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1. 发明专利

JP2021152653A 画像形成装置、画像形成方法および画像形成システム审中-公开
公开(公告)号：JP2021152653A
公开(公告)日：2021-09-30
申请号：JP2021042922
申请日：2021-03-16
申请人：株式会社リコー
发明人：大西一臣 , 中野智昭
IPC分类号： G03G21/14 , B41J29/38 , G01B3/22 , G01N21/47 , G01N21/27 , G03G15/00
摘要：【課題】多種多様な特性を持つ記録媒体に柔軟に適応して画像を形成する。【解決手段】測定された記録媒体の特徴情報を取得する特徴情報取得部と、前記特徴情報に、あらかじめ設定された算出基準を適用して、画像形成条件を算出する算出部と、前記算出部によって算出された前記画像形成条件に基づいて、前記記録媒体に画像を形成する画像形成部と、を備える画像形成装置である。【選択図】図14

2. 发明专利

JP2021113734A 測定器用の外部機器、測定装置及び測定方法审中-公开
公开(公告)号：JP2021113734A
公开(公告)日：2021-08-05
申请号：JP2020006302
申请日：2020-01-17
申请人：株式会社ミツトヨ
发明人：伊織圭亮 , 齋藤修
IPC分类号： G01B3/22 , G01B3/18 , G01B3/20 , G01D7/00
摘要：【課題】測定場所が暗所である場合に、測定器の測定値を読み取り易くすることを目的とする。【解決手段】測定器用の外部機器は、測定器が備える測定値出力部によって出力された前記測定器の測定値が入力される測定値入力部と、前記測定値入力部に入力された前記測定値を投影する投影部と、を備える。投影部は、測定場所の状況に応じて適宜用いることができる。暗所における測定時において、測定者が、測定器が備える表示部を視認し難い状態であっても、投影部によって測定値が投影されることで、測定者は、測定値を読み取ることができるようになる。【選択図】図4

3. 发明专利

JP2021071376A テストインジケータ审中-公开
公开(公告)号：JP2021071376A
公开(公告)日：2021-05-06
申请号：JP2019197918
申请日：2019-10-30
申请人：株式会社ミツトヨ
发明人：林田秀二
IPC分类号： G01B3/22
摘要：【課題】メカニカル累積誤差を最小に抑制し、検出精度が向上するテストインジケータを提供する。【解決手段】テストインジケータは、一端に測定子を有する測定アームと、測定アームの回動に連動して直線的に進退するように設けられた伝達軸部材と、伝達軸部材の進退に連動して直線的に進退する可動体を有するとともに可動体の変位を検出するリニアエンコーダと、可動体の変位を測定子の測定アームの軸線方向に垂直な方向の変位に換算する変位換算部と、変位換算部で求められた前記測定子の変位を表示する表示部と、を備える。【選択図】図3

4. 发明专利

JP2018021762A 測定器审中-公开
公开(公告)号：JP2018021762A
公开(公告)日：2018-02-08
申请号：JP2016151192
申请日：2016-08-01
申请人：株式会社ミツトヨ
发明人：庭野敦也
IPC分类号： G01B3/20 , G01B3/18 , G01B3/22
CPC分类号： G01D13/22 , G01B3/18 , G01B3/22 , G01B3/24 , G06F3/042 , G06F7/4983
摘要：【課題】設定操作を素早く簡便に行うことができる測定器を提供する。【解決手段】ケース110の外側面に設けられた表示部130に測定値をデジタル表示する測定器100において、ケースの外側面にはユーザが手動操作で入力する入力手段141を備える。入力手段は、操作量と、操作の速さと、を検出するセンサを有し、操作量は操作の速さを加味した換算によって換算値に変換されて表示部に表示される。入力手段は、手動操作で回転操作できる回転リングである。【選択図】図1

5. 发明专利

JP6224461B2 ゲージ検査治具有权
公开(公告)号：JP6224461B2
公开(公告)日：2017-11-01
申请号：JP2014001496
申请日：2014-01-08
申请人：株式会社ミツトヨ
发明人：足立浩一
IPC分类号： G01B5/00 , G01B3/22

6. 发明专利

JP5980642B2 測定器用照明装置有权
标题翻译：仪表照明设备
公开(公告)号：JP5980642B2
公开(公告)日：2016-08-31
申请号：JP2012222097
申请日：2012-10-04
申请人：株式会社ミツトヨ
发明人：林田秀二 , 庭野敦也
IPC分类号： G01B3/18 , G01B3/20 , G01B3/22 , G01D11/28

