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11. 发明公开

KR1020160111743A 세척장치 有权
标题翻译：清洁装置
公开(公告)号：KR1020160111743A
公开(公告)日：2016-09-27
申请号：KR1020150036799
申请日：2015-03-17
申请人： (주)지컴
发明人： 김영균 , 유승완
IPC分类号： B01D46/00
CPC分类号： B01D46/0071 , B01D46/0082
摘要： 본발명은세척장치에관한것으로서, 단으로부터이송된상기피처리물에세정액을분사하는스프레이세척수단; 상보다상세하게는오염물이부착된필터등의피처리물을버블침전및 스프레이에의한세척과건조, 배출을자동으로진행할수 있는세척장치에관한것이다. 본발명에의한세척장치는하우징; 피처리물을세정액에침전시킨상태에서버블을형성하는침전세척수단; 상기침전세척수기스프레이세척수단으로부터이송된상기피처리물을건조하는건조수단; 및상기피처리물을배출하는배출수단; 및상기피처리물을이송하는컨베이어;를포함한다.
摘要翻译：本发明涉及清洁装置。更具体地，清洁装置包括喷射清洁装置，其将清洁溶液喷射到从柱传送的被处理物体。清洁装置通过气泡沉淀和喷涂自动地进行清洁，干燥和排出诸如附着有污染物的过滤器等被处理物体。清洁装置包括：壳体; 沉淀清洗装置，其中待处理物体在清洗溶液中沉淀而形成气泡; 从沉淀清洗液装置的喷雾清洁装置输送的被处理物干燥的干燥机构; 排出待处理物体的排出装置; 以及传送器，其传送待处理物体。

12. 发明授权

KR101504603B1 ＧＵＩ를 이용한 반도체 테스트 핸들러의 이동위치 인식방법 有权
标题翻译：使用GUI在半导体测试处理程序中教授移动位置的方法
公开(公告)号：KR101504603B1
公开(公告)日：2015-03-23
申请号：KR1020130084107
申请日：2013-07-17
申请人： (주)지컴
发明人： 신희성
IPC分类号： G01R31/26 , H01L21/66 , G06F3/048
摘要： 본 발명은 ＧＵＩ를 이용한 반도체 테스트 핸들러의 이동위치 인식방법에 관한 것으로서, 반도체 칩이 트레이에 로딩(loading)되면 신규 반도체 칩인지 검사가 완료된 반도체 칩인가를 판단하는 단계, 상기 단계의 판단결과 검사가 완료된 반도체 칩인 경우에는 기 저장되어 있는 이동위치 데이터를 읽어들여 반도체 테스트 핸들러의 각 구성 로봇들을 구동시키는 단계, 상기 단계의 판단결과 신규 반도체 칩인 경우에는 상기 다수개의 로봇과 대응하는 3차원 GUI와, 상기 3차원 GUI 이동을 지정하는 항목들을 포함하는 화면을 디스플레이하는 단계, 상기 디스플레이한 이동을 지정하는 항목에 입력되는 값에 따라 상기 3차원 GUI를 이동시키는 단계 및 상기 이동 설정이 완료되면 설정된 값을 기반으로 상기 다수개의 로봇을 해당 위치로 실제 이동시키는 단계를 포함한 방법을 제공함으로써, 티칭을 수행하기 위해 해당 반도체 소자의 위치 경로에 맞게 반도체 소자 이송장치(로봇)들을 이동시키지 않고 가상으로 먼저 확인 작업을 하기 때문에 위치값 지정에 소비되는 시간이 비약적으로 줄어들고, 실제 반도체 소자 이송장치(로봇)가 이동하는 구간에 확인작업을 위한 사람의 접근이 필요치 않기 때문에 안전사고의 위험을 미연에 방지한다는 효과가 얻어진다.

