专利快速检索-快速检索全球专利，免费商用专利数据库-IPRDB

1. 发明专利

JPWO2006115207A1 骨密度計測装置审中-公开
公开(公告)号：JPWO2006115207A1
公开(公告)日：2008-12-18
申请号：JP2007514677
申请日：2006-04-21
申请人：国立大学法人金沢大学
发明人：田中　茂雄 , 茂雄田中 , 野川　雅道 , 雅道野川 , 山越　憲一 , 憲一山越
IPC分类号： A61B10/00 , G01N21/35
CPC分类号： A61B5/4509 , A61B5/0059 , G01N21/359 , G01N21/4795 , G01N21/49 , G01N2201/0623 , G01N2201/0627
摘要： [要約][課題] 小型・低価格の非侵襲的骨密度計測装置の提供[解決手段]骨密度計測装置の計測部は、保持体110に設置されている、近赤外光を発光する発光部120と、計測対象の骨を介して受光する受光部130とで構成されている。保持体110の間に、例えば、腕を挿入して、腕の骨による光の吸収度(吸光度)を計測することで、骨密度を計測する。発光部120、受光部130は、制御部140と接続されている。制御部140は、発光部120の発光を制御し、受光部130から計測値を入力し、骨密度として表示する。バックグランドからの光や、骨の厚さの違いによる影響等を除くために、2つの波長の吸光度の比を用いることが望ましい。2つの波長の光を得るために、2つの発光素子(LED)を用いたときでも、2つの発光素子を交互に発光させることにより、受光素子は1つでよい。[選択図]図1

2. 发明专利

JP2012524240A Apparatus for determining the moisture content of the target 有权
公开(公告)号：JP2012524240A
公开(公告)日：2012-10-11
申请号：JP2012504994
申请日：2010-04-16
申请人：ディットマールイブラッカーUBLACKER, Dietmar
发明人：イブラッカーディットマール
IPC分类号： G01N21/35
CPC分类号： G01N21/3554 , G01N21/15 , G01N21/3151 , G01N21/3559 , G01N2021/151 , G01N2201/062 , G01N2201/0623
摘要：ターゲット（１）の含水量を判定する装置であり、それぞれターゲット表面（１０）の方に向けられた少なくとも１つのターゲット放射線源（２）および少なくとも１つの基準放射線源（４）と、前記ターゲット表面に反射して戻ってくる放射線の強度を測定する少なくとも１つの検出素子（３）とを有し、使用時は、前記少なくとも１つのターゲット放射線源（２）、前記少なくとも１つの基準放射線源（４）および前記少なくとも１つの検出素子（３）が前記ターゲット表面（１０）とちょうど対面するように配置され、且つ空気またはガスを使用する加圧装置であって、前記少なくとも１つのターゲット放射線源（２）と前記ターゲット表面（１０）との間、および／または前記少なくとも１つの基準放射線源（４）と前記ターゲット表面（１０）との間、および／または前記ターゲット表面（１０）と前記少なくとも１つの検出素子（３）との間の光路の各領域において、空気またはガス雰囲気を人工的に流動させることが可能な加圧装置が配設されることを特徴とする装置。
【選択図】図２

3. 发明专利

JP2005156242A Photometer, and nonlinearity correction method therefor 有权
标题翻译：光电测量仪及其非线性校正方法
公开(公告)号：JP2005156242A
公开(公告)日：2005-06-16
申请号：JP2003392456
申请日：2003-11-21
申请人： Konica Minolta Sensing Inc , コニカミノルタセンシング株式会社
发明人： IMURA KENJI
IPC分类号： G01J3/02 , G01J1/04 , G01J1/08 , G01J1/16 , G01J1/42 , G01J1/44 , G01J3/18 , G01J3/28 , G01N21/27 , G01N21/31
CPC分类号： G01N21/274 , G01J1/08 , G01J1/1626 , G01J1/4228 , G01J2001/0481 , G01J2003/2866 , G01N21/31 , G01N2201/0623 , G01N2201/127 , G01N2201/12723
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To precisely and efficiently correct nonlinearity without requiring a special facility, in a photometer realized as a spectroluminance meter, a spectroscopic colormeter or the like. SOLUTION: An LED 24 for correction for light irradiation is provided in a light receiving sensor array 22, a computation control circuit 20 finds a correction value in each illuminance level, based on an expected sensor output level expected in the each illuminance level and an actual sensor output level, while lighting on in order at the plurality of illuminance levels with an at least known illuminance ratio, and corrects the sensor output level by the corresponding correction value in the actual measurement to serve as a measured output. The nonlinearity due to exponential-functional characteristics of a photosensor and an amplifier such as discontinuousness of input and output characteristics generated in association with switching of a gain of the amplifier for amplifying a photocurrent, and saturation of a photoelectric transfer characteristic of the photosensor is able to be corrected thereby without using large-scaled configuration such as a bench scale. COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI
摘要翻译：要解决的问题：为了精确有效地校正非线性而不需要特殊设备，在作为分光计，光谱仪等实现的光度计中。解决方案：在光接收传感器阵列22中设置用于光照射校正的LED24，计算控制电路20基于每个照度水平预期的预期传感器输出水平，求出每个照度水平的校正值以及实际的传感器输出电平，同时以至少已知的照度比在多个照度水平上依次点亮，并且将实际测量中的相应校正值校正为传感器输出电平，以作为测量输出。由于光电传感器和放大器的指数函数特性引起的非线性特性，例如与用于放大光电流的放大器的增益的切换和光电传感器的光电转移特性的饱和相关的输入和输出特性的不连续性，由此进行校正，而不使用诸如台秤的大规模配置。版权所有（C）2005，JPO＆NCIPI

