专利快速检索-快速检索全球专利，免费商用专利数据库-IPRDB

1. 发明专利

JP4234621B2 Liquid cooling system and electronic equipment 有权
公开(公告)号：JP4234621B2
公开(公告)日：2009-03-04
申请号：JP2004038180
申请日：2004-02-16
申请人：株式会社日立製作所
发明人：林太郎南谷 , 洋典及川 , 繁男大橋 , 伸二松下 , 尚長縄
IPC分类号： F25D1/00 , H05K7/20 , G06F1/20 , H01L23/473
CPC分类号： H01L23/473 , G06F1/203 , H01L2924/0002 , H01L2924/00

2. 发明专利

JP3698087B2 Electronic device 有权
公开(公告)号：JP3698087B2
公开(公告)日：2005-09-21
申请号：JP2001317572
申请日：2001-10-16
申请人：株式会社日立製作所
发明人：毅中川 , 正人中西 , 康彦佐々木 , 林太郎南谷 , 雄二吉冨 , 繁男大橋 , 義広近藤 , 尚長縄
IPC分类号： G06F1/20 , H01L23/473 , H05K7/20

3. 发明专利

JP4599439B2 Deterioration diagnosis system of the control device 有权
公开(公告)号：JP4599439B2
公开(公告)日：2010-12-15
申请号：JP2008204630
申请日：2008-08-07
申请人：株式会社日立ビルシステム , 株式会社日立製作所
发明人：林太郎南谷 , 朗大貫 , 孝行松井
IPC分类号： G01N17/00 , G01N19/00

4. 发明专利

JP4151328B2 Cooling device for an electronic equipment 有权
公开(公告)号：JP4151328B2
公开(公告)日：2008-09-17
申请号：JP2002204977
申请日：2002-07-15
申请人：株式会社日立製作所
发明人：毅中川 , 正人中西 , 林太郎南谷 , 雄二吉冨 , 繁男大橋 , 義広近藤 , 尚長縄
IPC分类号： H05K7/20 , G06F1/20 , H01L23/473
CPC分类号： G06F1/203 , F28D15/0266 , G06F2200/201

5. 发明专利

JP3885679B2 Electronics 有权
公开(公告)号：JP3885679B2
公开(公告)日：2007-02-21
申请号：JP2002203456
申请日：2002-07-12
申请人：株式会社日立製作所
发明人：林太郎南谷 , 大地堀田 , 繁男大橋 , 賢一斎藤 , 康史根保 , 優一近藤
IPC分类号： F25D9/00 , F25D17/02 , G06F1/20 , H01L23/473 , H05K7/20
CPC分类号： G06F1/203 , G06F1/20 , G06F2200/1638 , G06F2200/201 , H01L2924/0002 , H01L2924/00

6. 发明专利

JPWO2016103445A1 腐食環境診断システム、腐食防止システム、腐食環境診断方法及び腐食防止方法审中-公开
公开(公告)号：JPWO2016103445A1
公开(公告)日：2017-09-07
申请号：JP2016565799
申请日：2014-12-26
申请人：株式会社日立製作所
发明人：南谷　林太郎 , 林太郎南谷
IPC分类号： G01N17/00 , G01N5/02 , G01N27/04 , G01N33/20
CPC分类号： G01N17/00 , F24F11/30 , F24F2110/10 , F24F2110/12 , F24F2110/20 , F24F2110/22 , G01B7/06 , G01B7/066 , G01B17/02 , G01K1/14 , G01N17/002 , G01N27/416 , H05K7/20745 , H05K7/20836
摘要：本発明は、診断対象である電子部品又はこの電子部品を有する電子装置が設置された室内の温度を測定する温度センサと、室内又は電子装置内の相対湿度を測定する湿度センサと、診断対象の腐食厚さを測定する腐食センサと、温度センサ及び湿度センサで測定された温度及び相対湿度を含む室内環境データ並びに腐食センサで測定された腐食厚さを含む腐食厚さデータを蓄積するデータベースと、を含む環境測定装置と、外気の過去の温度及び湿度を含む外気環境データが記録された外気環境データベースと、外気環境データベース及び環境測定装置のデータを受信可能な診断処理装置と、を備えた腐食環境診断システムであって、診断処理装置は、室内環境データと腐食厚さデータと外気環境データとに基づいて腐食厚さと相対湿度との関係に対応する腐食機構を決定し、診断対象の将来の腐食厚さを推定するものである。これにより、腐食性ガスが含まれる大気による腐食のメカニズムに基づいて、将来の腐食厚さを精度よく推定することができる。

