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1. 发明专利

JP2018085330A 照明装置审中-公开
公开(公告)号：JP2018085330A
公开(公告)日：2018-05-31
申请号：JP2017204332
申请日：2017-10-23
申请人：オスラムゲーエムベーハー , OSRAM GmbH
发明人：マーティンダニエルズ
IPC分类号： F21V23/00 , F21V25/00 , F21V9/00 , F21W102/00 , F21W131/10 , F21W131/406 , F21Y115/30 , F21S2/00
CPC分类号： F21K9/64 , F21S41/16 , F21S41/176 , F21S41/285 , F21S45/70 , F21V5/008 , F21V5/04 , F21V7/04 , F21V13/04 , F21V23/0457 , F21Y2113/13 , F21Y2115/10 , F21Y2115/30 , G01J1/4257 , G01J1/58 , G01N21/88
摘要：【課題】一次光ビームを発生する半導体光源と、一次光を二次光へ変換する蛍光体ボリュームと、を有する照明装置において、蛍光体ボリュームの不具合を検出する手段を提供する。【解決手段】第1の一次光ビームPS1を発生する第1の半導体光源2と、第2の一次光ビームPS2を発生する第2の半導体光源3と、一次光P1、P2を二次光Sへ変換する蛍光体ボリューム7と、一次光ビームPS1,PS2を蛍光体ボリューム7上に偏向させる第1の偏向素子10aと、第2の偏向素子10bと、第1の光センサ11、12と、第2の光センサ13、14と、を備える。第1の偏向素子10aは、第1の一次光ビームPS1に対して部分透過性であり、第1の光センサ11、12には、第1の偏向素子10aを透過した、一次光ビームPS1の成分が照射可能であり、第2の光センサ13、14には、蛍光体ボリューム7によって放射可能な光P1、P2、Sが照射可能である。【選択図】図1

3. 发明专利

JP2017539078A 製造プロセスラインに沿ったウェハの放射線および温度暴露を測定するための方法およびシステム审中-公开
公开(公告)号：JP2017539078A
公开(公告)日：2017-12-28
申请号：JP2017519616
申请日：2015-10-13
申请人：ケーエルエー−テンカーコーポレイション , ケーエルエー−テンカーコーポレイション
发明人：メイサン , メイサン , アールジェンセン , アールジェンセン , ケヴィンオブライエン , ケヴィンオブライエン
IPC分类号： H01L21/66 , G01J1/00 , G01J1/02 , G01K1/14
CPC分类号： G01J1/429 , G01J1/0204 , G01J1/0271 , G01J1/0407 , G01J1/58 , G01J5/04 , G01J5/0818 , G01J5/10 , H01L21/67248 , H01L21/67253 , H01L22/10
摘要：放射線強度および温度を測定するための測定ウェハデバイス100が、1つ以上の空洞104を具備するウェハ組立体102を含む。測定ウェハデバイス100は、検出器組立体103をさらに含む。検出器組立体103は、ウェハ組立体102の1つ以上の空洞104内に配置される。検出器組立体103は、1つ以上の光センサ106を含む。検出器組立体103は、ウェハ組立体102の表面上に入射する紫外光101の強度の直接または間接的な測定を行うようにさらに構成される。検出器組立体103は、1つ以上の光センサ106の1つ以上の特性に基づいてウェハ組立体102の1つ以上の部分の温度を判定するようにさらに構成される。

4. 发明专利

JP2017515151A リソグラフィ装置用のダイヤモンドベースの監視装置、およびダイヤモンドベースの監視装置を備えるリソグラフィ装置有权
公开(公告)号：JP2017515151A
公开(公告)日：2017-06-08
申请号：JP2016562556
申请日：2015-04-21
申请人：エーエスエムエルネザーランズビー.ブイ. , エーエスエムエルネザーランズビー.ブイ.
发明人：ゴッドフリード，ヘルマン，フィリップ
IPC分类号： G03F7/20 , G01J1/02
CPC分类号： G01J1/58 , G01J1/4257 , G01J1/429 , G03F7/70558 , G03F7/70616 , G03F7/7085
摘要：監視装置および関連する監視装置を備えるリソグラフィ装置が開示される。監視装置は、第1波長の第1放射を監視するために構成される。監視装置は、第1放射を吸収し、かつ第1放射を表す第2放射を放出するように構成されたダイヤモンド蛍光材料を備える第1センサ装置であって、第2放射は第2波長を有する、第1センサ装置と、第2放射を検知するように構成された第2センサ装置と、を備える。【選択図】図4

