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1. 发明专利

JP2016042105A 質量分析計によって試料を迅速にスクリーニングするためシステムおよび方法有权
标题翻译：用质谱仪快速筛选样品的系统和方法
公开(公告)号：JP2016042105A
公开(公告)日：2016-03-31
申请号：JP2015255681
申请日：2015-12-28
申请人：ディーエイチテクノロジーズデベロップメントプライベートリミテッド
发明人：ロナルドボナー , スティーブンエー. テイト
IPC分类号： G01N27/62
CPC分类号： H01J49/0045 , H01J49/0027 , H01J49/0031 , H01J49/04
摘要：【課題】質量分析計によって試料を迅速にスクリーニングするためシステムおよび方法の提供。【解決手段】システムおよび方法は、試料を迅速にスクリーニングするために使用される。プロセッサを使用して、非クロマトグラフ的である高速試料導入デバイスが、複数の試料のうちの各試料をタンデム質量分析計に供給するように命令される。高速試料導入デバイスは、フローインジェクション分析デバイス、イオン移動度分析デバイス、または迅速な試料清浄デバイスを含むことができる。プロセッサを使用して、タンデム質量分析計が、複数の試料のうちの各試料のある質量範囲にわたって、2つ以上の質量選択窓において、断片化スキャンを実施するように命令される。質量範囲にわたる2つ以上の質量選択窓は、固定または可変の窓幅を有することができる。【選択図】図2
摘要翻译：要解决的问题：提供一种使用质谱仪快速筛选样品的系统和方法。解决方案：在用于快速筛选样品的系统和方法中，处理器用于给非色谱的命令高速试样引入装置将多个试样中的每一个提供给质谱仪。高速试样导入装置可以包括流动注射分析装置和离子迁移率分析装置或快速试样清洗装置。该处理器用于给串联质谱仪提供命令，以在两个或多个质量选择窗口内在包含多个样本中的相关标本的质量范围内完成碎片扫描。质量范围上的两个或更多个质量选择窗口可以具有固定的或可变的窗口宽度。选择图：图2

2. 发明专利

JP2020073900A 生成イオンスペクトルのデータ独立取得および参照スペクトルライブラリ照合审中-公开
公开(公告)号：JP2020073900A
公开(公告)日：2020-05-14
申请号：JP2020000308
申请日：2020-01-06
申请人：ディーエイチテクノロジーズデベロップメントプライベートリミテッド , エー・テー・ハー・チューリッヒ , ETH ZUERICH
发明人：ロナルドボナー , スティーブンテイト , ルドルフエベルゾルト , ペドロホセナバーロアルバレス , オリヴァーリナー , ルーカスライター , ルドウィチギレット
IPC分类号： G01N30/72 , H01J49/26 , H01J49/42 , G01N27/62
摘要：【課題】試料の全検出可能化合物の全生成イオンスペクトルの電子記録を作成するためのシステムを提供する。【解決手段】複数の生成イオンスキャンは、複数の質量選択窓210を使用して、ある質量範囲220にわたる単一の試料分析において1回以上タンデム質量分析計上で実施される。各質量選択窓に対する全検出可能化合物の全試料生成イオンスペクトルが生成される。各質量選択窓に対する全試料生成イオンスペクトルは、プロセッサを使用してタンデム質量分析計から受信される。各質量選択窓に対する全試料生成イオンスペクトルは、プロセッサを使用して試料の全検出可能化合物の電子記録として記録される。電子記録は、電子記録が記憶される時に既知の化合物を特徴づけるために使用され、電子記録が記憶された後、既知となった化合物を特徴づけるためにも使用される。【選択図】図2

3. 发明专利

JP2016057312A タンデム質量分析計において可変質量選択窓幅を用いるためのシステムおよび方法有权
标题翻译：使用可变质量选择窗口宽度在TANDEM MASS SPECTROMETRY中的系统和方法
公开(公告)号：JP2016057312A
公开(公告)日：2016-04-21
申请号：JP2015237437
申请日：2015-12-04
申请人：ディーエイチテクノロジーズデベロップメントプライベートリミテッド
发明人：ロナルドボナー , スティーブンエー. テイト
IPC分类号： H01J49/42 , G01N27/62
CPC分类号： H01J49/0081 , H01J49/0027 , H01J49/0031 , H01J49/004 , H01J49/0045
摘要：【課題】タンデム質量分析計において可変質量選択窓幅を用いるための好適なシステムおよび方法を提供すること。【解決手段】システムおよび方法は、可変質量選択窓幅を使用して試料を分析するために使用される。プロセッサを使用して、タンデム質量分析計は、異なる質量選択窓幅を用いて試料の少なくとも2回の断片化スキャンを実施するように命令される。タンデム質量分析計は、可変質量選択窓幅を可能にする質量分析器を含む。異なる質量選択窓幅の選択は、試料化合物の1つ以上の特性に基づくことができる。特性は、予期される化合物の分子量分布から計算される試料化合物分子量分布、または1つ以上の既知の化合物に対する分子量のリストから決定される試料化合物分子量分布を含み得る。タンデム質量分析計は、試料の少なくとも2回の断片化スキャンを実施するようにタンデム質量分析計に命令する前に試料の分析を実施するように命令されることもできる。【選択図】図2
摘要翻译：要解决的问题：提供适合在串联质谱中使用可变质量选择窗口宽度的系统和方法。解决方案：系统和方法用于使用可变质量选择窗口宽度来分析样品。指示串联质谱仪使用处理器对具有不同质量选择窗口宽度的样品进行至少两次碎片扫描。串联质谱仪包括质量分析器，允许质量选择窗口宽度可变。不同质量选择窗口宽度的选择可以基于样品化合物的一种或多种性质。性质可以包括根据预期化合物的分子量分布计算的样品化合物分子量分布，或由一种或多种已知化合物的分子量列表确定。也可以指示串联质谱仪在指示串联质谱仪执行样品的至少两次碎片扫描之前对样品进行分析。选择图：图2