7. 发明专利

JPWO2013042179A1 腐食環境モニタ装置およびその方法有权
标题翻译：腐蚀环境监测装置和方法
公开(公告)号：JPWO2013042179A1
公开(公告)日：2015-03-26
申请号：JP2013534469
申请日：2011-09-20
申请人：株式会社日立製作所
发明人：南谷　林太郎 , 林太郎南谷
IPC分类号： G01N17/04
CPC分类号： G01N33/0004 , G01N17/002 , G01N17/006 , G01N17/043 , G01N17/046
摘要：本発明の課題は、周囲環境の腐食性を簡便かつ短期間で精度良く評価できる腐食環境モニタ装置およびその方法を提供することにある。本発明に関わる腐食環境モニタ装置は、試験片(2a、2b、2c)が設置される一つ以上の通気路(3a、3b、3c)を有し、周囲環境中の腐食性を試験片(2a、2b、2c)の腐食状態から測定する腐食環境モニタ装置(1)であって、一つの通気路(3a、3b、3c)内に、測定に係わる領域が同一の金属材料を用いて形成される試験片(2a、2b、2c)を設置し、通気路(3a、3b、3c)が複数の場合、通気路(3a、3b、3c)を並列に配置している。
摘要翻译：本发明的一个目的是提供一种腐蚀环境监测装置和方法可以精确地估计腐蚀环境容易且快速。根据本发明的腐蚀环境监视装置，试验片（2A，2B，2C）具有一个或多个空气通道被安装到（图3a，3b，3c）中，在环境中的试样腐蚀（图2A，2B，2C）腐蚀环境监测装置，用于测量（1），一个通风通道（3A，3B，腐蚀条件3C）中，通过使用形成相同的金属材料所涉及的测量区域试样（2A，2B，2C）中的溶液放置成，如果通风路径（3A，3B，3C）是复数的，被布置为空气通道（图3a，3b，3c）的并联连接。

8. 发明专利

JP4734371B2 Elevator control system 有权
公开(公告)号：JP4734371B2
公开(公告)日：2011-07-27
申请号：JP2008116572
申请日：2008-04-28
申请人：株式会社日立ビルシステム , 株式会社日立製作所
发明人：林太郎南谷 , 朗大貫 , 孝行松井
IPC分类号： G01R31/02 , B66B5/00

9. 发明专利

JP3828794B2 Air flow rate measuring device 有权
公开(公告)号：JP3828794B2
公开(公告)日：2006-10-04
申请号：JP2001370783
申请日：2001-12-05
申请人：株式会社日立カーエンジニアリング , 株式会社日立製作所
发明人：圭一中田 , 信弥五十嵐 , 林太郎南谷 , 渡辺　　泉 , 菅家　　厚
IPC分类号： F02D45/00 , G01F1/68 , F02D35/00 , F02D41/04 , G01F1/696 , G01F1/698
CPC分类号： G01F1/6983 , F02D41/042

10. 发明专利

JP3716775B2 Electronic device 有权
公开(公告)号：JP3716775B2
公开(公告)日：2005-11-16
申请号：JP2001317573
申请日：2001-10-16
申请人：株式会社日立製作所
发明人：毅中川 , 正人中西 , 康彦佐々木 , 林太郎南谷 , 雄二吉冨 , 繁男大橋 , 義広近藤 , 尚長縄
IPC分类号： G06F1/20 , H01L23/473 , H05K7/20

你已经成功收藏专利！

检索式保存成功!

IPRDB

热门服务

关于我们

友情链接

联系方式