7. 发明专利

JP5749968B2 測定器の防塵構造有权
标题翻译：防尘结构的测量仪器
公开(公告)号：JP5749968B2
公开(公告)日：2015-07-15
申请号：JP2011099091
申请日：2011-04-27
申请人：株式会社ミツトヨ
发明人：林田秀二 , 新井里枝 , 大浦雄二
IPC分类号： G01B3/18 , G01B3/22 , G01B3/20 , G01D11/24
CPC分类号： G01D11/24

8. 发明专利

JP2015094681A 回動式半球型測定子有权
标题翻译：旋转式HEMISPHERICAL GAUGE HEAD
公开(公告)号：JP2015094681A
公开(公告)日：2015-05-18
申请号：JP2013234490
申请日：2013-11-13
申请人：株式会社城北工範製作所
发明人：塚原宥誼
IPC分类号： G01B3/22 , G01B3/20 , G01B3/18
摘要：【課題】既存のマイクロメータ、ノギス、或いはダイヤルゲージといった等と組み合わせることで、傾斜面を持つ部品の寸法を、容易に、且つ、正確に測定する回動式半球型測定子を提供する。【解決手段】半球部2と円筒部3とスピンドル固定部4からなり、円筒部3の一方は半球部2の球面部に当接し、円筒部3の他方はスピンドル固定部4を配置し、スピンドル固定部4は、マイクロメータ12のスピンドル7を挟持し、半球部2は、円筒部3に対して密着し、摺動可能であり、半球の中心を軸として回動することにより、傾斜面を持つ部品の寸法を容易に測定する。【選択図】図1
摘要翻译：要解决的问题：提供一种旋转半球形测量头，其能够通过与现有千分尺，卡钳或千分表结合而容易且精确地测量具有倾斜平面的部件的尺寸。解决方案：旋转半球形测量头包括半球形部分2，圆筒部分3和心轴固定部分4.圆柱形部分3的一端与半球形部分2的球形部分接触，圆柱形部分3的另一端具有心轴固定部分4。主轴固定部分4保持千分尺12的心轴7.半球形部分2可以在粘附到圆柱形部分3的同时滑动，并以其半球的中心为中心旋转，使得具有倾斜平面的部件的尺寸容易测量。

9. 发明专利

JP5687820B2 測定器有权
公开(公告)号：JP5687820B2
公开(公告)日：2015-03-25
申请号：JP2008271289
申请日：2008-10-21
申请人：株式会社ミツトヨ
发明人：佐々木　康二 , 康二佐々木
IPC分类号： G01B3/22 , G01B3/20 , G01B21/02
CPC分类号： G01B7/012 , G01B21/02

10. 发明专利

JP2014232065A 測定器有权
标题翻译：测量仪器
公开(公告)号：JP2014232065A
公开(公告)日：2014-12-11
申请号：JP2013113826
申请日：2013-05-30
申请人：株式会社ミツトヨ , Mitsutoyo Corp
发明人： MAEDA FUJIO , SAKUMA MITSUYOSHI
IPC分类号： G01B3/20 , G01B3/18 , G01B3/22
摘要：【課題】部材の摺動面の摩擦がより小さい測定器を提供する。【解決手段】測定器1は、第1の部材10aと、第1の部材10aに対して摺動するように設けられた第2の部材11と、第1の部材10aと第2の部材11との変位を示す表示部17と、を備え、第1の部材10aは第2の部材11と摺動する面である第1の摺動面を有し、第2の部材は第1の部材と摺動する面である第2の摺動面11f−hを有し、第1の摺動面及び第2の摺動面のうち一方か又は両方に微細周期構造が設けられたものである。【選択図】図1
摘要翻译：要解决的问题：提供一种具有比以前更小的部件的滑动面的摩擦的测量仪器。解决方案：测量仪器1包括第一部件10a，第二部件11，其设置成相对于第一部件10a滑动，以及用于显示第一部件10a和第二部件11之间的位移的显示部17.第一部件10a具有作为相对于第二部件11滑动的表面的第一滑动面，第二部件具有第二滑动面11f -h，其是与第一部件滑动的表面。第一滑动表面和第二滑动表面中的一个或两个设置有精细的周期性结构。

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