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1. 发明专利

JP2020161527A 光学キット、及び、光学装置审中-公开
公开(公告)号：JP2020161527A
公开(公告)日：2020-10-01
申请号：JP2019056343
申请日：2019-03-25
申请人：浜松ホトニクス株式会社
发明人：道垣内龍男 , 河田陽一
IPC分类号： H01S5/14
摘要：【課題】出力光の位置及び方向を容易に調整可能とする光学キット、及び、光学装置を提供する。【解決手段】レーザ光L1を出力するレーザ光源101の外部共振器を含む光学系を構成するための光学キット10であって、主面11sを含むベース11と、主面11sに設けられ、光学系を保持するための保持部と、を備える。保持部は、レンズ102を保持するための保持部12、コーナーリフレクタ103を保持するための保持部13、アイリス106〜108を保持するための保持部16〜18と、を有する。保持部13は、コーナーリフレクタ103の全体を主面11sに沿って回動可能に保持する第1機構21と、反射型回折格子104及びミラー105のそれぞれにおいて、回折光L2の光軸を調整可能とする第2機構22と、含む。【選択図】図1

2. 发明专利

JP6646519B2 全反射分光計測装置及び全反射分光計測方法有权
公开(公告)号：JP6646519B2
公开(公告)日：2020-02-14
申请号：JP2016101709
申请日：2016-05-20
申请人：浜松ホトニクス株式会社
发明人：河田陽一
IPC分类号： G01N21/552 , G01N21/3586

3. 发明专利

JP2019039706A トンネル電流制御装置およびトンネル電流制御方法审中-公开
公开(公告)号：JP2019039706A
公开(公告)日：2019-03-14
申请号：JP2017160107
申请日：2017-08-23
申请人：浜松ホトニクス株式会社
发明人：河田陽一 , 高橋宏典 , 武田淳 , 片山郁文 , 嵐田雄介 , 吉岡克将
IPC分类号： G01Q60/10
摘要：【課題】テラヘルツ波パルスの遠方場の電場波形から近接場の電場波形への変換を可能にし、トンネル電流を精度よく制御できる装置および方法を提供する。【解決手段】トンネル電流制御装置1は、光源11、分岐部12、チョッパ13、光路長差調整部14、偏光子15、テラヘルツ波発生素子20、CEP調整部30、テラヘルツ波検出素子40、1/4波長板51、偏光分離素子52、光検出器53a,53b、差動増幅器54、ロックイン増幅器55、電流測定部60、処理部70、ミラーM1〜M6、軸外し放物面鏡M7,M8を備える。CEP調整部30は、テラヘルツ波パルスのCEPを任意に調整できる。処理部70は、電流測定部60により測定されたトンネル電流と、テラヘルツ波検出素子40により検出された相関とに基づいて、近接場の電場波形への変換に用いる変換フィルタを求める。【選択図】図1

4. 发明专利

JP2017207446A 全反射分光計測装置及び全反射分光計測方法审中-公开
公开(公告)号：JP2017207446A
公开(公告)日：2017-11-24
申请号：JP2016101709
申请日：2016-05-20
申请人：浜松ホトニクス株式会社
发明人：河田陽一
IPC分类号： G01N21/552 , G01N21/3586
CPC分类号： G01J3/14 , G01J3/0224 , G01J3/28 , G01J3/42 , G01J3/447 , G01N21/255 , G01J2001/4242
摘要：【課題】被測定物がない状態での計測と、被測定物がある状態での計測とで時間間隔が空いた場合であっても、光源のパワーの変動の影響を受けずに光学定数を導出することができる全反射分光計測装置を提供する。【解決手段】全反射分光計測装置は、テラヘルツ波を発生させるテラヘルツ波発生部と、全反射面に被測定物が配置される内部全反射プリズムと、テラヘルツ波を検出する検出部と、テラへルツ波の電場ベクトルを計測する電場ベクトル計測部と、電場ベクトルに基づいて被測定物の光学定数に関する情報を取得する解析部と、を備え、テラヘルツ波のS偏光成分及びP偏光成分の互いの比率は一定であり、解析部は、全反射面に被測定物が配置されていないときに計測された電場ベクトルのS偏光成分とP偏光成分との比と、被測定物が配置されているときに計測された電場ベクトルのP偏光成分とS偏光成分との比とに基づいて光学定数に関する情報を取得する。【選択図】図3

5. 发明专利

JP2016205987A 分光計測装置有权
标题翻译：分光测量装置
公开(公告)号：JP2016205987A
公开(公告)日：2016-12-08
申请号：JP2015087407
申请日：2015-04-22
申请人：浜松ホトニクス株式会社
发明人：河田陽一 , 清水良幸 , 山内豊彦
IPC分类号： G01N21/27
CPC分类号： G01J3/0229 , G01J3/42 , G01J2003/1213
摘要：【課題】安価な構成で高速計測が可能な分光計測装置を提供する。【解決手段】分光計測装置1は、光源10、回折格子20、空間フィルタ部30、検出部40および解析部50を備える。回折格子20は、光源10から出力された光を空間的に分光して波長によって異なる光路へ光を出力する。空間フィルタ部30は、回折格子20から出力された光を波長によって異なる位置に入力し、波長に応じた損失を該光に与えて該光を出力する。検出部40は、空間フィルタ部30から出力された光の強度を検出する。解析部50は、検出部40による検出結果に基づいて、光源10と検出部40との間の光路上に配置された被測定試料90中の成分の吸収帯域および非吸収帯域それぞれの光の強度を求めて、被測定試料90を成分について評価する。【選択図】図1
摘要翻译：提供能够以廉价的结构进行高速测量的分光测定装置。分光测定装置1具备：光源10，衍射光栅20，空间滤波部30中，检测单元40和分析单元50。衍射根据输出的光从光源10在空间光谱波长光栅的光20个输出到不同的光路。空间滤波部30中，从衍射光栅20进入依赖于波长的不同位置输出的光，并输出具有波长的光的光损耗给予。检测器40检测来自空间滤波单元30的输出光的强度。基于由所述检测单元40的检测结果的分析单元50，吸收带和样品的非吸收带各个光分量的强度，以90来测量设置在光源10和检测器之间的光学路径上40 寻道来评估部件所测量的样品90。点域1

