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1. 发明专利

JP6135090B2 光電センサ有权
公开(公告)号：JP6135090B2
公开(公告)日：2017-05-31
申请号：JP2012233404
申请日：2012-10-23
申请人：オムロン株式会社
发明人：大前壮司 , 権藤清彦 , 飯田雄介
IPC分类号： H03K17/78 , G01V8/12
CPC分类号： G01B11/00 , G01J1/18 , G01S17/026 , G01S7/4816 , G01S7/493 , G01S7/51 , G01V8/10

3. 发明专利

JPWO2014020967A1 共焦点顕微鏡又は多光子顕微鏡の光学系を用いた光分析装置、光分析方法及び光分析用コンピュータプログラム有权
标题翻译：共焦显微术或多光子显微镜光学分析器使用所述光学分析方法的光学系统和光学分析的计算机程序
公开(公告)号：JPWO2014020967A1
公开(公告)日：2016-07-21
申请号：JP2014528026
申请日：2013-05-16
申请人：オリンパス株式会社
发明人：山口　光城 , 光城山口
IPC分类号： G01N21/64
CPC分类号： G01J1/18 , G01B11/14 , G01N21/6458 , G01N2001/282 , G01N2035/0493 , G02B21/00 , G02B21/0048 , G02B21/0076 , G02B21/06 , G02B21/26 , G02B27/1006
摘要：走査分子計数法、FCS、FIDA、PCH等の光分析技術のための共焦点顕微鏡又は多光子顕微鏡の光学系を用いた光分析技術に於いて、光強度の計測前に光学系に於いて予定される状態が実現されているか否かの判定を可能にする技術が提供される。本発明による試料溶液中に配置された光検出領域からの光強度を計測し光強度の分析を行う光分析技術に於いては、試料容器に対する光検出領域の位置を移動させながら光検出器により出力された信号強度の大きさに基づいて、光検出領域が試料溶液中に配置され且つ光検出領域からの光強度の計測が実行可能であるか否か及び/又は光強度の計測が実行可能である試料容器に対する前記光検出領域の位置又はその範囲を判定する判定処理が実行される。
摘要翻译：使用光学系统的光学分析技术PCH等的光强度的测量之前扫描分子计数法，FCS，FIDA，在共聚焦显微镜或多光子显微镜光学分析技术，将在光学系统条件是允许它是否实现提供确定的技术。它是在从根据本发明，当移动所述光检测区域的位置相对于所述试样容器的光检测器设置在试样溶液中的光检测区域测量的光强度用于分析所述光强度的光分析技术基于所述输出信号强度的大小，在光检测区域是是否和/或在样品溶液是可行的光强度的测量可以执行光强度的测量从布置和光检测区域被执行用于确定所述光检测区域的位置或范围相对于所述试样容器确定处理。

4. 发明专利

JP5926772B2 スイッチングダイオードの光放射の変換を利用した光検出装置およびその方法有权
标题翻译：使用开关二极管的光学辐射的光转换检测装置和方法
公开(公告)号：JP5926772B2
公开(公告)日：2016-05-25
申请号：JP2014126316
申请日：2014-06-19
申请人：ピナクルイメージングコーポレーション
发明人：ヴァニューシンイーゴリヴァレリエヴィッチ , クリムコヴィッチアントングリゴリエヴィッチ , ヴォロディンエウゲニーボリソヴィッチ
IPC分类号： H03M1/56 , H01L27/146 , H04N5/3745
CPC分类号： G01J1/44 , G01J1/18 , H01L27/14609 , G01J2001/186 , G01J2001/446 , H03M1/34

5. 发明专利

JP5822026B2 受光パワーモニタの校正装置及び校正方法有权
标题翻译：校准的装置和方法，用于校准光功率监视
公开(公告)号：JP5822026B2
公开(公告)日：2015-11-24
申请号：JP2014530518
申请日：2013-08-01
申请人：日本電気株式会社
发明人：野村林太郎
IPC分类号： H04B10/075 , H04B10/66 , G01J1/44 , H03M1/12 , H03M1/10
CPC分类号： G01J1/18 , G01J1/44 , H03M1/1038 , H04B10/69 , G01J2001/186 , G01J2001/444 , G01J2001/4466

6. 发明专利

JP5495864B2 Photoelectric conversion device 有权
标题翻译：空值
公开(公告)号：JP5495864B2
公开(公告)日：2014-05-21
申请号：JP2010050767
申请日：2010-03-08
申请人：キヤノン株式会社
发明人：秀央小林
IPC分类号： H01L31/10
CPC分类号： G01J1/42 , G01J1/18 , G01J1/44 , H01L31/02019 , H01L31/035272 , H01L31/103 , H03F3/08

7. 发明专利

JP5305387B2 Light detecting device, and image display device 有权
公开(公告)号：JP5305387B2
公开(公告)日：2013-10-02
申请号：JP2008325516
申请日：2008-12-22
申请人：セイコーインスツル株式会社
发明人：俊彦近江 , 太郎中田
IPC分类号： G01J1/44 , G09F9/00 , H01L31/10
CPC分类号： H01L31/101 , G01J1/02 , G01J1/0209 , G01J1/0214 , G01J1/0488 , G01J1/18 , G01J1/32 , G01J1/4204 , G01J1/4228 , G01J1/44 , G02F2201/58
摘要： Provided is a photodetection device which is small in size and has excellent sensitivity. The photodetection device (10) puts cathode terminals of photodiodes (1 and 2) having different spectral characteristics, or a photodiode (1) provided with an optical filter and a photodiode (2) provided with a light shield layer, into an open end state, and detects light intensity of a desired wavelength region according to a difference in electric charges that have been stored in those photodiodes in a given period of time. Since the photodiodes 1 and 2 store electric charges, even if a photocurrent is small, it is possible to store the photocurrent to obtain the electric charges required for detection, permitting achievement of downsizing and high detection performance of the semiconductor device on which the photodiodes 1 and 2 are formed. It is also possible to realize a wide dynamic range by making the electric charge storage time variable according to the light intensity, to suppress electric power consumption by intermittently driving an element required for differential detection at the time of differential detection, and to reduce an effect from flicker by averaging the output.

