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1. 发明专利

JP2017224128A 半導体LSI設計装置および設計方法审中-公开
公开(公告)号：JP2017224128A
公开(公告)日：2017-12-21
申请号：JP2016118531
申请日：2016-06-15
申请人：株式会社日立製作所
发明人：上薗巧 , 鳥羽忠信 , 菅野雄介 , 白石雅裕 , 原田英雄 , 西川悟史 , 本谷徹
IPC分类号： G06F17/50
CPC分类号： G06F17/505 , G06F17/5022 , G06F17/5045 , G06F17/5054 , G06F2217/02 , G06F2217/06
摘要：【課題】制御装置において、論理実装に必要なリソースの削減技術を提供する。【解決手段】アプリケーション仕様から機能ブロックライブラリで定義される機能ブロックで構成した組合せ回路を生成し、入力ピンに接続されている機能ブロックの演算が終了した後に演算を開始するよう、組合せ回路内の機能ブロックの演算順序を付加し、機能ブロックを時分割で複数回使用する順序回路へ変換し、前記順序回路の実行時の演算順序を抽出し、前記組合せ回路に付加した演算順序と、前記抽出した演算実行順序との一致を判定する半導体LSI設計装置を構成する。【選択図】図2

2. 发明专利

JP2016218533A 半導体集積回路装置および制御装置审中-公开
标题翻译：的半导体集成电路装置和控制装置
公开(公告)号：JP2016218533A
公开(公告)日：2016-12-22
申请号：JP2015099578
申请日：2015-05-15
申请人：株式会社日立製作所
发明人：島村光太郎 , 菅野雄介 , 金川信康
IPC分类号： G01R31/28 , G06F11/22
摘要：【課題】半導体集積回路装置の中に故障検出率の目標値が異なる回路があった場合に、回路毎に目標値に合わせた最適なテストを実行し、トータルのテスト時間を短縮する。【解決手段】半導体集積回路装置は、複数のフリップフロップを複数のスキャンチェインで連結し、パターン生成回路の出力をスキャンチェインを用いてフリップフロップに入力した後に論理回路を動作させ、その論理回路の動作によって変化したフリップフロップの値をスキャンチェインを用いて取り出し比較回路で期待値と比較することで故障を検出する。そのスキャンチェインは複数のスキャンチェイン群で構成され、第一のスキャンチェイン群にパターン生成回路の出力を入力後、第二のスキャンチェイン群の期待値比較を複数回行う。【選択図】図9B
摘要翻译： A当故障覆盖在半导体集成电路装置的目标值具有不同的电路，进行最佳的测试为各电路相匹配目标值，为了缩短总的测试时间。一种半导体集成电路装置中，通过在多个扫描链连接多个触发器，输入到触发器与扫描链输出图案之后操作所述逻辑电路产生电路，所述逻辑电路检测由在比较电路比较所述预期值的故障可被取出，通过使用扫描链的触发器值通过操作改变。扫描链由多个扫描链组构成，图案生成电路的第一扫描链组的输出后进行多次第二扫描链组的预期值进行比较。点域9B

3. 发明专利

JP5937895B2 半導体集積回路装置有权
公开(公告)号：JP5937895B2
公开(公告)日：2016-06-22
申请号：JP2012127729
申请日：2012-06-05
申请人：株式会社日立製作所
发明人：小野豪一 , 菅野雄介 , 小田部晃
IPC分类号： G11C29/06 , G11C11/413
CPC分类号： G11C7/00 , G11C29/50 , G11C8/08 , G11C11/41 , G11C2029/1202

4. 发明专利

JP2015154417A プログラマブル回路装置、コンフィギュレーション情報修復方法有权
标题翻译：可编程电路设备，配置信息修复方法
公开(公告)号：JP2015154417A
公开(公告)日：2015-08-24
申请号：JP2014028797
申请日：2014-02-18
申请人：株式会社日立製作所
发明人：佐圓真 , 阪田健 , 大川雅司 , 菅野雄介
IPC分类号： H03K19/173
CPC分类号： H03K19/0075 , G06F11/183 , G06F11/185 , H03K19/17764
摘要：【課題】プログラマブル回路を含む装置において、プログラマブル回路の故障の修復時間を短縮し、装置の稼働割合を向上させること。【解決手段】プログラマブル回路FPGAを含む装置において、プログラマブル回路FPGAはコンフィギュレーション情報が記憶された不揮発メモリNVMとこの不揮発メモリVMより読出し速度が速い別のメモリに接続され、このプログラマブル回路FPGAはコンフィギュレーションメモリ制御回路CRMCと、このコンフィギュレーションメモリ制御回路CRMCにより、不揮発メモリNVMから、揮発性メモリVMと内蔵メモリBR等の別のメモリへの読出しを行うための信号線群を有し、高速な故障の修復が必要な一部の回路コンフィギュレーション情報をこの別のメモリに複写する。【選択図】図1
摘要翻译：要解决的问题：在包括可编程电路的设备中，减少故障可编程电路的修复时间，以提高器件的工作速率。解决方案：在包括可编程电路FPGA的器件中，可编程电路FPGA 连接到其中存储有配置信息的非易失性存储器NVM，以及具有比非易失性存储器NVM更快的读取速度的不同存储器。可编程电路FPGA包括：配置存储器控制电路CRMC; 以及使用配置存储器控制电路CRMC从用于从非易失性存储器NVM读取到诸如易失性存储器VM和内置存储器BR的另一存储器的信号线组。从故障中高速修复所需的电路配置信息的一部分被复制到另一个存储器。

