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1. 发明专利

JP6843778B2 物体の表面検査装置有权
公开(公告)号：JP6843778B2
公开(公告)日：2021-03-17
申请号：JP2018004536
申请日：2018-01-15
申请人：株式会社東芝
发明人：神川卓大 , 大野博司 , 羽藤武宏
IPC分类号： G01B11/30 , G01N21/88

2. 发明专利

JP2021048461A 光学撮像装置审中-公开
公开(公告)号：JP2021048461A
公开(公告)日：2021-03-25
申请号：JP2019168959
申请日：2019-09-18
申请人：株式会社東芝
发明人：大野博司 , 加納宏弥 , 岡野英明 , 神川卓大
IPC分类号： G03B15/00 , G03B11/00 , G01S7/481 , H04N5/225
摘要：【課題】同一方向からの光束を用いて、同時に複数の像を得ることが可能な光学撮像装置を提供することである。【解決手段】実施形態によれば、光学撮像装置は、同一方向からの光束を用いて、第1偏光成分の第1光線、及び、第1偏光成分とは異なる第2偏光成分の第2光線を得る偏光子アセンブリと、偏光子アセンブリに向かい合う位置にあり、第1偏光成分の像、及び、第2偏光成分の像を取得可能な偏光イメージセンサーと、偏光イメージセンサーに像を結像させる第1レンズを有するレンズアセンブリとを有する。【選択図】図2

3. 发明专利

JP2015069176A 画像表示装置审中-公开
标题翻译：图像显示设备
公开(公告)号：JP2015069176A
公开(公告)日：2015-04-13
申请号：JP2013205872
申请日：2013-09-30
申请人：株式会社東芝
发明人：長谷川裕 , 立田真一 , 高峯英文 , 岡野英明 , 神川卓大
IPC分类号： G03B35/00
CPC分类号： G02B27/2214 , G02B7/004 , G02B7/023 , G09F15/0087 , G09F19/14 , G09F7/20
摘要：【課題】簡易な構造で位置合わせを容易にする画像表示装置を提供する。【解決手段】実施形態の画像表示装置は、視差毎の複数の画像を合成した合成画像を印刷装置で印刷された記録媒体と、複数のシリンドリカルレンズが並んで構成され、合成画像をそれぞれの視差の方向に分離して表示するレンチキュラーレンズと、記録媒体とレンチキュラーレンズの相対的な位置を調整する位置調整機構と、を有する画像表示装置であって、位置調整機構が、記録媒体とレンチキュラーレンズの少なくともどちら一方の傾き角度を変化可能とする傾き調整部と、記録媒体とレンチキュラーレンズの少なくともどちらか一方を、シリンドリカルレンズの境界線と略垂直の方向に移動可能とする左右調整部と、を備え、傾き調整部と左右調整部は、独立に調整可能であって、左右調整部の一部に、傾き調整部の回転中心を有し、回転中心を基準に、傾き角度を変化可能とすることを特徴とする。【選択図】図3
摘要翻译：要解决的问题：提供一种能够简化配置的图像显示装置。解决方案：图像显示装置包括：通过在其上打印合成图像而形成的记录介质，其中每个视差的多个图像是由打印机合成; 具有多个柱面透镜的双凸透镜，其布置并显示所述合成图像以沿每个视差的方向分离; 以及用于调节记录介质和双凸透镜的相对位置的位置调节机构。位置调整机构包括能够使记录介质和双凸透镜中的至少一个的倾斜角度变化的倾斜调节部以及能够使记录介质和双凸透镜中的至少一个在一个方向基本上垂直于柱面透镜的边界。倾斜调整部和横向调整部能够独立地进行调整。倾斜调节部的旋转中心设置在横向调整部的一部分，并且可以以旋转中心为基准来改变倾斜角。

4. 发明专利

JP6976914B2 光学検査装置有权
公开(公告)号：JP6976914B2
公开(公告)日：2021-12-08
申请号：JP2018173038
申请日：2018-09-14
申请人：株式会社東芝
发明人：大野博司 , 神川卓大 , 羽藤武宏 , 加納宏弥
IPC分类号： G01N21/88 , G01N21/84

5. 发明专利

JP2020122702A 光学検査装置审中-公开
公开(公告)号：JP2020122702A
公开(公告)日：2020-08-13
申请号：JP2019014268
申请日：2019-01-30
申请人：株式会社東芝
发明人：神川卓大 , 大野博司 , 羽藤武宏
IPC分类号： G01N21/84
摘要：【課題】高精度な検査を可能にしつつ、光源の数を低減した光学検査装置を提供する。【解決手段】実施形態の光学検査装置は、検査対象と対向する撮像光学系と、前記撮像光学系の光軸に沿って延びるとともに、複数の角部を有する多角形の筒状をなした導光体と、前記複数の角部に対応する位置で前記導光体の端面に対向した複数の光源と、を備える。実施形態の光学検査装置は、ミラー面を備える。ミラー面は、前記導光体の前記端面に対向する第2端面に前記光軸に対して斜めに設けられ、前記光源から前記導光体内に入射された光を前記検査対象に向けて反射可能である。【選択図】図1