13. 发明授权

KR101459386B1 블레이드 오프기능을 갖는 테스트 핸들러 시스템 및 그 방법 有权
标题翻译：用于测试操作的系统及其方法
公开(公告)号：KR101459386B1
公开(公告)日：2014-11-10
申请号：KR1020130058175
申请日：2013-05-23
申请人： (주)지컴
发明人： 신희성
IPC分类号： G01R31/26 , H01L21/66
摘要： 본 발명은 테스트 핸들러 시스템에 관한 것으로서, 특히 소켓에 투입된 반도체 소자의 테스트 결과에 따라 반도체를 공급하는 블레이드의 불량 상태를 확인하여 테스트 핸들러의 블레이드를 오프하도록 하는 테스트 핸들러 시스템 및 그 방법에 관한 것이다.
본 발명은 반도체 소자의 테스트가 이루어지는 복수의 테스트 소켓과, 각 테스트 소켓과 대응되어 반도체 소자를 로딩/언로딩하기 위한 복수의 블레이드를 갖는 프론트 블레이드모듈 및 백 블레이드모듈을 포함하는 테스트 핸들러시스템에 있어서, 각각의 프론트 블레이드모듈과 백 블레이드모듈 별로 각 소켓에 투입된 반도체 소자의 테스트 결과 데이터를 입력받는 테스트 결과 입력수단; 및 상기 테스트 결과 입력수단을 통해 입력받는 테스트 결과 데이터를 각 블레이드 별로 반도체 소자별 불량 판정율, 수율, 불량 판정 횟수를 누적 산출하여 기 설정된 허용범위를 벗어나는 해당 블레이드를 오프시키는 컨트롤수단;을 포함한다.
摘要翻译：本发明涉及一种测试处理系统，特别涉及一种测试处理系统，该系统通过根据插入的半导体器件的测试结果，检查提供半导体的刀片的故障状态来关断测试处理器的刀片插座及其方法。本发明涉及一种测试处理系统，包括：多个测试插座，其中执行半导体的测试; 具有多个刀片的前刀片模块，用于通过对应于每个测试插座来加载/卸载半导体器件; 和后刀片模块。测试处理系统包括：测试结果输入单元，其接收由前刀片模块和后刀片模块插入到每个插座中的半导体器件的测试结果数据; 以及控制单元，其通过累积由每个刀片的半导体器件的不良确定率，产量和不良确定时间来产生从测试结果输入单元接收的测试结果数据，并且关闭超出预定可接受水平的刀片。

14. 发明公开

KR1020100052632A 반도체 고온 테스트 시 반도체의 교체 시간 단축 제어방법 有权
标题翻译：半导体高温测试短路控制方法的转换时间
公开(公告)号：KR1020100052632A
公开(公告)日：2010-05-20
申请号：KR1020080111435
申请日：2008-11-11
申请人： (주)지컴
发明人： 신희성
IPC分类号： G01R31/26 , H01L21/66
CPC分类号： G01R31/2875 , G01R31/2642 , G01R31/2867 , G01R31/2893
摘要： PURPOSE: A method for reducing a time for replacing a semiconductor device during a high-temperature test for the semiconductor device is provided to rapidly pick-up the semiconductor device from a high temperature plate by calculating the average time for testing the semiconductor device through the control unit of a program. CONSTITUTION: A semiconductor device is heated on a high temperature plate. A first contact pusher picks-up and transfers the semiconductor device to a tester. The semiconductor device is contacted with the tester(S110). A test for the semiconductor device is performed(S120). The first contact pusher picks-up the semiconductor device from the tester(S150). A second contact pusher with a subsequent semiconductor device is stood-by, before the test for the previous semiconductor device is completed(S130). The subsequent semiconductor device is contact with the tester(S160). The test is performed(S170).
摘要翻译：目的：提供一种在半导体器件的高温测试期间减少用于替换半导体器件的时间的方法，通过计算通过半导体器件测试半导体器件的平均时间来从高温板快速拾取半导体器件程序的控制单元。构成：半导体器件在高温板上加热。第一接触推动器拾起并将半导体器件传送到测试器。半导体器件与测试器接触（S110）。执行半导体器件的测试（S120）。第一接触推动器从测试器拾取半导体器件（S150）。在完成对先前的半导体器件的测试之前，具有随后的半导体器件的第二接触推动器被停止（S130）。随后的半导体器件与测试器接触（S160）。执行测试（S170）。