5. 发明专利

JP6758470B2 情報処理装置有权
公开(公告)号：JP6758470B2
公开(公告)日：2020-09-23
申请号：JP2019202147
申请日：2019-11-07
申请人：株式会社日立製作所
发明人：菅野雄介 , 鳥羽忠信 , 佐圓真 , 小野豪一 , 山岡雅直
IPC分类号： G06F7/57

6. 发明专利

JP2020074211A 情報処理システムおよびその運用方法审中-公开
公开(公告)号：JP2020074211A
公开(公告)日：2020-05-14
申请号：JP2020012346
申请日：2020-01-29
申请人：株式会社日立製作所
发明人：菅野雄介 , 阪田健 , 中原茂
IPC分类号： G06N3/08 , G06N3/04
摘要：【課題】ニューラルネットワークの効率的な学習を可能とする。【解決手段】複数のDNNを階層的に構成し、第一階層機械学習・認識装置のDNNの隠れ層のデータを、第二階層機械学習・認識装置のDNNの入力データとする。【選択図】図1A

7. 发明专利

JPWO2017029743A1 情報処理装置および情報処理システム审中-公开
公开(公告)号：JPWO2017029743A1
公开(公告)日：2018-08-16
申请号：JP2015073313
申请日：2015-08-20
申请人：株式会社日立製作所
发明人：菅野雄介 , 鳥羽忠信 , 佐圓真 , 小野豪一 , 山岡雅直
IPC分类号： G06F7/57 , G06F17/50
CPC分类号： G06F7/00 , G06F11/00 , G06F17/50 , G06N99/00
摘要：プログラマブルロジックを含んだ情報処理装置および情報処理システムにおいて、演算効率の向上を実現する。そのため、情報処理装置は、FPGAファブリック部FPGA_FABと、コンフィギュレーションメモリCRAMと、データ監視部CUNTと、コンフィグ制御部CNFGCと、CRAMコントローラCRAMCとを有する。FPGAファブリック部は、ユーザ論理回路を実装し、コンフィギュレーションメモリは、当該ユーザ論理回路の回路構成を定めるコンフィグデータを保持する。データ監視部は、ユーザ論理回路の動作状態を監視し、コンフィグ制御部は、当該監視結果に基づいてコンフィグデータの変更要否を判定する。CRAMコントローラは、コンフィグ制御部の判定結果に基づいてコンフィギュレーションメモリのコンフィグデータを変更する。

8. 发明专利

JP6363297B2 シミュレータ、半導体回路装置の設計支援システムおよび方法审中-公开
公开(公告)号：JP6363297B2
公开(公告)日：2018-07-25
申请号：JP2017528059
申请日：2015-07-14
申请人：株式会社日立製作所
发明人：菅野雄介 , 佐圓真 , 鳥羽忠信
IPC分类号： G06F17/50
CPC分类号： G06F17/50

9. 发明专利

JP6326422B2 プログラマブルロジックデバイス、及び、論理集積ツール有权
公开(公告)号：JP6326422B2
公开(公告)日：2018-05-16
申请号：JP2015538768
申请日：2013-09-30
申请人：株式会社日立製作所
发明人：菅野雄介 , 金川信康 , 島村光太郎 , 鳥羽忠信 , 広津鉄平 , 山田勉
IPC分类号： H03K19/177
CPC分类号： H03K19/17764 , H03K19/17728 , H03K19/1776 , H03K19/21

10. 发明专利

JP6310933B2 半導体装置有权
公开(公告)号：JP6310933B2
公开(公告)日：2018-04-11
申请号：JP2015542441
申请日：2013-10-16
申请人：株式会社日立製作所
发明人：菅野雄介 , 阪田健 , 金川信康
IPC分类号： H03K19/177 , H03K19/23
CPC分类号： H03K3/0375 , H03K3/0372 , H03K3/35625 , H03K19/0948 , H03K19/17724 , H03K19/17728 , H03K19/20 , H03K19/23

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