8. 发明专利

JP2018059949A 生成イオンスペクトルのデータ独立取得および参照スペクトルライブラリ照合审中-公开
公开(公告)号：JP2018059949A
公开(公告)日：2018-04-12
申请号：JP2017255162
申请日：2017-12-29
申请人：ディーエイチテクノロジーズデベロップメントプライベートリミテッド , エー・テー・ハー・チューリッヒ , ETH ZUERICH
发明人：ロナルドボナー , スティーブンテイト , ルドルフエベルゾルト , ペドロホセナバーロアルバレス , オリヴァーリナー , ルーカスライター , ルドウィチギレット
IPC分类号： H01J49/26 , G01N27/62
CPC分类号： H01J49/0036 , G01N30/7233 , G16C20/20 , G16C20/90 , H01J49/0031 , H01J49/004 , H01J49/0045 , H01J49/42
摘要：【課題】生成イオンスペクトルのデータ独立取得および参照スペクトルライブラリ照合の提供。【解決手段】システムおよび方法は、試料の全検出可能化合物の全生成イオンスペクトルの電子記録を記憶するために使用される。複数の生成イオンスキャンは、複数の質量選択窓を使用して、ある質量範囲にわたる単一の試料分析において1回以上タンデム質量分析計上で実施される。各質量選択窓に対する全検出可能化合物の全試料生成イオンスペクトルが生成される。各質量選択窓に対する全試料生成イオンスペクトルは、プロセッサを使用してタンデム質量分析計から受信される。各質量選択窓に対する全試料生成イオンスペクトルは、プロセッサを使用して試料の全検出可能化合物の電子記録として記録される。電子記録は、電子記録が記憶される時に既知の化合物を特徴づけるために使用され、電子記録が記憶された後、既知となった化合物を特徴づけるためにも使用される。【選択図】図4

9. 发明专利

JP2015222275A 生成イオンスペクトルのデータ独立取得および参照スペクトルライブラリ照合有权
标题翻译：数据独立获取产品离子谱和参考光谱图书匹配
公开(公告)号：JP2015222275A
公开(公告)日：2015-12-10
申请号：JP2015168705
申请日：2015-08-28
申请人：ディーエイチテクノロジーズデベロップメントプライベートリミテッド , エー・テー・ハー・チューリッヒ , ETH ZUERICH
发明人：ロナルドボナー , スティーブンテイト , ルドルフエベルゾルト , ペドロホセナバーロアルバレス , オリヴァーリナー , ルーカスライター , ルドウィチギレット
IPC分类号： H01J49/26 , G01N27/62
CPC分类号： H01J49/0036 , G01N30/7233 , G06F19/709 , H01J49/0031 , H01J49/004 , H01J49/0045 , H01J49/42 , G06F19/703
摘要：【課題】生成イオンスペクトルのデータ独立取得および参照スペクトルライブラリ照合の提供。【解決手段】システムおよび方法は、試料の全検出可能化合物の全生成イオンスペクトルの電子記録を記憶するために使用される。複数の生成イオンスキャンは、複数の質量選択窓を使用して、ある質量範囲にわたる単一の試料分析において1回以上タンデム質量分析計上で実施される。各質量選択窓に対する全検出可能化合物の全試料生成イオンスペクトルが生成される。各質量選択窓に対する全試料生成イオンスペクトルは、プロセッサを使用してタンデム質量分析計から受信される。各質量選択窓に対する全試料生成イオンスペクトルは、プロセッサを使用して試料の全検出可能化合物の電子記録として記録される。電子記録は、電子記録が記憶される時に既知の化合物を特徴づけるために使用され、電子記録が記憶された後、既知となった化合物を特徴づけるためにも使用される。【選択図】図4
摘要翻译：要解决的问题：提供数据独立采集产品离子谱和参考光谱库匹配。解决方案：系统和方法用于存储样品全部可检测化合物的全品离子谱的电子记录。在样品质量范围内的单个样品分析中，使用多个质量选择窗口，在串联质谱仪上进行多次产品离子扫描。产生每个质量选择窗口的整个可检测化合物的整个样品产物离子光谱。使用处理器从串联质谱仪接收每个质量选择窗口的整个样品产物离子光谱。每个质量选择窗口的整个样品产物离子光谱使用处理器存储为样品的整个可检测化合物的电子记录。电子记录用于表征电子记录存储时已知的化合物或表征在电子记录存储之后已知的化合物。

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