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1. 发明专利

JP2020085812A X線・中性子ハイブリッド撮像装置审中-公开
公开(公告)号：JP2020085812A
公开(公告)日：2020-06-04
申请号：JP2018224523
申请日：2018-11-30
申请人：株式会社日立製作所
发明人：定岡紀行
IPC分类号： G01N23/046 , G01N23/087 , G21K5/02 , G01N23/05
摘要：【課題】低密度の素材と高密度の素材を備える被検体に対し、短い時間間隔で連続的に、低密度の素材の部分と高密度の素材の部分の両方の内部を非破壊で検査できる、X線・中性子ハイブリッド撮像装置を提供する。【解決手段】本発明によるX線・中性子ハイブリッド撮像装置は、電子発生源1が接続され、第1の加速管4と第2の加速管6とに分岐した電子加速管2と、第1の加速管4に接続され、電子線が照射されるとX線を発生するX線発生ターゲット部5と、第2の加速管6に接続され、電子線が照射されると中性子を発生する中性子発生ターゲット部7と、X線発生ターゲット部5に対向する位置に設置されたX線検出器12と、中性子発生ターゲット部7に対向する位置に設置された中性子検出器15と、電子加速管2の分岐部に設置され、磁場の強度分布が変化することにより、第1の加速管4へと第2の加速管6への電子線の分配を切り替える電磁石3とを備える。【選択図】図1

2. 发明专利

JP2017227541A 放射線撮像装置及び放射線撮像方法审中-公开
公开(公告)号：JP2017227541A
公开(公告)日：2017-12-28
申请号：JP2016124077
申请日：2016-06-23
申请人：株式会社日立製作所
发明人：定岡紀行
IPC分类号： G01N23/18 , G01N23/12 , G01N23/04
摘要：【課題】本発明の目的は、非破壊で、画像ノイズを低減した高品質な撮像が可能な放射線撮像装置及び放射線撮像方法を提供することにある。【解決手段】上記目的のために、本発明の放射線撮像装置は、撮像対象を透過した放射線を検出する検出器素子と散乱放射線を遮蔽するコリメータを有する第1検出器ユニット2と、2次元に配列され、撮像対象を透過した放射線を検出する放射線検出器素子を有する第2検出器ユニット5と、撮像対象を透過した放射線を第1検出器ユニット2及び第2検出器ユニット5のいずれか一方で検出するように、撮像対象を移動、又は第1検出器ユニット2及び第2検出器ユニット5を移動する駆動装置を備え、第1検出器ユニット2及び第2検出器ユニット5から出力される検出データを用いて放射線の散乱量を考慮した透過画像を作成する演算装置を備える。【選択図】図2

3. 发明专利

JPWO2019003329A1 X線インライン検査方法および装置审中-公开
公开(公告)号：JPWO2019003329A1
公开(公告)日：2020-04-16
申请号：JP2017023685
申请日：2017-06-28
申请人：株式会社日立製作所
发明人：定岡紀行
IPC分类号： G01N23/046
摘要：本発明の目的は、限定された少数の透過画像から内部欠陥の有無と、内部欠陥が存在する場合に、その3次元形状、体積、位置等の詳細情報の迅速な評価を実現させるX線インライン検査方法を提供する事にある。上記目的のために、放射線源(1)と、検出器(2)と、放射線源と検出器の間に被検体を移動させる駆動機構(4)と、検出器で計測された放射線透過量を数値化する信号処理回路(5)とこれらの信号を元に画像を構成する演算装置(6)からなるX線インライン検査装置によるX線インライン検査方法において、初期に詳細角度での透過像を撮像し、次に限定角度のみで透過画像を撮像し、両者の差分量から内部欠陥の有無を判定し、内部欠陥がある判定の場合は、詳細透過画像上に限定角度での透過像で得られた内部欠陥の影響量を補間修正して画像再構成により内部欠陥形状を評価することを特徴とする。

4. 发明专利

JP6698441B2 放射線撮像装置及び放射線撮像方法有权
公开(公告)号：JP6698441B2
公开(公告)日：2020-05-27
申请号：JP2016124077
申请日：2016-06-23
申请人：株式会社日立製作所
发明人：定岡紀行
IPC分类号： G01N23/18 , G01N23/12 , G01N23/04

5. 发明专利

JP6411775B2 X線撮像システムおよびX線撮像方法审中-公开
公开(公告)号：JP6411775B2
公开(公告)日：2018-10-24
申请号：JP2014111868
申请日：2014-05-30
申请人：株式会社日立製作所
发明人：定岡紀行 , 名雲靖 , 上村博
IPC分类号： G01N23/083 , G01N23/18 , G01N23/04

