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1. 发明专利

JP2014163906A Fine particle analysis device 有权
标题翻译：精细粒子分析装置
公开(公告)号：JP2014163906A
公开(公告)日：2014-09-08
申请号：JP2013037736
申请日：2013-02-27
申请人： Hitachi Ltd , 株式会社日立製作所
发明人： TERADA KOICHI , SUGAYA MASAKAZU , KASHIMA HIDEO , NAGANO HISASHI , TAKADA YASUAKI , SATO HIROMI
IPC分类号： G01N1/02 , G01N1/22 , G01N15/00
CPC分类号： G01N33/0057 , G01N1/2202 , G01N1/2205 , G01N1/2273 , G01N15/00 , G01N2001/022 , G01N2001/2288 , Y02A50/25
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To achieve an explosive detecting device capable of maintaining high availability even in environment with many contaminants.SOLUTION: A plurality of collecting, heating, and evaporating filters 2 for collecting, heating and evaporating particulates and are prepared in advance. A device has a means for sequentially replacing the filters. Moreover, a preheating section 52 that preheats the filters before use is provided, and the area between the plurality of filters is sealed by a seal section.
摘要翻译：要解决的问题：实现即使在具有许多污染物的环境中也能够保持高可用性的爆炸检测装置。解决方案：用于收集，加热和蒸发微粒的多个收集，加热和蒸发过滤器2，并且预先制备。装置具有用于顺序地更换过滤器的装置。此外，设置了在使用前预热过滤器的预热部分52，并且多个过滤器之间的区域被密封部分密封。

2. 发明专利

JP2018512586A 微小粒子、特にナノチューブへの曝露を測定するための装置审中-公开
公开(公告)号：JP2018512586A
公开(公告)日：2018-05-17
申请号：JP2017549794
申请日：2016-03-23
申请人：スタットピールアーゲー
发明人：リューディビエリ , ステファノカッタネオ
IPC分类号： G01N21/65
CPC分类号： G01N21/658 , G01N1/2205 , G01N1/2273 , G01N15/06 , G01N15/0625 , G01N15/1434 , G01N2001/2276 , G01N2001/2288 , G01N2001/4088 , G01N2015/0038
摘要：ナノ粒子(N)への曝露を測定するために流体(F)中を運ばれたナノ粒子を収集するための収集装置(1)であって、前記収集装置(1)は、流体入口(3)及び流体出口(4)を有する流体ダクト(2)と、前記流体ダクト(2)を通って前記流体(F)を推進する流体推進要素(5)と、前記流体(F)中を運ばれたナノ粒子(N)を収集するために前記流体ダクト(2)内に配置される収集要素(7)を含み、前記収集要素(7)は、収集表面(8)と、前記収集表面(8)に接続して配置されている増強構造(9)とを含み、前記ナノ粒子(N)が前記収集表面(8)及び前記増強構造(9)の領域に堆積され、前記増強構造(9)を有する前記収集表面(8)は、収集されたナノ粒子(N)の量の手軽な分析のために、前記ナノ粒子(N)のスペクトル特性を増強する収集装置(1)。

3. 发明专利

JP2014531601A エアロゾルに含まれるナノ物体をその分析のためにサンプリング及び輸送する装置有权
标题翻译：采样和传输到装置用于包含在气溶胶中的纳米物体的分析
公开(公告)号：JP2014531601A
公开(公告)日：2014-11-27
申请号：JP2014533927
申请日：2012-10-05
申请人：コミッサリアアレネルジーアトミークエオゼネルジザルタナテイヴ , コミッサリアアレネルジーアトミークエオゼネルジザルタナテイヴ , ナノバッジ
发明人：シモン・クラヴァゲラ , エリック・デコラン , ギヨーム・エベール , ジャン−ループ・レシャタン , フランソワ・タルディフ
IPC分类号： G01N1/02
CPC分类号： B01L3/5023 , G01N1/2205 , G01N2001/2276 , G01N2001/2288
摘要：本発明は、ナノ物体をその分析のためにサンプリング及び輸送する装置に関連する。本発明によれば、装置のカセット部は、部品の組立位置において外部からアクセス可能ではないように構成されるクリッピング手段(11、110;21;210)をそれらの間に有する相互組立手段を有する2つの部品(1、2)で作られる。従って、カセットの都合の悪い開口、従ってカセット内に収容されるサンプリングフィルター(30)の分析のための場所以外での抜き取りが避けられる。
摘要翻译：本发明涉及纳米物体以用于采样的装置和输送用于分析物。根据本发明，该装置的盒单元，所述夹紧装置和具有相互组装部件的组装位置的外部，从而不能访问意味着其间具有（11，110; 210; 21）在两个部分（1,2）制成。因此，开口差方便盒，因此去除其它比位置为被容纳在盒卡内的采样过滤器（30）的分析被避免。

