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1. 发明专利

JP2018535401A サンプリング装置及び方法审中-公开
公开(公告)号：JP2018535401A
公开(公告)日：2018-11-29
申请号：JP2018516513
申请日：2016-09-30
申请人：スミスズディテクション−ワトフォードリミテッド
发明人：オリバーカークビー , アラステアクラーク , ブルースアレックコリングラント
IPC分类号： G01N27/62 , G01N1/00 , G01N1/02 , G01N1/22
CPC分类号： G01N1/38 , G01N1/2205 , G01N1/2211 , G01N1/44 , G01N27/622 , G01N2001/2223 , H01J49/0422
摘要：エアロゾルを検出する分析装置にサンプルを供給するための検出器入口であって、サンプリングすべきガス状流体のフローを分析装置によって吸入する吸入口と、ガス状流体のフローの第1部分を吸入口から混合領域に搬送する第1導管と、ガス状流体のフローの第2部分を吸入口から混合領域に搬送する第2導管と、及び第2部分より多く第1部分を加熱する構成にされたヒータとを備え、また検出器入口は、第1部分を混合領域で第2部分に合流させるよう構成されている。【選択図】図1

2. 发明专利

JPWO2015145546A1 物質検査装置、物質検査システム及び物質検査方法有权
公开(公告)号：JPWO2015145546A1
公开(公告)日：2017-04-13
申请号：JP2016509646
申请日：2014-03-24
申请人：株式会社日立製作所
发明人：菅谷　昌和 , 昌和菅谷 , 鹿島　秀夫 , 秀夫鹿島 , 光一寺田 , 光一寺田 , 高田　安章 , 安章高田 , 永野　久志 , 久志永野
IPC分类号： G01N1/02 , G01N1/00 , G01N1/28
CPC分类号： G01N1/2202 , G01N1/02 , G01N1/4022 , G01N35/0092 , G01N2001/022 , G01N2001/024 , G01N2001/2223 , G01N2001/4033 , H01J49/04
摘要：物質を検査するための装置において、省スペース化、低コスト化を実現するために、微粒子検査装置(100)は、検査対象となる物質を捕集する複数の捕集口(101)と、それぞれの捕集口(101)に対で接続され、この捕集口(101)で捕集された微粒子(10を濃縮する遠心分離装置(102)と、それぞれの遠心分離装置(102)に接続しており、遠心分離装置(102)の各々から濃縮された微粒子(10)を取得し、該微粒子(10)の分析を行う共通の分析装置(105)を備えることを特徴とする。