6. 发明专利

JP2020046232A 光学検査装置审中-公开
公开(公告)号：JP2020046232A
公开(公告)日：2020-03-26
申请号：JP2018173038
申请日：2018-09-14
申请人：株式会社東芝
发明人：大野博司 , 神川卓大 , 羽藤武宏 , 加納宏弥
IPC分类号： G01N21/88 , G01N21/84
摘要：【課題】高精度な検査を可能にしつつ、光源の数を低減した光学検査装置を提供する。【解決手段】実施形態の光学検査装置は、検査対象と対向する撮像光学系と、前記撮像光学系の周囲に互いに間隔を空けて設けられた1以上の光源と、前記撮像光学系の光軸に沿って筒状に延びるとともに、その端面が前記1以上の光源と対向した導光体と、前記導光体の内面に設けられ、前記端面から前記導光体内に入射された光を内部全反射させる全反射面と、前記導光体の外面に設けられ、前記光源から前記導光体内に入射された光を前記検査対象に向けて反射するミラー面と、前記導光体の内面に設けられ、前記ミラー面で反射された光を前記検査対象に向けて透過させる透過面と、を備える。【選択図】図1

7. 发明专利

JP2019124540A 物体の表面検査装置审中-公开
公开(公告)号：JP2019124540A
公开(公告)日：2019-07-25
申请号：JP2018004536
申请日：2018-01-15
申请人：株式会社東芝
发明人：神川卓大 , 大野博司 , 羽藤武宏
IPC分类号： G01B11/30 , G01N21/88
摘要：【課題】物体の表面性状を精度良く検査することのできる物体の表面検査装置を提供する。【解決手段】本実施形態による物体の表面検査装置は、撮像面を有する撮像素子と、光源と、ミラーおよびレンズを有する光学素子群であって、前記光源から前記物体の前記表面に入射した入射光による前記物体からの正反射光を除く反射光を前記ミラーのミラー面によって反射し、前記ミラー面によって反射された光を前記レンズによって前記撮像素子の撮像面に結像させる、光学素子群と、を備え、前記光源、前記ミラー、前記レンズ、および前記撮像素子は、前記物体から反射される前記入射光の正反射光が前記ミラーおよび前記レンズを介して前記撮像素子の撮像面に入射しないように配置される。【選択図】図1

8. 发明专利

JP2021099353A 物体の表面検査装置审中-公开
公开(公告)号：JP2021099353A
公开(公告)日：2021-07-01
申请号：JP2021026480
申请日：2021-02-22
申请人：株式会社東芝
发明人：神川卓大 , 大野博司 , 羽藤武宏
IPC分类号： G01B11/30 , G01N21/88
摘要：【課題】物体の表面性状を精度良く検査することのできる物体の表面検査装置を提供する。【解決手段】撮像面を有する撮像素子と、光源と、中央に透過部を有し、前記光源から出射される光の一部が前記透過部を通して透過する第1部分透過素子と、中央に非透過部を有する第2部分透過素子と、前記第1部分透過素子に対して前記光源と反対側に配置された第1レンズと、前記第1レンズの光軸が光軸と交差する、第2乃至第4レンズと、前記第2レンズと前記第4レンズとの間に配置されたハーフミラーと、を備え、第3レンズは、前記第2レンズから伝播された光を物体の表面に入射し、かつ前記物体の前記表面から反射された反射光を前記第2レンズに伝播し、前記第4レンズは、前記ハーフミラーを透過した前記反射光を前記第2部分透過素子を介して前記撮像素子の前記撮像面に結像させ、前記反射光の正反射光が前記非透過部によって遮光される。【選択図】図5

9. 发明专利

JP2021076423A 光学検査装置审中-公开
公开(公告)号：JP2021076423A
公开(公告)日：2021-05-20
申请号：JP2019201697
申请日：2019-11-06
申请人：株式会社東芝
发明人：大野博司 , 加納宏弥 , 岡野英明 , 神川卓大
IPC分类号： G01N21/57
摘要：【課題】様々な角度の散乱光を同時に取得することが可能な光学検査装置を提供する。【解決手段】実施形態の光学検査装置は,第1の光線を射出する第1の照明部と,物体で反射する第1の光線が入射する結像光学系と,第1の光線が通過するのと同時期に少なくとも2つの互いに異なる波長領域の通過光線を射出し,通過光線のうち少なくとも一つの波長スペクトルが反射した第1の光線の波長スペクトルと異なる,散乱光選択部と,通過光線が同時期に結像する撮像素子とを有する。【選択図】図1

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