5. 发明专利

JP6125611B2 感光性触覚センサ有权
公开(公告)号：JP6125611B2
公开(公告)日：2017-05-10
申请号：JP2015506279
申请日：2013-03-28
申请人：コミッサリアアレネルジーアトミークエオゼネルジザルタナテイヴ
发明人：アブデルカデル・アリアンヌ , モハメド・ベンワディ , ティフェーヌ・カルド
IPC分类号： G06F3/042 , G06F3/041
CPC分类号： G01L1/16 , G01J1/02 , G01J1/58 , G06F3/0414 , G06F3/042 , H03K17/9627 , H03K17/964 , H03K2217/94106

6. 发明专利

JP2014522578A Cmos image sensor built-ir up-conversion equipment infrared imaging apparatus incorporating the 有权
公开(公告)号：JP2014522578A
公开(公告)日：2014-09-04
申请号：JP2014514568
申请日：2012-06-06
申请人：ユニバーシティーオブフロリダリサーチファウンデーション,インコーポレイテッドUniversity Of Florida Research Foundation,Inc. , ナノホールディングス,リミテッドライアビリティーカンパニーNanoholdings,LLC
发明人：ソ，フランキー , キム，ドヨン , プラダーン，バーベンドラ，ケイ．
IPC分类号： H01L27/14 , H04N5/33 , H04N5/369 , H04N5/374
CPC分类号： H04N5/33 , G01J1/58 , H01L27/14649 , H01L27/288 , H01L51/4253 , H01L51/442 , H01L51/5056 , H01L51/5088 , H01L51/5096 , H04N5/374
摘要：撮像装置は、ＣＭＯＳ画像センサー（ＣＩＳ）上にＩＲアップコンバージョン装置を含む。このアップコンバージョン装置は、透明な多層スタックを含む。この多層スタックは、透明な陽極と透明な陰極との間に配置されるＩＲ感知層および発光層を含む。本発明の一部の実施形態では、多層スタックは、機械的固定具または接着剤または積層によりＣＩＳに結合される透明な支持物上に形成される。本発明の別の実施形態では、ＣＩＳは、多層スタック形成のための支持基板としても機能する。

8. 发明专利

JP2013228366A Radiation detector and radiation detection system 审中-公开
标题翻译：辐射检测器和辐射检测系统
公开(公告)号：JP2013228366A
公开(公告)日：2013-11-07
申请号：JP2013020324
申请日：2013-02-05
申请人： Canon Inc , キヤノン株式会社
发明人： OKADA SATOSHI , SARUTA HISASHIRO
IPC分类号： G01T7/00 , G01T1/20
CPC分类号： G01J1/42 , G01J1/0295 , G01J1/58 , G01J2001/086 , G01T1/24
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a small-sized radiation detector which is unaffected by the noise due to a power supply for a light source and which achieves the reduction in the attenuation of light due to a component.SOLUTION: A radiation detector includes: a substrate; a pixel area which is provided on the substrate and which is composed of equal to or more than one pixel including a sensor element; and a light source. The light source is arranged on the side of the pixel area on the substrate and also outside the pixel area. The light from the light source enters the sensor element.
摘要翻译：要解决的问题：提供一种小尺寸的辐射检测器，其不受由于光源的电源的噪声的影响，并且实现由于部件而导致的光的衰减的降低。解决方案：辐射检测器包括：底物; 像素区域，其设置在所述基板上并且由等于或大于包括传感器元件的一个像素构成; 和光源。光源布置在基板上的像素区域的侧面上，并且还设置在像素区域的外部。来自光源的光线进入传感器元件。

