专利快速检索-快速检索全球专利，免费商用专利数据库-IPRDB

2. 发明专利

JP5186061B1 Method for inhibiting copper sulfide production in the oil-filled electrical equipment 有权
公开(公告)号：JP5186061B1
公开(公告)日：2013-04-17
申请号：JP2012525562
申请日：2011-11-30
申请人：三菱電機株式会社
发明人：福太郎加藤 , 栄一永尾 , 剛網本 , 悟外山 , 康太水野
IPC分类号： H01F41/00
CPC分类号： H01B3/20 , G01N33/2835 , G01N33/2858 , H01F27/12 , Y10T436/12 , Y10T436/18
摘要：本発明は、絶縁油中に硫化銅生成の抑制剤が添加された油入電気機器における硫化銅生成の抑制方法であって、前記絶縁油の特性のモニタリングを行い、前記モニタリングの結果に基づいて適切な時点で前記抑制剤の再添加を行うことを特徴とする、硫化銅生成の抑制方法である。
【選択図】図２

4. 发明专利

JPWO2009054155A1 油入電気機器の診断方法有权
公开(公告)号：JPWO2009054155A1
公开(公告)日：2011-03-03
申请号：JP2009537951
申请日：2008-04-16
申请人：三菱電機株式会社
发明人：外山　悟 , 悟外山 , 純二谷村 , 純二谷村 , 久勝瓦井 , 久勝瓦井 , 剛網本 , 剛網本
IPC分类号： H01F41/00 , G01N27/62 , G01N30/72 , G01N30/88 , H01F27/00
CPC分类号： G01N30/7206 , G01N33/287 , Y10T436/18 , Y10T436/182 , Y10T436/212 , Y10T436/24
摘要：硫化銅を生成することによる油入電気機器の異常を微量の絶縁油を用いても精度よく診断できる方法を実現する。絶縁油中に銅部品が設置された油入電気機器の異常を診断する油入電気機器の診断方法であって、油入電気機器の油中の、ビベンジルおよびジベンジルスルフィドのいずれかの化合物を検出し、その化合物の検出量に応じて前記油入電気機器の異常を診断する油入電気機器の診断方法とした。硫化銅を生成することによる油入電気機器の異常を特定の物質の検出により診断できるようにしたため、微量の絶縁油を用いても精度よく異常を診断できる。

5. 发明专利

JPWO2007108204A1 分析試料調製方法および分析試料ならびに糖鎖捕捉物質有权
公开(公告)号：JPWO2007108204A1
公开(公告)日：2009-08-06
申请号：JP2008506173
申请日：2007-03-13
申请人：住友ベークライト株式会社 , 国立大学法人北海道大学 , 国立大学法人北海道大学
发明人：秀行島岡 , 秀行島岡 , 洋光倉本 , 洋光倉本 , 西村　紳一郎 , 紳一郎西村 , 康郎篠原 , 康郎篠原 , 嘉晃三浦 , 嘉晃三浦 , 潤一古川 , 潤一古川
IPC分类号： C07K17/00 , C07K5/068 , G01N33/53 , G01N33/543 , G01N33/547
CPC分类号： C07K1/22 , C07B2200/05 , C07B2200/11 , C07C323/60 , C07K5/0806 , Y10T436/143333 , Y10T436/17 , Y10T436/18 , Y10T436/182 , Y10T436/25 , Y10T436/25125
摘要：生体試料から糖鎖捕捉物質により糖鎖および/または糖の誘導体を捕捉する反応を含む糖鎖捕捉段階と、糖鎖捕捉反応後の前記糖鎖捕捉物質から糖鎖および/または糖の誘導体を捕捉する部分を含む化合物を切り出して遊離させる切出段階とを含む分析試料調製方法。

6. 发明专利

JP2009520101A Luminescent metal oxide film 审中-公开
公开(公告)号：JP2009520101A
公开(公告)日：2009-05-21
申请号：JP2008547203
申请日：2006-01-20
申请人：エージェンシーフォーサイエンス, テクノロジーアンドリサーチ
发明人：エムリルモハメッドアリー， , ジャッキーワイ．イン， , シャオ−ホアユー，
IPC分类号： C09K11/00 , B82B1/00 , B82B3/00 , C09K11/02 , C09K11/54 , G01N21/78 , G01N33/53 , G01N33/532 , G01N33/542 , G01N33/543 , G01N33/553
CPC分类号： G01N33/542 , B82Y5/00 , C09K11/54 , G01N33/533 , G01N33/551 , Y10T436/147777 , Y10T436/16 , Y10T436/173845 , Y10T436/18 , Y10T436/19 , Y10T436/20 , Y10T436/201666 , Y10T436/203332
摘要：本発明は、さまざまな用途において有用なことがあるルミネセンス性膜を含む物品および方法に関する。本発明のルミネセンス性膜は、金属酸化物ナノ粒子の層を含んでよく、場合によって、分析物と相互作用して検出可能な信号を発生させることがあり、それによって、分析質の存在および／または分析質の量を測定することができる。実施態様によっては、ルミネセンス性膜と分析物との間で蛍光共鳴エネルギー移動（ＦＲＥＴ）が起ってよい。そのような物品および方法は、例えば生物アッセイまたはセンサにおいて有用なことがある。

