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    • 23. 发明公开
    • 메모리 컨트롤러 및 그것의 동작 방법, 메모리 컨트롤러를 포함하는 메모리 시스템
    • 内存控制器和操作方法相同,包含存储器控制器的存储器系统
    • KR1020140103755A
    • 2014-08-27
    • KR1020130017626
    • 2013-02-19
    • 삼성전자주식회사
    • 서영일윤정호이원철정다운
    • G11C16/34G11C16/06
    • G06F12/0246G06F2212/1032G06F2212/7205
    • According to an embodiment of the present invention, a memory controller controls a non-volatile memory device having a plurality of memory blocks as a data storage space. The memory controller includes: an error detection and correction circuit which compares a threshold value with a bit error rate calculated based on data received from the non-volatile memory device, and which produces comparison results; and a reclaim control unit which receives the comparison results from the error detection and correction circuit, and which determines whether to execute a read reclaim operation of copying the data to another memory block different from a memory block where the data have been stored, based on a level of a reading voltage used to read the data, wherein the reclaim control unit controls the non-volatile memory device not to perform the read reclaim operation when a level of the reading voltage is included in a predetermined area.
    • 根据本发明的实施例,存储器控制器控制具有多个存储器块的非易失性存储器件作为数据存储空间。 存储器控制器包括:误差检测和校正电路,其将阈值与基于从非易失性存储器件接收的数据计算的误码率进行比较,并产生比较结果; 以及回收控制单元,其接收来自所述错误检测和校正电路的比较结果,并且基于所述回收控制单元,基于所述回收控制单元,基于所述回收控制单元接收来自所述错误检测和校正电路的比较结果,并且其基于 用于读取数据的读取电压的电平,其中当读取电压的电平被包括在预定区域中时,回收控制单元控制非易失性存储器件不执行读取回收操作。
    • 25. 发明授权
    • 반도체 기억소자의 퓨즈 영역
    • 半导体存储器件的保险丝区域
    • KR100724562B1
    • 2007-06-04
    • KR1020050020690
    • 2005-03-11
    • 삼성전자주식회사
    • 이원철
    • H01L21/82
    • 퓨즈 및 방습장벽을 갖는 반도체소자의 퓨즈 영역을 제공한다. 상기 퓨즈 영역은 반도체 기판 상에 하부 층간절연막을 포함한다. 상기 하부 층간절연막 상에 서로 이격된 제1 및 제2 하부배선들이 배치된다. 상기 제1 및 제2 하부 배선들 및 상기 하부 층간절연막을 갖는 상기 반도체 기판 상에 중간 층간절연막이 배치된다. 상기 중간 층간절연막 상에 차례로 적층된 상부 층간절연막, 하부 금속 층간절연막 및 상부 금속 층간절연막이 배치된다. 상기 상부 층간절연막 또는 상기 하부 금속 층간절연막 상에 상기 제1 및 제2 하부 배선들에 전기적으로 접속된 양 단들을 갖는 퓨즈가 배치된다. 상기 중간 층간절연막, 상기 상부 층간절연막, 상기 하부 금속층간절연막 및 상기 상부 금속층간절연막을 관통하고 상기 퓨즈 및 상기 퓨즈의 상, 하부에 배치된 층간절연막들을 둘러싸는 방습장벽이 배치된다. 상기 방습장벽은 상기 제1 및 제2 하부 배선들과 전기적으로 절연된다.
      리페어공정, 리던던트 셀, 퓨즈, 방습장벽
    • 30. 发明公开
    • 메모리 컨트롤러 및 그것의 동작 방법
    • 内存控制器及其操作方法
    • KR1020140103756A
    • 2014-08-27
    • KR1020130017627
    • 2013-02-19
    • 삼성전자주식회사
    • 서영일윤정호이원철정다운
    • G11C16/34G11C16/06G11C16/26
    • G06F11/1048
    • A memory controller according to an embodiment of the present invention controls a nonvolatile memory device. The memory controller includes a memory which stores a plurality of read data transmitted from the nonvolatile memory device, an ECC circuit which detects an error bit of partial data forming each read data and determines whether to correct the partial data based on the detected error bit, and a processing unit which determines a representative value by analyzing the partial data whose correction is impossible according to the determination result of the ECC circuit and transmits the representative value to the ECC circuit. The read data is read by the reading operation of the same logic page.
    • 根据本发明的实施例的存储器控​​制器控制非易失性存储器件。 存储器控制器包括存储从非易失性存储器件发送的多个读取数据的存储器,ECC电路,其检测形成每个读取数据的部分数据的错误位,并且基于检测到的错误位确定是否校正部分数据, 以及处理单元,其通过根据ECC电路的确定结果分析不可能校正的部分数据来确定代表值,并将代表值发送到ECC电路。 通过同一逻辑页面的读取操作来读取读取的数据。