3. 发明专利

JP2016529476A エアロゾル粒径分布を得るための方法审中-公开
标题翻译：获得气溶胶粒径分布的方法
公开(公告)号：JP2016529476A
公开(公告)日：2016-09-23
申请号：JP2016520453
申请日：2014-06-17
申请人：パーティクル・メージャーリング・システムズ・インコーポレーテッド
发明人：ザカールゴルブノフ，ボリス , ザカールゴルブノフ，ボリス
IPC分类号： G01N15/02 , G01N1/02
CPC分类号： G01N27/622 , G01N1/2202 , G01N15/0255 , G01N15/0266 , G01N15/10 , G01N2001/2223 , G01N2015/0038 , G01N2015/0046 , G01N2015/0288 , G01N2015/1087
摘要：本発明は、微分型移動度分析器(DMA)を含む走査型移動度粒径測定器(SMPS)装置でエアロゾル粒径分布を得るための方法であって、(i)第1のシース流量Qsh1にて、SMPSのDMAカラムへの印加電圧をVminからVt1まで変化させることによって、所定の最小サイズDminから中間サイズDtまでのサイズ範囲についての粒子濃度対サイズの第1のデータセットを収集する工程と、(ii)シース流量を第1のシース流量Qsh1から第2のシース流量Qsh2に変更する工程と、(iii)第2のシース流量Qsh2にて、SMPSのDMAカラムへの印加電圧をVt2からVmaxまで変化させることによって、中間サイズDtから所定の最大サイズDmaxまでのサイズ範囲についての粒子濃度対サイズの第2のデータセットを収集する工程と、(iv)DMAの装置関数と工程(ii)におけるシース流量Qsh1およびQsh2とを用いて、工程(i)の第1のデータセットを畳み込む工程と、(v)工程(iv)の畳み込まれたデータセットを、工程(iii)の第2のデータセットと結合して、DminからDmaxまでのサイズ分布に対応するマージされたデータセットを形成する工程と、(vi)マージされたデータセットを逆畳み込みして、全サイズ範囲Dmin〜Dmaxについてのサイズ分布を得る工程と、を含む方法を提供する。また、上記方法を実施するように設定されたDMA、SMPS、または高速移動度粒径測定器(FMPS)装置も提供する。【選択図】なし
摘要翻译：本发明提供了用于获得气溶胶粒度分布微分迁移率分析仪扫描包括（DMA）流动性粒度仪（SMPS）装置的方法，（i）第一鞘流Qsh1 在，通过改变从Vmin时，收集粒子浓度相对于尺寸为尺寸范围的第一组数据从预定的最小尺寸的Dmin到中间尺寸DT的步骤中施加到DMA柱SMPS以Vt1的电压当从第一鞘改变（II）的鞘流的步骤流Qsh1第二鞘流Qsh2中，（iii）以一第二鞘流Qsh2，施加到从所述Vt2的DMA柱SMPS的电压通过改变为Vmax时，并获取颗粒浓度的第二数据集与大小尺寸范围从中间尺寸申到预定的最大尺寸的Dmax，（ⅳ）DMA装置的功能和步骤（ii）通过使用鞘流Qsh1和Qsh2在步骤中，第一（i）的卷积数据集的步骤中，数据集卷积对应于从所述的Dmin尺寸分布的Dmax（ⅴ）步骤（iv）中，在与步骤的第二数据集组合（iii）中，合并形成数据集，通过设置（ⅵ）合并的数据的反卷积，该方法包括获得用于整个尺寸范围的Dmin Dmax的〜，所述的尺寸分布的步骤。此外，其被配置为执行上述方法，SMPS或快速移动性粒度仪（FMPS）设备DMA，它也被提供。系统技术领域

4. 发明专利

JP5975100B2 微粒子分級測定装置、粒子濃度分布が一様なサンプル作成装置、及びナノ粒子膜成膜装置有权
标题翻译：粒子分类测量装置，样品制备装置的颗粒浓度分布是均匀的，和纳米颗粒的成膜装置
公开(公告)号：JP5975100B2
公开(公告)日：2016-08-23
申请号：JP2014520016
申请日：2013-06-04
申请人：株式会社島津製作所
发明人：奥田浩史
IPC分类号： G01N27/60 , G01N15/02
CPC分类号： G01N15/0266 , B03C3/017 , B03C3/08 , B03C3/12 , B03C3/38 , B03C3/41 , B03C3/47 , G01N1/2202 , G01N15/0606 , G01N15/0656 , G01N2001/2223 , G01N2015/0038 , G01N2015/0046

5. 发明专利

JP2015134325A 粒子分離装置、及びそれを備えた粒子測定器有权
标题翻译：颗粒分离器和具有分离器的颗粒测量装置
公开(公告)号：JP2015134325A
公开(公告)日：2015-07-27
申请号：JP2014007034
申请日：2014-01-17
申请人：シャープ株式会社
发明人：加茂友規 , 西川昌之 , 矢内章博
IPC分类号： G01N1/02 , G01N15/00 , G01N15/06 , B07B7/02
CPC分类号： B07B7/02 , G01N1/2202 , G01N15/02 , G01N2001/2223 , G01N2015/0046
摘要：【課題】粒子分離装置のサイズを小型化した場合であっても、主流路を流れる粗大粒子が支流路側へ逆流することを防止する。【解決手段】主流路(5b)は、分岐部(A)側の入口から末端出口(B)へ至る流路の少なくとも一部において、流路拡張部(5d)を有し、流路拡張部(5d)において、気流が通過する気流通過面積(S)は、分岐部(A)側から末端出口(B)側へ向かうに従って漸次的に増大している。【選択図】図2
摘要翻译：要解决的问题：为了提供一种颗粒分离器，其中即使在颗粒分离器的尺寸小的情况下，也可以防止在主流路中流动的粗颗粒流回分支通道。解决方案：主流路（5b）在从分支连接（A）侧的入口到端部出口（B）的通道的至少一部分中具有流路扩张部（5d）。在流路扩张部（5d）中，空气流通过的空气流路面积S从分支连接（A）侧向端部出口（B）侧逐渐扩大。