6. 发明专利

JP5957294B2 プリズム部材、テラヘルツ波分光計測装置、及びテラヘルツ波分光計測方法有权
标题翻译：棱镜构件，太赫兹波分光测量装置和太赫兹波分光法
公开(公告)号：JP5957294B2
公开(公告)日：2016-07-27
申请号：JP2012121923
申请日：2012-05-29
申请人：浜松ホトニクス株式会社
发明人：秋山高一郎 , 安田敬史 , 河田陽一 , 中西篤司
IPC分类号： G01N21/3581
CPC分类号： G01N21/3586 , G01N21/3581

7. 发明专利

JP2020166225A テラヘルツ波用光学素子及びその製造方法审中-公开
公开(公告)号：JP2020166225A
公开(公告)日：2020-10-08
申请号：JP2019163975
申请日：2019-09-09
申请人：浜松ホトニクス株式会社 , 帝人株式会社
发明人：河田陽一 , 高橋宏典 , 池田吉紀 , 添田淳史
IPC分类号： B32B15/085 , G02B1/111
摘要：【課題】テラヘルツ波に対して良好な透過性を示す反射防止膜を有するテラヘルツ波用光学素子及びその製造方法を提供する。【解決手段】テラヘルツ波用光学素子は、シリコン表面を有する光学部品と、シクロオレフィン系ポリマーを主成分とする有機樹脂、及び当該有機樹脂に分散される無機粒子を有する反射防止膜と、反射防止膜の厚さ方向において光学部品および反射防止膜の間に位置し、光学部品のシリコン表面および反射防止膜を接着する接着層と、を備える。接着層は、熱変性されたオレフィン系ポリマーを含む。【選択図】図1

8. 发明专利

JP6498957B2 CEP制御装置およびCEP制御方法有权
公开(公告)号：JP6498957B2
公开(公告)日：2019-04-10
申请号：JP2015029399
申请日：2015-02-18
申请人：浜松ホトニクス株式会社
发明人：河田陽一
IPC分类号： G02B5/30 , G02B27/28

9. 发明专利

JP6470625B2 分光計測装置有权
公开(公告)号：JP6470625B2
公开(公告)日：2019-02-13
申请号：JP2015087407
申请日：2015-04-22
申请人：浜松ホトニクス株式会社
发明人：河田陽一 , 清水良幸 , 山内豊彦
IPC分类号： G01N21/27

10. 发明专利

JP2016099310A 電場ベクトル検出方法及び電場ベクトル検出装置有权
标题翻译：电场矢量检测方法和电场矢量检测装置
公开(公告)号：JP2016099310A
公开(公告)日：2016-05-30
申请号：JP2014238687
申请日：2014-11-26
申请人：浜松ホトニクス株式会社
发明人：河田陽一 , 安田敬史 , 高橋宏典
IPC分类号： G01N21/21 , H01S1/02 , G02F1/35 , G01N21/3581
摘要：【課題】信号処理を複雑化させることなくテラヘルツ波の電場ベクトルを高速かつ精度良く検出できる電場ベクトル検出方法及び電場ベクトル検出装置を提供する。【解決手段】この電場ベクトル検出方法では、テラヘルツ波Tを検出するテラヘルツ波検出素子5として光学的等方媒質の(111)面を切り出した電気光学結晶を用い、超短パルス光であるプローブ光Laの偏光状態を偏光調整部12によって断面内に偏光分布を有するベクトルビームとし、ベクトルビームとなったプローブ光Laをテラヘルツ波検出素子5に入射してテラヘルツ波Tをプローブし、テラヘルツ波Tをプローブした後のプローブ光Laを二次元光検出器6で検出し、二次元光検出器6での検出結果に基づいてテラヘルツ波Tの電場ベクトルを検出する。【選択図】図1
摘要翻译：要解决的问题：提供一种电场矢量检测方法和电场矢量检测装置，其可以执行高频和精确检测太赫兹波的电场矢量而不使信号处理复杂化。解决方案：电场矢量检测方法使用通过切割光学各向同性介质（111）的小面而获得的电光晶体作为检测太赫兹波T的太赫兹波检测元件5，使探测光La的极化状态成为超短脉冲光通过偏振调整单元12在横截面内具有偏振分布的矢量光束将已经成为矢量光束的探测光La注入太赫兹波检测元件5中以探测太赫兹波T，探测探测光La 通过二维光检测器6的太赫兹波T，并且基于检测res检测太赫兹波T的电场矢量通过二维光学检测器6。选择图：图1

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