4. 发明专利

JP6278532B2 計量システム有权
公开(公告)号：JP6278532B2
公开(公告)日：2018-02-21
申请号：JP2015559718
申请日：2014-02-03
申请人：株式会社エー・アンド・デイ
发明人：出雲直人 , 笠松俊介
IPC分类号： G01G21/28 , G01G23/00
CPC分类号： G01N15/0618 , G01N1/2273 , G01N1/24 , G01N2001/2288 , G01N2001/245

6. 发明专利

JPWO2015114831A1 計量システム有权
公开(公告)号：JPWO2015114831A1
公开(公告)日：2017-03-23
申请号：JP2015559718
申请日：2014-02-03
申请人：株式会社エー・アンド・デイ
发明人：直人出雲 , 直人出雲 , 俊介笠松 , 俊介笠松
IPC分类号： G01G23/00 , G01G21/28
CPC分类号： G01N15/0618 , G01N1/2273 , G01N1/24 , G01N2001/2288 , G01N2001/245
摘要：危険かつ微小な粉体を、安定かつ安全に、容易に計量できる計量システムを提供する。計量システム10は、計量装置5が設置可能な作業空間3と、開放部134とエアー入口132とエアー出口133以外を閉塞して作業空間3を画成する封じ込め装置13と、温湿度制御装置11と、フィルタユニット12と、これらを接続する第1の接続手段14、第2の接続手段15、第3の接続手段16と、を備える。これにより、計量システム10は温湿度制御された空気が循環し、作業空間3には層流が流れ、作業空間3に浮遊する粉体は計量システム10内に確実に封じ込められる。

7. 发明专利

JP2018512581A 流体流中の粒子および気相の有機および非有機成分の能動的または受動的なサンプリングの方法审中-公开
公开(公告)号：JP2018512581A
公开(公告)日：2018-05-17
申请号：JP2017547111
申请日：2016-03-11
申请人：プロフタガレンアクチエボラグ , PROVTAGAREN AB
发明人：スカルピング,グンナル , ダレーネ,マリアン
IPC分类号： G01N1/22 , A61L9/01 , A61L9/16 , B01J20/20 , B01J20/22 , B01J20/26 , B01J20/28 , B01J20/34 , G01N1/02
CPC分类号： G01N1/2247 , G01N1/10 , G01N1/2205 , G01N1/2208 , G01N1/2214 , G01N1/2273 , G01N2001/1006 , G01N2001/2223 , G01N2001/227 , G01N2001/2288
摘要：流体流(4)中の粒子および気相の有機および非有機成分の能動的または受動的なサンプリングの方法および当該方法に使用するサンプリング装置が開示され、当該方法は、サンプリング装置が測定点に与えられるステップを含み、サンプリング装置が、第1デニューダ装置(1)、フィルタ装置(3)および第2デニューダ装置(2)を含み、これら装置がこの順序で直列に軸方向に配列されており、第1デニューダ装置(1)および第2デニューダ装置(2)の各々が、中空であり、かつ疎水性および/または親水性の吸着剤を備えた表面を含むか、または第2デニューダ装置(2)が、疎水性および/または親水性の吸着剤粒子の充填物を含む。【選択図】図1a