6. 发明专利

JP6177663B2 X線透過像撮像装置有权
公开(公告)号：JP6177663B2
公开(公告)日：2017-08-09
申请号：JP2013224871
申请日：2013-10-30
申请人：株式会社日立製作所
发明人：定岡紀行 , 名雲靖 , 横井一磨 , 佐藤克利 , 上村博
IPC分类号： G01N23/04

7. 发明专利

JP2017044588A X線検出器およびX線撮像システム审中-公开
标题翻译： X射线检测器和X射线成像系统
公开(公告)号：JP2017044588A
公开(公告)日：2017-03-02
申请号：JP2015167352
申请日：2015-08-27
申请人：株式会社日立製作所
发明人：定岡紀行 , 上村博
IPC分类号： A61B6/00 , G01T7/00
摘要：【課題】本発明の目的は、画質が向上したX線撮像画像を生成するX線検出器及びX線撮像システムを提供することにある。【解決手段】上記目的のために本発明は、二次元配列で構成される検出器素子5と、内部に検出器素子5を保持する検出器保持用格子14と、入射されたX線の少なくとも一部を遮蔽し、検出器素子5のそれぞれでX線を検出するように、検出器素子5のX線入射面の上部に二次元配列で設置されるコリメータ13を備え、検出器素子5、検出器保持用格子14及びコリメータ13は、X線の発生位置に向けた直線に沿って傾斜するように配置され、検出器保持用格子14及びコリメータ孔用格子13の境界面12は、X線の発生位置から距離が略一定となる位置に配置することを特徴とする。【選択図】図4
摘要翻译：本发明的一个目的是提供一种X射线检测器和X射线成像系统以产生一幅X射线成像的图像质量得到改善。为上述目的，二维阵列所组成的探测器元件5本发明中，所述检测器保持栅格14保持该检测器元件5在其中，至少所述入射的X射线的屏蔽部分，以便在检测器元件5，以检测X射线，设置有安装在一个二维阵列上的检测器元件5的X射线入射表面的顶部准直器13，检测器元件5，检测器固定光栅14和准直器13被设置沿朝向X射线的产生位置，检测器的边界表面12保持光栅14和准直孔13点阵，X射线的直线倾斜其中，从产生位置的距离被布置在一个位置大致恒定。点域4

8. 发明专利

JP5965799B2 X線断層撮影方法およびX線断層撮影装置有权
标题翻译： X射线断层成像方法和X射线断层摄影装置
公开(公告)号：JP5965799B2
公开(公告)日：2016-08-10
申请号：JP2012206454
申请日：2012-09-20
申请人：株式会社日立製作所
发明人：名雲靖 , 定岡紀行
IPC分类号： G01N23/087 , G01N23/04
CPC分类号： G01N23/046 , G01N2223/419

9. 发明专利

JP5946086B2 渦電流検査装置、渦電流検査プローブ、及び渦電流検査方法有权
标题翻译：涡流探伤装置，涡流探伤探头，和一个涡流探伤方法
公开(公告)号：JP5946086B2
公开(公告)日：2016-07-05
申请号：JP2012061918
申请日：2012-03-19
申请人：株式会社日立製作所
发明人：遠藤久 , 西水亮 , 定岡紀行
IPC分类号： G01N27/90
CPC分类号： G01N27/87 , G01N27/902 , G01R33/385

10. 发明专利

JP2015225053A X線撮像システムおよびX線撮像方法审中-公开
标题翻译： X射线成像系统和X射线成像方法
公开(公告)号：JP2015225053A
公开(公告)日：2015-12-14
申请号：JP2014111868
申请日：2014-05-30
申请人：株式会社日立製作所
发明人：定岡紀行 , 名雲靖 , 上村博
IPC分类号： G01N23/04
摘要：【課題】産業用高エネルギーX線源を用いた透過像撮像システムにおいて、高エネルギーX線に感度の高い半導体検出器を用いて、社会インフラ構造物のような大型被検体に対して高画質な透過像が撮像可能な検出器構造を提供する。【解決手段】X線を照射するX線源5と、撮像対象被検体6を透過したX線を検出する検出器1と、前記検出器の内部を移動する半導体検出器アレイ3と、前記半導体検出器アレイを上下方向に移動させる半導体検出器アレイ駆動部と、前記検出器で計測された計測信号を処理して画像化する信号処理回路9とを備える。【選択図】図2
摘要翻译：要解决的问题：提供使用工业高能X射线源的透射摄像系统，其使用对高能X射线高度敏感的半导体检测器，并且实现能够对高品质透射图像进行成像的检测器结构诸如社会基础设施的结构的大型课题。解决方案：X射线成像系统包括：发射X射线的X射线源5; 检测器1，检测通过成像对象6透射的X射线; 在检测器内移动的半导体检测器阵列3; 半导体检测器阵列驱动部，沿着垂直方向移动半导体检测器阵列; 以及信号处理电路9，对由检测器测量出的测量信号进行图像处理和转换。

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