9. 发明专利

JP2013526702A An optical system built-in hand piece for photothermal radiometry and luminescence measurement 有权
标题翻译：空值
公开(公告)号：JP2013526702A
公开(公告)日：2013-06-24
申请号：JP2013509417
申请日：2011-05-13
申请人：クアンタムデンタルテクノロジーズインコーポレイテッドQuantum Dental Technologies Inc.
发明人：チョン，ジンソク , マンデリス，アンドレアス , アブラムス，スティーヴン , マトヴィエンコ，アンナ , シヴァグルナサン，コネスウォラン , シルバータウン，ジョッシュ , ヘレン，アダム
IPC分类号： G01J5/00 , A61B1/00 , A61B1/24 , A61B10/00 , A61N5/06 , A61N5/067 , G01N21/63 , G01N21/64
CPC分类号： G01J5/10 , A61B1/00177 , A61B1/05 , A61B1/24 , A61B5/0088 , A61B5/0093 , A61B6/14 , A61B2018/202 , A61B2560/0233 , G01J1/0233 , G01J1/58 , G01J3/0272 , G01J5/048 , G01N21/63 , H04N7/18
摘要：対象上の光熱測定を実施するための装置が提供される。ハンドピースとして設けられ得る装置は、レーザと、赤外線検出器と、二色性ビームスプリッタと、被測定対象にレーザビームを照射しかつそこから光熱放射を集光するためのフォーカシングおよびビーム指向用オプティクスとを含む光学構成部品を収容する。光学構成部品の一部は、内部光学構成部品の受動ヒートシンク用の熱伝導性の先端部分に直接取り付けられている光学ベンチに設けられてもよい。装置は、サンプリング光学素子と、ルミネセンスを検出するための光検出器と、診断の最中に対象の画像を得るためのカメラとをさらに含み得る。装置は、歯の口腔健康状態を判断するために歯を走査するために用いられ得る。
【選択図】図４
摘要翻译：提供了一种用于对物体进行光热测量的装置。可以设置为手持件的装置容纳光学部件，包括激光器，红外检测器，二向色分束器以及聚焦和光束引导光学器件，用于将激光束传送到光热辐射和从其中收集光热辐射测量对象。一些光学部件可以设置在光学台上，其直接附接到用于内部光学部件的被动散热的导热末端部分。该装置还可以包括用于检测发光的采样光学元件和光电检测器，以及用于在诊断过程期间获得物体的图像的照相机。该装置可用于扫描牙齿以确定牙齿的口腔健康状况。

10. 发明专利

JP2013019729A Image capturing apparatus, method for controlling image capturing apparatus, three-dimensional measuring apparatus, and program 有权
标题翻译：图像捕获设备，控制图像捕获设备的方法，三维测量设备和程序
公开(公告)号：JP2013019729A
公开(公告)日：2013-01-31
申请号：JP2011152342
申请日：2011-07-08
申请人： Canon Inc , キヤノン株式会社
发明人： ANDO TOSHINORI
IPC分类号： G01B11/00 , G01B11/25 , G06T1/00
CPC分类号： G01J1/58 , G01B11/00 , G01B11/25 , H04N13/0271
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an image capturing apparatus capable of highly accurately calculating an intersection of luminance distributions with little sampling, without making a sampling pitch finer.SOLUTION: An image capturing apparatus includes: a projection part for projecting a first pattern or a second pattern each having bright portions and dark portions as projection patterns onto an object; and an image capturing part for causing an image of the object on which the projection pattern is projected to be formed in an image capturing device as a luminance distribution. The luminance distribution has a first luminance value corresponding to the bright portions and a second luminance value corresponding to the dark portions. The first pattern and the second pattern have overlap portions at which positions of the bright portions or positions of the dart portions overlap. A first luminance distribution corresponding to the first pattern and a second luminance distribution corresponding to the second pattern have an intersection at which the luminance values thereof become the same at the overlap portions. A luminance value of the intersection becomes different from an average value of the first luminance value and the second luminance value by a predetermined value.
摘要翻译：解决的问题：提供一种能够高精度地计算少量采样的亮度分布的交点的图像捕获装置，而不使采样间距更精细。解决方案：一种摄像装置，包括：投影部，用于将具有亮部和暗部的第一图案或第二图案作为投影图案投射到物体上; 以及图像捕获部分，用于使在其上投影有投影图案的对象的图像形成在图像捕获装置中作为亮度分布。亮度分布具有对应于亮部的第一亮度值和对应于暗部的第二亮度值。第一图案和第二图案具有重叠部分，在该重叠部分处，凸起部分的亮部或位置的位置重叠。对应于第一图案的第一亮度分布和对应于第二图案的第二亮度分布具有在重叠部分处其亮度值变得相同的交点。交点的亮度值与第一亮度值和第二亮度值的平均值不同，达预定值。版权所有（C）2013，JPO＆INPIT

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