이어스전압을공급하기위한전압바이어스회로와, 상기데이터라인쌍 사이에접속된비교기를포함한다.

60. 发明公开

KR1020170139496A 슬릿 안테나 프로브, 및 이를 이용한 다중 접합 반도체의 결함 검사 장치 및 방법 审中-实审
标题翻译：狭缝天线探针以及使用其的多结半导体的缺陷检查装置和方法
公开(公告)号：KR1020170139496A
公开(公告)日：2017-12-19
申请号：KR1020177021720
申请日：2015-03-02
申请人： 한국전기연구원 , 삼성전자주식회사
发明人： 김근주 , 김재홍 , 김정일 , 윤지녕 , 임미현
IPC分类号： G01R1/07 , G01R1/24 , G01R31/265 , G01R31/27
CPC分类号： G01R1/07 , G01R23/00 , G01R31/26 , G01R1/071 , G01R1/24 , G01R31/2656 , G01R31/275
摘要： 다중접합반도체의결함검사장치에있어서, 광원, 슬릿안테나프로브, 평행광조사부, 광집속부, 광분배부, 제1 광검출부, 제2 광검출부, 영상신호생성부및 영상신호분석부를포함하며, 슬릿안테나프로브는, 광원으로부터발생된테라헤르츠광을가이딩하는가이딩부; 및가이딩부와슬릿안테나프로브의외부공간사이를관통하는슬릿을포함하고, 슬릿에는, 가이딩부를지나슬릿을통과하는테라헤르츠광의반사정도를감소시키기위한반사감소구조가형성된것을특징으로하는본 발명의일 실시예에따른다중접합반도체의결함검사장치가개시된다.
摘要翻译：在多结半导体的缺陷检查装置，包括：一光源，狭缝天线探针，平行于照射，光的一部分聚焦，分光分布，第一光检测器，第二光电检测器，图像信号生成单元和所述图像信号分析单元，所述狭缝天线探测器包括：引导单元，用于引导从光源产生的太赫兹光; 并且，本发明其特征在于，减反射结构形成，以减少太赫兹光反射电平，其包括一个狭缝通过该待定部分的外部空间和狭缝天线探针穿透，并且缝槽，通过狭缝传递过去的引导公开了一种用于半导体结的缺陷检测装置。

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