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1. 发明专利

JP2014060537A Programmable logic device and method of verifying the same 有权
标题翻译：可编程逻辑器件及其验证方法
公开(公告)号：JP2014060537A
公开(公告)日：2014-04-03
申请号：JP2012203486
申请日：2012-09-14
申请人： Toshiba Corp , 株式会社東芝
发明人： HAMADA SHUJI , YOSHIDA NOBUAKI , KOJIMA ATSUSHI
IPC分类号： H03K19/177 , G01R31/28 , H01L21/82 , H01L21/822 , H01L27/04
CPC分类号： G01R31/3183 , G01R31/3177 , G01R31/318519 , H03K19/177 , H03K19/17764 , H03K19/17768
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a programmable logic device and a method of verification thereof which implement efficient verification as to whether internal states indicated by sequential circuits transition equivalently to a logic program in a hardware description language (HDL).SOLUTION: A programmable logic device 10 includes: an I/O section 17 for executing input/output of digital signals to implemented logic elements and the outside; generation sections 12 (12a, 12b, 12c, 12d) for acquiring internal state signals of the sequential circuits included in subregions 11 (11a, 11b, 11c, 11d) divided from the group of logic elements, and generating state information 13 (13a, 13b, 13c, 13d) in the units of the subregions 11; and a selective output section 14 for acquiring and selectively outputting to the outside the state information 13 from each subregion 11.
摘要翻译：要解决的问题：提供一种可编程逻辑器件及其验证方法，其实现对由等效电路指示的内部状态是否与硬件描述语言（HDL）中的逻辑程序等效转换的有效验证。解决方案：可编程逻辑设备10包括：用于执行数字信号到实现的逻辑元件和外部的输入/输出的I / O部分17; 生成部分12（12a，12b，12c，12d），用于获取从该组逻辑元件划分的子区域11（11a，11b，11c，11d）中包括的顺序电路的内部状态信号，并且生成状态信息13（13a， 13b，13c，13d）; 以及选择输出部分14，用于从每个子区域11获取和选择性地向外部输出状态信息13。

2. 发明专利

JP4580722B2 Test simulator and test simulation program 有权
公开(公告)号：JP4580722B2
公开(公告)日：2010-11-17
申请号：JP2004278582
申请日：2004-09-24
申请人：株式会社アドバンテスト
发明人：光男堀 , 秀樹多田 , 孝浩片岡
IPC分类号： G01R31/28
CPC分类号： G06F17/5022 , G01R31/3183 , G01R31/318357 , G06F11/263

3. 发明专利

JP4332179B2 Pattern compiler 有权
公开(公告)号：JP4332179B2
公开(公告)日：2009-09-16
申请号：JP2006519573
申请日：2005-05-23
申请人：株式会社アドバンテスト
发明人：エルストン、マーク , シング、ハーサンジート , プラマニック、アンカン , 善文田原 , 敏明足立
IPC分类号： G01R31/3183 , G01R31/319 , G06F11/26 , G06F17/50
CPC分类号： G01R31/31907 , G01R31/3183 , G01R31/318307 , G01R31/318342

4. 发明专利

JPWO2006064551A1 試験装置有权
公开(公告)号：JPWO2006064551A1
公开(公告)日：2008-06-12
申请号：JP2006519038
申请日：2004-12-14
申请人：敦章渋谷 , 敦章渋谷
发明人：敦章渋谷 , 敦章渋谷
IPC分类号： G01R31/28
CPC分类号： G01R31/31905 , G01R31/2889 , G01R31/3183 , G01R31/31924
摘要：電子デバイスを試験する試験装置であって、電子デバイスを試験するために予め定められた試験プログラムに基づいて制御信号を生成する制御部と、制御信号に基づいて、電子デバイスに供給する試験信号を生成する複数のテストモジュールと、複数のテストモジュールと対応して設けられ、対応するテストモジュールが生成した試験信号を、電子デバイスの予め定められたピンに供給するコネクタを有するデバイスインターフェースとを備え、電子デバイスに供給するべき電源電力を生成するテストモジュールは、複数のコネクタのうち予め定められたコネクタと接続されている場合に電源電力を出力し、予め定められたコネクタと接続されていない場合に電源電力を出力しない試験装置を提供する。