8. 发明专利

JP5302678B2 By reducing the thermal damage to the inspection system by avoiding saturation of the detector and the circuit, a system for extending the detection range, circuit, method 有权
公开(公告)号：JP5302678B2
公开(公告)日：2013-10-02
申请号：JP2008521588
申请日：2006-07-12
申请人：ケーエルエー−テンカーコーポレイション
发明人：ウォルターズ，クリスチャン・エイチ , ロマノフスキー，アナトリー , スロボドフ，アレキサンダー
IPC分类号： G01N21/956 , H01J43/30 , H03K17/945
CPC分类号： G01N21/9501 , G01J1/18 , G01N21/8851 , H01J43/30
摘要： Inspection systems, circuits and methods are provided to enhance defect detection by addressing anode saturation as a limiting factor of the measurement detection range of a photomultiplier tube (PMT) detector. Inspection systems, circuits and methods are also provided to enhance defect detection by addressing saturation levels of the amplifier and analog-digital circuitry as a limiting factor of the measurement detection range of an inspection system. In addition, inspection systems, circuits, and methods are provided to enhance defect detection by reducing thermal damage to large particles by dynamically altering the incident laser beam power level supplied to the specimen during a surface inspection scan.

9. 发明专利

JP2013134381A Light beam detection circuit, light beam scanning unit, and image forming apparatus 有权
标题翻译：光束检测电路，光束扫描单元和图像形成装置
公开(公告)号：JP2013134381A
公开(公告)日：2013-07-08
申请号：JP2011284637
申请日：2011-12-27
申请人： Sharp Corp , シャープ株式会社
发明人： MATSUMOTO KAZUTAKA
IPC分类号： G02B26/10 , B41J2/44 , H04N1/113
CPC分类号： G03G15/043 , B41J2/44 , G01J1/18 , G01J2001/186 , G02B26/10 , G02B26/127 , G06K15/1219 , H04N1/113
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a light beam detection circuit which is capable of accurately detecting a passage timing of a light beam and of reducing costs, and a light beam emission unit and an image forming apparatus which include the same.SOLUTION: A light beam detection circuit 3A includes: a detection signal generation unit which receives a light beam scanning a body 101A to be scanned, by one optical sensor 10 to generate a detection signal according to an amount of received light; a reference signal output unit 44 which outputs a reference signal proportional to a light amount control signal of a light emitting element LD1 emitting the light beam; and a synchronizing signal generation unit 35 which compares the detection signal generated by the detection signal generation unit with the reference signal outputted by the reference signal output unit 44 to generate a synchronizing signal for determining a position where scanning of the light beam on the body 101A to be scanned should be started.
摘要翻译：要解决的问题：提供一种能够精确地检测光束的通过定时并降低成本的光束检测电路，以及包括其的光束发射单元和图像形成装置。解决方案：一种光光束检测电路3A包括：检测信号生成单元，其通过一个光学传感器10接收扫描要扫描的主体101A的光束，以根据接收的光量产生检测信号; 参考信号输出单元44，其输出与发射光束的发光元件LD1的光量控制信号成比例的参考信号; 以及同步信号生成单元35，其将由检测信号生成单元生成的检测信号与基准信号输出单元44输出的基准信号进行比较，生成用于确定在主体101A上的光束进行扫描的位置的同步信号应进行扫描。

10. 发明专利

JP2013043639A Method and apparatus for identifying self-emitting object and reflecting object 审中-公开
标题翻译：用于识别自发射对象和反射对象的方法和装置
公开(公告)号：JP2013043639A
公开(公告)日：2013-03-04
申请号：JP2012184369
申请日：2012-08-23
申请人： Robert Bosch Gmbh , ローベルトボツシユゲゼルシヤフトミツトベシユレンクテルハフツングRobert Bosch Gmbh
发明人： FABER PETKO
IPC分类号： B60Q1/04
CPC分类号： G01J1/18 , G06K9/00825
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To improve a method and apparatus for identifying objects due to the prior arts.SOLUTION: The method for identifying a self-emitting object and a reflecting object in irradiating the object with a headlight within the detection range of a camera 106 of a vehicle 100 comprising at least one headlight 104 includes the steps of: receiving the relative position of the object with respect to the vehicle and the luminance value of the object from the camera; comparing the luminance value with a self-emission value estimated at the relative position and/or a reflection value estimated at the relative position; classifying the object as a self-emitting object when the luminance value is settled within an allowable self-emission range around a self-emitting value, and classifying the object as a reflecting object when the luminance value is within an allowable reflection range around the reflection value.
摘要翻译：要解决的问题：改进由于现有技术而识别物体的方法和装置。解决方案：在包括至少一个头灯104的车辆100的照相机106的检测范围内用用于识别自发射物体和反射物体的方法，包括以下步骤：接收物体相对于车辆的相对位置和来自照相机的物体的亮度值; 将亮度值与在相对位置处估计的自发光值进行比较和/或在相对位置处估计的反射值; 当亮度值在自发光值附近的允许自发射范围内稳定时，将物体分类为自发射物体，并且当亮度值在反射周围的允许反射范围内时，将物体分类为反射物体值。版权所有（C）2013，JPO＆INPIT

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