4. 发明专利

JP5579254B2 Apparatus for determining the moisture content of the target 有权
公开(公告)号：JP5579254B2
公开(公告)日：2014-08-27
申请号：JP2012504994
申请日：2010-04-16
申请人：ディットマールイブラッカーUBLACKER, Dietmar
发明人：イブラッカーディットマール
IPC分类号： G01N21/3559
CPC分类号： G01N21/3554 , G01N21/15 , G01N21/3151 , G01N21/3559 , G01N2021/151 , G01N2201/062 , G01N2201/0623

5. 发明专利

JP4600573B2 Optical measuring device, and the wavelength calibration method of the optical detector and the optical measuring method 有权
公开(公告)号：JP4600573B2
公开(公告)日：2010-12-15
申请号：JP2009001233
申请日：2009-01-07
申请人：ソニー株式会社
发明人：慎悟今西 , 基裕古木
IPC分类号： G01N21/27 , G01N21/64
CPC分类号： G01N21/274 , G01N15/1434 , G01N21/05 , G01N21/645 , G01N2015/149 , G01N2021/0346 , G01N2021/6421 , G01N2201/0623
摘要： An optical measuring instrument includes: a flow channel for allowing a specimen to be circulated therein; a first light source including a light emitting diode for emitting light to be used for optical adjustment and/or image confirmation in the flow channel; a second light source for irradiating light upon the specimen circulated in the flow channel; and a light detector for detecting the spectrum intensity of the light emitted from the first and second light sources.

6. 发明专利

JP2010008397A Optical measuring instrument, and wavelength calibration method of optical detector and optical measuring method 有权
标题翻译：光学测量仪器和光学检测器的波长校准方法和光学测量方法
公开(公告)号：JP2010008397A
公开(公告)日：2010-01-14
申请号：JP2009001233
申请日：2009-01-07
申请人： Sony Corp , ソニー株式会社
发明人： IMANISHI SHINGO , FURUKI MOTOHIRO
IPC分类号： G01N21/27 , G01N21/64
CPC分类号： G01N21/274 , G01N15/1434 , G01N21/05 , G01N21/645 , G01N2015/149 , G01N2021/0346 , G01N2021/6421 , G01N2201/0623
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a compact instrument used for an optical system measuring method using a flow path, and a novel technology for easily calibrating a wavelength of a used optical detector. SOLUTION: The optical measuring instrument 1 used for the method for optically measuring a sample S flowing through the channel 11 includes the channel 11 for flowing the sample S, a first light source 12, having a light emitting diode (LED: Light Emitting Diode) for implementing an optical adjustment and/or an image confirmation within the channel, a second light source 13 for irradiating the sample flowing through the channel with a light, and the optical detector 14 for detecting spectrums emitted from the first and second light sources. COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT
摘要翻译：要解决的问题：提供一种用于使用流路的光学系统测量方法的紧凑型仪器，以及用于容易地校准所使用的光学检测器的波长的新技术。解决方案：用于光学测量流过通道11的样品S的方法的光学测量仪1包括用于使样品S流动的通道11，具有发光二极管的第一光源12（LED：光用于在通道内实现光学调节和/或图像确认的第二光源13，用于用光照射流过通道的样品的第二光源13和用于检测从第一和第二光发射的光谱的光学检测器14 源。版权所有（C）2010，JPO＆INPIT

7. 发明专利

JP3912366B2 Photometric device and its non-linearity correction method 有权
公开(公告)号：JP3912366B2
公开(公告)日：2007-05-09
申请号：JP2003392456
申请日：2003-11-21
申请人：コニカミノルタセンシング株式会社
发明人：健二井村
IPC分类号： G01J1/42 , G01J3/02 , G01J1/04 , G01J1/08 , G01J1/16 , G01J1/44 , G01J3/18 , G01J3/28 , G01N21/27 , G01N21/31
CPC分类号： G01N21/274 , G01J1/08 , G01J1/1626 , G01J1/4228 , G01J2001/0481 , G01J2003/2866 , G01N21/31 , G01N2201/0623 , G01N2201/127 , G01N2201/12723

你已经成功收藏专利！

检索式保存成功!

IPRDB

热门服务

关于我们

友情链接

联系方式