专利快速检索-快速检索全球专利，免费商用专利数据库-IPRDB

11. 发明授权

KR101674154B1 사이드도킹식 테스트핸들러 有权
标题翻译：侧面锁定式测试操作器的侧面锁定型和操作方法
公开(公告)号：KR101674154B1
公开(公告)日：2016-11-10
申请号：KR1020120027248
申请日：2012-03-16
申请人： (주)테크윙
发明人： 전인구 , 김창래 , 권성일
IPC分类号： G01R31/28 , G01R31/26 , H01L21/66
摘要： 본발명은테스트핸들러에관한것이다.본발명에따르면반도체소자의로딩이완료된테스트트레이의인서트에서레버가정상적으로작동했는지여부를판단한후 다음공정을진행하도록함으로써제품의안정성과신뢰성을향상시킬수 있는기술이제시된다.

12. 发明公开

KR1020160018211A 점검장치 审中-实审
标题翻译：检查装置
公开(公告)号：KR1020160018211A
公开(公告)日：2016-02-17
申请号：KR1020140102496
申请日：2014-08-08
申请人： (주)테크윙
发明人： 권성일 , 김형근
IPC分类号： B65G43/00 , B65G1/02 , G06T7/00
摘要： 본발명은적재트레이에적재된전자부품의적재상태를점검하기위한점검장치에관한것이다. 본발명에따른점검장치는, 점검위치에있는적재트레이에적재된전자부품에광을조사하는광조사기; 상기광조사원에의해광이조사된전자부품을촬영하는카메라; 상기카메라에의해획득된이미지내의광의형태와기준되는광의형태를비교하여전자부품의적재상태를점검하는분석기; 를포함한다. 본발명에따르면조사된광의형태를이용하여전자부품의적재상태를점검할수 있는새로운방식의기술이제시된다.
摘要翻译：本发明涉及一种用于检查装载在装载盘中的电子部件的装载状态的检查装置。根据本发明的检查装置包括：光照射器，其将装载在检查位置的装载盘中的电子部件用光照射; 照相机，照射由光照射器照射的光的电子部件; 以及分析器，其通过将通过照相机获得的图像中的光的类型与参考光的类型进行比较来检查电子部件的装载状态。根据本发明，检查装置使用照射光的类型来检查电子部件的装载状态。

13. 发明公开

KR1020140125465A 반도체소자 테스트용 핸들러 审中-实审
标题翻译：用于测试半导体的处理器
公开(公告)号：KR1020140125465A
公开(公告)日：2014-10-29
申请号：KR1020130042273
申请日：2013-04-17
申请人： (주)테크윙
发明人： 권성일 , 정재훈
IPC分类号： G01R31/26 , H01L21/66
CPC分类号： G01R31/2893
摘要： 본 발명은 반도체소자의 테스트를 지원하는 반도체소자 테스트용 핸들러에 관한 것이다.
본 발명에 따른 반도체소자 테스트용 핸들러는 소자 공급기의 이동 중에 소켓 플레이트의 테스트 소켓이 카메라에 노출되는 노출 시간을 감지기에 의해 감지하고, 해당 시점에 카메라에 의해 테스트 소켓(반도체소자가 공급되는 공급 지점)을 촬영한다.
본 발명에 따르면 소자 공급기의 정상적인 작업 경로 상에서의 이동을 방해하지 않으면서도 테스트 소켓에 반도체소자가 잔류하는 지 여부를 판단할 수 있기 때문에 처리 효율이 향상되는 효과가 있다.
摘要翻译：本发明涉及一种用于测试能够支持半导体器件测试的半导体器件的处理器。用于测试半导体器件的处理器感测在通过传感器移动设备馈送器期间，插座板的测试插座暴露于照相机的照射时间，并且照相测试插座（从其馈送半导体器件的馈电点）在相应的时间通过相机。根据本发明的处理器，可以确定半导体器件是否保持在测试插座上，而不会妨碍设备馈线在正常工作路径中的移动，从而提高处理效率。

14. 发明授权

KR102026357B1 반도체소자 테스트용 핸들러 有权
公开(公告)号：KR102026357B1
公开(公告)日：2019-11-04
申请号：KR1020130042273
申请日：2013-04-17
申请人： (주)테크윙
发明人： 권성일 , 정재훈
IPC分类号： G01R31/26 , H01L21/66

你已经成功收藏专利！

检索式保存成功!

IPRDB

热门服务

关于我们

友情链接

联系方式