15. 发明授权

KR101504070B1 교체 가능한 블레이드를 갖는 반도체 디바이스 테스트용 핸들러장치 有权
标题翻译：具有可更换刀片的半导体测试处理器
公开(公告)号：KR101504070B1
公开(公告)日：2015-03-19
申请号：KR1020140101107
申请日：2014-08-06
申请人： (주)지컴
发明人： 김영균 , 최석호 , 김태중
IPC分类号： G01R31/20 , G01R31/26 , H01L21/66
摘要： 본 발명은 테스트 반도체 디바이스를 가압 또는 흡착 고정하게 되는 블레이드를 편리하게 교체할 수 있는 반도체 디바이스 테스트용 핸들러장치에 관한 것으로, 테스트 반도체 디바이스를 가압 또는 흡착 고정하게 되는 블레이드모듈을 포함하는 핸들러장치에 있어서, 자력을 이용하거나 회전 록킹/언록킹 방식으로 블레이드블록과 블레이드가 조립이 이루어지도록 블레이드모듈을 구성하거나, 래치방식으로 CCU블록과 블레이드모듈을 조립함으로써, 테스트 반도체 디바이스의 사이즈에 따라서 적절한 사이즈로 준비된 블레이드(모듈)만을 교체하여 신속한 테스트가 가능하여 작업 효율을 개선할 수 있는 효과가 있다.

16. 发明授权

KR101503999B1 교체 가능한 블레이드를 갖는 반도체 디바이스 테스트용 핸들러장치 有权
标题翻译：用于测试具有可互换刀片的半导体设备的处理器设备
公开(公告)号：KR101503999B1
公开(公告)日：2015-03-18
申请号：KR1020130046529
申请日：2013-04-26
申请人： (주)지컴
发明人： 김영균 , 최석호 , 김태중
IPC分类号： G01R31/20 , G01R31/26 , H01L21/66
摘要： 본 발명은 테스트 반도체 디바이스를 가압 또는 흡착 고정하게 되는 블레이드를 편리하게 교체할 수 있는 반도체 디바이스 테스트용 핸들러장치에 관한 것으로, 테스트 반도체 디바이스를 가압 또는 흡착 고정하게 되는 블레이드모듈을 포함하는 핸들러장치에 있어서, 자력을 이용하거나 회전 록킹/언록킹 방식으로 블레이드블록과 블레이드가 조립이 이루어지도록 블레이드모듈을 구성하거나, 래치방식으로 CCU블록과 블레이드모듈을 조립함으로써, 테스트 반도체 디바이스의 사이즈에 따라서 적절한 사이즈로 준비된 블레이드(모듈)만을 교체하여 신속한 테스트가 가능하여 작업 효율을 개선할 수 있는 효과가 있다.
摘要翻译：本发明涉及一种处理装置，其包括一个叶片模块，其是，以压力或抽吸来固定测试半导体装置上的测试半导体器件，可以固定到更换方便刀片半导体器件测试的压力或抽吸处理装置，利用磁力或旋转锁定/解锁系统是刀片块和叶片，使得所述组件被配置完刀片模块或通过组装CCU块和叶片模块，测试半导体器件与根据尺寸正确的大小准备的闩锁系统仅更换刀片（模块）就可以进行快速测试，从而提高工作效率。