6. 发明专利

JP5574250B2 Particle sensor which flow rate is monitored 有权
公开(公告)号：JP5574250B2
公开(公告)日：2014-08-20
申请号：JP2012526897
申请日：2010-08-24
申请人：パーティクル・メージャーリング・システムズ・インコーポレーテッド
发明人：トーマスベイツ，
IPC分类号： G01N1/24 , G01F1/36 , G01N15/06
CPC分类号： G01N1/24 , G01F1/363 , G01N1/2273 , G01N15/06 , G01N2001/2223 , G01N2001/244 , G01N2001/245

7. 发明专利

JP5112553B1 Particle detecting device 有权
公开(公告)号：JP5112553B1
公开(公告)日：2013-01-09
申请号：JP2011197196
申请日：2011-09-09
申请人：シャープ株式会社
发明人：英明藤田 , 春樹上山 , 一志藤岡 , 大樹奥野
IPC分类号： G01N21/64
CPC分类号： G01N21/6486 , G01N1/2202 , G01N15/0612 , G01N15/10 , G01N21/645 , G01N2001/2223 , G01N2015/0046 , G01N2015/0065 , G01N2021/6421 , G01N2021/6463 , G01N2201/062
摘要：【課題】生物由来の粒子から発せられる蛍光の検出感度を向上できる、粒子検出装置を提供する。
【解決手段】生物由来の粒子１０１を検出する粒子検出装置は、主表面１１を有し、主表面１１上に生物由来の粒子１０１を捕集する基板１０と、主表面１１上に捕集された粒子１００に励起光ＥＬを照射する発光素子２１と、発光素子２１からの励起光ＥＬを粒子１００に照射したとき粒子１００から発する蛍光Ｆを受光する受光素子３４とを備える。フレネルレンズ３２の光軸と、励起光ＥＬの光線方向ＯＤ１とは交差している。主表面１１は鏡面である。
【選択図】図５

8. 发明专利

JP2010164561A Device for determining concentration of solid particle 有权
标题翻译：确定固体颗粒浓度的装置
公开(公告)号：JP2010164561A
公开(公告)日：2010-07-29
申请号：JP2010002637
申请日：2010-01-08
申请人： Avl List Gmbh , アー・ファウ・エル・リスト・ゲゼルシャフト・ミト・ベシュレンクテル・ハフツング
发明人： KNOPF FRANZ , PONGRATZ HELMUT , BERGMANN ALEXANDER
IPC分类号： G01N1/22
CPC分类号： G01N1/2247 , G01N1/2252 , G01N15/06 , G01N2001/2223 , G01N2001/2264
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To constitute or improve a device of a kind determined in the first place for allowing simple array control for a wide measuring domain.
SOLUTION: This device includes a pre-diluter (6), a downstream heated evaporator (7), a secondary diluter (8) positioned downstream of the evaporator (7), and a particle counter (5) connected to the secondary diluter. The secondary diluter (8) is formed as a 'porous tube diluter' and arranged between the outlet of the evaporator (7) and a stabilization chamber (14), from which the sample flow is branched off for the particle counter (5) from the stabilization chamber. With it, the concentration of the solid particles can be measured easily and controllably within a wide range without any corruption as a result of volatile aerosol particles.
COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT
摘要翻译：要解决的问题：为了构成或改进首先确定的类型的装置，以允许对宽测量域进行简单的阵列控制。解决方案：该装置包括预稀释器（6），下游加热蒸发器（7），位于蒸发器（7）下游的次级稀释器（8）和连接到二次蒸发器的颗粒计数器（5）稀释。第二稀释器（8）形成为“多孔管稀释器”并且布置在蒸发器（7）的出口和稳定室（14）之间，样品流从该分散器分支用于颗粒计数器（5）稳定室。由此，固体颗粒的浓度可以在宽范围内容易且可控地测量，而不会由于挥发性气溶胶颗粒而导致任何腐蚀。版权所有（C）2010，JPO＆INPIT

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