8. 发明专利

JP2017517735A 採取中に開放が固定されるカセットを備えた、エアロゾルに含まれるナノ物体を採取および移送するための組立体审中-公开
公开(公告)号：JP2017517735A
公开(公告)日：2017-06-29
申请号：JP2016571007
申请日：2015-06-03
申请人：ナノインスペクト
发明人：シモン・クラヴァゲラ , クリストフ・ブルアール , ギヨーム・エベール , エリック・デコラン , ラファエル・ドゥ・トゥリー , ベルトラン・フォール
IPC分类号： G01N1/02
CPC分类号： G01N1/2205 , G01N2001/2223 , G01N2001/2288
摘要：本発明は、ナノ物体を採取および移送するための組立体に関し、この組立体は、相互組立の手段およびフィルタを保持する手段が設けられ、組み立てられた構成において、フィルタが収容され保持される空所を定める第1の部品および第2の部品から成るカセットであって、相互組立の手段が、第1の部品に固定される第1のクリップ留め手段、および、第2の部品に固定され、2つの部品を一体にクリップ留めするように第1の手段と協働することができる第2のクリップ留め手段を備える、カセットと、吸引手段を備え、カセットを取り外し可能な手法で固定できる採取装置であって、クリップ留め手段が、カセットが装置に固定されている組み立てられた構成に上記部品があるときに、外部からアクセスできないように構成される、採取装置とを備える。

9. 发明专利

JP6002061B2 微粒子分析装置有权
标题翻译：颗粒分析仪
公开(公告)号：JP6002061B2
公开(公告)日：2016-10-05
申请号：JP2013037736
申请日：2013-02-27
申请人：株式会社日立製作所
发明人：寺田光一 , 菅谷昌和 , 鹿島秀夫 , 永野久志 , 高田安章 , 佐藤浩美
IPC分类号： G01N15/00 , G01N1/22 , G01N1/02
CPC分类号： G01N33/0057 , G01N1/2202 , G01N1/2205 , G01N1/2273 , G01N15/00 , G01N2001/022 , G01N2001/2288

10. 发明专利

JP2016136145A センサ审中-公开
标题翻译：传感器
公开(公告)号：JP2016136145A
公开(公告)日：2016-07-28
申请号：JP2016004641
申请日：2016-01-13
申请人：いすゞ自動車株式会社
发明人：内山正
IPC分类号： F01N3/00 , F01N3/023 , G01N15/08
CPC分类号： G01N15/02 , F01N2560/05 , G01M15/102 , G01N1/2205 , G01N1/2252 , G01N15/0255 , G01N15/0272 , G01N15/0618 , G01N15/0656 , G01N2001/2288 , G01N2015/0046
摘要：【課題】センサに関し、排気ガス中に含まれる粒径毎のPM量を連続的に推定する。【解決手段】排気ガス中の粒子状物質を捕集する複数のフィルタ部材を、排気ガス上流から下流へ気孔率が高い順に配置した粒子状物質捕集部30L,30M,30Sと、複数のフィルタ部材30L,30M,30Sのそれぞれにフィルタ部材30L,30M,30Sを挟んで対向配置される電極32,33と、一対の電極32,33間の静電容量変化量に基づいて、気孔率が異なるフィルタ部材30L,30M,30Sのそれぞれに捕集された粒子状物質量を、フィルタ部材毎にそれぞれ推定する推定部42〜44とを備える。【選択図】図2
摘要翻译：要解决的问题：提供一种传感器，用于连续地估计废气中包含的每个粒径的PM量。解决方案：传感器包括：颗粒物质收集单元30L，30M和30S，其是多个过滤器构件，收集废气中的颗粒物质，并以从废气上游到下游的孔隙率降序排列; 每个过滤器构件30L，30M和30S设置并设置在每个过滤构件30L，30M和30S的相对侧上的电极32和33; 以及估计单元42-44，用于基于一对电极32和33之间的电容变化来估计每个过滤器构件由具有不同孔隙率的每个过滤构件30L，30M和30S收集的颗粒物质量图2

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