17. 发明授权

KR101369263B1 반도체 테스트용 수동/자동 겸용 소켓커버와, 이를 이용한 반도체 자동 핸들러 장치 有权
标题翻译：用于测试IC的手动/自动插座盖，以及使用其自动化处理器
公开(公告)号：KR101369263B1
公开(公告)日：2014-03-05
申请号：KR1020130014788
申请日：2013-02-12
申请人： (주)지컴
发明人： 신희성
IPC分类号： G01R31/26 , H01L21/66
CPC分类号： G01R31/2863 , G01R1/0466 , G01R31/2601 , G01R31/2867
摘要： The present invention relates to a socket cover which can be used both manually and automatically to a socket mounted on a test board to test a semiconductor and an automatic semiconductor handler device using the socket cover. The socket cover given in the present invention includes: a cover body (110) which has a hexahedron shape overall, has an opening in the lower part to make a blade, which is to be mentioned below, be movable in the up-down direction, and is placed in the upper part of the socket; a pair of locker arms (120) which are placed on both sides of the cover body (110) to be bilaterally symmetric and be rotatable and has a pressing projection (121) at the upper end and an engaging projection (122) to be engaged with and fixed to the socket; a screw (130) which penetrates in the longitudinal direction and is screwed to the cover body (110); a handle unit (140) which is fixed to the upper end of the screw (130) and rotates the screw (130); two or more fixing pins (150) which protrude from the top surface at eccentric positions from the rotation axis of the handle unit (140); and the blade (160) which is placed at the lower end of the screw (130) to be freely movable, is stored inside the opening of the cover body (110), is in contact with the upper part of a test target semiconductor, and has a disk shape. Therefore, the socket cover can be commonly used both manually and automatically.
摘要翻译：插座盖技术领域本发明涉及一种插座盖，其可手动自动地用于安装在测试板上的插座，以测试半导体和使用插座盖的自动半导体处理器设备。本发明提供的插座盖包括：总体上具有六面体形状的盖体（110），下部具有用于制造叶片的开口，可以在上下方向上移动，并放置在插座的上部; 一对放置在盖主体（110）的两侧以便可旋转并且可旋转的锁臂（120），并且在上端具有按压突起（121）和与之接合的接合突起（122）并固定在插座上; 螺杆（130），其沿纵向方向穿过并拧到盖主体（110）上; 手柄单元（140），其固定到所述螺钉（130）的上端并旋转所述螺钉（130）; 两个或多个固定销（150），其在从所述手柄单元（140）的旋转轴线偏心的位置处从所述顶表面突出; 并且被放置在所述螺钉（130）的下端部以能够自由移动的刀片（160）被储存在所述盖体（110）的开口内部，与被检测体半导体的上部接触，并具有磁盘形状。因此，插座盖可以手动和自动地共同使用。

18. 发明授权

KR101312006B1 반도체 소자의 고온 테스트를 위한 챔버 有权
标题翻译：半导体器件高温测试室
公开(公告)号：KR101312006B1
公开(公告)日：2013-09-27
申请号：KR1020120006071
申请日：2012-01-19
申请人： (주)지컴
发明人： 민상현
IPC分类号： G01R31/26
摘要： 본 발명은 반도체 소자의 고온 테스트를 위한 챔버에 관한 것으로서, 챔버의 대류 형태에서 테스트 소켓을 제어된 고온의 공기를 도킹 플레이트에 분배하고, 비산시켜 소켓 간의 온도 편차를 최소화 하도록 하며, 액화질소와 공기를 혼합하여 냉각하는 방식이 아닌, 공기 냉각 장치인 보텍스 튜브를 이용함으로써, 테스트 환경이 변화되었을 경우, 능동적으로 테스트 환경 온도 제어가 가능하도록 함에 그 목적이 있다.
이러한 목적을 달성하기 위한 본 발명은, 테스트 소켓에 국부 가열 및 배기가 가능하도록, 에어히터에 의한 고온의 공기를 토출하는 토출구 및 고온의 공기가 소켓에 비산되도록 각 소켓별로 구비된 분기구가 구비된 국부 가열형 도킹 플레이트; 를 포함한다.