7. 发明专利

JPWO2006016533A1 硫化カルボニル呈色剤、検知手段及び燃料電池システム审中-公开
公开(公告)号：JPWO2006016533A1
公开(公告)日：2008-05-01
申请号：JP2006531594
申请日：2005-08-05
申请人：出光興産株式会社
发明人：高津　幸三 , 幸三高津 , 竹越　岳二 , 岳二竹越
IPC分类号： G01N31/00 , G01N31/22
CPC分类号： G01N31/22 , H01M8/04089 , H01M8/0618 , H01M8/0675 , Y10T436/18 , Y10T436/182 , Y10T436/196666 , Y10T436/200833
摘要：セリウム成分、銀成分、銅成分、ニッケル成分及び鉄成分の中から選ばれる少なくとも一種の金属成分を金属酸化物に担持し、若しくはセリウム酸化物、銀酸化物、銅酸化物、ニッケル酸化物及び鉄酸化物の中から選ばれる少なくとも一種の金属酸化物を含有させて硫化カルボニル呈色剤を調製し、該呈色剤を用いて硫化カルボニルの検知手段を構築し、該検知手段を具備させて燃料電池システムとすることにより、常温においても硫化カルボニルにより呈色する能力を有し、炭化水素燃料中の硫化カルボニル呈色剤として優れた性能を示し、脱硫剤の寿命を視覚的に判別することができる硫化カルボニル呈色剤、該呈色剤を用いた硫化カルボニルの検知手段及び該検知手段を具備した燃料電池システムを提供する。

8. 发明专利

JP2005214827A Instrument and method for measuring impurity in gas 审中-公开
标题翻译：用于测量气体中的污染物的仪器和方法
公开(公告)号：JP2005214827A
公开(公告)日：2005-08-11
申请号：JP2004022936
申请日：2004-01-30
申请人： Toshiba Corp , 株式会社東芝
发明人： KATANO MAKIKO , NISHIKI KAZUHIRO
IPC分类号： G01N1/18 , G01N1/22 , G01N30/06 , G01N31/00
CPC分类号： G01N31/005 , G01N1/18 , G01N2001/2217 , Y10T436/18
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an instrument and a method for measuring impurities in gas capable of enhancing analytical precision by a simple measuring operation. SOLUTION: This instrument/method is provided with a capturing part for capturing impurities in gas into pure water, a dividing part for dividing a capturing solution captured by the capturing part into at least two, an oxidant addition part for adding an oxidant into at least either of the respective capturing solutions divided by the dividing part, and an analytical part for analyzing at least either of the capturing solution added with the oxidant or the capturing solution added with no oxidant. COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI
摘要翻译：要解决的问题：提供一种通过简单的测量操作提供能够提高分析精度的气体中的杂质的仪器和方法。解决方案：该仪器/方法设置有用于将气体中的杂质捕获到纯水中的捕获部分，用于将捕获部分捕获的捕获溶液分成至少两个的分割部分，用于添加氧化剂的氧化剂添加部分分解成由分割部分分割的各个捕获溶液中的至少一个，以及分析部分，用于分析添加有氧化剂的捕获溶液中的至少一种或不添加氧化剂的捕获溶液。版权所有（C）2005，JPO＆NCIPI

9. 发明专利

JP2004536227A Low-concentration gas increased stability, product and a method of manufacturing the same, including this 审中-公开
公开(公告)号：JP2004536227A
公开(公告)日：2004-12-02
申请号：JP2003514975
申请日：2002-07-15
申请人：レール・リキード−ソシエテ・アノニム・ア・ディレクトワール・エ・コンセイユ・ドゥ・スールベイランス・プール・レテュード・エ・レクスプロワタシオン・デ・プロセデ・ジョルジュ・クロード
发明人：ジャックシエー、トレイシー , ベネシュ、ロバート
IPC分类号： C23C8/06 , C23C16/04 , F17C1/10 , F17C3/12
CPC分类号： C23C16/045 , F17C1/10 , F17C3/12 , Y10T436/100833 , Y10T436/156666 , Y10T436/18 , Y10T436/182 , Y10T436/184 , Y10T436/186 , Y10T436/188
摘要：金属表面を不動態化する方法が記載され、この方法はｉ）前記金属表面をシリコン含有不動態化物質に曝す工程、ii）前記金属表面を排気する工程、iii）前記金属表面により運ばれるガスの意図された反応性ガス濃度よりも大きな反応性ガスの濃度を有するガス組成物に前記処理された表面を曝す工程、iv）実質的に全ての前記ガス組成物を除去するために前記金属表面を排気し、意図された濃度にある増加された貯蔵寿命の低濃度反応性ガスの維持を可能とする工程、及び、ｖ）前記意図された反応性ガス濃度にある前記反応性ガスに前記金属表面を曝す工程を含む。製品、高安定性流体およびその製造方法もまた記載されている。
【選択図】図１

10. 发明专利

JPS5853304B2 JPS5853304B2 - 失效
公开(公告)号：JPS5853304B2
公开(公告)日：1983-11-28
申请号：JP841578
申请日：1978-01-30
申请人： Barian Asosheitsu Inc
发明人： HOORU RUISU PATAASON
IPC分类号： F23N5/08 , G01J3/10 , G01N21/72 , G01N30/74
CPC分类号： G01N21/72 , Y10T436/16 , Y10T436/17 , Y10T436/18

你已经成功收藏专利！

检索式保存成功!

IPRDB

热门服务

关于我们

友情链接

联系方式