5. 发明专利

JP2007206073A Method and system for managing access to data store 审中-公开
标题翻译：管理访问数据存储的方法和系统
公开(公告)号：JP2007206073A
公开(公告)日：2007-08-16
申请号：JP2007019950
申请日：2007-01-30
申请人： Verigy (Singapore) Pte Ltd , ヴェリジー(シンガポール) プライベートリミテッドVerigy(Singapore)Pte.Ltd.
发明人： CARPENTER BRYAN F
IPC分类号： G01R31/28 , G06F11/22 , G06F12/00
CPC分类号： G01R31/318371 , G01R31/3183
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To speed up a test processing or generation of test data. SOLUTION: In one embodiment, a method for managing access to a data store includes: (1) instantiating one first priority thread and a plurality of second priority threads for execution by a processing system; (2) launching a data taking means on the first priority thread; (3) launching a plurality of data format means on at least one higher step than the plurality of second priority threads; (4) causing the data taking means to write data items in the data store; (5) monitoring a parameter of a data acquiring system; and (6) controlling execution of the second priority threads to the first priority thread in order to manage access to the data store and the data items therein by the plurality of data format means corresponding to the monitored parameter. Other embodiments are also disclosed. COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT
摘要翻译：要解决的问题：加快测试处理或生成测试数据。解决方案：在一个实施例中，一种用于管理对数据存储的访问的方法包括：（1）实例化一个第一优先级线程和多个第二优先级线程以供处理系统执行; （2）在第一线上启动数据采集手段; （3）在多个第二优先级线程的至少一个以上的步骤上发射多个数据格式装置; （4）使数据采集装置在数据存储器中写入数据项; （5）监视数据采集系统的参数; 以及（6）控制第二优先级线程的执行到第一优先级线程，以便通过对应于所监视的参数的多个数据格式装置来管理对数据存储及其数据项的访问。还公开了其他实施例。版权所有（C）2007，JPO＆INPIT

6. 发明专利

JP3921098B2 Test signal generating apparatus and method, as well as Poisson distribution error signal generator and generating method 有权
公开(公告)号：JP3921098B2
公开(公告)日：2007-05-30
申请号：JP2002044686
申请日：2002-02-21
申请人：テクトロニクス・インコーポレイテッドTektronix,Inc.
发明人：ディビッド・エイチ・エビイ
IPC分类号： H04L29/14 , G01R31/3183 , H04B3/46
CPC分类号： G01R31/318385 , G01R31/3183

7. 发明专利

JP2006090905A Test simulator and test simulation program 有权
标题翻译：测试模拟器和测试仿真程序
公开(公告)号：JP2006090905A
公开(公告)日：2006-04-06
申请号：JP2004278582
申请日：2004-09-24
申请人： Advantest Corp , 株式会社アドバンテスト
发明人： TADA HIDEKI , HORI MITSUO , KATAOKA TAKAHIRO
IPC分类号： G01R31/28
CPC分类号： G06F17/5022 , G01R31/3183 , G01R31/318357 , G06F11/263
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To shorten the time required for simulation tests.
SOLUTION: A test simulator simulating tests of semiconductor devices is provided, which is equipped with a test pattern holding means holding a pre-existing test pattern to be given to a semiconductor device, a device holding means holding preliminarily the output to be gained from the semiconductor device when the pre-existing test pattern are given, a test pattern generating means generating the new test pattern to be given to the semiconductor device, a test pattern determining means determining whether the new test pattern is the same as the pre-existing test pattern, and a simulation skipping means, in which, when the test pattern is the same as the pre-existing test pattern, by reading out the output to be the output for the new test pattern from the device output holding means, without giving any new test patterns to the semiconductor device, a part of simulation test at least can be skipped.
COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI
摘要翻译：要解决的问题：缩短模拟测试所需的时间。提供了一种模拟半导体器件测试的测试模拟器，其配备有将预先存在的测试图案保持在半导体器件上的测试图案保持装置，初步保持输出的装置保持装置当给出预先存在的测试图案时从半导体器件获得的测试图形产生装置产生要提供给半导体器件的新测试图案;测试图案确定装置，确定新的测试图案是否与预先存在的测试图案相同 - 现有测试图案和模拟跳过装置，其中当测试图案与预先存在的测试图案相同时，通过从设备输出保持装置读出作为新测试图案的输出的输出，不向半导体器件提供任何新的测试图案，至少可以跳过部分模拟测试。版权所有（C）2006，JPO＆NCIPI

8. 发明专利

JP5818762B2 プログラマブルロジックデバイス及びその検証方法有权
标题翻译：可编程逻辑器件及其验证方法
公开(公告)号：JP5818762B2
公开(公告)日：2015-11-18
申请号：JP2012203486
申请日：2012-09-14
申请人：株式会社東芝
发明人：浜田修史 , 吉田順陽 , 児島敦
IPC分类号： H01L21/82 , H01L21/822 , H01L27/04 , G01R31/28 , H03K19/177
CPC分类号： G01R31/3183 , G01R31/3177 , G01R31/318519 , H03K19/177 , H03K19/17764 , H03K19/17768

9. 发明专利

JP4752030B2 Semiconductor logic circuit device test vector generation method and test vector generation program of 有权
公开(公告)号：JP4752030B2
公开(公告)日：2011-08-17
申请号：JP2007528409
申请日：2006-07-12
申请人：国立大学法人九州工業大学
发明人：誠司梶原 , 暁青温
IPC分类号： G01R31/3183 , G01R31/28
CPC分类号： G01R31/3183 , G01R31/318547

10. 发明专利

JP4652977B2 Signal generator and a method for license management with the License Management Facility 有权
公开(公告)号：JP4652977B2
公开(公告)日：2011-03-16
申请号：JP2005517793
申请日：2005-02-08
申请人：アンリツ株式会社
发明人：成央熊木 , 達郎花屋
IPC分类号： G06F21/24 , G01R31/3183 , G06F21/00
CPC分类号： G06F21/105 , G01R31/3183 , G06F21/10

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