19. 发明授权

KR101312005B1 대면적 분할형 반도체 소자 컨택터 장치 有权
标题翻译：大面积分离型半导体器件的接触器装置
公开(公告)号：KR101312005B1
公开(公告)日：2013-09-27
申请号：KR1020120043384
申请日：2012-04-25
申请人： (주)지컴
发明人： 권현철 , 민상현 , 류승완 , 홍원택
IPC分类号： G01R31/26
摘要： PURPOSE: A large sized division type semiconductor device contactor apparatus is provided to reduce a path which moves a contactor to the test site outside. CONSTITUTION: A contactor unit (100) divides a contactor and successively connects to a test site. A contactor driving unit (200) drives the intersection of the contactor which is installed on the top of the contactor unit and is divided. A shuttle unit (300) supplies a semiconductor device to the divided contactor in order to perform loading and unloading at the same time and discharges a device on which a test is finished. A shuttle cam block unit (400) is installed on the top of the shuttle unit and changes a pitch of the shuttle unit. The contactor driving unit drives the contactor of one group and electrically contacts the semiconductor device to a test site. The contactor driving unit drives the contactor of the other group and grasps a device to be tasted by putting the tested semiconductor device on the shuttle unit. [Reference numerals] (500) Contactor torque sensing unit
摘要翻译：目的：提供一种大尺寸分割型半导体装置接触器装置，以减少将接触器移动到测试地点外部的路径。构成：接触器单元（100）分隔接触器并连续地连接到测试位置。接触器驱动单元（200）驱动安装在接触器单元顶部并被分开的接触器的交点。穿梭单元（300）将半导体装置供给到分割的接触器，以便同时执行装载和卸载，并且对完成了测试的装置进行放电。往复单元的顶部安装有梭形凸轮块单元（400），并且改变了往复单元的间距。接触器驱动单元驱动一组的接触器并将半导体器件电接触到测试位置。接触器驱动单元通过将测试的半导体器件放置在穿梭单元上来驱动另一组的接触器并抓住要品尝的设备。（附图标记）（500）接触器转矩检测单元

20. 发明授权

KR101157186B1 테스트 소켓 내부의 더블 디바이스 방지 장치 및 그 제어 방법 有权
标题翻译：用于防止测试插座的双重设备的设备及其控制方法
公开(公告)号：KR101157186B1
公开(公告)日：2012-06-20
申请号：KR1020110007221
申请日：2011-01-25
申请人： (주)지컴
发明人： 신희성
IPC分类号： G01R31/26 , H01L21/66
摘要： PURPOSE: An apparatus for preventing double device of a test socket and a control method thereof are provided to previously detect whether materials remain inside a test socket of a handler or not. CONSTITUTION: An apparatus for preventing double device of a test socket comprises a handler(100) and a monitoring tester(200). The handler tests test materials transferred to the inside a test socket through a test unit and generates test results. After the test, the test materials are discharged through a material discharge unit, and a material sensing unit senses the test socket to confirm whether the test materials remain in the test socket or not. When the test materials remain in the test socket, next test materials are cut off, and the remaining test materials are re-discharged. The monitoring tester stores and manages the test and sensing results and monitors the handler in real-time.
摘要翻译：目的：提供一种用于防止测试插座的双重装置及其控制方法的装置，以预先检测材料是否保留在处理器的测试插座内。构成：用于防止测试插座的双重装置的装置包括处理器（100）和监视测试器（200）。处理器通过测试单元测试传输到测试插座内部的测试材料，并生成测试结果。测试结束后，测试材料通过材料放电单元排出，材料感测单元感测测试插座，以确认测试材料是否保留在测试插座中。当测试材料保留在测试插座中时，下一个测试材料被切断，剩余的测试材料被重新放电。监控测试仪存储和管理测试和感测结果，并实时监控处理程序。

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